ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 14.10.2024
Просмотров: 116
Скачиваний: 0
16 |
Р . Л О Д И З . Р О С Т М О Н О К Р И С Т А Л Л О В |
ячейки, |
т. е. воображаемого параллелепипеда из атомов кри |
сталла, |
многократным переносом (трансляцией) которого мож |
но охарактеризовать порядок расположения всех атомов в кри сталле. Повторную трансляцию как движение определенного рода можно охарактеризовать неким вектором. За начало век тора, описывающего трансляцию, можно выбрать любую точку внутри кристалла, удобную для решения поставленной задачи.
Если ее выбрать |
как некоторую произвольную опорную точку |
|||
в повторяющемся |
узоре, то периодическая трансляция |
воспро |
||
изведет, разумеется, эту опорную точку, |
равно как |
и |
все дру |
|
гие точки системы, в виде регулярного |
трехмерного |
распреде |
ления точек в пространстве. Такое изображение представляет собой точечную пространственную решетку. Сетку, или линей ную решетку, можно охарактеризовать, указав длину и на правление трех основных линий сетки, т. е. размеры, или пе
риоды, решетки и |
форму элементарной ячейки. |
Нужно под |
||
черкнуть, что |
точечная решетка |
дана нам природой, а линей |
||
ной решеткой |
мы |
пользуемся |
ради удобства. |
Геометрически |
мыслимо лишь строго определенное число всевозможных раз мещений точек в пространстве, или атомов в кристалле. Такие
размещения можно описать 14 пространственными |
решетками |
||||||
Бравэ |
или 32 |
кристаллографическими |
классами, или точечными |
||||
группами; 32 |
класса |
такой симметрии |
дополнительно |
делятся |
|||
на 230 пространственных групп. По |
одной из простейших клас |
||||||
сификаций кристаллы делят на следующие 7 систем: |
кубиче |
||||||
скую, |
тетрагональную, гексагональную, |
ромбическую, |
моноклин |
||||
ную, |
триклинную и |
тригональную. |
Эти системы показаны на |
||||
фиг. |
1.3. |
|
|
|
|
|
|
Как оказалось, кристаллы удобно описывать, пользуясь ме тодами аналитической геометрии и выбирая оси, называемые кристаллографическими (показаны на фиг. 1.3 пунктирными линиями). Оси обычно направляют по ребрам элементарной ячейки. Разработаны разные способы выражения положения пе ресечения плоскостей кристалла с кристаллографическими осями. Самым универсальным из них надо признать систему Миллера. Миллеровские индексы плоскости представляют собой числа,
обратные отрезкам, которые плоскости отсекают |
на кристал |
||||
лографических о с я х 1 ) . Индексы Миллера |
обычно |
выбирают в |
|||
виде целых чисел, а если числа, |
обратные |
отсекаемым |
отрез |
||
кам, получаются дробными, то от |
дробей |
освобождаются при |
|||
ведением к общему знаменателю. |
Индексы |
плоскости |
всегда |
4 ) Таким образом, положение плоскости во всех системах, кроме гекса гональной, задается тремя индексами. В гексагональной же системе исполь зуют четыре индекса, хотя уже трех достаточно для однозначной идентифи кации конкретной плоскости. Дополнительный индекс часто обозначают точ кой. Таким образом, обозначение (1120) эквивалентно символу (11-0).
|
I . М О Н О К Р И С Т А Л Л Ы |
17 |
||
заключают в скобки той или иной формы. Их формы |
имеют |
|||
следующее значение: |
|
|
|
|
(100) — конкретная плоскость |
100, |
т. е. плоскость, отсекаю |
||
щая на |
кристаллографических |
осях |
отрезки 1, оо, оо |
(парал |
лельная |
двум осям); |
|
|
|
Кубическая |
Тетрагональная |
Гексагональная |
|
Ромбическая |
|
Моноклинная |
Трикпинная |
Тригональная |
|||||||
|
(орторомбическая) |
а + Ьфс |
|
|
афЬфс |
|
(ромбоэдрическая) |
|||||
|
афЬ+с |
|
а = у = 90°*р |
аФ/3+уФ900 |
а = Ь=с |
|||||||
|
|
|
|
Ф и г . |
1.3. Кристаллографические |
системы. |
|
|||||
|
{100} — все |
плоскости |
в |
кристалле, эквивалентные |
плоско |
|||||||
сти |
(100) |
(совокупность |
плоскостей |
{100} |
описывает |
кристалл |
||||||
данной |
формы |
или |
габитуса; |
{100} иногда |
называют |
символом |
||||||
простой |
формы); |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
[100] — направление, параллельное |
линии, которая проведена |
||||||||||
из |
начала |
координат к точке |
с координатами |
1, 0, О 1 ); (100)— |
все направления в кристалле, эквивалентные направлению [100]. Определенные плоскости в кристалле иногда считаются при
надлежащими |
одной и той же зоне. Все плоскости, параллельные |
||
') В кубической сингонии это будет направление, перпендикулярное пло |
|||
скости (100), |
7 " ~ " |
•' м |
• |
|
5 Си-Зляоте.ч* |
С С С Р |
t |
г I I О С |
Г « £ > |
т. М О Н О К Р И С Т А Л Л Ы |
19 |
зерна в которых выявлены травлением. В случае неорганиче ских окислов и солей такие поликристаллические материалы обычно называют керамикой.
Главная задача настоящей книги состоит в том, чтобы рас смотреть и обсудить способы выращивания монокристаллов. Трудно дать точное определение того, что надо разуметь под
монокристаллом, но обычно |
под этим понимают |
кристаллит, |
либо найденный в природном |
поликристаллическом |
образовании |
и выделенный из него, либо специально выращенный. Такой кристаллит должен иметь достаточные размеры, чтобы пред ставлять эстетическую, техническую или научную ценность. Нас же здесь интересуют специально выращенные монокристаллы размером не менее 1 мм3 , поскольку такая величина есть нижний
предел, устанавливаемый практическими возможностями |
работы |
|
с ним и проведения |
большинства измерений. |
|
Остальная часть |
данной главы посвящена краткому |
обзору |
методов, используемых для выявления кристалличности мате риала. Такие исследования предполагают определение характе ра и концентрации несовершенств (дефектов) в кристаллах. Эта область знаний (охватывающая также изучение некристал лических и поликристаллических материалов) становится в настоящее время самостоятельной дисциплиной, называемой ха-
рактеризацией |
материалов'). |
Вещество |
полностью |
охарактери |
зовано, когда |
идентифицированы все |
образующие |
его атомы |
|
и определено |
их положение |
в решетке2 ). Для достижения та |
кой цели используются самые разнообразные методы. В осталь
ной |
части |
настоящей главы можно описать только |
некоторые |
|||||
из |
них, |
не |
рассчитывая на нечто |
большее. Трудно, однако, |
пе |
|||
реоценить |
важность |
«характеризации» как для ростовика, |
так |
|||||
и для |
потребителя |
кристаллов. |
Однако |
недостаточное внима |
||||
ние со стороны последнего к этой |
области |
заставляет |
ростовика |
брать на себя все больше и больше ответственности за поло жение дел с «характеризацией». Последняя не сводится, напри мер, просто к измерению проводимости и подвижности в полу проводнике, как бы ни были важны эти параметры с точки зре ния потребителя кристаллов и в приборах и для понимания физических основ поведения материала. При характеризации ма териала, т. е. идентификации и определении положения обра зующих его атомов, подобные измерения важны в совокупности
') Вопросы характеризации материалов рассматриваются в книге [89], подготовленной к печати Комиссией по характеризации материалов Нацио
нального исследовательского совета Национальной |
академии наук США. |
||
2 ) Это определение предполагает, что |
нет такого вещества, которое |
||
было бы когда-нибудь охарактеризовано полностью, |
но многие |
вещества уда |
|
валось охарактеризовывать в такой степени, |
какая |
означает |
фундаменталь |
ное понимание хотя бы некоторых его свойств. |
|
|
|
20 |
Р . Л О Д И З . Р О С Т М О Н О К Р И С Т А Л Л О В |
с другими измерениями. Во всяком случае типом и положением составных атомов вещества определяются полупроводниковые и, разумеется, все прочие свойства материала.
1.2.Э К С П Е Р И М Е Н Т А Л Ь Н Ы Е МЕТОДЫ В Ы Я В Л Е Н И Я
КР И С Т А Л Л И Ч Н О С Т И
Главный признак, по которому все кристаллические твердые
тела отличают |
от аморфных, — это |
наличие дальнего |
порядка |
в расположении |
атомов. Большая |
часть кристаллов |
плавится |
при определенной температуре и часто имеет плоские правиль ные наружные грани (последнее зависит главным образом от способа выращивания). Углы между такими гранями (межгранные), как правило, имеют строго определенную величину
(закон Стено), чем можно пользоваться |
для идентификации. |
|
Некоторые ' кристаллы |
раскалываются |
правильным образом, |
т. е. их можно разбить |
по ряду гладких |
плоских поверхностей, |
параллельных друг другу на протяжении всего кристалла. Кри сталл, обладающий плоскостью спайности, обычно раскалы
вают, процарапав |
сначала канавку параллельно такой плоскости, |
|||
а затем резко, |
но |
не |
сильно стукнув его |
с обратной стороны, |
предварительно |
введя |
в такую канавку |
лезвие острого ножа |
или бритвы. Легко раскалываются слюда, нитрат натрия, арсенид галлия, хлористый натрий. Другое свойство, иногда при сущее кристаллам, — прозрачность в видимой части спектра. По ликристаллические материалы обычно бывают полупрозрач ными или матовыми из-за рассеяния света на пустотах вдоль межзеренных границ или на других участках, а также из-за двойного лучепреломления ' ) . Все эти свойства часто считаются признаками кристалличности. Однако нагревание вещества может привести к его разложению, полиморфным превращениям и расстекловыванию. Тогда все упомянутые признаки, кроме дальнего порядка, не всегда сохраняются у всех кристаллов, а некоторые такие свойства начинают проявляться и у аморфных веществ. Таким образом, обычно надежнее идентифицировать материал как кристаллический по тому или иному одному при знаку, являющемуся непосредственной мерой его дальнего атом ного порядка.
Все кристаллические материалы (кроме принадлежащих к кубической сингонии), в том числе и жидкие кристаллы, опти чески анизотропны, т. е. действие света на кристалл зависит от направления, в котором свет проходит через кристалл. Эта
') Поликристаллическая керамика, например А12 0з, |
может быть |
прозрач |
ной, если ее уплотнить в достаточной мере, чтобы в ней |
не оставалось |
пустот. |