Файл: Арифов У.А. Угловые закономерности взаимодействия атомных частиц с твердым телом.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 124

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

. А. Д. Цендин [220] рассмотрел в диффузионном приближении прохождение пучка легких атомов (ионов) средней энергии через аморфные пленки, состоящие из тяжелых элементов, считая, что при прохождении пучка легких атомов через вещество с большим атомным номером время релаксации по импульсу значительно меньше времени релаксации по энергии. Это означает, что в до­ статочно толстой пленке частица большую часть времени движется хаотически, и следовательно, применимо представление о диффу­ зии [343]. Было решено кинетическое уравнение для налетающих частиц путем разложения его по полиномам Лежандра:

^ = 5н ( Я + 5 у(/) = ^ г , I*); (V.10)

здесь (х — косинус угла между направлениями скорости и осью, z; q(z, v, р.) —■ функция источника; S y и S„ — интегралы упругих и нёупругих соударений соответственно.

Найдено выражение для углового и энергетического распреде­ лений частиц, прошедших через достаточно толстую аморфную пленку. При этом были использованы выражения для сечений уп­

ругих и

неупругих соударений, полученные О.

Б.

Фирсовым

[212,

213].

 

 

 

Применив полученные результаты к прохождению

частиц с

атомным

номером zt ^> 1, т. е. рассмотрев случай,

когда энергия

теряется главным образом при упругих соударениях, А. Д. Цендин вывел выражение для коэффициента прохождения

 

 

Д*-

 

 

5Г*

у]{ х ) = А ± ^ - е

(V.11)

где е0 = -----а . Е 0; а = 4,68-10~9

см;

А — множитель — ~ 1 ; х =

== (rcAfa2/2<J>2) У 3od — безразмерная

толщина пленки.

Результаты расчета по формуле (V. 11) сравнивались с экспе­ риментальными данными [142] (NaH— bAg, Au). Оказалось, что, несмотря на большое число пренебрежений, сделанных при выво­ де формулы (V. 11), согласие удовлетворительно.

А. М. Маркус и А. Л. Файштейн [151] изучали эффект каналиро* вания протонов с энергией 130— 180 кэв в монокристаллических пленках меди с целью контроля монокристалличности и уточнения ориентаций последних. Пленки меди, как обычно, выращивались из паровой фазы в вакууме ~10~6 тор методом эпитаксиального ро;ста на плоскости (100) монокристалла NaCl, подогретого до тем­ пературы 320°С.

' Коллимированный пучок протонов диаметром 1 мм падал на плёнку, укрепленную на гониометрической головке, обеспечиваю­ щей поворот пленки вокруг нормали к ее плоскости на (азиму­ тальный) угол ср 0—360° и наклон нормали относительно направ­ ления пучка на угол Ф = ±60°. Для уточнения ориентации полу^

196


ченных пленок снимались зависимости тока прошедших протонов /пор от угла ср при различных значениях угла Ф.

Измеренные зависимости / Пор(ф) показали наличие эффекта каналирования, что свидетельствовало о монокристалличности пленок. По виду кривых / Ппр(ф) можно было качественно судить о степени совершенства структуры последних. Наиболее откры­ тые каналы были обнаружены при Ф = 45°, что совпадало с распо­ ложением наиболее плотно упакованных направлений [ПО] ; в г. ц. к. решетке относительно направления [100]. Расположение каналов, наблюдавшееся при Ф = 35 и 55°, также хорошо согласо­ вывалось с расположением и степенью открытости каналов [112], [111] и плоскостных каналов (100), (110) относительно направле­ ния [100].

Е. М. Заруцкий и Г. Э. Абрамов [114] изучали прохождения щелочных ионов Li+ и Na+ через тонкие пленки Си при непрерыв­ ном увеличении их толщины. В приборе за пленкой размещалась молибденовая нить накала с медной навеской, при испарении ко­ торой увеличивалась толщина пленки. Конечная толщина пленки определялась по убыли веса распыляемой меди.

Сравнение зависимостей пробег — энергия показало, что глу­ бина проникновения ионов в пленке в процессе образования их структуры оказалась выше, чем у пленок, полученных заранее. Граничная толщина прострела, соответствующая кривой пробегэнергия, измеренная в процессе формирования пленки, была боль­ ше граничной толщины в случае заранее полученной пленки.

Ш. А. Абляев и Н. X. Джемидев [1] с помощью электростатиче­ ского анализатора исследовали энергетическое распределение электронов, выбитых ионами и электронами при прохождении че­

рез

тонкие фольги. Простреливались тонкие пленки из

КС1, А1 и

Ni

О

ионами Li+, Na+,

К+ с энергией 20 кэв.

(толщиной 300—400 А)

Изменения энергии ионов от

10 до 35 кэв

(в пределах

точности

эксперимента) не влияли

на

энергетическое

распределение элект­

ронов. Ширина энергетического распределения зависела от мате­ риала пленки, т. е. в случае пленки из хлористого калия она наибо­ лее узкая, а в случае никеля — широкая. Число вторичных элект­

ронов со сравнительно высокими энергиями уменьшалось

при

переходе от ионов лития к ионам калия.

. '

Авторы [49] с помощью электростатического анализатора так­ же исследовали вторичные эмиссии ионов и электронов при про­ хождении ионов Li+ через монокристалл Си. В этом случае при­ бор был дополнен гониометрическим устройством, что позволило изменить угол падения пучка ионов Ф от —30 до +60°, создать азимутальное вращение ф и изменить угол детектирования (рас­ сеяния) |3. Мишенью служили тонкие монокристаллические пленки Си, полученные вакуумным испарением на кристаллах с ориента-. цией плоскости [100].

На кривой / * (<р), как и в [151], наблюдались

четко выра­

женные максимумы, совпадающие с прозрачными

кристаллогра­

197


фическими направлениями [011]. Кривые электронной эмиссии

/~(<р) также немонотонны. Однако они

имели другой

характер,

т. е. (при больших энергиях — Е 0> 14

кэв),

когда

на

кривой

/ * р (?) отмечался максимум, на кривой /~(®)

наблюдался

мини­

мум, а при малых энергиях (£0<9 кэв) они по характеру совпа­

дали. Угловые распределения

прошедших ионов и эмиттирован-

ных

электронов имели такой

же характер, что и кривые /+ (да),

7поР

(?)•

максимумов углового распределе­

Превращение минимумов и

ния ионно-эллектронной эмиссии в максимумы и минимумы

соот­

ветственно при уменьшении £ 0

объяснялось «инверсией» электро­

нов из высокоиндицированных

направлений ионами, вылетающи­

ми вдоль низкоиндицированных направлений.

мало

Таким образом, в настоящее

время насчитывается очень

исследований углового и энергетического распределений ионов, прошедших через тонкие пленки. В существующих работах в ос­ новном изучался коэффициент прохождения в зависимости от энергии первичных ионов и толщины простреливаемой пленки. В работах [94, 95, 113, 116] для нахождения соотношения пробег — энергия анализировалось энергетическое распределение ионов, од­

нако

пленки простреливались легкими ионами

^Н,+, Н * :, НеТ

Li+j,

торможение которых (в области £ 0<50 кэв)

происходило

в основном на электронном газе металла.

Изучалась лишь зависимость энергетического распределения от энергии и толщины пленки, а угловая зависимость этих распреде­ лений не рассматривалась вовсе. Мало исследованы также угло­ вые распределения ионов, прошедших через монокристаллические пленки. Такие исследования позволят выяснить природу торможе­ ния заряженных частиц в твердых телах и помогут разработать метод изучения структуры твердого тела, конкурирующий с мето­ дом рентгеноструктурного анализа.

В настоящее время весьма важно изучение характера тормо­ жения заряженных (или атомных) частиц внутри вещества, так как результаты определения тормозной способности вещества, ее связи со скоростью (энергией) и сортом частицы, с параметрами кристал­ лической решетки и т. д. необходимы для установления энергии ионов в высокотемпературной плазме.

■ Изучая угловые закономерности прохождения тяжелых ионов йерез тонкие пленки, мы ставили перед собой следующие вопросы.

1.Угловое и энергетическое распределения ионов, прошедших через тонкие поли- и монокристаллические пленки металлов.

2.Влияние энергии, угла падения и массы бомбардирующих ионов на характер углового и энергетического распределений про­

шедших ионов.

198


3.Эффект каналирования налетающих ионов в кристалличе

ской решетке и изменение характера торможения в

зависимости

от кристаллической структуры пленки.

 

§2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ, АППАРАТУРА

 

И МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЙ

 

Экспериментальный прибор, на котором

проводилось

исследование угловой зависимости энергетических распределений ионов, прошедших через тонкие фольги металлов, изображен на рис. 79. Там же схематически показаны основные детали прибора, состоящие из следующих частей: 1 •— ионный источник со сфери­ ческим отклоняющим конденсатором 2 (угол раствора 67°) и им­ мерсионной линзой 3. Устройство и принцип работы источника такие же, как у ионного источника, описанного в §2 гл. I. Источ­ ник установлен против вытягивающего устройства пучка 4 с по­ мощью молибденовых вводов и находится в правой шаровой части прибора. Печка ионного источника 5 вместе с вытягивающей во­ ронкой 6 и коробкой источника 7 сделана съемной с отклоняющей и фокусирующей частей источника. Если необходимо получить ионный пучок другого сорта или снова зарядить печку солью t o f o же сорта, ее можно легко отделить от основной части источника.

Расстояние от последней диафрагмы ионного источника до вы­ тягивающего устройства 4 составляло 40—50 мм, что давало воз­ можность ускорить пучок ионов в этом промежутке до 50 кэв с помощью высоковольтного выпрямителя типа ВС-50-50, MP3. Вы­ тягивающее устройство представляло собой никелевый цилиндр с d = 4 5 и 1 = 250 мм, который имел пластинки 8 для отклонения пучка в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. С помощью этих отклоняющих пластинок достигалась высокая коллимированность пучка на поверхность мишени.

Мишенью 9 служили тонкие поли- и монокристаллические фоль-

О *

ги из Си, Al, Ag т о л щ и н о й от 150 до 1000 А, полученные путем тер­ мического испарения в вакууме. Тонкая фольга определенной тол­ щины, поднятая из раствора на медной мелкоструктурной сетке, устанавливалась в молибденовую шайбу диаметром 12 мм. Подго­ товленная таким образом молибденовая шайба с фольгой поме­ щалась в другую медную шайбу, прикрепленную к оси мишеневой ножки прибора 10 (рис. 79 а). Медная шайба прикреплялась к мишеневой ножке таким образом, чтобы мнимая ось ножки лежала на плоскости фольги (пленки). Вращение мишени и соответственно изменение ее ориентации относительно пучка первичных ионов осуществлялось с помощью специального устройства, вмонтиро­ ванного в мишеневую ножку и вращавшего ось под действием внешнего магнита 11 или мотора dcd-2A. Нижний конец оси мишене­ вой ножки лежал в изолированном гнезде, что давало возможность точно установить и вращать мишень (молибденовую шайбу с тон­

199