ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 19.03.2024
Просмотров: 154
Скачиваний: 0
матеріал з високими значеннями коефіцієнта Пельтьє і питомої електропровідності. Остання вимога обумовлена тим, що на додаток до тепла Пельтьє завжди виділяється і джоулове тепло і, щоб ефект джоулового нагріву не перекрив ефект охолоджування, необхідні матеріали з хорошою електропровідністю. З другого боку, при одній і тій же кількості тепла, що виділяється внаслідок ефекту Пельтьє на одному контакті і поглинається на іншому, різниця температур між контактами буде тим більша, чим менша теплопередача від гарячого кінця провідника до холодного, тобто чим менший коефіцієнт теплопровідності.
7.3 Ефект Холла
Ефектом Холла називається явище, що полягає в тому, що при пропусканні струму уподовж провідної пластинки, поміщеної перпендикулярно до ліній зовнішнього магнітного поля, виникає поперечна різниця потенціалів внаслідок взаємодії носіїв заряду з магнітним полем.
Припустимо, що по провіднику, що має форму прямокутної пластини, протікає електричний струм І (рис. 7.4). У відсутність магнітного поля різниця потенціалів між точками С і D , що лежать на одній з еквіпотенціальних поверхонь, рівна нулю. Якщо зразок помістити в магнітне поле, індукція якого В перпендикулярна до напряму струму і
площини зразка, то між точками С і D виникає різниця потенціалів Vx , названа холлівською е.р.с.
Рисунок 7.4 – До пояснення ефекту |
Рисунок 7.5 – Схема виник- |
||
Холла в n-типу (а) і p-типу (б ) |
нення в |
напівпровідниках |
|
|
ефекту |
Еттінгсгаузена |
у |
|
власному напівпровіднику |
|
|
95 |
|
|
|
Як показує досвід, при не дуже сильних полях Vx |
виявляється |
||
пропорційна |
індукції поля В, |
силі струму I і обернено |
пропорційна |
товщині пластини b : |
|
|
|
Тут j |
Vx = Rx BI / b = |
Rx Bja. |
(7.24) |
– густина струму в зразку; а – ширина зразка. Коефіцієнт |
пропорційності Rx є константою матеріалу і називається постійною Холла.
Вона має розмірність L3 / Q ( L – довжина, Q – електричний заряд) і
вимірюється в м3 /Кл.
Розглянемо фізичну природу ефекту Холла. При протіканні струму в напрямі, вказаному на рис. 7.4, а стрілкою, електрони здійснюють дрейф із швидкістю V в протилежному напрямі. На кожний такий електрон діє з боку
магнітного поля В сила Лоренца |
|
Fл = q[vB], |
(7. 25) |
де q – заряд електрона. Напрям цієї |
сили визначається правилом |
свердлика. Оскільки кут між V і В рівний 90°, то чисельне значення сили |
|
Лоренца складає: |
|
Fл = qvB. |
(7.26) |
Під дією сили Лоренца електрони відхиляються до зовнішньої межі пластини (штрихова лінія на рис. 7.4, а), заряджаючи її негативно. На протилежній грані нагромаджуються позитивні заряди, що не компенсуються. Це призводить до появи електричного поля, направленого від С до D і рівного
ex = Vx / a,
де Vx – різниця потенціалів між точками С іи D (е.р.с. Холла). Поле ex діє на електрони з силою F = - qex , направленою проти сили
Лоренца. При F = Fл поперечне електричне поле врівноважує силу Лоренца
і подальше накопичення електричних зарядів на бічних гранях пластини припиняється. З умови рівноваги
qvB = qex |
(7.27) |
знаходимо |
|
ex = vB . |
(7.28) |
Враховуючи, що густина струму в провіднику |
j = qnv , де n – |
концентрація електронів, одержуємо v = j / qn . Підставивши цей вираз в (7.28), знайдемо
Vx = (1/ qn)Bja . |
(7.29) |
Теорія приводить, таким чином, до виразу для |
Vx який збігається з |
(7.24), встановленим експериментально. Постійна Холла виявляється при цьому рівною
96
Rx = 1/ qn. |
(7.30) |
Ефект Холла є могутнім експериментальним засобом вивчення властивостей носіїв заряду в напівпровідниках. Змірявши постійну Холла
Rx , можна визначити концентрацію носіїв, а за напрямом е.р.с. Холла
визначити їх знак.
Пряма пропорційність між е.р.с. Холла і індукцією магнітного поля (для слабких полів) дозволяє використовувати напівпровідникові зразки як датчики для вимірювання напруженості магнітного поля. Розміри таких датчиків можуть бути достатньо малими (наприклад, 0,5 × 0,5 мм), так що з їх допомогою можна вести вимірювання з доброю просторовою роздільною здатністю.
Інерційність Холл-ефекту визначається максвеловським часом релаксації, тобто надзвичайно мала. Це дозволяє застосовувати датчики Холла для вимірювання високочастотних магнітних полів, для визначення сили струму за величиною створеного ним магнітного поля і т.п.
Як видно із співвідношення (7.24), холлівська е.р.с. пропорційна створенню сили струму, який протікає через датчик, на індукцію магнітного поля. Це дозволяє використовувати ефект Холла для перемножування двох сигналів, що необхідне, наприклад, у вимірниках потужності, фазових детекторах, лічильно-обчислювальних пристроях.
Останніми роками коло застосування датчиків Холла дуже розширилось, охопивши багато областей радіотехніки і електроніки.
7.4 Ефект Еттінгсгаузена
Ефект Еттінгсгаузена є супутнім ефекту Холла і полягає в тому, що при пропусканні струму через провідник, поміщений в поперечне магнітне поле (рис. 7.5), в напрямі, перпендикулярному до магнітного поля і струму, виникає градієнт температури. Найбільшу величину цей ефект має у власних напівпровідниках. Як було показано в попередньому підрозділі, в таких напівпровідниках електрони і дірки відхиляються магнітним полем в одну і ту ж сторону (до грані С на рис. 7.5). Внаслідок цього на одній грані зразка концентрація електронів і дірок виявляється вище рівноважної і там рекомбінація переважає над тепловою генерацією носіїв, а на іншій грані (на грані D рис. 7.5), навпаки, концентрація носіїв заряду нижча рівноважної і там теплова генерація переважає над рекомбінацією. Внаслідок цього тепло витрачається на генерацію електронно-діркових пар в одній частині зразка і виділяється в результаті їх рекомбінації в іншій частині цього зразка і в ньому виникає різниця
температур T1 - T2 (рис. 7.5).
Ефект |
Еттінгсгаузена спостерігається і в області домішкової |
провідності |
напівпровідників. В цьому випадку причиною його |
|
97 |
виникнення є відмінність часів вільного пробігу носіїв заряду, що мають різні швидкості теплового руху і внаслідок цього різні швидкості дрейфу «холодних» і «гарячих» носіїв. Згідно з формулою (7.27) холлівське поле
ex компенсує дію сили Лоренца лише для носіїв заряду, які рухаються з
деякою середньою дрейфовою швидкістю. Носії, дрейфуючі швидше, відхиляються у бік сили Лоренца, поволі дрейфуючі – в протилежну сторону. Які з цих носіїв є «гарячішими», залежить від переважаючого механізму їх розсіювання. Наприклад, якщо переважає розсіювання на теплових коливаннях гратки, «гарячі електрони» мають меншу рухливість в порівнянні з «холодними» і тому вони відхилятимуться до грані С (рис. 7.4,а) пластини і ця грань нагріватиметься; грань D , до якої відхиляються «холодні» електрони, охолоджуватиметься.
Ефект Еттінгсгаузена може бути використаний в тих же пристроях, що і ефект Пельтьє – в пристроях кондиціонування повітря, охолоджування, термостатування і под., де потрібне перекачування тепла. При цьому матеріал, що використовується для цих цілей, так само як і в елементах Пельтьє, повинен мати по можливості меншу теплопровідність, щоб перетікання тепла від гарячої грані зразка до холодної було утруднено. Гальваномагнітні ефекти не вичерпуються приведеними ефектами Холла і Еттінгсгаузена. Крім того, існують ще термомагнітні ефекти, тобто ефекти, що виникають у присутності градієнта температури і магнітного поля. Проте найбільше практичне значення мають розглянуті ефекти Холла і Еттінгсгаузена.
98
8 ОПТИЧНІ І ФОТОЕЛЕКТРИЧНІ ЯВИЩА В НАПІВПРОВІДНИКАХ
8.1 Поглинання світла
Спрямуємо на напівпровідник пучок світла потужністю W0 (рис.8.1).
Проникаючи всередину напівпровідника, світло поступово поглинається і його потужність зменшується. Виділимо на глибині x від поверхні напівпровідника нескінченно тонкий шар dx . Кількість світлової енергії dW , поглинаючої шаром dx , пропорційно потужності світла W , падаючого на цей шар, і його товщині:
dW = - aWdx. |
(8.1) |
Знак мінус вказує на зменшення енергії. Коефіцієнт пропорційності a називається коефіцієнтом поглинання. При dx = 1 a = - dW /W. Отже, коефіцієнт поглинання чисельно рівний відносній зміні потужності світла на одиниці шляху, який проходить воно в поглинаючому середовищі. Він
має розмірність, обернену довжині ( м- 1,см- 1 ).
Рисунок 8.1 – До пояснення |
Рисунок 8.2 – Схема власного |
закону поглинання світла в |
поглинання світла в напівпро- |
речовині |
відниках |
Інтегруючи (8.1) з урахуванням відбиття від поверхні, одержуємо
W = W0 (1- r)e- ax , |
(8.2) |
де r – коефіцієнт відбиття світла.
Розглянемо природу різних механізмів поглинання світла в напівпровідниках.
Власне поглинання. При власному поглинанні енергія світла, що потрапляє в напівпровідник, витрачається на збудження електронів з валентної зони в зону провідності (рис. 8.2). Відповідно до закону збереження енергії таке поглинання може відбуватися лише в тому
99
випадку, якщо енергія світлових квантів hw буде не менша ширини забороненої зони Eg :
hw ≥ Eg |
(8.3) |
З цієї умови можна визначити максимальну довжину |
хвилі |
l max власного поглинання: |
|
l max = 2pc / w = 2pch / Eg , |
(8.4) |
де с – швидкість світла. Для кремнію, наприклад, що має Eg |
1,1еВ, |
l 1,13 мкм. |
|
Квантово-механічний розгляд процесу поглинання світла показує, що окрім закону збереження енергії повинен виконуватися закон
збереження імпульсу: |
|
pn = pp + pфот . |
(8.5) |
Тут pn = hkn – імпульс електрона, перекинутого в зону провідності; р р – імпульс дірки, що виникла у валентній зоні; pфот – імпульс фотона
(кванта світла), що викликав перехід електрона. В межах першої зони Бріллюєна проекції імпульсу електрона на кристалографічній осі лежать в
межах |
від –hp / a до+ hp / a , де a – параметр гратки; |
340-8 см |
||||||||||||||||||
hp/ a |
108 h. |
|
|
|
||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Рисунок 8.3 – Прямі (а) і непрямі (б) переходи при власному поглинанні світла
Імпульс фотона рівний 2ph/l і для l = 10-5 см складає >> 105h, тобто приблизно на три порядки менше імпульсу електрона.
Тому можна вважати, що при оптичних переходах імпульс електрона практично не змінюється:
hkp hkn. (8.6)
На енергетичній діаграмі такі переходи зображаються вертикальними стрілками 1, 2 (рис. 6.3, а) і називаються прямими переходами.
100