Файл: Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия.pdf

Интерференционные полосы [Ю нга

156, 157

Ионная бомбардировка 283

Калибровка увеличения 123 Камеры для исследования живы х

объектов 123, 144 Картина каналирования 236, 237

Катод «ланцет» См. Острозаточенный

Линзы зондоформирующая 221, 242, 248

магнитные 16, 71, 98 «плоская» 249

проекционная 21, 59, 135 промежуточная 21, 59, 135

стонкими пленками или сетками

211

Лучи g, G, ft, Н 55, 56, 60

Люминесцентный экран 21, 59, 138

М агнитная цепь линзы 84, 85 Малоугловая дифракция 162, 163 Масляный диффузионный насос 140,

141

Методика распыления 292

М икродиф ракция с селекторной диа­

Микрофотография 23, 294, 295, 300—

Модуляция вертикального отклоне­ ния 219, 313

Наблюдение микрофотографий по­ средством стереоскопа 155

Негативное окрашивание 293, 302,

303

Некогерентное освещение 12

Нсупругое столкновение 80, 126

Нить накала, испускающ ая элек­ тронный пучок 19, 22, 113, 119

Обезвоживание объектов 286 Обратная пространственная частота

191

Общие методики препарирования 292 Объективная линза 19, 58, 71, 77—

80, 98, 132

Объектодержатель микроскопа 281 Одиночная линза 106— 109 Однократное рассеяние 126 Окрашивание 291, 301 О ктуполи 207— 209

Оператор Вронского 67, 68 Оптическая плотность 139 Острозаточенный катод И З , 119 Остроконечный катод 113, 119 Отвердитсли заливочного вещества

287

Отклоняющие ка туш ки 133, 134, 224

Параксиальная аппроксимация 49, 52 Передаточная функция

амплитудного контраста 191, 194— 196

микроскопа 194, 202 фазового контраста 191, 196— 198

Плазмонные потери энергии 131 Плоскость Фраунгофера 186 Поворот изображения 58 П одложка для исследуемого веще­

ства 282 Показатель преломления в электрон­

ной оптике 171 Полиномиальные формы асимптоти­

ческих коэффициентов аберрации

99— 105

Послефиксирование 285, 301 Предел Лэнгмюра 116 Предел разрешения 13, 200, 215

Приготовление объектов

для просвечивающего м икроско­ па 279

для растрового микроскопа 281 Призмы магнитные и электростати­

ческие 258 П ринцип действия электронных линз

16

Пропорциональный счетчик 251, 253 Просвечивающий растровый элек­ тронный микроскоп 25, 36, 39,

217— 220, 239— 246, 259, 314

Пространственная частота 182 Пространственный заряд и коррек­

«Релятивистское» ускоряющее напря­ жение 49, 83

Рентгеновский микроанализатор 25. 41, 238, 246— 252

Рентгеновские спектрометры 249— 253

Ртутный диффузионный насос 141

Сверхпроводники 148, 306 второго рода 150

Сверхпроводящая линза 148— 154 Сверхструктура 184 Светопроводящая трубка 225 Ссгнетоэлектрики 233, 305 Сетка для объекта 121, 290, 291

Сетка-держатель объекта 121, 289— 292

Серии срезов 290, 291 Сечение рассеяния 127

Система сцинтиллятор — фотоумно­ житель 37, 225, 243

Собирательное действие электронных линз 57

Состояние насыщения 143, 153 «Спрямляющая» ф ункция 213

Стабильность тока объективной линзы и ускоряющ его напряжения 140

Стробоскопический метод в растровой

Точечный катод См. Остроконечный

У пругое столкновение 80, 126

всмешанных полях 46

вэлектростатических полях 46

Ускоритель полимеризации заливоч­ ных сред 287

Ускоряющее напряжение 15, 19

Фазово-контрастная микроскопия 166 Фазово-контрастный объект 11 Фазовый сдвиг, вызываемый С$ и де­

фокусировкой 188, 194— 196 Фазовый сдвиг, вызываемый объек

том 169— 172

Фиксирование 285 замораживанием 286

Фиксирую щ ее вещество 285 Фильтр Вина 260— 263

Фо кус, объект или изображение 57,

58, 64, 65, 68, 69, 73— 75, 90, 91

Ф окус объективной линзы 69— 71, 76, 77

Фокусное расстояние 58, 67, 69, 74,

Фотографическая эмульсия 138 Ф ун кц и я , определяющая изменения

амплитуды и фазы падающей волны при прохождении через объект

171

Фурье-преобразование 174— 184

«Холодный катод» 30 Хроматическая аберрация 93, 97—

102, 114, 133, 137, 138

Центробежный насос 140, 141

Частично экранированная линза 249, 250

Четырехокись осмия 285 Численный анализ 86 Числовая апертура 12

Электролитическая полировка объек­

Электростатические линзы 17, 106 Электростатический спектрометр 243 Элементарная формула линзы 67 «Эльмископ-101» фирмы «Сименс» 20,