Файл: Регулирование качества продукции средствами активного контроля..pdf

ва величин припусков на обработку, неодинаковости материала и термической обработки заготовок, случайных колебаний режимов резания (в частности, величин подач) и других случайных факто­ ров.

Собственно случайные погрешности обработки, как правило, подчиняются закону нормального распределения. Однако если рассеивание погрешностей не подчиняется закону Гаусса, это не может отразиться ни на методике вывода основных точностных за­ висимостей, ни на структуре погрешности подналадочных систем.

Суммарная кривая распределения погрешностей размеров пред­ ставляет собой композицию законов Гаусса и равной вероятности.

Процесс подналадки осуществляется следующим образом. Под влиянием изменения во времени усредненных функциональных по­ грешностей центр группирования собственно случайных погрешно­

щения центра группирования по направлению к линии настройки повторяется снова и происходит до тех пор, пока опять не появится деталь с активным размером, при котором датчик срабатывает и т. д.

Таким образом, технологические погрешности компенсируются периодически, что придает процессу подналадки дискретный харак­ тер.

Поскольку погрешность подналадки следует оценивать как поле рассеивания размеров деталей, обработанных на станке с участием подналадчика, т. е. как погрешность обработки, то на основании графика изменения размеров можно сделать вывод, что в состав по­ грешности подналадки входят величины А и 6а. Эти величины являются основными составляющими погрешности любой дис­ кретной подналадочной системы. Из графика следует, что состав­ ляющая А, равная величине подналадочного импульса, представ­ ляет собой величину изменения функциональных погрешностей за период между двумя подналадками, т. е. величину некомпенсируемых функциональных погрешностей. Параметр А в первом прибли­ жении можно рассматривать как систематическую составляющую погрешности подналадки. От него зависит частота возникновения подналадочных импульсов: с увеличением А подналадочные им­ пульсы возникают реже, с уменьшением — чаще.

Составляющая 6а характеризует собой мгновенное рассеивание размеров деталей, т. е. величину поля рассеивания собственно слу­ чайных погрешностей, которые также не компенсируются сущест­ вующими подналадочными системами.

Однако в состав погрешности подналадки входят не только ве­ личины А и 6а. Одной из составляющих погрешностей, характер­

на

При обработке большой партии деталей погрешности должны определяться за большое число подналадочных импульсов. Поэтому среди подналадок могут появиться и такие, при которых центр группирования в момент возникновения импульса находится в точ­

Из рис. 48 следует, что при большом количестве подналадочных импульсов величина предельной погрешности подналадки о, оцени­

пульсов. При большом числе подналадок все составляющие вы­ ражения (140) по существу представляют собой систематические погрешности, которые, как было сказано выше, должны склады­ ваться алгебраически (в данном случае арифметически). Эти составляющие представляют собой некомпенсируемые подналадочной системой технологические погрешности. Формулу (140) можно считать наиболее подходящей для прогнозной, ориентировочной оценки суммарных погрешностей при подналадке большими им­ пульсами. Она характеризует структуру погрешностей большинства существующих в настоящее время подналадочных систем.

Точность подналадки должна зависеть и от точности того изме­ рительного прибора, который используется в качестве чувствитель­ ного элемента подналадочной системы. Можно ли в принципе скла­ дывать при активном контроле погрешности обработки и измере­ ния? Очевидно, можно, поскольку при активном контроле погреш­ ности самих измерительных приборов (например, погрешности срабатывания датчиков) приводят в конечном счете к увеличению полей рассеивания размеров деталей, т. е. к увеличению суммарных погрешностей активного контроля. Может возникнуть вопрос, как должны складываться погрешности обработки и измерения.

Для подналадочных систем погрешность самого измерительно­ го прибора Е должна учитываться величиной параметра В. Однако учитывая небольшой удельный вес погрешности самого измери­ тельного прибора в общем объеме погрешности подналадки (обыч­ но не более 4—10%) и невозможность при прогнозной оценке ве­ личины ô учета влияния всех определяющих факторов, при боль­ шом количестве подналадок величину Е можно в первом прибли­ жении складывать с другими составляющими арифметически. При этом наиболее полно и наглядно выявляется структура погрешно­ сти подналадочных систем. Таким образом, при большом числе подналадок величина предельной погрешности размеров в первом приближении равна