Файл: Арифов У.А. Угловые закономерности взаимодействия атомных частиц с твердым телом.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 132

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

ми кристалла, с чем связано наличие каналов с разными попереч­ ными сечениями. Часть первичных ионов, как упомянуто выше, проникает в эти каналы, снижая значения Кр.

При работе с поликристаллическнмн мишенями (§ 3 гл. I) приходится учитывать большую или меньшую плотность материа­ лов, а в случае монокристалла имеются кристаллографические на­ правления с различной прозрачностью, которая для разных ориен­ таций кристалла по отношению к падающему пучку ионов спо­ собствует появлению анизотропии коэффициентов рассеяния ионов. Указанный эффект сугубо объемный и наблюдается в наиболее выраженном виде только при сравнительно больших (£0>0,5 кэв) энергиях ионов, когда эффективные сечения малы, кристалл доста­ точно прозрачен, а глубоко лежащие слои вносят существенный вклад в рассеяние.

При частичном проникновении первичных ионов в поверхност­ ные слои твердого тела выход рассеянных ионов вдоль тех или иных кристаллографических направлений, имеющих различные прозрачности, будет неодинаков. Тонкая структура углового и пространственного распределений ионов, рассеянных монокристал­ лами (§ 3 гл. II), связана с блокировкой выхода ионов под теми углами вылета, на которых расположены плотно упакованные це­ почки атомов. В направлении плотно упакованных цепочек благо­ даря экранирующему действию их атомов образуется тень, обу­ словливающая появление минимумов углового и пространствен­ ного распределений рассеянных ионов.

Таким образом, как и существование минимального угла рас­ сеяния, эффект ограничения рассеяния под большими углами отно­ сится не только к поверхности, но и к более глубоким слоям твер­ дого тела п другим кристаллографическим направлениям. Здесь, вследствие затенения атомов верхних слоев нижними, рассеяние (выход) на данный угол 0 будет также минимальным. Изменения вида углового и пространственного распределений рассеянных ионов в зависимости от энергии, угла падения первичных ионов и ориентации мишени по отношению к направлению пучка ионов не противоречат представлению о наличии запретных направлений рассеяния (выхода) для частиц, идущих из кристаллической ре­ шетки в вакуум.

Как изложено в § 4 и 5 гл. II, энергетический спектр ионов, рассеянных монокристаллами, обладает тонкой структурой, обу­ словленной многократными последовательными соударениями бом­ бардирующих ионов с упорядоченно расположенными атомами

кристалла. Полная вероятность рассеяния ионов

в направлении

р

с энергией Е

после

многократных столкновений

определяется

с

помощью формулы

(1.40), где суммирование частиц производится

по всем углам

р и ср, обусловливающим одинаковую энергию Е —

= E i (E0,

р).

гл. I)

было показано, что в случае поликристалли-

Выше

(§ 5

ческой мишени энергетический спектр помов имеет плавный харак­

123


тер, так как на иен с равной вероятностью реализуется любое про­

межуточное направление

рассеяния.

Поскольку рассеяние ионов

в данном направлении в

результате

однократного столкновения

с атомами решетки наиболее вероятно, благодаря резко дискретной потере энергии ионами в энергетическом спектре наблюдается мак­

симум (пик

однократного соударения).

В случае

монокрпсталлической мпшенп, как известно, имеются

направления с различной плотностью упаковки, которые приво­ дят к появлению ряда дополнительных пиков как в высокоэиергетнческоп', так п в низкоэиергетическоп областях пика однократ­

ного

соударения

[189, 190], что п имеет место в эксперименте

(см.

§ 4 гл.

II).

Однако из приведенных энергетических спектров видно, что на нпзкоэнергетическом склоне пика однократного соударения отсут­ ствуют пики кратных столкновений, хотя в некоторых случаях наблюдаются горбы. Отсутствие пиков, по-вндимому, 'связано с углом рассеяния. Действительно, нельзя быть уверенным, что в процессе последовательных многократных соударений ионы снача­ ла будут отклоняться на угол больший, чем угол р, на который отклоняются ионы, испытавшие однократные соударения, а в конечном счете на тот же угол р, так как величина поперечного сечения уменьшается с увеличением угла рассеяния. Таким обра­ зом, можно предполагать, что большая часть многократно рас­ сеянных ионов будет испытывать соударения и при каждом соуда­ рении будет происходить рассеяние на малый угол.

Как было упомянуто выше (§ 8 гл. I), вероятность того, что рас­ сеянная частица может испытать больше одного соударения с атомами мишени, сильно зависит от глубины расположения первой рассеивающей частицы. Если падающий ион претерпевает первое соударение в пятом пли шестом слое, то он имеет гораздо боль­ шую вероятность испытать дополнительные соударения до выхода из решетки, чем ионы, испытывающий первое соударение в первом или втором слое. Известно, что с увеличением глубины проникно­ вения первичных ионов вероятность обратного выхода их из ре­ шетки соответственно тоже уменьшается. Следовательно, влияние многократных столкновений на энергетические спектры будет мини­ мальным, если бомбардирующий ион испытает первое соударение в приповерхностном слое или прежде, чем испытать соударение проникнет (каналируется) в решетку так глубоко, что его выход станет маловероятным.

Указанное условие выполняется тогда, когда моиокристаллическая мишень бомбардируется вдоль плотно упакованных на­ правлений (т. е. плоскость падения параллельна плотно упакован­ ному атомному ряду кристалла), а анализу по энергиям подверга­ ются вторичные ионы, лежащие в плоскости, совпадающей с плос­ костью падения. При такой ориентации мишени относительно на­ правления пучка ионов все атомы, лежащие ниже верхнего слоя, экранируются поверхностными атомами и, следовательно, в энер­

124


гетическом спектре должны наблюдаться один или два наиболее выраженных пика, соответствующих нонам, испытавшим двукрат­ ные соударения на атомах плотно упакованных направлении, что и установлено в результате эксперимента. Другим важным кри­ терием в пользу многократного соударения является то, что в энергетическом спектре, полученном при углах, далеких от пре­ дельного угла рассеяния однократного соударения рПред, в случае /п.|</?г2 (Cs+ на Мо) обнаруживаются только пики кратных столк­ новений, а в спектре, снятом внутри этого предельного угла, появ­

ляются

пики обоих столкновений, т. е. однократного

и много­

кратных.

 

 

 

 

Рассмотрение изменения энергетических спектров ионов, рас­

сеянных монокристаллами как при n ii<in 2,

так

и при /7j|>m2 в

зависимости от энергии

(0,5-—5 кэв), угла

н

сорта

первичных

ионов

не указывает на

иное происхождение

тонкой

структуры

энергетического спектра. Она целиком обусловлена многократ­ ными последовательными соударениями бомбардирующих ионов с упорядоченно расположенными атомами кристалла. Однако в области энергии первичных ионов <500 эв и при сравнительно больших массах бомбардирующего иона (например, Cs+) в энер­ гетическом спектре рассеянных ионов обнаруживаются дополни­ тельные пики, происхождение которых, по-видимому, можно объ­

яснить возможностью соударения

тяжелого бомбардирующего

иона одновременно с несколькими

атомами кристалла [78, 84].

Относительная интенсивность пика двукратного рассеяния воз­ растает с увеличением атомных номеров иона z, и атома мишени z2 и убывает с ростом энергии первичных ионов Е0, угла рассеяния Р и расстояния d между атомами, на которых происходит последова­ тельное рассеяние (§ 4, 5 гл. И). Это в первую очередь связано с изменением сечения рассеяния, так как все указанные колебания параметров сталкивающихся частиц и условия эксперимента приво­ дят к увеличению сечения рассеяния. Отношение вероятности дву­ кратного к вероятности однократного рассеяния в данном направ­ лении (выражения (ШЛО) пли (III.12)) вычисленное с помощью машинного расчета на основе экранированного кулоновского по­ тенциала взаимодействия [186], также совпадает с результатами эксперимента.

Как видно из осциллограмм (§ 4, 5 гл. II) энергетических спектров ионов, рассеянных монокристаллами, наиболее вероят­ ный и самый энергичный двукратный пик в сторону больших энер­ гий спадает не круто, указывая на наличие ионов с энергиями, превышающими энергию при двукратных соударениях. Характер распределения по энергиям группы ионов с энергией Етах> Е 2 и изменение их числа с увеличением угла падения н энергии первич­ ных шонов не противоречат предположению о происхождении их в результате более чем двукратных соударений. Правильность такой точки зрения подтвердил характер энергетического спектра ионов, полученного при скользящих углах падения н вылета (Ф = 0 ^80°).

125


При этом энергетические положения однократного и двукратного пиков смещены в сторону больших энергий спектра, что свидетель­ ствует о резкам возрастании числа ионов, претерпевших повторные столкновения с большей кратностью, т. е. о цепочечном столкнове­ нии [124, 129, 191, 279, 280, 322, 323]. Действительно, если считать,

что ион после каждого столкновения отклоняется на одинаковый малый угол, то формула, определяющая энергию, сохраняемую ионом в результате многократных столкновений на угол (3, запи­ сывается в виде выражения (11.11), из которого следует, что с увеличением числа столкновений п значение Дщах стремится к До-

Таким образом, в составе вторичной эмиссии обнаруживаются не только ионы, претерпевшие одно- н двукратные соударения с атомами мишени, но и ионы, испытавшие соударения гораздо большей кратности, т. е. цепочечные столкновения.

Многие наблюдаемые экспериментально закономерности каче­ ственно удовлетворительно объясняются простой двухатомной моделью процесса рассеяния [186, 189, 237, 346]. Однако отмечае­ мые при углах Ф = 0> 80° и малых межатомных расстояниях неко­

торые расхождения с предсказаниями, полученными на основании рассмотрения двухатомной модели процесса рассеяния, хорошо объясняются моделью цепочечных столкновений. В результате изу­ чения прохождения заряженных частиц через кристаллическую решетку [322, 323] и рассеяния ионов поверхностью монокристал­ лов [129, 191, 124, 279, 280] было установлено, что при малых межатомных расстояниях н углах, составляемых направлениями пучка ионов с осями атомных цепочек, рассмотрение столкновений как строго индивидуальных актов уже не является корректным. Более правильным в этом случае, как было упомянуто выше, явля­ ется рассмотрение рассеяния ионов атомными цепочками, которое соответствует результатам эскперимента (см. § 4, 5 гл. II).

Результаты эксперимента позволяют использовать угловые за ­ кономерности взаимодействия атомных частиц с кристаллами (на­ пример, эффект теней, наблюдаемый на угловых и пространствен­ ных распределениях, н структурность энергетического спектра) для изучения структуры поверхностных слоев твердого тела и в том числе монокристалличности эпитаксиальных пленок.

В результате исследований угловых закономерностей рассея­ ния ионов кристаллами установлены следующие основные экспе­ риментальные факты.

1.Угловая зависимость коэффициента рассеяния ионов облада­ ет анизотропией, обусловленной совпадением направления пучка ионов с различными кристаллографическими направлениями кри­ сталла.

2.С возрастанием энергии первичных ионов Е0 на угловых за­ висимостях Кр начинают проявляться минимумы, соответствующиевсе более высокоиндицированным направлениям. Глубина моду­

ляции кривых Кр(Ф) с ростом Е0 увеличивается, а угловая шири­ на минимумов уменьшается.

126


3.Коэффициент диффузионных ионов /<д в зависимости от угла падения Ф имеет анизотропию, связанную с упорядоченной струк­ турой кристалла.

4.Угловое и пространственное распределения ионов, рассеян­ ных кристаллами, имеют тонкую структуру, обусловленную бло­ кировкой выхода вторичных ионов плотно упакованными атомны­ ми рядами.

5.С увеличением энергии первичных ионов тонкая структура углового и пространственного распределений становится более выраженной, что связано с возрастающим вкладом ионов, рас­ сеянных из глубины и формирующих тени направлений.

6.Энергетический спектр ионов, рассеянных монокристалла­ ми, имеет структуру, связанную с двукратными столкновениями

бомбардирующего иона с упорядоченно расположенными атомами кристалла.

7.В энергетическом спектре обнаружены ионы с энергиями, большими, чем у ионов, испытавших двукратные соударения,, что связано с большей кратностью соударений иона с атомами ми­ шени.

8.В случае т .\ < .т 2 в энергетическом спектре, полученном при углах рассеяния р, далеких от предельного (Зщред, наблюдаются только пики многократного соударения, а внутри его — одно- и многократных соударений.

9.Относительная интенсивность пика двукратного соударения

возрастает с увеличением атомных номеров иона Z\ и атома ми­ шени г2 и убывает с ростом энергии первичных ионов Е 0, угла рассеяния |3 и расстояния d между атомами, от которых происхо­ дит последовательное рассеяние.

10.Основные наблюдаемые угловые закономерности рассеяния ионов кристаллами качественно объясняются на основе теорети­ ческих моделей рассеяния изолированными рядами атомов.

11.Угловые закономерности рассеяния ионов монокристаллами могут быть использованы для изучения структуры приповерхност­ ных слоев твердого тела и в том числе тонких пленок по характе­ ру рассеяния ионов.

Г л а в а I I I

ВЛИЯНИЕ НЕКОТОРЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МОНОКРИСТАЛЛА НА УГЛОВЫЕ ЗАКОНОМЕРНОСТИ РАССЕЯНИЯ ИОНОВ

Исследования рассеяния ионов кристаллами позволят более ярко выделить отличительные особенности взаимодействия ионов с твердыми телами и газовыми мишенями, вызванные при­ надлежностью атома кристаллической решетке (силой' связи меж­ ду атомами, упорядоченным расположением атомов, тепловыми колебаниями их в решетке и т. д.). В этом отношении особенно ценными будут сведения о влиянии кристаллической структуры.и тепловых колебаний атомов решетки на угловое и энергетическое распределения рассеянных ионов. Если температура газовой мише­ ни неэкстремальна, то она, видимо, не влияет на взаимодействие ионов с мишеныо. В случае твердого тела плотность упаковки ато­ мов в цепочках различных направлений неодинакова, тепловые колебания атомов могут изменять прозрачность кристаллической решетки и соответственно вероятность ион-атомного соударения б приповерхностных слоях мишени, глубину проникновения быст­ рого иона в решетку, уменьшать эффективную энергию связи ато­ мов, искажать цепочки атомов, участвующие в передаче последо­ вательностей фокусированных соударений и т. д. В конечном сче­ те такие исследования могут дать много новых количественных сведений, необходимых для создания теории рассеяния ионов твер­ дым телом. В настоящей главе мы описываем результаты изуче­ ния влияния некоторых физических параметров кристалла на рас­ сеяние ПОНОВ.

§1. КРАТКИЙ ОБЗОР ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ ВЛИЯНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛА НА УГЛОВЫЕ ЗАКОНОМЕРНОСТИ РАССЕЯНИЯ ИОНОВ

Впервые влияние ориентации мишени на выход вторич­ ных ионов, т. е. на пространственное и энергетическое распре­ деления рассеянных ионов замечено В. Е. Юрасовой [235], Датц, Снук [274], В. А. Молчановым [169] и нами [247]. Более подробно воздействие различных физических параметров кристалла на рас-

128