ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 10.04.2024
Просмотров: 191
Скачиваний: 2
так как германий |
имеет Ле = 0,825 |
эВ. Для кремниевого прием |
ника Ао = 1,1 мкм |
(Де=1,12эВ), а |
для сурьмяннстоиндиевого |
(InSb) Хо = 6,6 |
мкм (Де = 0,18 эВ при ^ = 20° С). При охлаждении |
|
InSb приемников ширина запрещенной зоны |
увеличивается дс |
|
0,23 эВ при 77 |
К, что приводит к Ао = 5,5 мкм. |
У германия, леги |
рованного цинком, наоборот, при охлаждении Де уменьшается до
0,033 эВ, что обеспечивает чувствительность этого приемника |
до |
||||||||||
/_о~40 мкм. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
Фоторезнстор подключается ко входу усилителя по схеме на |
||||||||||
рис. 4.11. Величина снимаемого |
сигнала |
|
р |
|
|||||||
Uc определяется изменением напряже |
|
|
|
||||||||
ния на нагрузочном резисторе Ru при |
|
|
|
||||||||
изменении |
сопротивления |
Ry |
фоторезн- |
|
|
|
|||||
стора в момент |
облучения. Конденсатор |
|
|
|
|||||||
С служит разделительной емкостью, не |
|
|
|
||||||||
пропускающей |
на вход |
усилителя |
по |
|
|
|
|||||
стоянного |
тока |
от |
источника |
|
питания |
|
|
|
|||
U„. На вход усилителя поступает толь |
|
|
|
||||||||
ко |
переменная |
составляющая |
сигнала |
|
|
|
|||||
ДUс, возникающая |
за счет |
изменения |
|
|
|
||||||
RT |
приемника |
при |
приеме |
|
модули |
Р и с . 4 .1 1 . |
С х ем а п о д |
||||
рованного |
или |
импульсного |
|
сигнала. |
к лю чения |
ф о т о р е зи |
|||||
Если R„= RT, то значение |
|
|
|
|
ст о р а к у си л и т ел ю |
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
iU - |
- f |
* |
(4. |
18) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
Относительное изменение сопротивления Д/?т/^т вычисляется |
||||||||||
|
|
|
^р |
D |
D |
|
|
|
|
|
|
из соотношения —L= —---- |
—, где Rcв — сопротивление в осве- |
R-r Rt
щенном состоянии.
В некоторых случаях применения фоторезисторов требуется знать кратность изменения сопротивления, т. е. отношение Rt/Rcb- В этом случае в справочных данных приводятся значения Rcв при освещенности фотослоя в 200 лк. Например, кратность из менения сопротивления отечественных сернистокадмиевых фоторезисторов типа ФС-К составляет 140, а селенистокадмиевых —
500.
Устройство и конструкция фоторезпсторов зависят от режима работы: без охлаждения пли с охлаждением. В зависимости от этого фоторезисторы подразделяют на неохлаждаемые и охлаж даемые.
Чувствительными элементами фоторезистора служат поликристаллическпе или монокристаллические химические соедине ния. К полпкристаллическим соединениям, применяемым для изготовления неохлаждаемых и охлаждаемых фоторезисторов, относятся: сульфид свинца PbS, селенид свинца PbSe и теллурид свинца РЬТе, от которых получили название сернистосвинцовые,
ш
селеннстосвшщовые и теллуристосвинцовые фоторезисторы. Для изготовления неохлаждаемых фоторезнсторов применяют суль фид кадмия CdS (сернистый кадмий) и селеипд кадмия CdSe (селенистый кадмии).
Технология изготовления фоточувствительных слоев из суль фида, селеинда и теллурида свинца представляет собой сложный и трудоемкий процесс. Фоточувствнтельные слои на основе солей свинца PbS, PbSe и РЬТе изготовляются в виде тонких пленок этих соединений, наносимых на стеклянные пли кварцевые под-
Р и с . 4 .12 . У ст р о й ст в о |
н е о х л а ж д а е м ы х ф о т о р е зн ст о р о в : |
||
о—сгрнпстосвинцового: |
6—селенистосвиицового |
типа |
СФ-1; |
/—«чувствительный слой: |
2—подложка; <3—колпачок; |
4—бу |
|
синка; 5—корпус: 6—электроды; 7—контакты; |
S—эпоксидная |
||
заливка; |
9—окно; 10—вкладыш |
|
|
ложки осаждением пз химического раствора этих солей (хими ческий метод) пли испарением в вакууме (физический метод). Толщина пленки (слоя) 0,5—2 мкм, размеры от 0,3X0,3 мм до 10X10 мм. После нанесения слоев в вакуумной установке на них напыляются путем золочения электрические контакты (эле ктроды) и слои поступают на очувствление. Операция очувствле ния происходит при определенной для каждого соединения тем пературе. Затем фотослои соответствующее время выдерживают ся (стабилизируются) п поступают на сборку. Конструктивное оформление фоторезнсторов самое разнообразное и зависит от места установки и типа аппаратуры, для использования в кото рой они предназначены. На рис. 4.12, а показано устройство неохлаждаемого сернистосвинцового фоторезпетра. Фоточувствительный слой /, нанесенный на кварцевую подложку 2, прпклеи-
112
вается к коваровому колпачку (корпусу) 3. Электроды 6, к кото рым подводится питающее напряжение, припаиваются к золо тым контактам 7 фотослоя. Один из электродов 6 («плюсовой») изолируется от корпуса с помощью «бусинки» 4. Второй элект род («минусовой») припаивается к корпусу. На колпачок наде вается наружная оправа (корпус) 5 с входным окном 9, который служит одновременно и фильтром, отрезающим ненужную часть спектра ИК-нзлученпя. В точках а—а колпачок и оправа свари ваются по окружности, после чего внутренняя часть колпачка за ливается эпоксидной смолой 8.
На рис. 4.12. о показано устройство более совершенного неохлаждаемого селенпстосвпнцового фоторезистора типа СФ4. Конструкция этого фоторезпетора разработана с использовани ем корпуса стандартного транзистора П-14. Фотослой 1, нанесен
ный на подложку 2, приклеивается к |
вкладышу |
(ножке) |
10. |
|
Электроды в выводятся наружу через изоляторы |
(бусинки) |
4. |
||
Вкладыш сверху закрывается корпусом |
5 с входным окном 9. |
|||
Корпус и ножка по окружности в местах б—б |
свариваются |
в |
||
вакуумной установке. |
|
|
|
|
Из монокрпсталлических приемников наибольшее применение |
||||
в ПК-технике получили сурьмяннстоиндиевые |
фоторезнсторы |
InSb (антнмонид индия). Антнмонид индия имеет при комнатной температуре Ае = 0,18 эВ, что обеспечивает Яо = 6,6 мкм. При ох лаждении ширина запрещенной зоны увеличивается до 0,23 эВ, вследствие чего }.0 уменьшается до 5,5 мкм [см. формулу (4.17)]. Антнмонид индия выращивается в виде монокристаллов, которые разрезаются на пластины соответствующих размеров. Пластины шлифуются п анодным травлением доводятся до толщины около 10 мкм. Для подачи напряжения к пластине припаиваются инди евые электроды. Высокая чувствительность обеспечивается чисто той материала и высокой подвижностью носителей заряда, кото рыми в аптпмонпде индия служат дырки. Фоторезнсторы из антимонида индия чаще всего используют при глубоком охлаж дении до 77 К. При этой температуре фоторезнсторы способны фиксировать Фп~6-10~10 Вт/Гц'г п имеют Дт=Л0 кОм, т ^ 2 мс, напряжение шума £/ш~ Ю-8 В, обладают высокой стабильностью п надежностью п выдерживают большую облученность.
Кроме фоторезпеторов из антимонида индия, изготовляются фотовольтаические п фотомагнптные приемники, о которых будет рассказано ниже.
Для работы в области длин волн 8—40 мкм из монокрпстал лических соединений используется так называемый легирован ный германий.
Легирование состоит в добавке к германию примеси из золо та (Аи), цинка (Zn) пли меди (Си) во время выращивания мо нокристалла. За счет добавок (легирования) примесей в герма нии уменьшается энергия Ае, что приводит к увеличению Яо. Так, легирование германия золотом (обозначается G e: Аи) увеличи-
ИЗ
вает границу чувствительности до 9 мкм (Де<;0,15 эВ), порог чувствительности при охлаждении до 77 К составляет в макси
муме (Хтах=5 мкм) примерно 5,б-10_12Вт/Гц'/= |
при <7п=1 |
мм2. |
||
В германии, легированном цинком (Ge:Zn), |
Ае= 0,33 эВ, |
что |
||
обеспечивает чувствительность приемника |
до 40 мкм. |
Однако |
||
при этом для достижения высокой чувствительности |
требуется |
|||
охлаждение до температуры жидкого гелия |
(4,4 К). |
При этом |
Фп = 10-11 Вт/Тц'/2 при Яшах~36 мкм. Постоянная времени леги рованного германия не превышает 0,01 мкс.
Добавка меди (Ge : Си) обеспечивает прием излучений с дли ной волны до 30 мкм с Фп= 4-10~12 Вт/Гц' = при Лтах = 20 мкм и рп=1 мм2. Работает такой приемник также при температуре жидкого водорода или гелия.
Германий, легированный Zn или Си, требует глубокого ох лаждения до температуры 4—20 К, что существенно усложняет конструкцию приемников.
ФОТОГАЛЬВАНИЧЕСКИЕ ( ФОТОВОЛЬТАИЧЕСКИЕ) ПРИЕМНИКИ
Существует и вторая разновидность приемников с внутрен ним фотоэффектом — это так называемые вентильные, или фо тогальванические, приемники. Принцип действия этих приемни
ков заключается в следующем |
(рис. 4.13). Если взять два мате |
||||||||||
риала |
с разной проводимостью, |
например |
полупроводники |
с |
|||||||
|
|
|
|
р- и «.-проводимостями, |
то при |
||||||
|
|
|
|
их соединении образуется |
топкий |
||||||
|
|
|
|
запирающий слон р—«-перехода. |
|||||||
|
|
пл |
р@® |
Этот слой |
обладает |
большим |
со |
||||
|
|
противлением и свойством одно |
|||||||||
|
|
е ь ? 0 © |
|||||||||
|
|
©^1 ® © |
сторонней проводимости. В по |
||||||||
|
|
лупроводниковых |
фотоприем |
||||||||
|
|
|
|
никах |
он выполняет |
роль |
венти |
||||
|
|
|
|
ля, |
поэтому такие приборы иног |
||||||
|
|
|
|
да называют вентильными. Из-за |
|||||||
Р и с. 4 .13 . С х ем а |
ф о т о га л ь в а н и ч е |
этого |
слоя в нормальном термо |
||||||||
ск ого |
(в ен т и л ь н о го ) прием ни к а: |
динамическом |
состоянии |
элек |
|||||||
А, |
Б — электроды: п, р —полупроводники |
троны |
е |
из |
/г-полупроводника, |
||||||
с |
п- и |
р-проводимостями; Ф—поток |
а дырки д из р-полупроводнпка |
||||||||
|
излучения; 3—запирающий слой |
||||||||||
|
|
|
|
не |
могут |
перемещаться навстре |
|||||
|
|
|
|
чу друг другу. |
|
|
|
|
При облучении одного из полупроводников, например с «- проводимостыо, его электроны, поглощая энергию излучения, пе рейдут в возбужденное состояние, получив избыток энергии. Если мощность излучения достаточно велика, то энергия возбужден ных электронов увеличится настолько, что они преодолеют со противление запирающего слоя и начнут перемещаться в сторону положительного заряда, т. е. в р-полупроводник. Положитель-
114
пые заряды-дырки этого полупроводника, не получив дополни тельной энергии, не могут преодолеть сопротивление запираю щего слоя и перейти в «-полупроводник. Следовательно, в «-по лупроводнике из-за ухода электронов возникнет избыток дырок— положительных зарядов, а в правой части вследствие притока электронов — избыток отрицательных зарядов. Между электро дами А п Б появится разность потенциалов, или фото-э.д.с.*. Ес ли в цепь электродов А и Б включить нагрузку, то в цепи по явится ток. Приемники, преобразующие лучистую энергию в электрическую без приложения напряжения, называют фото гальваническими пли фотовольтаическими.
Примером фотовольтаического приемника служит приемник из антпмоиида индия (InSb); « — /7-переход в InSb получают пу тем диффузии или вплавления в монокристалл антимонида ин дия цинка или кадмия. 'Фотогальванические приемники из InSb обладают высокой чувствительностью и мало инерционны. Так,
например, при |
охлаждении до 77 К |
можно получить |
Фп = 4,3х |
X 10~10 Вт/Г'ц1/2 |
при 5,3 мим, тг-^1 мкс. Приемник способен за |
||
регистрировать |
разность температур |
окружающей |
среды до |
0.1° С. |
|
|
|
ФОТОДИОДЫ И ФОТОТРАНЗИСТОРЫ |
|
|
|
Фо т о д и о д |
(Фд) — это фотогальванический приемник, об |
ладающий свойством односторонней проводимости при воздей ствии лучистой энергии.
Фотодиод, включенный в цепь без приложения к электродам А и Б напряжения, работает в вентильном режиме. При прило жении напряжения к электродам А и Б в прямом направлении (плюс на электроде Б, минус на А) электрическое поле р—«-пе рехода увеличивается н условия перехода зарядов из освещен ного слоя облегчаются, вследствие чего ток резко возрастает.
При изменении полярности ток становится равным нулю. Фо тодиод в этом случае работает в фотодиодном режиме.
На рис. 4.14 показаны схемы включения фотодиода при раз личных режимах и получающиеся при этом вольт-амперные ха рактеристики, т. е. зависимости тока i от внешней разности по тенциалов U на «—/з-переходе.
На рис. 4.14, а видно, что при Ф= 0, т. е. когда фотодиод не освещается, кривая изменения тока проходит через начало ко ординат, т. е. тока, создаваемого излучением, нет. Точки пере сечения кривых с осью токов соответствуют режиму короткого замыкания (/?„■-=0), а при пересечении с осью напряжений — режиму холостого хода (У?„ = оо). Рабочий режим выбирается ис ходя из максимальной мощности Р, выделяющейся в цепи на
грузки |
Ru. Зная Р и задавшись |
величиной тока t't |
или напря |
* Ф ак тически ф о т о -э .д .с . в о зн и к а ет в |
р е зу л ь т а т е в ст р еч н о го |
д в и ж е н и я э л е |
|
к тр он ов |
и ды р ок . |
|
|
115
жения U1, которые нужно получить на выходе ФД, можно нан-
и~ |
о |
тп /?„, так как Я = |
,1ЛИ Я = /1/т’|Г |
*М1
Ф о т о т р и о д (фототранзнстор) ФТ представляет собой по лупроводниковый приемник, состоящий из трех чередующихся
Р ис. 4 .14 . С х ем а вкл ю чен ия ф о т о д и о д о в и п ол ь т -ам п ер н ы е х а рак тери сти к и :
а —'В вентильном режиме; С—в фотодиодном
областей проводимости р и п: р—п—р или п—р—п. Как и в по лупроводниковом транзисторе, фототриод имеет коллектор, эмит тер и базу. База обычно служит приемной площадкой излуче ния. Работает фототриод по принципу обычного полупроводни-
Р н с. 4 .15 . У сл о в н о е |
о б о зн а ч ен и е |
( а ); сх ем а |
к он стр ук ц и и |
( б ); сх ем а в к л ю ч е |
ния (в) ф о |
т о т р н о д а ; Б — |
б а за ; Э — |
эм и тт ер ; К — |
к о л л ек то р |
116
нового триода, в котором роль управляющего тока выполняет попадающее на базу излучение. На рис. 4.15 показаны условное обозначение, принципиальная схема конструкции и схемы вклю чения фототриода.
Ф о т о м а г и и т о э л е к т р н ч е с к и е (ФМЭ) приемники ос нованы на использовании эффекта Холла, который заключается в следующем. Если однородную полупроводниковую пластинку (рис. 4.16) поместить в магнитное поле с напряженностью Н, на правленной по оси х, и пропустить че рез нее ток /, направление которого перпендикулярно направлению маг нитного поля, то между точками А и Б, симметрично расположенными на плоскостях а и б, возникнет разность потенциалов
U = Cx ± j - , |
(4.19) |
1 де Сх |
постоянная |
Холла, I дли- |
4.16. К п р и н ц и п у |
ра |
||||
на пластинки. |
потенциалов |
возникает |
боты ф о т о м а гн п т о эл ек тр п - |
|||||
Разность |
ч еск о го |
п ри ем н и к а |
|
|||||
в результате |
воздействия |
магнитного |
|
тока |
i |
вдоль |
||
поля на движение электронов; при направлении |
||||||||
осп у |
электроны под |
воздействием магнитного |
поля |
отклоня |
ются вверх и заряжают отрицательно верхнюю плоскость пла
стинки относительно нижней. Если |
вместо |
пропускания тока |
|
переднюю поверхность |
кристаллической пластинки, например, |
||
из сурьмянистого индия |
(InSb), |
облучить |
ИК-излучением, то |
в поверхностном слое образуются электроны и свободные дыр ки, которые начнут диффундировать внутрь кристалла. Под воз действием магнитного поля электроны и дырки начнут откло няться в противоположные стороны: электроны вверх, а дырки вниз. Между поверхностями а и б возникнет фотомагнитная э. д. с. Магнитное поле создается постоянным магнитом, внутрь которого помещают чувствительный слой. Фотомагнитоэлектрический приемник, так же как и вентильный фотодиод, не требу ет для работы источника питания, что является большим досто инством этого типа приемников. Работают ФМЭ приемники без охлаждения.
2.Параметры и характеристики приемников
Вприборах инфракрасной техники приемник облучается или постоянным потоком излучения, или прерывистым, когда излу чение поступает на приемник отдельными «порциями», последо
вательно следующими друг за другом. Достигается это с по мощью устройств, которые периодически, по определенному за кону, закрывают доступ излучения к приемнику. Изменение по
117