ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 14.03.2025
Просмотров: 73
Скачиваний: 0
Лабораторная работа №18
Эффект Комптона
Лабораторная работа №18
Эффект Комптона
Цель работы: Исследование эффекта Комптона.
Теоретическая часть
Корпускулярно-волновым дуализмом называется универсальное свойство физических объектов проявлять себя в одних явлениях подобно волне, а в других - подобно частицам. Исторически корпускулярно-волновой дуализм был впервые обнаружен при изучении свойств света. С одной стороны, многочисленные эксперименты по наблюдению явлений дифракции и интерференции света однозначно свидетельствуют в пользу его волновой природы. С другой стороны, закономерности фотоэффекта и излучения абсолютно черного тела удалось теоретически объяснить лишь предположив, что свет представляет собой поток квантов энергии - фотонов.
Фотоном называется квант электромагнитного излучения, энергия которого определяется его частотой:
, (1)
где ħ = 1,0546·10‑34 Джс - постоянная Планка.
В релятивистской динамике энергия и импульс движущейся частицы связаны соотношением:
(2)
где p - импульс частицы, m - её масса, а E - полная энергия, определяемая выражением:
(3)
Фотоны распространяются в вакууме со скоростью света c, поэтому для фотона знаменатель выражения (3) обращается в ноль. Следовательно, конечной энергией фотон может обладать, только если его масса m=0. С учетом этого факта из формулы (2) получим выражение для импульса фотона:
(4)
Таким образом, циклическая частота ω и длина волны λ характеризуют волновые свойства фотона, а энергия ε и импульс p - корпускулярные. Связь между ними выражается формулами (1) и (4).
Одним из наиболее убедительных экспериментальных доказательств корпускулярных свойств света является эффект Комптона.
Эффектом Комптона называется рассеяние жесткого рентгеновского излучения на образцах, состоящих из лёгких атомов, в результате чего в спектре рассеянного излучения наряду с исходной длиной волны возникает смещённая линия с длиной волны (комптоновское смещение). Все попытки объяснить закономерности этого явления с позиций волновой теории оказались несостоятельными. Успешную теорию эффекта Комптона удалось построить только в рамках квантовой теории: изменение длины волны рентгеновского кванта является результатом его упругого соударения с электроном.
а) б)
Рис. 1 – Схематическое изображение комптоновского рассеяния (а) и соответствующая векторная диаграмма закона сохранения импульса (б).
В атомах легких элементов энергия связи электрона с атомом мала по сравнению с энергией, передаваемой электрону рентгеновским квантом при рассеянии. Поэтому энергией связи электрона внутри атома можно пренебречь и считать все электроны свободными. Рассмотрим столкновение фотона со свободным электроном с позиции законов сохранения импульса и энергии. Введём следующие обозначения:
- энергия фотона до столкновения;
- энергия фотона после столкновения;
me - масса электрона;
mec2 - энергия покоящегося свободного электрона (см. (3));
- энергия электрона после столкновения;
- импульс фотона до столкновения;
- импульс фотона после столкновения;
- импульс электрона после столкновения;
В этих обозначениях выражение закона сохранения энергии принимает вид:
(5)
Закон сохранения импульса:
(6)
На рис.1 (б) показана векторная диаграмма, соответствующая этому выражению. Применив к данному треугольнику теорему косинусов, с учетом связи энергии фотона с его импульсом (4) получим:
(7)
После столкновения электрон может стать релятивистским, поэтому уравнение связи его импульса и энергии имеет вид:
(8)
Выражая из формулы (5), а - из (7), после подстановки и несложных преобразований получим:
. (9)
Согласно (1) энергия фотона связана с его длиной волны формулой:
(10)
Подставив в (9) получим окончательную формулу:
(11)
где λC - комптоновская длина волны электрона - одна из важнейших атомных констант:
(12)
Соотношение (11) очень хорошо согласуется с наблюдаемой на опыте зависимостью комптоновского смещения от угла рассеяния θ. Схема соответствующей экспериментальной установки для измерения спектра рассеянного излучения показана на рис.2. Для определения длины волны рассеянного излучения в ней используется явление дифракции на кристалле. При попадании рентгеновских лучей на атомы твердого тела происходит их рассеивание электронами атомов. Наличие периодической структуры в твердом теле определяет интерференцию отдельных рассеянных волн. Направления дифракционных максимумов подчиняются уравнению Брэгга-Вульфа:
, (13)
где d – известное расстояние между кристаллографическими плоскостями; φ – угол скольжения (угол Брэгга); λ – длина волны; n - порядок дифракции.
Рис. 2 – Схема классического эксперимента по наблюдению эффекта Комптона
Результаты наблюдения спектра рассеянного излучения показаны на рис.3. Наблюдаемое смещение не зависит от материала рассеивающего образца и длины волны λ падающего излучения, а определяется лишь углом θ между направлениями рассеянного и падающего излучений. С увеличением угла интенсивность смещённой компоненты растет, а несмещённой - падает.
Рис. 3 - Спектральный состав излучения на различных углах рассеяния θ при взаимодействии Kα-линии молибдена с кристаллом графита.
Экспериментальная часть
Экспериментальная установка, используемая в данной лабораторной работе, несколько отличается от классического опыта Комптона (рис.2). В качестве детектора рентгеновского излучения используется простой счетчик импульсов - счетчик Гейгера. Длина волны излучения рассчитывается через коэффициент пропускания алюминия, который в интересующем нас спектральном диапазоне однозначно определяется длиной волны. Работа выполняется в два этапа.
На первом этапе измеряется спектр пропускания алюминия. Схема эксперимента показана на рис.4. Монокристалл LiF с известным межплоскостным расстоянием d выполняет роль спектрального прибора: изменяя угол скольжения φ, можно наблюдать рассеянное излучение, длина волны которого определяется уравнением Брэгга-Вульфа (13). Как видно из рисунка, для этого необходимо установить счетчик Гейгера в положение, соответствующее углу рассеяния .
Рис. 4 – Схема взаимного расположения элементов для измерения спектра пропускания алюминия
Счетчик Гейгера измеряет интенсивность падающего на него излучения - количество импульсов в секунду N. Измерив спектры рассеянного излучения без алюминиевого адсорбера и с адсорбером , можно рассчитать спектр коэффициента пропускания алюминия T по формуле:
. (14)
На втором этапе измеряется величина комптоновского сдвига для угла рассеивания θ=90°. Как видно из формулы (11), в этом случае разность длин волн исходного и рассеянного излучений равна комптоновской длине волны. Схема эксперимента показана на рис.5. Рассеиватель представляет собой блок из оргстекла, состоящего только из лёгких элементов - углерода, водорода и кислорода. Для получения максимальной интенсивности рассеянного излучения рассеиватель необходимо повернуть на небольшой угол (10…20°), как это показано на рисунке. Необходимо измерить интенсивность рентгеновского излучения в следующих конфигурациях:
-
N3 - интенсивность с рассеивателем, но без алюминиевого адсорбера;
-
N4 - интенсивность с рассеивателем и с алюминиевым адсорбером между источником и рассеивателем (Положение 1 на рис.5). Соответствующий коэффициент пропускания T1 соответствует усредненной длине волны исходного рентгеновского излучения:
(15)
-
N5 - интенсивность с рассеивателем и с алюминиевым адсорбером между рассеивателем и детектором (Положение 2 на рис.5). Соответствующий коэффициент пропускания T2 соответствует усредненной длине волны рассеянного рентгеновского излучения:
(16)
Рис. 5 – Схема расположения элементов для исследования эффекта Комптона
В первом приближении в небольшом диапазоне длин волн зависимость коэффициента поглощения от длины волны можно считать линейной:
(17)
При этом угловой коэффициент прямой k<0. Подставив это выражение в формулы (16) и (17) и выразив из них длины волн, можно получить выражение для комптоновского смещения:
(18)
Внешний вид установки для исследования эффекта Комптона изображен на рис.6.
Рис. 6 – Экспериментальная установка для изучения эффекта Комптона
1 – Рентгеновская установка; 2 – гониометр; 3 – медный источник рентгеновского излучения; 4 – апертура; 5 – алюминиевый адсорбер; 6 – рассеиватель; 7 – счётчик Гейгера; 8 - блокирующий фиксатор.
Методика выполнения работы Упражнение 1. Измерение спектра пропускания алюминия
-
Включите рентгеновскую установку, воспользовавшись тумблером на её задней панели.
-
Включите компьютер. Для доступа к программному обеспечению используйте учетную запись Student. Запустите программу Measure.
-
Откройте защитную стеклянную дверцу рентгеновской установки, нажав и повернув по часовой стрелке фиксатор (см. поз.8 рис.6). Поместите на выходе излучения из трубки в рабочую область диафрагму диаметром 2 мм. Установите на гониометре монокристалл LiF маркировкой вверх. Закройте дверцу, нажмите на фиксатор и поверните его против часовой стрелки, чтобы снять блокировку на включение рентгеновского излучения.
-
Выберите пункт меню Прибор/Рентгеновская установка. В открывшемся диалоговом окне в соответствии с рис.7 настройте установку для измерения спектра пропускания алюминия, установив следующие параметры:
-
Тип измерения: Кривая передачи.
-
X-данные: Угол кристалла.
-
Ток эмиссии: 1 мА.
-
Время интеграции: от 30 до 60 с.
-
Напряжение: 35 кВ.
-
Угол кристалла:
-
Начальный угол: 6°.
-
Конечный угол: 9°.
-
Приращение угла: 0,5°.
-
Кристалл: LiF (100); d=201,4 пм.
-
Адсорбер: Al; Z=13; d=0,10 мм; 2,7 г/см3;
-
Фильтр: без фильтра;
-
Дисплеи: Угол кристалла; угол детектора; скорость импульсов; спектр, геометрия.
Нажмите кнопку Далее.
-
Нажмите кнопку Начать измерение. Программа в автоматическом режиме начнет снимать спектр рентгеновского излучения без адсорбера в заданном диапазоне углов. По завершении измерения программа делает паузу. Между выходом рентгеновского излучения и кристаллом установите адсорбер – алюминиевую пластинку. Снимите спектр . В ходе измерения программа автоматически рассчитывает коэффициент пропускания по формуле:
,
Рис. 7 – Настройка параметров рентгеновской установки для измерения спектра пропускания алюминия.
-
Преобразуйте угол рассеяния θ, отложенный по оси абсцисс, в длину волны λ. Для этого выберите пункт меню Анализ/ Рентгеноспектроскопия/ Преобразовать ось x. В открывшемся диалоговом окне установите следующие параметры: