Файл: Рождественская Т.Б. Аппаратура для точного измерения больших сопротивлений, малых постоянных токов и методы ее поверки.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 03.07.2024

Просмотров: 110

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

показать, что эта погрешность невелика

и кварцевая мера

весьма перспективна.

 

 

 

Размеры кварцевой пластинки

могут быть определены с

погрешностью

не выше ± 0 , 1 % .

Явление

прямого

пьезоэф-

фекта связано

с появлением на

гранях

пластинки

кварца

определенного

потенциала, под влиянием

которого

пластина

деформируется. Величина деформации зависит от напряжен­

ности поля

в

кристалле

(для напряженности

порядка

1000 В/см она составляет 21,3 А) .

 

 

В рассматриваемом варианте меры напряженность поля не

превышает 200

В/см, что может привести к деформации

по-

о

 

 

 

кварцевой

рядка 5 А. Применительно к наименьшему размеру

пластинки эта

величина дает

пренебрежимо малую погреш­

ность.

 

 

 

 

 

Изменение внешних условий, в частности температуры,

мо­

жет оказать влияние на величину постоянной кварца dn.

По

литературным

данным, при нагреве кристалла на

200°С

она

изменяется

на

10% (линейная зависимость). Колебания

тем­

пературы помещения могут достигать ±5°С, отсюда измене­ ние dn составит ±0,25% . Повышение влажности приведет к увеличению поверхностных токов утечек, поэтому меру необ­ ходимо снабжать осушителем.

Погрешность от токов утечки зависит в большой степени от выбора изоляционного материала. В кварцевых мерах изо­ ляционным материалом служит как само тело кристалла (часть, не покрытая электродами), так и янтарь, присутствую­ щий во всех узлах аппаратуры, требующих высокой изоляции. Если считать, что сопротивление и кварца, и янтаря составля­ ет величину порядка 1016 Ом, то ток утечки будет определять­ ся частным от деления значения порога чувствительности на

сумму сопротивлений кварца и янтаря. При

пороге,

равном

20 мкВ/дел., значение тока утечки составит

Ю - 2 1 А, что

при­

менительно к току Ю - 1 6 А дает погрешность

0,001%.

 

 

В этом отношении мера тока на основе кварца выгодно от­

личается от других мер (здесь второй электрод находится

под

потенциалом земли), в которых токи утечки,

обусловленные

этой причиной, имеют гораздо большее значение.

 

du

Неодинаковая воспроизводимость постоянной кварца

оценивалась в [67], там же показано, что в диапазоне

давле­

ний до 10 кН/см2 эта величина при постоянных условиях из­ мерения воспроизводится с погрешностью не более 0,01%.

Высокой стабильностью физических свойств кварца объяс­ няется его использование в мере для воспроизведения значе­ ний тока 10~1 4 А и менее.

Анализ всех источников погрешностей кварцевой меры по­ казывает, что при правильном ее конструировании предель-

9*

131


пая погрешность воспроизведения тока в диапазоне Ю- 1 5 —10~1 6 А может быть не более ± 2 % , в остальных диапа­ зонах — не более ± 0 , 5 % .

ПРИМЕНЕНИЕ МЕР ТОКА В ЭЛЕКТРОИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКЕ

Разработанные меры тока могут

использоваться не только

в поверочной

практике.

 

Меры на

основе ионизационной

камеры с фиксированным

и регулируемым значениями выходного тока могут применять­ ся как меры большого сопротивления, если выбрать в качест­ ве рабочего режима область линейной зависимости выходного тока от напряжения, приложенного к электродам.

Так

мера, описанная ранее, имеет сопротивление по­

рядка

1012 Ом, которое может быть повышено при некоторых

конструктивных изменениях. Внутреннее сопротивление меры •с регулируемым значением выходного тока также может быть получено достаточно большим при подборе соответствующих

.напряжений на электродах.

Представляет интерес также осуществление меры малых э.д.с., выполненной на основе последовательного соединения меры малых токов (например, на основе ионизационной ка­ меры) и меры сопротивления (манганиновые катушки сопро­ тивления) .

Внутреннее сопротивление меры э.д.с. Еэ будет опреде­ ляться сопротивлением высокоомной катушки, а номинальное значение напряжения — значением выходного тока использо­ ванной меры тока и тем же сопротивлением катушки. Так как стабильность манганиновых катушек весьма высока, погреш­ ность меры э.д.с. в основном зависит от погрешностей меры тока. Диапазон выходных значений меры э.д.с. может регулироваться в широких пределах как регулированием

выходного тока

меры тока, так

и

сменой катушек

сопро­

тивления.

 

 

 

 

Описанные

выше регулируемые

меры тока воспроизводят

токи в диапазоне Ю"^1 0 —Ю- 1 2 А

с

погрешностью не

более

± 0 , 5 % . Сочетание такой меры

с различными катушками со­

противления позволяет осуществить меру э.д.с. с плавно регу­

лируемым выходным значением Ю - 1 5 В и выше с

погреш­

ностью ± 0 , 5 % .

 

 

Меры малого тока могут быть использованы также для из­

мерения больших сопротивлений,

осуществляемого,

напри­

мер, посредством компенсационного

метода, описанного выше.

132


Неизвестное сопротивление при этом

i

i \

Ry

где і — известный ток меры; Ry — общее сопротивление утеч­ ки нуль-индикатора и схемы: Uy и UK — порог чувствительно­ сти нуль-индикатора и напряжение, снимаемое с компенсато­ ра постоянного тока.

Второй член в приведенном выражении представляет со­ бой абсолютную погрешность измерения. При измеряемом со­ противлении 1012 Ом, токе Ю - 1 2 А или Ю - 1 3 А и пороге чув­ ствительности нуль-индикатора 50 мкВ/дел. относительная погрешность измерения составит приблизительно ± 0 , 5 % со­ ответственно при падении напряжения на измеряемом сопро­ тивлении 1 и 0,1 В.

Основным преимуществом данного метода является воз­ можность определения значения сопротивления при малых напряжениях на нем, что весьма существенно для непрово­ лочных сопротивлений, имеющих большой коэффициент на­ пряжения.

Существующие же в настоящее время приборы для изме­ рения больших сопротивлений, например основанные на. принципе одинарного моста, не позволяют измерять сопро­ тивления при напряжениях менее 5 В.

Меры тока могут служить основной составной частью при построении приборов для измерения больших сопротивле­ ний [82].

Пьезоэлемент меры тока, основанный на пьезокварце, мо­ жет использоваться в качестве меры большого сопротивле­ ний. ;

Известно, что поверка приборов сопротивления в диапазо­ не больших значений представляет значительные трудности в. связи с отсутствием мер сопротивления выше 1012 Ом. В насто­ ящее время создаются методы и устройства [29], позволяю­ щие имитировать режим входных цепей измерителей больших сопротивлений, аналогичный рабочему режиму, и таким обра­ зом осуществлять их поверку. С этих позиций представляет интерес использование пьезоэлемента меры тока на основе пьезокварца в качестве меры большого сопротивления. Выше уже упоминалось, что в статическом состоянии кварц облада­ ет весьма высоким сопротивлением в направлении, перпенди­ кулярном к оптической оси. В динамическом режиме в про­ цессе генерирования тока сопротивление кварца не меняется и может быть определено через размеры усилия, приложен-

133


ного к пластинке, через время приложения усилия, напряже­ ние, возникающее на ее гранях, и напряжение поляризации.

Для вывода соотношения, определяющего зависимость со­ противления от перечисленных выше факторов, обратимся к эквивалентной схеме кристалла кварца (рис. 62) в процессе ра­

боты.

J

Г~і

! ' с '

/?„

 

Известно [2], что кроме обыч­

но•jg<|—^*-t

ПИ0

ной «геометрической»

конденса-

I

L J ~*ТВ JL

 

тор с твердым диэлектриком име­

 

 

 

 

 

ет еще

дополнительную

емкость,

 

 

 

 

 

которая называется

поляризаци­

 

 

 

 

 

онной

емкостью

и

существует,

Рис.

62.

Эквивалентная схе­

когда

конденсатор

находится

под

напряжением.

Для

различных

ма кристалла кварца в про­

 

цессе сжатия:

 

диэлектриков

емкость

Ср имеет

t — ток,

г е н е р и р у е м ы й к в а р ц е м ;

разное значение. Для кварца, на­

п р о т и в л е н и ю к в а р ц а

RK;

ІС —

пример, она равна

 

(с небольшим

і"н —

ток, п р о т е к а ю щ и й

по с о ­

 

 

 

 

 

 

 

т о к

з а р я д а « г е о м е т р и ч е с к о й »

отклонением)

геометрической ем­

е м к о с т и

к в а р ц а Cr;

і Ср

— т о к

кости.

 

 

 

 

 

 

з а р я д а п о л я р и з а ц и о н н о й

е м к о ­

 

 

 

 

 

 

Ток і можно определить

как

 

 

сти к в а р ц а

Ср

 

 

 

 

 

 

сумму

составляющих:

 

 

 

 

 

 

 

* = *А + * с - * с р -

 

 

 

( 4 J )

Перепишем выражение

(4.7), учитывая

формулу

(4.6)

 

 

 

dFy

 

dU

d(U—Up)

 

 

(4.8)

 

 

It

 

 

dt

 

dt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где Up — напряжение поляризации, возникающее в диэлек­ трике при приложении к нему потенциала и создающее поле, направленное противоположно приложенному.

Обозначим

dn

q — const

и проинтегрируем по­

лученное выражение в пределах от t\ до t2\

 

 

h

 

 

 

qLFy

=

[Udt

+

bUCr-bUCp

+ b UPCP,

 

 

и

 

 

 

так как Cp « Cr , то

Д ( / С г =

MJCP.

 

Отсюда

 

 

 

 

 

 

—-

\ Udt

-

q A Fy -

Д UPCP

134


 

 

I

U d t

 

и

Я к =

h

.

(4-9)

Проанализируем полученное выражение. Первый член зна­ менателя представляет собой количество электричества, обус­ ловленное геометрической емкостью образца, второй член — количество электричества, «запасенное» внутри диэлектрика,, в области сосредоточения объемных зарядов; AUP — напряже­ ние поляризации, образовавшееся в течение времени At. По данным .[2], для кристаллов кварца (при малых напряжениях на гранях) существует линейная зависимость между напря­ жением, приложенным к кристаллу, и образовавшимся на­ пряжением поляризации, причем коэффициент линейности близок к 1.

Напряжение поляризации может быть установлено экспе­ риментально для определенного образца кристалла путем из­

мерения малого тока и напряжения,

прикладываемого к ди­

электрику. В пределах напряжений,

под которыми находится

кристалл кварца в момент генерации тока, сопротивление вы­ бранного образца будет постоянным в соответствии с зако­ ном Ома в течение всего рабочего времени.

Очевидно, что погрешность определения RK будет зависеть от погрешностей составляющих, входящих в соотношение (4.9), из которых максимальный вклад вносит погрешность определения тока (емкость кристалла и напряжение, возни­ кающее на гранях, могут быть определены расчетным путем). Время также определяется с высокой степенью точности.

Суммируя значения погрешностей, вносимых возможными источниками, можно предположить, что общая погрешность определения сопротивления пластинки кристалла кварца не превысит нескольких процентов в диапазоне 10й —101 6 Ом.

Для примера рассмотрим, каким сопротивлением обладает образец пластинки кристалла кварца, предназначенный для

работы в мере тока. При расчете примем: отношение

— = 4 ,

Д* = 100 с, iAFy = 0,12 H, d n ~2 - 10 - 1 2 K/H, [/=0,12 В

и *UP

=

= 0,119992 (значение взято из пропорции, в которой при 100

В,

поданных на пластинку, образующееся напряжение

поляриза­

ции отличается от 100 В на 5,7% [2]).

 

 

Расчет показывает, что сопротивление образца составляет величину порядка 2-101 5 Ом.

Очевидно, что изменение размеров пластинки позволит по­ лучать различные сопротивления. Подобный вариант меры

135