Файл: Маграчев З.В. Аналоговые измерительные преобразователи одиночных сигналов.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 27.06.2024

Просмотров: 109

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

где Is — ток диода при С/д=О, X — коэффициент аппрок­ симации, зависящий от конструкции лампы и темпера­ туры катода.

В области положительных напряжений (£/д> 0) мате­ матическую модель вакуумного диода удобно предста­ вить в виде параболы

гд = Л£/^+В£/д + /„

(2-31)

где А и В — коэффициенты аппроксимации. Коэффициенты аппроксимации для различных типов

диодов определяются по усредненной для нескольких экземпляров данного типа диодов вольт-амперной ха-

Рнс. 2-14. Вольт-амперные характеристики.

а — вакуумного; б — полупроводникового диодов; ^/дс — напря­ жение сопряжения участков аппроксимации.

рактеристике. Для отдельных экземпляров диодов коэф­ фициенты аппроксимации могут иметь разброс в преде­ лах до 10—20%, что обеспечивает удовлетворительную точность при расчетах. Например, для диода типа 6Д13Д коэффициенты аппроксимации имеют значения:

Л = 0,13-10-3 а/е2, В = 1,36 •10~3 a/в, Д = 63 •10~6 а, Х=

— 8,75 в-1 {Л. 55]. Для ряда других диодов коэффициен­ ты аппроксимации приведены в [Л. 53]. Следует отме­ тить, что при запирающих напряжениях свыше 3—4 в обратный ток вакуумных диодов определяется лишь па­ разитными токами утечки и обычно меньше наноампера.

Полупроводниковые диоды. При заряде накопитель­ ного конденсатора Сн через полупроводниковый диод

40

сопротивления p-ti перехода RP-n и растекания базы Re являются функциями напряжения на диоде [Л. 42]. Одна­ ко для практических расчетов сопротивление Re можно принять постоянным [Л. 41, 55] и в области малых токов аппроксимировать вольт-ам.перную характеристику р-п перехода полупроводникового диода (рис. 2-14,6) экспоиенцпальиой фуикцией

/д = /в(ех4/* - 1 ) ,

(2-32)

где ^ Uд — ток и напряжение иа диоде; 1а— обратный ток; X— коэффициент, зависящий от типа диода.

Для микроплоскостных и точечных диодов из-за влия­ ния сопротивления базы Re экспоненциальная модель диода справедлива лишь при токах 1д<1-г-1,5 ма. При больших токах погрешность такой аппроксимации пре­ вышает 50%, в связи с чем вольт-амперную характе­

ристику в этой области,

когда

Нд> Н дс (рис. 2-14,6)

аппроксимируют линейной функцией

 

 

ия- Ut

 

(2-33)

 

Rд.л

 

 

где RR,ff — сопротивление

диода

иа участке линейной

аппроксимации, в основном определяемое сопротивлени­ ем растекания базы Re\ Uo — напряжение отсечки.

Обычно для повышения крутизны вольт-ам.перной характеристики в исходном состоянии через диод пропу­ скают начальный ток ino, которым определяется рабочая точка диода и начальное смещение (точка А и (Уд0 на рис. 2-14). Для случая амплитудно-временного преобра­ зования этот ток является током стабилизации при раз­ ряде, для РИ — током смещения. На рис. 2-15 а, б пока­ заны способы подачи смещающего напряжения от источ­ ника Е через разрядное устройство РУ для преобразо­ вателей с открытым и закрытым входом.

Эквивалентные схемы для заряда накопительного конденсатора С„ через вакуумный и полупроводниковый диоды с учетом изложенных ранее соображений пред­ ставлены на рис. 2-16,а, 6. При использовании вакуум­ ных диодов выходное сопротивление генератора Rr мож­ но не учитывать, так как оно обычно в несколько раз

■41


* a - fW
Рис- 2-16. Эквивалентная схема заряда емкости С„.
а — через вакуумный диод; б — через полупроводниковый диод; а — обобщенная схема.
42

Рис. 2-15. Способы подачи смещающего напряже­ ния для преобразователей.

а — с открытым; 6 — с закрытым входом.

меньше сопротивления /?д. У полупроводниковых диодов прямое сопротивление соизмеримо с сопротивлением генератора Я г. Его можно учесть построением вольтамперной характеристики (например, графическим мето­ дом) для цепи, состоящей из последовательного соеди­ нения нелинейного элемента НЭ — диода и линейного элемента — сопротивления Rv. Значения коэффициентов аппроксимации такой цепи, разумеется, будут отличать­ ся от аналогичных коэффициентов для «чистого» диода.

Указанный прием позволяет свести эквивалент­ ные схемы диодно-кон­ денсаторных накопите­ лен ДКН (рис. 2-16,а, б)

к одной модели заряда, представленной на обоб­ щенной схеме (рис. 2-16,в) и проводить ее анализ независимо от ти­

па применяемого

диода.

Если

длительность им­

пульса

/п> 3-ь5

нсек, то

при использовании в схе­ ме полупроводникового диода его емкостью Сд, состоящей из зарядной и диффузионной составляю­ щих р-п перехода, можно пренебречь, так как из-за малой величины сопро­ тивления Rp -n время ее заряда не превышает

10-°— 10-10 сек.

При указанных выше допущениях дифференциаль­ ное уравнение для заряда накопительного конденсатора по схеме рис. 2-16,6 имеет вид:

Для упрощения анализа целесообразно представить входное напряжение UBX(t) в виде ступенчатой функции с напряжением Ит, интегрируя уравнение (2-34) отно­ сительно UBUX(t) в пределах 0—#и, ' найти значение Двых(^и) и по формуле (2-1) получить относительную зарядную погрешность бЙ3ар = Ф>(Нт, *„)•

Рассмотрим вначале погрешности при заряде для ДКН с вакуумным диодом. Предположим, что UBX= = Um>\Un,0\ (выполняется для Um> 1 в). Для импуль­

сов длительностью

tu< t0 (см. рис. 2-14,а) напряжение

на диоде £/д> 0 и при интегрировании уравнения

(2-34)

в него необходимо подставить значение тока f(U R),

опре­

деляемое функцией

(2-31). При tn>to рабочая

точка

диода переходит на участок вольт-амперной характери­

стики, аппроксимируемый показательной

функцией

(2-30), которую следует вводить в выражение

(2-34) при

дальнейшем его интегрировании.

При этом

граничное

значение времени {Л. 53, 55].

 

 

 

 

(2-35)

где D = y В' — 4А (/0—гд 0); тц—

постоянная вре­

мени заряда на параболическом участке.

Тогда в соответствии с изложенной методикой не­ трудно найти погрешности 8U3Bp(tn) [Л. 55]. При tn<^.to (работа на параболическом участке вольт-амперной ха­ рактеристики)

 

Ne х" — 1

где

(2-36)

 

 

D

А ( Сп + С д +

~ и ' в-°) + в

43


При tn^>t0 (работа на экспоненциальном участке)

 

8Нзар. э - ^

^ 1 п [ 1 - ( 1 - е Шя- 0)е

\,

 

(2-37)

где

'5Э==

^д. о

постоянная времени

заряда

на

экс­

 

 

 

 

 

 

 

 

поненциальном участке.

 

 

 

 

 

 

Величину начального тока гд,0 и смещения £/д.0

в

слу­

чае

РИ можно найти графически, если

известны

вольт-

амперная характеристика диода и нагрузочное

сопротив­

ление Rti или аналитически из соотношения

\U^,0 \/Rn =

= I se~lu*- °, если

известны параметры

аппроксимации.

Можно также воспользоваться номограммой, приведен­ ной в работе {Л. 9].

Аналогичная методика анализа применима для ДКН, использующих полупроводниковый диод. В этом случае до момента времени to (см. рис. 2-14,6), если Um> U m0 = = ПДС— Uдо ток /д в соответствии с функцией (2-33) ли­ нейно зависит от напряжения 1/д. При /„>^о его следу­ ет аппроксимировать экспоненциальной функцией (2-32).

При решении уравнения

(2-34), как указывалось выше,

можно положить Сд=0.

Граничное время to определяет­

ся выражением

ит + и

 

tо

(2-38)

^ д . о - У ' д . о ’

 

 

где Тл= С„/?д.л — постоянная времени заряда

на линей­

ном участке; U \o= Но-ИдоЯд.л— условное

начальное

напряжение на диоде при аппроксимации вольт-ампер-

ной характеристики

функцией (2-33), 1 /= и лйV'до-

Тсгда при tn<to

(работа на линейном участке вольт-

амперной характеристики)

 

 

_Jn_

 

Ш М1.а =

- ± - [ и - { и + и т) е П

(2-39)

 

ит

 

При tu^>t0 (работа на экспоненциальном участке)

8^3ар.э = Т ^ Г 1 п [ 1 - ( 1 - е - ш- ) е

J,

(2-40)

где т3— ;

Сн— г — постоянная времени заряда

на

экс-

 

(‘ в ~г 1д. о)

 

 

поненциальном участке.

44


Если заряд накопительного конденсатора осущест­ вляется только током экспоненциального участка вольтамперной характеристики диода, что имеет место при малых напряжениях

удля полупроводникового диода,

т 11UM|для вакуумного диода, то погрешность

 

_2п_

 

St/зар=

I n[1 - ( 1 - e ~ iu™)e ’»].

(2-41)

При весьма больших напряжениях импульсов, когда погрешностью из-за нелинейности вольт-амперных харак­ теристик диодов можно пренебречь, зарядную погреш­ ность рассчитывают по формуле [Л. 9, 53]

Ш „р = е х р (— Ш - ) ,

(2-42)

где Дд — прямое сопротивление диода на участке линей­ ной аппроксимации, которое легко определяется графи­ чески.

Выражение (2-42) применимо при Um>lO в для по­

лупроводниковых

диодов

и и т > 50

в

для

вакуумных

диодов.

Полученные

вы-

. „gKlnit)

 

 

 

__

ражения позволяют сточ-

' кп

 

 

 

ностью,

достаточной

для

^0

 

 

 

 

инженерных

расчетов,

~Сн

 

 

 

 

производить оценку заряд­

л ■'Х10~ц

 

 

 

 

ных погрешностей

ДКН.

)

 

 

 

 

Зная тип диода и посто­

 

 

 

 

2 Ч 6

8

10 12 П

16 18 в

янные для каждого преоб­

разователя

величины

1до

Рис. 2-17. Графики

зависимости

(или t/до) и Сн, нетрудно

tolC „= f(U m)

 

для диода 6Д13Д

рассчитать <5[/зар

при

за­

(сплошной

линией)

и

2Д503Б

данных Umи /и- При расче­

(пунктиром).

 

 

 

 

те сначала определяют -to

 

 

 

 

 

по формулам (2-35) и

(2-38). Далее в зависимости от со­

отношения t0 и ta и напряжения импульса Um по форму­ лам (2-36), |(2-37), (2-39), (2-40) или (2-41), (2-42) вы­ числяют погрешность б[/3арДля удобства пользования этими формулами на рис. 2-17 приведены для примера графики зависимостей to/CH— f{U m) при использовании диодов 6Д13Д. Аналогичные графики могут быть по­ строены и для других диодов, например, для некоторых вакуумных диодов они приведены в [Л. 34, 53].

45


 

а)

б)

 

Рис. 2-18. Графики зависимости бГ/зпр=f(tn)um =var.

 

а — для диода 6Д13Д;

б — для диода 2Д503Б; сплошными линиями

показаны

расчетные

кривые, штриховыми — экспериментальные.

 

При

работе

на экспоненциальном участке

вольт-

амперной характеристики диода погрешность б£/3ар су­ щественно зависит от коэффициента X, определяющего

эквивалентную

постоянную времени тэДля

диодов

с равными или близкими значениями X, несмотря на раз­

ницу в токах,

величины 6t/3ap приблизительно

равны.

На рис. 2-18 приведены результаты экспериментальных исследований зарядных погрешностей для РИ на ваку­

умном диоде 6Д13Д (С„ак= 25

пф, R „= 620 ком,

Ua0=

= 0,5

в)

и полупроводниковом

диоде 2Д503Б

(С11ак=

= 4 7

пф, Rn— 6,2 Мом,

[/д0— 0,4 в). Характеристики ени-

мались для схемы РИ

с открытым входом (рис. 2-19).

Диод Д

(6Д13Д или 2Д503В) и согласующий резистор

(75 ом)

встраивались в коаксиальные диодные головки.

На вход РИ подавались импульсы от генератора Г5-12. Выходные сигналы РИ фиксировались осциллографом С1-15 [Л. 55]. На графиках рис. 2-18,а, б сплошными линиями нанесены кривые погрешностей, рассчитанных по приведенным выше формулам, а штриховыми — полу­ ченные по результатам эксперимента. Из графиков вид­ но хорошее совпадение теоретических и эксперименталь­ ных результатов.

Сравнивая вакуумные и полупроводниковые диоды, можно заметить, что применение (Последних позволяет

46