жение шторки однозначно определяется плотностью потока из лучения, проходящего через объект измерения или контроля, а следовательно, и толщиной объекта.
Во многих компенсационных приборах (гамма-толщиномерах и плотномерах) вместо шторки используются вращающиеся дис ки переменной толщины.
Существуют и другие варианты ■ компенсационных систем, представляющие инженерно-конструкторский интерес.
Гамма-дефектоскопия. Для механизации сельского хозяйства важное значение имеют методы, получившие название гамма-де фектоскопии.
При испытании сельскохозяйственных машин, их ремонте часто приходится контролировать различные детали машин на возможность наличия в них макроскопических дефектов (рако вин, газовых пузырей, непроваров сварных швов, трещин и т. и.). Для контроля наряду с рентгеновским излучением (рентгено скопия) используется и у-излучение (гаммаскопия). Рентгенов ская аппаратура практически не всегда применима. Более удоб ны источники у-излучения. Можно использовать источники у-из- лучения с энергией порядка несколько мегаэлектронвольт (в от личие от рентгеновского излучения, энергия которого достигает несколько десятков килоэлектронвольт), благодаря чему появ ляется возможность просвечивания крупных деталей.
Существует ряд методов гамма-дефектоскопии, различаю щихся способом регистрации проникающего через контролируе мую деталь у-излучения: фоторадиографический, ксерорадиографический и радиометрический.
При фоторадиографическом, или сокращенно радиографиче ском, методе просвечивают контролируемую деталь и получают на рентгеновской пленке снимок, отображающий внутреннюю макроскопическую структуру детали. Снимок на пленке дает не гативное изображение «прозрачности» для у-излучения просве ченных участков детали. Изображения получаются в ко нической проекции, так как источник у-излучения имеет значи тельно меньше размеры, чем контролируемая деталь. При нали чии в детали пустот, раковин, трещин на снимке образуются со ответственно области с большим почернением, так как у-излу- чение, проходя через указанные дефекты, ослабляется в меньшей степени. По размерам областей большего почернения и опреде ляют размеры и положение дефектов.
При ксерорадиографическом методе в качестве детектора у-излучения используют специальные пластинки, покрытые сло ем полупроводника (ксеропластинки). Гамма-излучение, прохо дя через полупроводник, увеличивает его электропроводность. Если ксеропластинку зарядить, то на пластинке возникает как бы множество миниатюрных заряженных конденсаторов. При прохождении через пластинку у-излучения вследствие повыше ния электропроводности полупроводникового материала эти ми-