Файл: Козелкин В.В. Основы инфракрасной техники учебник.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 191

Скачиваний: 2

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

так как германий

имеет Ле = 0,825

эВ. Для кремниевого прием­

ника Ао = 1,1 мкм

(Де=1,12эВ), а

для сурьмяннстоиндиевого

(InSb) Хо = 6,6

мкм (Де = 0,18 эВ при ^ = 20° С). При охлаждении

InSb приемников ширина запрещенной зоны

увеличивается дс

0,23 эВ при 77

К, что приводит к Ао = 5,5 мкм.

У германия, леги­

рованного цинком, наоборот, при охлаждении Де уменьшается до

0,033 эВ, что обеспечивает чувствительность этого приемника

до

/_о~40 мкм.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Фоторезнстор подключается ко входу усилителя по схеме на

рис. 4.11. Величина снимаемого

сигнала

 

р

 

Uc определяется изменением напряже­

 

 

 

ния на нагрузочном резисторе Ru при

 

 

 

изменении

сопротивления

Ry

фоторезн-

 

 

 

стора в момент

облучения. Конденсатор

 

 

 

С служит разделительной емкостью, не

 

 

 

пропускающей

на вход

усилителя

по­

 

 

 

стоянного

тока

от

источника

 

питания

 

 

 

U„. На вход усилителя поступает толь­

 

 

 

ко

переменная

составляющая

сигнала

 

 

 

ДUс, возникающая

за счет

изменения

 

 

 

RT

приемника

при

приеме

 

модули­

Р и с . 4 .1 1 .

С х ем а п о д ­

рованного

или

импульсного

 

сигнала.

к лю чения

ф о т о р е зи ­

Если R„= RT, то значение

 

 

 

 

ст о р а к у си л и т ел ю

 

 

 

 

 

 

 

 

iU -

- f

*

(4.

18)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Относительное изменение сопротивления Д/?т/^т вычисляется

 

 

 

^р

D

D

 

 

 

 

 

 

из соотношения —L= —----

—, где Rcв — сопротивление в осве-

R-r Rt

щенном состоянии.

В некоторых случаях применения фоторезисторов требуется знать кратность изменения сопротивления, т. е. отношение Rt/Rcb- В этом случае в справочных данных приводятся значения Rпри освещенности фотослоя в 200 лк. Например, кратность из­ менения сопротивления отечественных сернистокадмиевых фоторезисторов типа ФС-К составляет 140, а селенистокадмиевых —

500.

Устройство и конструкция фоторезпсторов зависят от режима работы: без охлаждения пли с охлаждением. В зависимости от этого фоторезисторы подразделяют на неохлаждаемые и охлаж­ даемые.

Чувствительными элементами фоторезистора служат поликристаллическпе или монокристаллические химические соедине­ ния. К полпкристаллическим соединениям, применяемым для изготовления неохлаждаемых и охлаждаемых фоторезисторов, относятся: сульфид свинца PbS, селенид свинца PbSe и теллурид свинца РЬТе, от которых получили название сернистосвинцовые,

ш


селеннстосвшщовые и теллуристосвинцовые фоторезисторы. Для изготовления неохлаждаемых фоторезнсторов применяют суль­ фид кадмия CdS (сернистый кадмий) и селеипд кадмия CdSe (селенистый кадмии).

Технология изготовления фоточувствительных слоев из суль­ фида, селеинда и теллурида свинца представляет собой сложный и трудоемкий процесс. Фоточувствнтельные слои на основе солей свинца PbS, PbSe и РЬТе изготовляются в виде тонких пленок этих соединений, наносимых на стеклянные пли кварцевые под-

Р и с . 4 .12 . У ст р о й ст в о

н е о х л а ж д а е м ы х ф о т о р е зн ст о р о в :

о—сгрнпстосвинцового:

6—селенистосвиицового

типа

СФ-1;

/—«чувствительный слой:

2—подложка; <3—колпачок;

4—бу­

синка; 5—корпус: 6—электроды; 7—контакты;

S—эпоксидная

заливка;

9—окно; 10—вкладыш

 

 

ложки осаждением пз химического раствора этих солей (хими­ ческий метод) пли испарением в вакууме (физический метод). Толщина пленки (слоя) 0,5—2 мкм, размеры от 0,3X0,3 мм до 10X10 мм. После нанесения слоев в вакуумной установке на них напыляются путем золочения электрические контакты (эле­ ктроды) и слои поступают на очувствление. Операция очувствле­ ния происходит при определенной для каждого соединения тем­ пературе. Затем фотослои соответствующее время выдерживают­ ся (стабилизируются) п поступают на сборку. Конструктивное оформление фоторезнсторов самое разнообразное и зависит от места установки и типа аппаратуры, для использования в кото­ рой они предназначены. На рис. 4.12, а показано устройство неохлаждаемого сернистосвинцового фоторезпетра. Фоточувствительный слой /, нанесенный на кварцевую подложку 2, прпклеи-

112

вается к коваровому колпачку (корпусу) 3. Электроды 6, к кото­ рым подводится питающее напряжение, припаиваются к золо­ тым контактам 7 фотослоя. Один из электродов 6 («плюсовой») изолируется от корпуса с помощью «бусинки» 4. Второй элект­ род («минусовой») припаивается к корпусу. На колпачок наде­ вается наружная оправа (корпус) 5 с входным окном 9, который служит одновременно и фильтром, отрезающим ненужную часть спектра ИК-нзлученпя. В точках а—а колпачок и оправа свари­ ваются по окружности, после чего внутренняя часть колпачка за­ ливается эпоксидной смолой 8.

На рис. 4.12. о показано устройство более совершенного неохлаждаемого селенпстосвпнцового фоторезистора типа СФ4. Конструкция этого фоторезпетора разработана с использовани­ ем корпуса стандартного транзистора П-14. Фотослой 1, нанесен­

ный на подложку 2, приклеивается к

вкладышу

(ножке)

10.

Электроды в выводятся наружу через изоляторы

(бусинки)

4.

Вкладыш сверху закрывается корпусом

5 с входным окном 9.

Корпус и ножка по окружности в местах б—б

свариваются

в

вакуумной установке.

 

 

 

 

Из монокрпсталлических приемников наибольшее применение

в ПК-технике получили сурьмяннстоиндиевые

фоторезнсторы

InSb (антнмонид индия). Антнмонид индия имеет при комнатной температуре Ае = 0,18 эВ, что обеспечивает Яо = 6,6 мкм. При ох­ лаждении ширина запрещенной зоны увеличивается до 0,23 эВ, вследствие чего }.0 уменьшается до 5,5 мкм [см. формулу (4.17)]. Антнмонид индия выращивается в виде монокристаллов, которые разрезаются на пластины соответствующих размеров. Пластины шлифуются п анодным травлением доводятся до толщины около 10 мкм. Для подачи напряжения к пластине припаиваются инди­ евые электроды. Высокая чувствительность обеспечивается чисто­ той материала и высокой подвижностью носителей заряда, кото­ рыми в аптпмонпде индия служат дырки. Фоторезнсторы из антимонида индия чаще всего используют при глубоком охлаж­ дении до 77 К. При этой температуре фоторезнсторы способны фиксировать Фп~6-10~10 Вт/Гц'г п имеют Дт=Л0 кОм, т ^ 2 мс, напряжение шума £/ш~ Ю-8 В, обладают высокой стабильностью п надежностью п выдерживают большую облученность.

Кроме фоторезпеторов из антимонида индия, изготовляются фотовольтаические п фотомагнптные приемники, о которых будет рассказано ниже.

Для работы в области длин волн 8—40 мкм из монокрпстал­ лических соединений используется так называемый легирован­ ный германий.

Легирование состоит в добавке к германию примеси из золо­ та (Аи), цинка (Zn) пли меди (Си) во время выращивания мо­ нокристалла. За счет добавок (легирования) примесей в герма­ нии уменьшается энергия Ае, что приводит к увеличению Яо. Так, легирование германия золотом (обозначается G e: Аи) увеличи-

ИЗ


вает границу чувствительности до 9 мкм (Де<;0,15 эВ), порог чувствительности при охлаждении до 77 К составляет в макси­

муме (Хтах=5 мкм) примерно 5,б-10_12Вт/Гц'/=

при <7п=1

мм2.

В германии, легированном цинком (Ge:Zn),

Ае= 0,33 эВ,

что

обеспечивает чувствительность приемника

до 40 мкм.

Однако

при этом для достижения высокой чувствительности

требуется

охлаждение до температуры жидкого гелия

(4,4 К).

При этом

Фп = 10-11 Вт/Тц'/2 при Яшах~36 мкм. Постоянная времени леги­ рованного германия не превышает 0,01 мкс.

Добавка меди (Ge : Си) обеспечивает прием излучений с дли­ ной волны до 30 мкм с Фп= 4-10~12 Вт/Гц' = при Лтах = 20 мкм и рп=1 мм2. Работает такой приемник также при температуре жидкого водорода или гелия.

Германий, легированный Zn или Си, требует глубокого ох­ лаждения до температуры 4—20 К, что существенно усложняет конструкцию приемников.

ФОТОГАЛЬВАНИЧЕСКИЕ ( ФОТОВОЛЬТАИЧЕСКИЕ) ПРИЕМНИКИ

Существует и вторая разновидность приемников с внутрен­ ним фотоэффектом — это так называемые вентильные, или фо­ тогальванические, приемники. Принцип действия этих приемни­

ков заключается в следующем

(рис. 4.13). Если взять два мате­

риала

с разной проводимостью,

например

полупроводники

с

 

 

 

 

р- и «.-проводимостями,

то при

 

 

 

 

их соединении образуется

топкий

 

 

 

 

запирающий слон р—«-перехода.

 

 

пл

р@®

Этот слой

обладает

большим

со­

 

 

противлением и свойством одно­

 

 

е ь ? 0 ©

 

 

©^1 ® ©

сторонней проводимости. В по­

 

 

лупроводниковых

фотоприем­

 

 

 

 

никах

он выполняет

роль

венти­

 

 

 

 

ля,

поэтому такие приборы иног­

 

 

 

 

да называют вентильными. Из-за

Р и с. 4 .13 . С х ем а

ф о т о га л ь в а н и ч е ­

этого

слоя в нормальном термо­

ск ого

(в ен т и л ь н о го ) прием ни к а:

динамическом

состоянии

элек­

А,

Б — электроды: п, р —полупроводники

троны

е

из

/г-полупроводника,

с

п- и

р-проводимостями; Ф—поток

а дырки д из р-полупроводнпка

 

излучения; 3—запирающий слой

 

 

 

 

не

могут

перемещаться навстре­

 

 

 

 

чу друг другу.

 

 

 

 

При облучении одного из полупроводников, например с «- проводимостыо, его электроны, поглощая энергию излучения, пе­ рейдут в возбужденное состояние, получив избыток энергии. Если мощность излучения достаточно велика, то энергия возбужден­ ных электронов увеличится настолько, что они преодолеют со­ противление запирающего слоя и начнут перемещаться в сторону положительного заряда, т. е. в р-полупроводник. Положитель-

114


пые заряды-дырки этого полупроводника, не получив дополни­ тельной энергии, не могут преодолеть сопротивление запираю­ щего слоя и перейти в «-полупроводник. Следовательно, в «-по­ лупроводнике из-за ухода электронов возникнет избыток дырок— положительных зарядов, а в правой части вследствие притока электронов — избыток отрицательных зарядов. Между электро­ дами А п Б появится разность потенциалов, или фото-э.д.с.*. Ес­ ли в цепь электродов А и Б включить нагрузку, то в цепи по­ явится ток. Приемники, преобразующие лучистую энергию в электрическую без приложения напряжения, называют фото­ гальваническими пли фотовольтаическими.

Примером фотовольтаического приемника служит приемник из антпмоиида индия (InSb); « — /7-переход в InSb получают пу­ тем диффузии или вплавления в монокристалл антимонида ин­ дия цинка или кадмия. 'Фотогальванические приемники из InSb обладают высокой чувствительностью и мало инерционны. Так,

например, при

охлаждении до 77 К

можно получить

Фп = 4,3х

X 10~10 Вт/Г'ц1/2

при 5,3 мим, тг-^1 мкс. Приемник способен за­

регистрировать

разность температур

окружающей

среды до

0.1° С.

 

 

 

ФОТОДИОДЫ И ФОТОТРАНЗИСТОРЫ

 

 

Фо т о д и о д

(Фд) — это фотогальванический приемник, об­

ладающий свойством односторонней проводимости при воздей­ ствии лучистой энергии.

Фотодиод, включенный в цепь без приложения к электродам А и Б напряжения, работает в вентильном режиме. При прило­ жении напряжения к электродам А и Б в прямом направлении (плюс на электроде Б, минус на А) электрическое поле р—«-пе­ рехода увеличивается н условия перехода зарядов из освещен­ ного слоя облегчаются, вследствие чего ток резко возрастает.

При изменении полярности ток становится равным нулю. Фо­ тодиод в этом случае работает в фотодиодном режиме.

На рис. 4.14 показаны схемы включения фотодиода при раз­ личных режимах и получающиеся при этом вольт-амперные ха­ рактеристики, т. е. зависимости тока i от внешней разности по­ тенциалов U на «—/з-переходе.

На рис. 4.14, а видно, что при Ф= 0, т. е. когда фотодиод не освещается, кривая изменения тока проходит через начало ко­ ординат, т. е. тока, создаваемого излучением, нет. Точки пере­ сечения кривых с осью токов соответствуют режиму короткого замыкания (/?„■-=0), а при пересечении с осью напряжений — режиму холостого хода (У?„ = оо). Рабочий режим выбирается ис­ ходя из максимальной мощности Р, выделяющейся в цепи на­

грузки

Ru. Зная Р и задавшись

величиной тока t't

или напря­

* Ф ак тически ф о т о -э .д .с . в о зн и к а ет в

р е зу л ь т а т е в ст р еч н о го

д в и ж е н и я э л е ­

к тр он ов

и ды р ок .

 

 

115


жения U1, которые нужно получить на выходе ФД, можно нан-

и~

о

тп /?„, так как Я =

,1ЛИ Я = /1/т’|Г

*М1

Ф о т о т р и о д (фототранзнстор) ФТ представляет собой по­ лупроводниковый приемник, состоящий из трех чередующихся

Р ис. 4 .14 . С х ем а вкл ю чен ия ф о т о д и о д о в и п ол ь т -ам п ер н ы е х а ­ рак тери сти к и :

а —'В вентильном режиме; С—в фотодиодном

областей проводимости р и п: рп—р или прп. Как и в по­ лупроводниковом транзисторе, фототриод имеет коллектор, эмит­ тер и базу. База обычно служит приемной площадкой излуче­ ния. Работает фототриод по принципу обычного полупроводни-

Р н с. 4 .15 . У сл о в н о е

о б о зн а ч ен и е

( а ); сх ем а

к он стр ук ц и и

( б ); сх ем а в к л ю ч е­

ния (в) ф о

т о т р н о д а ; Б —

б а за ; Э —

эм и тт ер ; К —

к о л л ек то р

116

нового триода, в котором роль управляющего тока выполняет попадающее на базу излучение. На рис. 4.15 показаны условное обозначение, принципиальная схема конструкции и схемы вклю­ чения фототриода.

Ф о т о м а г и и т о э л е к т р н ч е с к и е (ФМЭ) приемники ос­ нованы на использовании эффекта Холла, который заключается в следующем. Если однородную полупроводниковую пластинку (рис. 4.16) поместить в магнитное поле с напряженностью Н, на­ правленной по оси х, и пропустить че­ рез нее ток /, направление которого перпендикулярно направлению маг­ нитного поля, то между точками А и Б, симметрично расположенными на плоскостях а и б, возникнет разность потенциалов

U = Cx ± j - ,

(4.19)

1 де Сх

постоянная

Холла, I дли-

4.16. К п р и н ц и п у

ра­

на пластинки.

потенциалов

возникает

боты ф о т о м а гн п т о эл ек тр п -

Разность

ч еск о го

п ри ем н и к а

 

в результате

воздействия

магнитного

 

тока

i

вдоль

поля на движение электронов; при направлении

осп у

электроны под

воздействием магнитного

поля

отклоня­

ются вверх и заряжают отрицательно верхнюю плоскость пла­

стинки относительно нижней. Если

вместо

пропускания тока

переднюю поверхность

кристаллической пластинки, например,

из сурьмянистого индия

(InSb),

облучить

ИК-излучением, то

в поверхностном слое образуются электроны и свободные дыр­ ки, которые начнут диффундировать внутрь кристалла. Под воз­ действием магнитного поля электроны и дырки начнут откло­ няться в противоположные стороны: электроны вверх, а дырки вниз. Между поверхностями а и б возникнет фотомагнитная э. д. с. Магнитное поле создается постоянным магнитом, внутрь которого помещают чувствительный слой. Фотомагнитоэлектрический приемник, так же как и вентильный фотодиод, не требу­ ет для работы источника питания, что является большим досто­ инством этого типа приемников. Работают ФМЭ приемники без охлаждения.

2.Параметры и характеристики приемников

Вприборах инфракрасной техники приемник облучается или постоянным потоком излучения, или прерывистым, когда излу­ чение поступает на приемник отдельными «порциями», последо­

вательно следующими друг за другом. Достигается это с по­ мощью устройств, которые периодически, по определенному за­ кону, закрывают доступ излучения к приемнику. Изменение по­

117