Файл: Институт инженерных и цифровых технологий.docx

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 17.03.2024

Просмотров: 8

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.


В данной компьютерной модели для создания активной среды используется некоторый внешний источник, имеющий определенную интенсивность (уровень) накачки. Чем больше интенсивность накачки (в некоторых относительных единицах), тем больше электронов «перебрасывается» с нижнего уровня на верхний. Обратите внимание, что инверсная заселенность уровней создается не сразу, а спустя некоторое время после включения генератора, создающего накачку с постоянной интенсивностью. Это время составляет 4050 секунд. Только спустя это время в модели заканчивается переходной процесс и коэффициент усиления перестает существенно изменяться.

Ход работы:

Эксперимент 1. Исследование резонансного поглощения ЭМИ веществом.

Таблица 2. Количество заполненных состояний нижнего уровня n1(t). Только поглощение.

t , c

0

5

10

15

20

25

30

35

1

20

14

7

3

2

0

0

0

2

20

15

8

4

2

0

0

0

3

20

11

7

1

0

0

0

0

4

20

14

9

6

4

3

1

0

5

20

15

13

11

5

3

2

0

6

20

12

5

2

0

0

0

0



20

13,5

8,16

4,5

2,16

1

0,5

0

)

0

0,39

0,9

1,49

2.22

3

3,69





Эксперимент 2. Исследование спонтанного излучения ЭМИ.

Таблица 3. Количество заполненных состояний верхнего уровня n2(t). Только спонтанное излучение.

t, c

0

5

10

15

20

25

30

1

20

11

7

3

1

0

0

2

20

10

7

3

2

1

0

3

20

9

6

2

1

0

0

4

20

12

7

4

2

2

0

5

20

12

9

5

4

2

0

6

20

11

7

3

1

0

0



20

10,83

7,16

3,3

1,83

0,83

0

)

0

0.61

1.03

1.8

2.39

3.18




Эксперимент 3. Исследование индуцированного излучения ЭМИ.

Таблица 4. Количество заполненных состояний верхнего уровня
n2(t)/ Только индуцированное(вынужденное) излучение.

t, c

0

5

10

15

20

25

30

35

1

20

10

6

3

3

1

0

0

2

20

16

8

5

2

2

1

0

3

20

11

9

3

1

0

0

0

4

20

10

5

1

1

1

0

0

5

20

14

9

6

5

2

1

0

6

20

7

6

4

3

3

2

0



20

11,3

7,16

3,6

2,5

1,5

0,6

0

)

0

0,57

1.03

1.71

2.08

2.6

3.5





Эксперимент 4. Исследование усиления ЭМИ при распространении в активной среде.

Интенсивность (уровень) накачки р (отн.ед.) = 1,5.

t(мин)

1

2

3

4

5

6

Среднее



12

11

6

9

2

13

8,83



8

9

14

11

18

7

11,16



0,6

0,8

2,33

1,22

9

0,54

2,415



100

77

73

101

76

94

86,83



174

152

148

182

156

155

161,16

K

1,74

1,97

2,03

1,8

2,05

1,65

1,873



Линии на графиках обработаны методом наименьших квадратов. Все эти эксперименты показывают экспонентальную зависимость, потому что для исчисления используется натуральный логарифм: чем меньше число внутри логарифма, тем больше значение у натурального логарифма, поэтому все графики экспериментов возрастают.


Для первого эксперимента зависимость по формулам:

Для второго эксперимента зависимость по формулам:



Для третьего эксперимента зависимость по формулам:



Определяю постоянную времени процессов поглощения (τВ):



Определяю постоянную времени спонтанного излучения (τИ):



Определяю постоянную времени индуцированного излучения (τИИ):



Из ниже приведённых формул выражаю С – константа, связанная с расстоянием проходимого ЭМИ в веществе и вероятностью поглощения фотона веществом и, вынужденного (индуцированного) перехода электрона с верхнего энергетического уровня на нижний.





















Вывод: при проведение лабораторной работы исследовали с помощью компьютерного эксперимента процессы и закономерности взаимодействия электромагнитного излучения (ЭМИ) с веществом, в частности, поглощения и усиления этого излучения при распространении в активной среде. Проводили эксперименты с процессами: поглощения, вынужденного излучения, спонтанного излучения и усиление света, рассчитали постоянную времени процессов. Постоянную времени процессов поглощения (τВ): 17,96 секунд, постоянную времени спонтанного излучения (τИ):20,66 секунд, постоянную времени индуцированного излучения (τИИ): 17,81 секунд.