Файл: Арифов У.А. Угловые закономерности взаимодействия атомных частиц с твердым телом.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 115

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

£0. 58

эв

Дппх> 58

1 = £,/-£0

’linax = £тах/Д>

500

315

380

0,63

0,76

600

390

456

0,64

0, /5

700

450

540

0,оЗ

0,75

800

520

610

0,64

0,76

900

580

680

0.63

0,76

1000

650

770

0,63

0,75

1100

700

ьзо

0,64

0,75

1200

760

910

0,63

0,76

Как видно из приведенных данных, энергия однократно сеянных ионов ■г увеличилась с ростом энергии бомбардирующих ионов. Отношение г |= £ ,1/£,0 равно примерно 0,63. Значение г|т = = £'i/£'o. вычисленное по формуле

____ £u(l-lO -

(1.37)

[cos fi ± Кф- —sln33j“ ’

 

равно 0,66. Совпадение вполне удовлетворительно. Таким образом, зависимость Еу от E q в области Д0>300 эв описывается прямой, а в области £'0<300 эв отклоняется от прямолинейного закона.

Отношение максимальной энергии рассеянных ионов Дтах, полученной из осциллограмм, к начальной Е 0 (здесь за макси­ мальную энергию вторичных ионов, рассеянных на данный угол р, принято считать самую крайнюю, высокоэнергетическую точку ос­

циллограммы энергетического распределения) оказалось

равным

0,75. Зависимость Дт ах/До укладывается на прямую в

области

о ф 500 эв, а в области £’о<500 эв она отклоняется от прямоли­

нейного

изменения.

 

Высота пика, соответствующего

медленным ионам, снижается

с увеличением энергии первичных

ионов (осциллограммы 7, 8

рис. 19)

и становится значительной для малых энергий Е 0. Увели­

чение энергии первичных ионов приводит к ушпрению полуширины пика (максимума) однократного соударения, свидетельствуя о возрастании доли вторичных ионов с энергиями меньше и больше, чем энергия ионов, претерпевших однократные соударения. Такое уширение полуширины пика с Е 0 наиболее наглядно видно на осциллограммах энергетических распределений, полученных при бомбардировке накаленной до 1800°К W-мишени ионами К+ с разными начальными энергиями (1—500; 2—600; 3—700; 4—800; ■5—900; 6— 1000; 7— 1300; 8—1350 эв), но при одной и той же высо­ те пика однократного соударения (рис. 20). Для этого при каж­ дом увеличении энергии первичных ионов увеличивали вертикаль­ ное усиление осциллографа, на экране которого записывалось энер­ гетическое распределение вторичных ионов. Углы Ф и 0 были рав­

ны между

собой

(Ф = 0=5О°). Уширение пика однократного

со­

ударения

с ростом До

(рис. 20) происходит симметрично как в

■ сторону меньших,

так

и в сторону больших энергий спектра.

По­

следнее и позволяет (еще до обнаружения тонкой структуры энер­ гетического распределения ионов, рассеянных монокристаллами

58



(1.37), перемещается в сторону больших значении энергий.. С рос­ том начальной энергии Е 0 пик рассеянных ионов снижается.

Асимптотический спад пика рассеянных ионов в сторону боль­ ших энергий спектра в случае, когда массы сталкивающихся час­ тиц близки между собой (Rb+ и Cs+ на Та, W), приводит к неко­ торой неопределенности в измерении зависимости максимальной

 

 

 

 

 

Таблица

1

 

А

/ Е о

= е т 1 е о

£ шах- эв

^глах

 

эв

Днях

с

 

 

 

 

 

 

■Со

 

 

Rb+

на Та

 

 

 

500

88

0,17

 

0,19

180

0,35

 

700

120

0,18

 

0,19

240

0, 16

 

900

155

0,17

 

0,19

310

(1,35

 

1000

175

0,17

 

0,19

340

U,34

 

1200

210

0,18

 

0,19

400

0,34

 

1400

250

0,18

 

0,19

490

0,35

 

1500

260

0,17

 

0,19

520

0,34

 

1700

290

0,17

 

0,19

580

0,38

 

2000

355

0,17

 

0,19

670

0,33

 

 

 

 

Cs+

на Та

 

 

 

500

20

0,039

 

0,042

90

0,18

 

700

29

0,039

 

0,042

120

0,17

 

900

36

0,040

 

0,042

150

0.18

 

1000

40

0,040

 

0,042

180

0,18

 

1200

50

0,039

 

0,042

205

0,17

 

1400

57

0,010

 

0,042

240

0,17

 

1500

60

0,039

 

0,042

255

0 ,17

 

1700

68

0,038

.

0,042

300

0,17

 

1900

80

0,039

0,042

320

0,16

 

2000

81

0,03«

 

0,042

340

0,17

 

П р и м е ч а н и е :

Для случаев Rb+ на

Та и C s+ на Та

угол Ф равен

СГ, а

0 — 50°.

 

энергии вторичных

ионов от Е0 и Ф из-за

обусловленности Етах

высотой пика. Поэтому определение зависимости максимальной энергии вторичных ионов от Е0 и Ф обычно проводится при оди­ наковой высоте пика рассеянных ионов.

Значения Е\ и Атах, полученные указанным методом, сведены в табл. 1. Среднее значение Е ^ Е 0 для случая Rb+ на Та равно 0,17,

для случая

Cs+ на

Та — 0,039, что вполне согласуется со значе­

ниями 0,19

и 0,042,

выведенными из формулы (1.37) для упругого

соударения ионов Rb+ и Cs+ с атомами Та-мишени при рассеянии на данный угол р.

62


Зависимость значении' E t и Етак от Е0 при бомбардировке на­ каленной до 1800°К Та-мишени ионами Na+, К+, и Rb+ аналогич­ на случаю Na+ на W и в исследуемой нами области энергии хоро­ шо укладывается на прямую.

Как видно из анализа энергетических распределений вторичных ионов при n i\> m 2 в составе вторичной эмиссии, кроме ионов, пре­ терпевших однократные соударения с отдельными атомами мише­ ни, обнаруживаются и ионы с большими энергиями. Характер рас­ пределения этой группы ионов по энергиям и изменение их в зави­ симости от начальной энергии и массы бомбардирующих ионовне противоречат предположению о происхождении их в результате многократных соударений. Следовательно, при бомбардировке ме­ таллических мишеней ионами в области энергии 0,5—5 кэв явле­ ние рассеяния хорошо объясняется теорией упругого парного одно­ кратного и многократного соударений. При этом вторичные ионы с энергиями меньшими и большими, чем энергии ионов, претер­ певших однократные соударения, получают единое толкование.

§6. ВЛИЯНИЕ УГЛА ПАДЕНИЯ ПЕРВИЧНЫХ ИОНОВ НА ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЕ РАССЕЯННЫХ ИОНОВ

Изменение угла падения первичных ионов влияет на глубину проникновения первичных ионов в твердое тело и соот­ ветственно на соотношение числа ионов, испытавших однократные- и многократные соударения. Последнее сказывается на характере распределения; в первую очередь значительно деформируются низ­ ко- и высокоэнергетические склоны пика однократного соударения. Поэтому одновременно с изучением зависимости энергетических распределений от энергии и массы бомбардирующих ионов мы исследовали угловые зависимости энергетических распределений [34, 36, 38]. Необходимость таких исследований была продиктована также отсутствием сведений о характере изменения энергетических распределений от угла падения первичных и вылета вторичных ионов в широком интервале углов (от 0 до 180°). Существующие результаты [107, 194, 274] соответствовали лишь двум или трем фиксированным углам рассеяния р.

Опыты проводились на установке (рис. 8), позволявшей бом­ бардировать мишень под разными углами падения Ф с помощью подвижного ионного источника. Энергетический анализ вторичных частиц, вылетающих под разными углами 0 и р, осуществлялся с помощью специального приспособления, помогавшего менять ори­ ентацию мишени. Анализатором вторичных ионов по энергиям слу­ жил электростатический конденсатор с разрешающей способностью

Д £ /£ *1,5% .

Нами сняты осциллограммы энергетических распределений вто­ ричных ионов при разных углах падения ионов Na+ с энергией 700 эв на раскаленную до 1800°К W-мишень (рис. 23). Осцилло­ грамма 1 получена при нормальном падении пучка на мишень,

63


Угол

ЧТ

Л i

Ч

падения Ф, 0

 

шах

0

0,66

0,63

0,75

10

0,68

0,66

0,78

20

0,71

0,70

0,80

30

0,74

0,72

0,82

40

0,79

0,76

0,87

50

0,82

0,80

0,89

60

0,85

0,82

0,91

70

0,90

0,86

0,95

80

0,94

0,92

0,98

Из этих данных видно, что величины цт и т|т близки друг к другу. С увеличением угла падения первичных ионов значение т|тах приближается к значению t]i для однократных соударений. Характер изменения максимальной энергии вторичных ионов от угла падения свидетельствует о том, что высокоэнергегическин склон однократного пика связан с многократными соударениями бомбардирующего иона с атомами мишени. Действительно, с уве­ личением угла падения первичных ионов уменьшается глубина про­ никновения первичных ионов в мишень и соответственно вероят­ ность многократных столкновений с наивыгодными углами, что и приводит К сближению Т|тах и Г] 1 .

Резкое изменение (уменьшение) полуширины пика однократно­ го соударения с увеличением угла падения пучка первичных ионов и особенно крутой спад (обрыв) высокоэнергетического склона пи­ ка подтверждают обусловленность этого склона многократным столкновением бомбардирующих ионов с . отдельными атомами мишени. Снижение вероятности многократного соударения ионов с атомами мишени вызывает уменьшение числа ионов с энергиями большими, чем энергия ионов, получаемая при однократном соуда­ рении и соответственно крутой спад пика однократного соударения

в сторону больших

энергий спектра.

С увеличением угла падения Ф пик медленных ионов заметно

уменьшается и при Ф

> 80° полностью исчезает, что свидетельствует

об отсутствии заметного внедрения первичных ионов в глубь мишени.

Известно, что энергия рассеянных ионов зависит от соотноше­ ния масс взаимодействующих частиц. Поэтому для лучшего пони­ мания механизма взаимодействия частиц целесообразно исследо­ вать угловую зависимость энергетических спектров рассеянных ионов при бомбардировке одной и той же мишени одними и темн же ионами.

На рис. 24 приведены осциллограммы угловой зависимости энергетических распределений вторичных ионов при бомбардиров­ ке накаленной до 1800°К Та-мишени ионами Rb+ с начальной энергией 600 эв. Характер распределения вторичных ионов с из­ менением угла падения здесь аналогичен случаю Na+ на W (рис. 23). При этом, вследствие близости масс сталкивающихся частиц угловая зависимость положения пика однократных

5 -85

65