Файл: Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 77

Скачиваний: 2

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
O p t i c a l a n d E l e c t r o n M i c r o s c o p y ,
A d v a n c e s i n

298

Литература

43. H a n s z e n K .-J., The optical transfer theory of the electron mic­ roscope; fundamental principles and applications,

4, 1—84 (1970).

44.H a r d y D. F., Combined Magnetic and Electrostatic Quadrupolo Electron Lenses, Thesis, Cambridge, 1967.

45.

H a r d у

D.

F.,

Superconducting electron

lenses, A d v a n c e s i n

46.

O p t i c a l

a n d

E l e c t r o n M i c r o s c o p y , 5

(1972).

K . , Y o t s u m o -

H a s h i m o t o

H., K u m a o

A., H i n о

 

t о E ,

O n o

A.,

Images of thorium atoms by transmission elec­

 

tron microscopy, J a p a n e s e J o u r n a l

о/ A p p l i e d

P h y s i c s , 10, 1115 —

 

1116 (1971).

 

 

 

 

47.H a y a t M. A., Principles and Techniques of Electron Micros­ copy, Van Nostrand, Reinhold, New York, 1970.

48.

H e n г у

L.,

Filtrage magnetique

des vitesses

en

microscopie

49.

electroniquo, These, Paris,

1964.

 

 

R.

B.,

P a s h -

H i r s c h

 

P.

B.,

H o w i e

A., N i c h o l s o n

 

l e y

D.

W. ,

W h e l a n

M.

J.,

Electron Microscopy

of Thin

50.

Crystals,

 

Butterworths, London,

1965.

 

 

J.

C.,

K a m m i n g a

W. , V o r s t e r

 

J. L., F r a n c k e n

51.

O p t i k ,

28,

a

442—461 (1968/1969).

 

H., Y a m a z a k i

H.,

К a n a y

 

K.,

K a w a k a t s u

52.

S i b a t a

 

S . , J .

S c i . I n s t r u m . , 43,

416—429 (1966).

 

 

 

K a y

D.

 

II., Ed., Techniques for Electron Microscopy, Black-

53.

well,

Oxford,

1965.

 

M. E., Electron Optics, Cambridge

K l e m p e r e r ,

B a r n e t t

54.

University

Press,

1971.

 

23a,

100—109 (1968).

 

 

 

L a u e r

 

R.,

Z .

N a t u r j o r s c h . ,

in

kleinste

55.

L e n z

F.,

Zur Streuung

mittclschnellor Elektronen

56.

Winkel,

Z.

N a t u r j o r s c h . , 9a,

185—204 (1954).

 

 

 

 

L e n z

F.,

Z. P h y s . , 172,

498—502

(1963).

 

 

 

 

57.L e n z F., Transfer of image information in the electron micros­ cope, In: Electron Microscopy in Material Science, Academic

58.

Press, New

York

and London, 1971.

737—745

(1955).

L i e b m a n n G., P r o c . P h y s .

S o c . , B68,

59.

L i p p c r t

W .,

P о h 1 i t W.,

O p t i k , 9,

456—462

(1952).

60.M a с 1 a c h 1 a n M. E. C.

61.M a g n a n C., Ed., Traite de Microscopie Electronique, Hermann, Paris, 1961.

62.M a h 1 H.

63.

M a h 1

H.,

W e i t s c h

W., Z. N a t u r j o r s c h . ,

15a, 1051 —1055

64.

(1960).

 

L.,

Early

History

of

the

Electron

Microsco­

M a r t о n

 

pe,

San

Francisco

Press, California

and

Heffer,

Cambridge,

65.

1968.

 

 

D .,

Investigations

Relating to

the

Design of

M с M u 1 1 a n

66.

Electron

Microscopes, Thesis, Cambridge,

1952.

Biologists,

M e с к G. A.,

Practical

Electron

Microscopy

for

67.

Wiley — lnterscienco, London and New York, 1970.

 

M e t h e г о 11

A. J. F.,

Energy analysing and energy selecting

 

electron microscopes,

A d v a n c e s i n O p t i c a l a n d

E l e c t r o n

M i c r o s c o p y ,

 

A ,

263—360

(1970).

 

 

 

 

 

 

 


 

 

 

 

 

 

Литература

 

 

 

299

68.

М u 1 v е у

Т., Origins and historical development of the electron

 

microscope,

B r i t i s h

J o u r n a l

o f A p p l i e d

P h y s i c s ,

13, 197—207

69.

(1962).

 

T., The history of the electron microscope, P r o c e e d i n g s

M u 1 v e у

70.

o f th e R o y a l

M i c r o s c o p i c a l S o c i e t y , 2 ,

201—227 (1967).

M u l v e y

T.,

W a l l i n g t o n

M. J.,

/ . S c i .

I n s t r u m . (2),

71.

2, 466—472

(1969).

 

 

W. C., P e a s e R. F. W ., A d v .

О a t 1 e у C. W ., N i x o n

72.

E l e c t r o n i c s

e le c tr o n

P h y s . , 21,

181—247

(1965).

 

 

P e a s e

R. F. W. ,

N i x o n

W. C

S c i .

I n s t r u m . , 42, 81—85

73.

(1965).

 

H.

E. R.

 

 

 

 

 

 

 

P r e s t o n

 

 

 

 

Untersuchungsund

74.

R e i m e r

L.,

Elektronenmikroskopische

75.

Praparationsmethoden, Springer, Berlin,

1967.

electron micros­

R i e с к e

W. D.,

Prospects for high resolution

 

copy, P h i l o s o p h i c a l

T r a n s a c t i o n s o f th e

R o y a l

S o c i e t y , B261,15—34

76.

(1971).

E .,

25 Jahre

Elektronenmikroskopie,

 

 

R u s k a

E le k t r o t e c h n i s c h e

77.

Z e i t s c h r i f t ,

78,

531—543

(1957).

 

 

 

 

 

R u s к a

E.,

Past

and present attempts to attain the resolution

 

limit of the transmission electron microscope, A d v a n c e s i n O p t i c a l

78.

a n d E l e c t r o n M i c r o s c o p y ,

1, 115 —179 (1966).

 

 

 

S c h i m m e l

 

G.,

V o g e l l

W ., Eds., Methodensammlung der

 

Elektronenmikroskopie (1970—), Wissenschaftliche Vcrlagsge-

79.

sellschaft,

Stuttgart.

 

 

 

 

 

 

 

S e p t i e r

A., The struggle to overcome spherical aberration in

 

electron optics,

A d v a n c e s

i n O p t i c a l

a n d

E l e c t r o n

M i c r o s c o p y , 1,

 

204 -274

(1966).

 

 

 

 

 

 

 

 

80.S e p t i e r A., Ed., Focusing of Charged Particles, Academic Press, Now York and London, 1967.

81.S j 6 s t r a n d F. S., Electron Microscopy of Cells and Tissues, vol. I, Instrumentation and Techniques, Academic Press, London

and New York,

1967.

82. T h o m s o n M. G. R ., The Aberrations of Quadrupole Electron

Lenses, Thesis,

Cambridge, 1967.

83.T h о n F., Zur Deutung der Bildstrukturen in hochaufgelosten elektronenmikroskopischen Aufnahmen diinner amorpher Objekte, Dissertation, Tubingen, 1968.

84.T h о n F., Phase contrast electron microscopy, In: Electron Microscopy in Material Science, Academic Press, New York and London, 1971.

85V a l d r e U., Ed., Electron Microscopy in Material Science, Academic Press, New York and London.

86.

W a d e

R.

H.

87.

Y a d а

К .,

H i b i T., J . E l e c t r o n M i c r o s c . , 18, 266—271 (1969).




п р е д м е т н ы й у к а з а т е л ь

Аберрации 93 Автоэмиссионный ионный микроскоп

254

Автоэмиссионный электронный ми­ кроскоп 239— 242

Алмазный нож 288 Амплитудно-контрастный объект 11 Анализаторы

Иш инокава 269— 271 Молленштедта 264—268 с задерживающим полем 259 энергии 256— 275

Анод 114 Апертурная диафрагма объективной

линзы 19, 21, 80, 168

Апертурная ф ункция пропускания

186— 190

Аралдит 287, 288 Артефакты 295

Асимптотические главные плоскости

64— 67

Астигматизм 82, 134 Атомный форм-фактор

для рентгеновских лучей 130 для электронов 127

Биологические материалы 284 Буферное вещество 285 Буферный баллон 140

Вакуумные насосы 140 Ванна Лэнгмю ра 292 Венельт 114 Вестопал 287, 288

Вибрирующая катуш ка 86 «Внутренний потенциал» объекта 172

Возбуждение магнитной линзы 83— 86 Возникновение контраста 80, 128

впросвечивающем микроскопе

166— 202

врастровом микроскопе 232— 239, 312

Волновая ф ункция 128, 169 Вращающаяся система координат 52 Вторичные электроны 24, 37, 218, 224 Выращивание эпитаксиальных пле­

нок 280, 283

Высоковольтные электронные микро­ скопы 33— 35, 143— 148, 304, 309

Высокочастотные линзы 209

Гексаборид лантана 220 Генераторы

Грейнахера 143, 147 Кокрофта — Уолтона 143, 146,

147

Главные плоскости

впространстве изображений 65, 69

впространстве объекта 65, 69 Гликольметакрилат 287, 288 Глутаральдегид 285, 301 Гольмий 153

Датчики э. д. с. Холла 86 Двухлинзовы й конденсор 120, 121 Декорированные отпечатки 280 Держатель объекта 80, 121— 125 Дефокусировка 168 Диаметр внутреннего канала 77, 81

Диафрагма

 

контраста

155

 

Динод

224

 

153

 

 

 

 

 

Диспрозий

 

95,

137

 

 

Дисторсии

 

93,

 

 

анизотропная 96,

97

 

 

изотропная

96,

97, 99

135,

Диф ракционная

картина

24,

137,

158,

 

159,

308

 

 

 

Дифференциальное

сечение рассея­

ния

128

 

 

 

 

 

14

 

Д лина

волны электронов

 

Д лина

камеры

137

 

 

 

 

Д ю р купа н

287

 

 

 

 

 

ЕМ 300

фирмы «Филипс» 22, 23,

122,

124,

125,

133— 136

 

 

 

EM M A

43,

 

252,

253

 

 

 

Ж ивой

материал,

наблюдение

122,

144

 

 

 

 

 

 

 

 

Загрязнение

апертурных

диафрагм

123

 

81

 

 

 

 

 

Зазор 77,

 

 

 

 

 

Заливка 287, 288

 

и

коррекция

Зеркальные

системы

сферической аберрации

210

 

Зеркальный

электронный

м икроскоп

253— 256

 

 

 

212— 215

 

Зонные

пластинки