Файл: Арифов У.А. Угловые закономерности взаимодействия атомных частиц с твердым телом.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 09.04.2024

Просмотров: 103

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

2) угловое распределение рассеянных ионов (при /п ,< ш 2 и m i> m 2) и влияние начальной энергии, массы и угла падения пер­ вичных ионов;

3)угловая зависимость ионно-ионной эмиссии и ее компонен­ тов как при прямых, так и при обратных соотношениях взаимодей­ ствующих частиц;

4)влияние энергии, массы, угла падения бомбардирующих частиц, а также рода и температуры мишени на характер энерге­ тического распределения рассеянных ионов.

Мы изучали угловое распределение вторичных ионов и изме­ нение его от различных параметров столкновения для выяснения преобладания рассеяния на малые углы, зависящего от характера экранированного кулоновского потенциала взаимодействия или «зеркального отражения», также обусловливающего характер рассеяния частиц.

Исследовались в основном рассеяния на поликристаллических образцах W, Мо, Та и N1, которые бомбардировались щелочными ионами Li+, Na+, К+, Rb+ и Cs+ в области энергии первичных ионов 0,3—5 кэв.

§2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ УСТАНОВКИ, АППАРАТУРА. МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЙ УГЛОВЫХ ЗАКОНОМЕРНОСТЕЙ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ИОНОВ С ТВЕРДЫМ ТЕЛОМ

Экспериментальный прибор с подвижной системой ионного источника и мишени

Угловые зависимости вторичной эмиссии заряженных частиц (ионов и электронов) изучались на двух приборах (рис. 2 а, б), принципиально отличающихся друг от друга кон­ струкцией и рядом важнейших параметров электронно-оптических систем источника первичных и приемной' части вторичных частиц,

которые являются основными элементами

приборов

 

подобных

типов.

 

 

 

В первом приборе приемником (коллектором) вторичных ионов

служил никелевый цилиндр 1 диаметром d 90 мм и

длиной L =

= 180 мм. Цилиндр имел круглое отверстие

(щель)

с

dK= 5 мм

для входа пучка первичных ионов и антидинатронную

сетку 2

прозрачностью 80—90% для подавления третичных эффектов. Антидинатрокная сетка также имела форму цилиндра с d = 85 и / .= 170 мм и отверстием dc = 7 мм для входа первичных частиц. Коллектор окружен охранным цилиндром 3 с d = 95, L=190 мм и имел круглое отверстие с dox= 2 мм для входа первичных частиц. Охранный цилиндр, коллектор и антидинатронная сетка устанав­ ливались жестко друг относительно друга с помощью изоляторов таким образом, что все три их отверстия совпадали друг с другом и проекции их на плоскости давали строго симметрично располо­ женные концентрационные круги типа дифракционных кодец. Стро­



гая юстировка отверстия охранного цилиндра относительно от­ верстий коллектора и аитидинатронной сетки позволяла избавить­ ся от краевых эффектов.

По оси коллектора пропускался молибденовый стержень 4, к которому монтировался держатель мишени в виде коробки 5 с приспособлением для очистки поверхности мишени электронной

бомбардировкой. Коробка крепилась к молибденовому стержню таким образом, что нитевидная ось его лежала в плоскости среза мишени (кристалла). На стержне была установлена стрелка-ука­ затель 6, а на охранном цилиндре — шкала углов 7. К нижнему концу стержня с помощью рычагов прикреплялись магнитные ша­ рики А и В. С помощью внешних магнитов, установленных вокруг магнитных шариков А и В, можно было изменять ориентацию мишени до отношению к пучку первичных частиц (рис. 2 а).

20

Когда мишенью служила тонкая лента поликристалла, в устрой­ стве держателя мишени было предусмотрено приспособление, не допускавшее искривления поверхности мишени во время продол­ жительных тепловых обработок при высоких температурах, что обеспечивало точность определения угла падения первичных ионов на поверхность мишени.

Поскольку часто нужно было работать при высоких темпера­ турах кристалла, в ряде случаев коробка-держатель монокристал­ ла помещалась в другую, танталовую коробку несколько больше­ го размера. Внешняя коробка обычно защищала коллектор от термоэлектронов, идущих от внутренней коробочки, накаленной тепловым излучением и электронной бомбардировкой.

Против щели охранного цилиндра, предназначенной для вхо­ да пучка первичных ионов, жестко устанавливался ионный источ­ ник 8 с электроннооптической линзой 9 для фокусировки пучка на поверхность мишени. Подводка к ионному источнику (для накала его спирали, управления его электронно-оптических систем и т. д.) осуществлялась с помощью гибких никелевых лент, позволявших вращать коллектор и охранный цилиндр вместе с источником вокруг молибденового стержня, который проходит вдоль оси кол­ лектора. Последнее и давало возможность изменять угол падения пучка на поверхность мишени.

Была предусмотрена также возможность изменять угол паде­ ния пучка вращением вокруг своей оси молибденового стержня 4, к которому крепилась мишень, при этом положение ионного источ­

ника оставалось неподвижным.

Конструкция

прибора и приспо­

собления, приводящие в движение

мишень

и

ионный

источник,

позволяли

(в обоих случаях) фиксировать

угол

падения

пучка

первичных

ионов

на поверхность

мишени

с точностью

до доли

градуса.

 

 

 

3 был

сделан

в виде

сферы

Во

втором приборе коллектор

(шара)

с dK= 9b мм, выточенной из меди.

Он имел антидинатрон-

ную сетку 4, тоже сферической

и

формы

с

прозрачностью

90%.

Входные отверстия

имели dK= 5

dc = 8

мм соответственно

для

пучка первичных частиц. Коллектор с антидинатронной сеткой был заключен в медную коробку 5 цилиндрической формы (рис. 26). Медный охранный цилиндр тоже имел отверстие с dox= 2 мм для входа пучка первичных ионов.

Сферические формы коллектора и антидинатронной сетки и их достаточно большие диаметры (Дк = 95, dc = 90 мм) позволили максимально приблизиться к условию П. И. Лукирского [144], по которому равенство du/dK= 1/10 (dM— диаметр мишени) является наиболее идеальным условием равномерного отбора на коллектор

для всех заряженных

частиц с начальной кинетической энергией

E = (m 2v2l2 ):^ 1,01 К,;

(где Кк — задерживающий потенциал сфе­

рического коллектора).

Против щели охранного цилиндра был жестко установлен ион­ ный источник 1 с элекростатической линзой 6. Данный источник

21


отличался от установленного в первом приборе тем, что его от­

клоняющий конденсатор 7 сферической формы

с углом раство­

ра 67°

имел

большую светосилу и

на выходном отверстии диаф­

рагмы

давал

параллельный узкий

плотный

пучок первичных

ионов.

Изменение ориентации мишени 2 во втором приборе также осу­ ществлялось с помощью внешних магнитов А и В и приспособле­ ния, предусмотренного в конструкции мпшеневой ножки.

Вакуум в

приборах получался как

обычно,

сначала до

1—2-10-2 тор

форвакуумными насосами, а

затем

парортутными

диффузионными насосами. Последние соединялись с прибором с помощью последовательно соединенных ловушек, заполняемых жидким азотом. После нескольких часов тепловой обработки раз­ личных деталей (ионный источник, мишень, приемная часть и др.) в приборе достигался вакуум (4—6)-10-8 тор, а рабочий вакуум был порядка (1—2)-10~7 тор.

Ионный источник. Одним из важных требований при исследо­ вании угловых закономерностей взаимодействия атомных частиц с твердым телом является высокая коллимированность пучка пер­ вичных частиц (малый угол сходимости, малый разброс по энер­

гиям

пучка первичных частиц

и определенность их по мас­

сам

и зарядам). Для создания

такого типа ионного источника

нами был выбран метод получения ионного пучка путем поверх­ ностной ионизации молекул галоидных солей щелочных и щелоч­ но-земельных металлов с последующей сепарацией от нейтральных атомов. Ионный источник, работающий на этом принципе, обла­ дает рядом преимуществ по сравнению с другими типами ионных источников, которыми пользовались исследователи [40, J04, 105, 272, 355] в ранних исследованиях углового и энергетического рас­ пределений вторичных ионов.

Рассмотрение принципа работы этих источников показывает, что в составе ионных пучков, кроме чужеродных примесей, всегда присутствовали нейтральные атомы и молекулы соли, из которой получались ионы. Наряду с однозарядными имелись и миогозарядные ионы, и в большинстве случаев эти источники работали не­ стабильно. Между тем для изучения угловых закономерностей взаимодействия ионов с твердым телом, как нами упомянуто вы­ ше, необходимо было выбрать такой ионный источник, который имел бы высокую коллимированность по энергиям, массам и за­ рядам, а в составе ионных пучков отсутствовали бы нейтральные компоненты как самих ионов, так и чужеродных атомов.

Этим требованиям удовлетворяет источник, в котором ионы образуются путем поверхностной ионизации молекул щелочно-га­ лоидных солей. Кроме перечисленных выше достоинств, назван­ ный источник имеет и другие положительные стороны. Он легко управляем по энергиям и по плотности пучка ионов и может ста­ бильно работать длительное время как по величине, так и по на­ правлению ионного пучка.

2?


Однако самым большим недостатком такого типа источника оказалось расплывание пятна пучка на поверхности мишени в зависимости от ускоряющих напряжений, прикладываемых меж­ ду его различными вытягивающими электродами. Последнее, т. е. расходимость (положительная и отрицательная аберрация) пучка, существенно при исследовании угловых закономерностей взаимо­ действия ионов с твердым телом. Наличие аберрации пучка при­ водит к некоторым неопределенностям угла падения пучка на поверхность мишени, что является определяющим параметром столкновения при изучении элементарных актов взаимодействия атомных частиц. Она также вызывает искажения эффектов, свя­ занных с упорядоченной структурой мишени.

В процессе работы нами были сконструированы и изготовлены несколько типов ионных источников, основанных на том же прин­ ципе поверхностной ионизации, но без вышеуказанных недостат­ ков. Это было достигнуто благодаря хорошему подбору (сочета­ нию) геометрии различных электродов источника, а главным об­ разом геометрии отклоняющего (сепарирующего) конденсатора, электростатических линз, служивших основными элементами по­ добных источников заряженных частиц, и расстояния от последней диафрагмы источника до мишени [127, 128]. Приведем краткое описание двух типов ионных источников, разработанных нами, и наиболее зарекомендовавших себя в процессе исследований.

Схематическое изображение источника с круглым сечением пучка показано на рис. За. Источник состоит из следующих основ­ ных частей: ионизирующая часть — А, сепарирующие устройства— Б и фокусирующие устройства — В.

В ионизирующую часть А источника входил цилиндр 1 с d\ = = 30, /ij=20 (пли d = 25, h = 18 мм), изготовленный из танталовой

пластины толщиной

0,2 мм. Внутри него к нижнему торцу при­

паян другой маленький цилиндр 2 с

=15, h2= 8 мм, тоже сделан­

ный из танталовой

пластины. Этот

цилиндр в нижнем торце

(через торец цилиндра 1) имеет окошко 3 для закладки галоидных солей щелочных и щелочно-земельных элементов 4 в зависимости от того, какой сорт ионов надо получить. В верхней крышке ци­ линдра 2 проделано множество мелких отверстий для выхода мо­ лекул солей при нагреве вольфрамовой спирали 5 (rf•= 1,5 мм, число витков 12— 15, изготовлена из 200ц вольфрамовой проволо­ ки). Над спиралью 5 на расстоянии ~ 2 мм от нее установлен вы­ тягивающий электрод-воронка 6 с диаметрами нижнего и верхне­ го сечения конуса 18 и 3 мм соответственно. Вытягивающая воронка прикреплена к верхней крышке цилиндра 1 с помощью диафрагмы 7.

Сепарирующее устройство источника Б состоит из сферическо­ го конденсатора 8 с углом раствора 67°, изготовленного из танта­ ловой пластины толщиной 0,2 мм. Сферический конденсатор 8 установлен между двумя дифрагмами 9, имеющими круглые от­ верстия с с?3 = 3 мм для входа и выхода пучка ионов из поля сфе­

23