Файл: Кривошеев М.И. Световые измерения в телевидении.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 114

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Сила света обычно не определяется путем непосредственного сравнения с известной и не измеряется, а определяется косвенно через измерение освещенности и расстояния.

Для измерения освещенности применяются измерительные при­ боры, называемые люксметрами. Визуальные люксметры устроены следующим образом. Одно из полей сравнения образовано испы­ тательной пластинкой, которая может быть сделана съемной. Во время измерений ее располагают в положении, совпадающем с плоскостью, в которой должна быть измерена освещенность. Для возможности осуществления уравнивания яркостей нужно создать вторую половину поля сравнения и иметь возможность изменения ее яркости. Необходимые для этого приспособления и собраны в приборе. Имеются источник света в виде лампочки накаливания, источник питания, гальванометр, различные поглотители и т. д.

При внелабораториых измерениях используются переносные ви­ зуальные люксметры, но в телевидении их применение ограничено из-за громоздкости и сложности в обращении.

 

 

2.3. ИЗМЕРЕНИЯ

ЯРКОСТИ

 

 

Яркость обычно

измеряется косвенным способом при измере­

нии

освещенности от поверхности,

яркость которой измеряется,

или

при

измерении

освещенности

оптического изображения

изме­

ряемой

поверхности.

Прямой способ

измерения яркости,

заклю­

чающийся в сравнении измеряемой яркости с эталоном «анделы на квадратный метр, практически не применяется. Измерение осве­ щенности в обоих случаях косвенного измерения яркости может выполняться приборами как визуального, так и фотоэлектрическо­ го типа.

При измерении яркости поверхности по освещенности от нее вплотную к светящейся поверхности ставится плоский непрозрач­ ный экран с отверстием площадью S. На расстоянии / от экрана измеряется освещенность Е, создаваемая участком светящейся поверхности, вырезаемым экраном. При этом по (1.12) « (1.15) легко найти, что при условии перпендикулярности направления из­ мерения и измеряемой поверхности

В = ^ .

(2.6)

Прибор, измеряющий освещенность, может быть в этом случае проградуирован непосредственно в кд/м2 при условии использова­ ния его с постоянными / и S, тогда этот прибор будет яркомером.

При измерении яркости по освещенности оптического изобра­ жения светящейся поверхности измерения не связаны условием расположения прибора на определенном расстоянии от измеряе­ мой поверхности <и выделения участка с определенной площадью. Яркомеры, в которых используется этот способ, работают следую­ щим образом [13].

— 42 —


Пусть требуется измерить яркость В поверхности А

(рис. 2.2).

На пути лучей света от этой поверхности

к поверхности, освещен­

ность которой фактически измеряется (в

визуальном

приборе —

это испытательная пластинка, а в фотоэлектрическом — фотоэле­ мент), ставится объектив О с непрозрачным щитом, имеющим ок­ но, площадь которого равна ц. Объектив О дает на испытательной пластинке действительное изображение а площадки А. Пусть рас-

\

л

 

 

а

 

 

 

 

Т і

 

—•

;—г

ч N

 

 

 

1^

 

 

 

1

 

 

 

 

Рис.

2.2. Измерение яркости по освещенности опти­

 

 

ческого

изображения

 

стояния / и /( достаточно велики по сравнению с линейными разме­ рами измеряемого участка, его изображения и окна. В этом случае участок А можно принять за точку, сила света которой в направ­ лении к окну равна по (1.12) ВА cos ср.

Световой поток F, проходящий сквозь окно (телесный угол ра­

вен -3— \ и падающий на

испытательную

пластинку, равен по

l\j

 

 

(1.10) с учетом коэффициента пропускания

объектива

F—

q

 

ВА cos ср т.

 

 

 

Так как площадь изображения а относится к площади изобра­

жаемой поверхности А как

 

 

alA cos ф = РЦ\ ,

 

то освещенность Е изображения, равная по (1.13) отношению па­ дающего светового потока к площади а, определится из выраже­ ния

Е = т

Bq_

(2.7)

Отсюда

Г-

 

 

 

В

х

(2.8)

 

q

Выражение (2.8) показывает, что при постоянных I и q яркость измеряемой поверхности пропорциональна освещенности испыта­ тельной пластинки. Таким образом, требование постоянства рас­ стояния и площади перенесено здесь внутрь прибора на его конст­ руктивные элементы.


2.4. ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СПОСОБЫ СВЕТОВЫХ ИЗМЕРЕНИЙ

Для применения в фотоэлектрических приборах, предназначен­ ных для измерения освещенности, — люксметрах, естественно, под­ ходят фотоэлементы, поскольку ток фотоэлемента зависит от его освещенности. Для переносных приборов удобны селеновые фото­ элементы, так как они не требуют источников питания, которые нужны для фотоэлементов с внешним фотоэффектом.

Селеновый фотоэлемент соединяется с чувствительным микро­ амперметром. Фотоэлемент делается обычно съемным, что дает возможность помещать элемент в желаемое место. Для расшире­ ния пределов измерений к микроамперметру добавляют переклю­ чаемые шунты или же фотоэлемент прикрывают калиброванными поглотителями. Поглотители могут быть сделаны из молочного •стекла или иногда из измельченного графита .в желатиновой плен­ ке, помещенной между двумя прозрачными или матовыми стекла­ ми, или же могут выполняться в виде перфорированных масок. С помощью этих средств пределы измерений люксметром могут быть расширены от нескольких десятков до десятков тысяч люкс. Ниж­ ние пределы измерений могут быть понижены до единиц люкс лишь за счет применения в приборах чувствительных гальваномет­ ров вместо микроамперметров.

Точность измерений фотоэлектрическим люксметром зависит от точности его калибровки, стабильности всех его элементов, а так­ же от цвета измеряемого освещения и направления падения света на поверхность, освещенность которой измеряется.

Градуировка люксметра должна периодически проверяться па

фотометрической скамье

(линейном фотометре).

При

проверке

градуировки фотоэлемент

располагается на подвижной

каретке

так, чтобы его плоскость

была перпендикулярна

оптической оси

скамьи. На неподвижной каретке располагается эталонный источ­ ник света, у которого известна сила света в направлении вдоль оси скамьи к центру фотоэлемента. Помещая фотоэлемент на различ­ ных расстояниях от эталонного источника света, определяют осве­ щенность его поверхности по закону квадрата расстояний и отме­ чают соответствующее отклонение стрелки гальванометра люксмет­ ра. На основании полученных данных строится градуировочная" кривая люксметра [12].

Если фотоэлемент используется без добавочных светофильтров, то измерения будут точными лишь для света того же спектрально­ го состава, что и свет, при котором была произведена градуировка прибора. Для того чтобы измерения можно было выполнять при источниках с различными цветами свечения, перед фотоэлементом должен помещаться специальный корректирующий светофильтр, рассчитанный и изготовленный таким образом, чтобы общая спект­ ральная характеристика чувствительности прибора совпадала с функцией относительной видности V{/.). Это обеспечивает так на-

— 44 —


зываемую цветовую кор­ рекцию. Ошибки при из­ мерении будут тем боль­ ше, чем больше спект­ ральная характеристика чувствительности люкс­ метра отличается от кри­ вой видности и чем боль­ ше (при неточной цвето­ вой .коррекции) измеряе­ мое освещение по цвету отличается от света, при котором производилась градуировка прибора.

Некоторые

люксмет­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ры, не имеющие цветовой

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

коррекции,

снабжаются

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

поправочными

 

коэффи­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

циентами

для

использо­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вания с

различными

ви­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

дами

освещения,

напри­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мер,

для

измерений

 

при

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

люминесцентном

освеще­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

нии

и

при

освещении

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ртутными

лампами.

В

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

некоторых

случаях

при­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

емлемая

цветовая

 

кор­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

рекция

 

обеспечивается

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

без

специального

 

свето­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

фильтра

за

счет

исполь­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

зования

 

соответствую­

I

f

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

щим

образом

подобран­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ного материала

для

проз­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

рачного

электрода

запи­

 

 

 

 

 

SOD

 

 

 

 

 

 

рающего

слоя

фотоэле­

 

 

 

¥00

 

 

600

 

700 Х,нм

мента [14].

 

 

 

 

 

Рис. 2.3. Разброс спектральных характери­

Широко

применяется

стик, чувствительности

селеновых

фотоэле­

корректирующий

 

свето­

ментов

(а),

 

спектральные

характеристики

фильтр,

составленный из

пропускания

светофильтров

для

коррекции

двух

стекол типа

ЖЗС18

спектральной

чувствительности

 

«среднего»

селенового

фотоэлемента (б)

(1 — расчет­

и ЗС8 [15]. Спектральная

ная, 2— светофильтра из стекол ЖЗС18 и

характеристика

пропуска­

ЗС8);

в)

кривая

относительной

видности

ния

этого

светофильтра

(1)

и

спектральная

характеристика

чувст­

рассчитана

на

коррекцию

вительности

«среднего»

селенового

фото­

некоторой

средней

спект­

элемента

с

пластмассовым

светофильт­

 

 

 

 

 

ром (2)

 

 

 

 

ральной

чувствительнос­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ти селенового

фотоэлемеита

и

имеет

коэффициент

пропускания-

в максимуме, равный

0,75. Хорошее совпадение двух кривых

иллю-

— 45 —


егрируется рисунком 2.36, пде 1 — расчета а я спектральная характе­ ристика пропускания с т м а к с = 0,75, а 2 — характеристика свето­ фильтра из стекол ЖЗС18 и ЗС8. Каждый конкретный фотоэле­ мент будет скорректирован при помощи этого светофильтра не так хорошо, как «средний», так как спектральные характеристики чувствительности селеновых фотоэлементов имеют довольно зна­ чительный разброс, как показано на рис. 2.3а [/16].

Плоскость фотоэлемента совмещается с поверхностью, освещен­ ность которой измеряется. При различных положениях близкого к точечному источника света относительно освещаемой поверхности этот источник создает освещенность поверхности, которая пропор­ циональна косинусу угла между нормалью к поверхности и на­ правлением на источник (1.15). Если фотоэлемент не обладает та­ кой «косинусоидалыюй реакцией», то требуется специальная кор­ рекция, так называемая «косинусная коррекция». Практически та­ кая коррекция требуется для большинства фотоэлементов, так как с увеличением угла падения ток фотоэлемента уменьшается силь­ нее, чем нужно. Косинусная коррекция, так же как и цветовая, приводит, конечно, к уменьшению чувствительности прибора.

Косинусная коррекция выполняется различными способами, например, при помощи интегрирующего купола над фотоэлемен­ том или диска из молочного стекла. При незначительном снижении

 

 

 

 

 

 

, 1

 

чувствительности

прибора

уда­

 

 

о

 

 

 

 

ется

обеспечить

совершенную

 

 

 

 

 

 

 

косинусную

коррекцию для уг­

 

 

 

 

 

 

 

 

лов падения света до 65°. При

 

 

 

 

 

 

 

 

этом

максимальное

уменьше­

 

 

 

 

 

 

 

 

ние тока фотоэлемента при па­

I

I

 

 

 

 

 

 

дении

света

 

почти

касательно

 

 

 

3

 

\

к его

поверхности

составляет

• I

I

 

 

 

 

 

 

около

13%

[14].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Цветовую

и

 

косинусную

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10

30

50

70

90°

коррекции

можно

выполнять

Рас.

2.4.

Отклонение тока

фотоэле­

раздельно;

при

этом

плоские

мента

от косинусной

зависимости

для

светофильтры,

используемые

«©которых

случаев

применения

селе-

для цветовой

коррекции,

еще

 

 

иовых

фотоэлементов

 

больше ухудшают зависимость

 

 

 

 

 

 

 

 

тока

фотоэлемента

 

от

угла

падения света (рис. 2.4) [17]. Горизонтальная линия / показывает соответствие тока требуемой косинусной зависимости. При угле

падения света 70° так фотоэлемента уменьшается

приблизительно

на 20% без корректирующего светофильтра

(кривая 2) и на 55%

с плоским корректирующим светофильтром

(кривая

3).

Цветовую и косинусную коррекции можно осуществлять и од­ новременно. Для этого используют, например, пластмассовый све­ тофильтр в виде сферического сегмента. Этот светофильтр лишь не­ много хуже корректирует спектральную чувствительность «средне­ го» селенового фотоэлемента, чем светофильтр из стекол ЖЗС18 и

— 46 —