Файл: Филяев А.Т. Исследование износостойкости сталей, упрочненных наклепом.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 27.06.2024

Просмотров: 71

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

счетчике соответствовал 80 мм записи на диаграмме. Для определения остаточных напряжений и размера блоков мозаики выбраны интерференционные линии от кристал­ лографических плоскостей (ПО), (211), (220). Интерфе­

ренционная линия

(2 1 1 ) взята дополнительно иногда из-

за слабой интенсивности линии (2 2 0 ).

Величина остаточных напряжений, характер их изме­

нений, структурное

и субструктурное состояния металла

вместе с механическими свойствами являются основными

факторами, влияющими на ин­

 

 

 

 

/

тенсивность изнашивания дета­

 

 

/

*

лей машин,

их надежность и

г

Н

^

. Д

 

долговечность. Поэтому иссле­

 

 

 

 

_______L -

4-1

дования до установлению зави­

 

 

 

 

 

 

"V

симости изменения остаточных

 

 

~]--------

 

напряжений и размера блоков

 

 

 

 

 

 

1- f

от технологических режимов

 

 

---------- \6

S

 

 

 

 

 

 

—і

 

 

Рис. 26. Схема рентгеновской съемки

 

 

 

 

 

с цилиндрической

поверхности

дета­

 

 

 

 

 

ли: а—первичный рентгеновский луч;

 

 

 

 

 

б — отраженный

рентгеновский

луч.

 

 

 

 

 

/ — образец; 2 — шестеренчатая

пе­

 

 

 

 

 

редача; 3 — опорная плита; 4 — элек­

 

 

 

 

 

тродвигатель;

5 — подвижной лимб;

 

 

 

 

 

6 — корпус;

7 — счетчик

 

 

 

 

 

 

обработки стальной поверхности роликами позволили более подробно изучить (на одних и тех же образцах) взаимосвязь элементов тонкой кристаллической структу­ ры сталей с механическими и физическими свойствами, полученными при разной степени предварительного на­ клепа. Микроскопический и электронноскопический ана­ лизы, а также измерение твердости облегчили решение поставленной задачи. Остаточные напряжения и блочность структуры определялись по методике Г. В. Курдюмова и Л. И. Лысака [101, 102].

Напряжения I рода оценивались по изменению брегговского угла Ѳ, а II — по уширеншо одной из задних интерференционных линий (ß2) или (ß3).

93


Сумма главных остаточных напряжений первого рода равна:

ДD

Е

ctg ѲДѲ,

 

 

(34)

D

И

 

 

 

 

 

где Е — модуль упругости 2 - ІО4

кГ/мм2\ р, — коэффици­

ент Пуассона 0,3; AD/D — относительное изменение

межплоскостного расстояния

исследуемого материала;

Ѳ — брегговский угол, соответствующий взятым интерфе­ ренционным линиям; ДѲ — изменение брегговского угла за счет остаточных напряжений первого рода, рад.

Расчет остаточных напряжений первого рода сводится к рентгенографическому определению АѲ.

Расстояние L интерференционной линии на диаграмме

замерялось от одного

и того же угла при записи. Изме­

нение расстояния

ДL по отношению к эталону отвечало

изменению брегговского угла ДѲ.

 

В данном случае 1

мм записи на диаграмме при ДѲ =

AL

1

,

 

напряжению:

------------------- рад

соответствовал

2-80

57,3

 

 

 

 

2- ІО4

1

кГ/млР,

 

 

• 0,836.

 

0,28

160-57,3

т. е. изменение записи на 1 мм соответствует 6,51 кГ/мм2. Междублетное расстояние с поправкой на Каі—а2 дублет для интерференционных линий найдено из выра­

жения

б' = 2R - у - tg Ѳ,

(35)і

где

 

ДЛ = Xа3

 

R — радиус записи, равный для УРС-50И

160 мм (рас­

стояние от образца до щели счетчика); Ä,

— длины

волн кобальтового излучения, соответственно равные 1,78890’

о

— брегговский

угол,

соответствующий:

и 1,79279 А; Ѳ

интерференционным линиям (ПО),

(2 1 1 ),

(2 2 0 ).

Для железа

Ѳ(цо) = 20°12/, Ѳ(2 іі) = 50°6', Ѳ(2 2 0 ) = 62о18/.

Углы для сталей найдены по формуле Вульфа—Брегга для кубической решетки

зіпѲ= Т 1 2 + * 2 + <М. Об),

94


где а — параметр

 

 

о

h,

k,

решетки железа, равный 2,86 А;

е — индексы соответствующих

интерференционных

линий;

б(по) = 0,344 мм\

6 (2 іі) = 0,832 мм\ б(2 2 0 ) = 1,325 мм.

с

Междублетное

расстояние за счет К а _ а„ излучения

учетом масштаба записи

 

 

 

 

6 = 6 ' 2nR360

• 80 мм.

 

 

Остаточные напряжения II рода и величина

блоков

найдены по формулам:

 

 

 

а„ = Е

Аа

кГ/см-',

(37)

-----= Е ■

 

 

4R tg Ѳ

 

 

D =

X

іо-ад

(38)

т- cos Ѳ

--------- Д см,

 

 

т- cos Ѳ

 

 

где п — удшрение интерференционных линий за счет на­ пряжений II рода; т — уширение интерференционных

линий за счет дисперсности

блоков; Дa ja — относитель­

ное изменение параметра

кристаллической решетки за

счет напряжений II рода; R — радиус записи, равный для

УРС-50И 160 мм (расстояние от образца до щели счет­ чика); X— длина волны излучения А'а—Со.

Для определения величины напряжении II рода и за­ мера блоков был применен метод аппроксимации. Рас­ пределение интенсивности с некоторым приближением согласуется с теоретическими кривыми функций:

R

II

У= (1 + ах1) х;

У= (1 + ах2)-3,

(39)

(40)

(41)

построенными в том же масштабе, что и эксперименталь­ ная кривая. Опытным путем (наложением) было установ­ лено, что распределение интегральной интенсивности / интерференционных линий (ПО), (2 1 1 ), (2 2 0 ) лучше все­

го согласуется с распределением интенсивности по кри­ вой функции Гаусса (39).

Как отмечено выше, уширение интерференционных ли­ ний обусловлено наличием в отражающем объеме микро-

95


искажений решетки и когерентно рассеивающих блоков малых размеров (ПО).

Ширина интерференционных линий была определена путем измерения интегральной интенсивности с помощью планиметра и последующего деления полученной площа­ ди на максимальную интенсивность: B' = S/H.

Средняя интегральная

ширина

интерференционных

линий с учетом масштаба записи:

 

В =

RB»

RB1

0,0349 В\

57,3

80-57,3 ■=

 

Рис. 2/. Зависимости для определения поправки на

А’ дублет (а)

и истинного уширения лнниіі для кривой вида

е~ах'(б)

где В° = В'180 — угловая ширина интерференционных линий, град.

Средняя интегральная ширина интерференционных линий с поправкой на К а _ а дублет функции

во

~В~

(42)

 

представлена на рис. 27.

Истинное уширеине линий за счет остаточных напря­ жений II рода и блочиости структуры определено из вы­

ражений: ß2 = 5 0—bl

(43)

1

В

 

где В0, Ь0— ширина линий образца и эталона с учетом

по­

правки на Ка _а дублет (рис. 31). В свою очередь

ß =

= f{tn, п), т, п — уширение линии за счет дисперсности блока и микроскопических напряжений.

9 6


Для теоретической кривой (39)

ß2 = ma _|_

(44)

При аналитическом разделении т и я использована различная угловая зависимость расширения, вызванного дисперсностью и микроискажениями. Этот метод раз­ дельного распределения микроискажений и размеров блоков впервые был предложен Делингером и Кохендорфером [45]

где 1 и 2 — индексы, относящиеся к первой и второй рас­

сматриваемым линиям. Из системы уравнений (45) — (48) найдены значения т и я для соответствующих ин­ терференционных линий.

При определении минимальной плотности дислокаций было сделано допущение, что на поверхности блока име­ ется я дислокаций, в этом случае длина дислокационной линии, приходящейся на один блок, 6 яП/2 , а их плот­

ность, выраженная через размер частиц,

6iiD

Ъп

2 D *

(49)

'

При числе блоков в единице объема, равном 1/Z)3, я определяется или задается равным единице, что соот­ ветствует или отожженному состоянию (минимальная плотность дислокаций), или очень сильно деформирован­ ному состоянию, когда расположение дислокаций ста­ новится почти хаотическим.

7. Зак. 1200

9 7

Все эксперименты проведены

по двум

вариантам —■

для интерференционных линии

(ПО) н

(2 1 1 ), ( 1 1 0 ) и

( 220).

 

 

Несмотря на то что иаилучшим вариантом для прово­ димых исследований была комбинация данных по интер­ ференционным линиям ( 1 1 0 ), (2 2 0 ), иногда из-за слабой

интегральной интенсивности интерференционной линии (2 2 0 ) необходимо было провести для контроля дополни­

тельные эксперименты по интерференционной линии

(2 1 1).

Подсчитать абсолютное значение остаточных напря­ жений второго рода не представилось возможным из-за большого отношения ß5/ß2, превышающего 1 /А. Поэтому

изменение остаточных напряжений второго рода дано как изменение ушпрения задней интерференционной ли­ нии ß2 или ß3. Следует отметить, что в литературе, как

правило, изменение остаточных напряжении дается как изменение уширения задней интерференционной линии, отвечающей изменению напряжений II рода. Это вызвано еще и тем, что нет данных о величине модулей упругости для отдельных кристаллографических направлений.

Рентгеноструктурпые исследования подтвердили нали­ чие тесной связи между тонкой кристаллической структу­ рой, твердостью и износостойкостью деформированного слоя стали. Данные экспериментов и выведенные на их основе зависимости для исследуемых материалов указы­ вают, что при обкатывании в поверхностном слое растут остаточные напряжения, уменьшается размер блоков и изменяется плотность дефектов кристаллической решетки. Характер изменения макро- и микроискажений решетки аналогичен изменению при объемной деформа­ ции. Поэтому теория о пластическом деформировании металлов приемлема для объяснения явлений, происхо­ дящих в поверхностном слое при обкатывании.

Как было отмечено, для объяснения некоторых про­ цессов, протекающих в металлах и сплавах при обработ­ ке их пластическим деформированием, все чаще исполь­ зуется теория дислокаций. Большой ее успех связан с тем, что понятие дислокации очень широко, оно дает воз­ можность обобщить и объяснить ряд явлений и особен­ ностей, происходящих в металле. Эта теория использова­ на для объяснения механизма упрочнения поверхности наклепом. Она позволила высказать предположения о

9 8