Файл: Кривовяз, Л. М. Практика оптической измерительной лаборатории.pdf

Список литературы

1. Арнюльф А. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей, применяемых в оптике. ОНТИ, 1936, Л .—М., 147 с.

2.Афанасьев В. А. Оптические измерения. М., «Недра», 1968, 263 с.

3.Ащеулов А. Т. Характеристики качества оптических и фотографических

4.Бабушкин С. Г. и др. Оптико-механические приборы. М., «Машинострое­ ние», 1965, 362 с.

5.Бардин А. Н. Сборка и юстировка оптических приборов. М., «Высшая школа», 1968, 321 с.

6.Батраков Р. И. Источники излучения для вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Оптико-механическая промышленность», 1970, № 6, с. 56—60.

7.Белянкин Д. С. Кристаллооптика. М., Изд-во геологической литературы, 1949, 125 с.

8.Березин Н. П. Установка для измерения частотно-контрастной характе­ ристики фотографических объективов. — «Оптико-механическая промышлен­ ность», 1961 № 11, с. 29—32,

9.Вознесенская 3. С. и В. М. Скобелев. Электрические источники света. М., Госэнергоиздат, 1957, 216 с.

10.Волосов Д. С., Цивкин М. В. Теория и расчет светооптических систем.' М., «Искусство», 1960, 526 с.

11.Воронкова Е. М. и др. Оптические материалы для инфракрасной техники. М., «Наука», 1965, 335 с.

12.Гаванин В. Н. и др. Индикаторы тлеющего разряда.— Приборы и тех­ ника эксперимента», 1965, № 5, с. 12—20.

13.Гальперн Д. Ю. Значение несферических поверхностей в оптических

15.Гороховский Ю. Н., Гилев С. С. Свойства фотографических материалов на прозрачной подложке. — В кн.: Сенситометрический справочник. М., Гостехиздат, 1955, 236 с.

16.Гребенщиков И. В. и др. Просветление оптики. М.—Л., Гостехиздат,

1946, 212 с.

17.Гуревич М. М. Цвет и его измерение. М., изд. АН СССР, 1950, 266 с.

18.Гуторов М. М. Основы светотехники и источники света. М., «Энергия», 1968, 212 с.

19.Дитчберн Р. Физическая оптика. М., «Наука», 1965, 631 с.

20.Духопел И. И. Контроль асферических поверхностей с небольшим от­

ступлением от сферы. — «Оптико-механическая промышленность», 1964, № 1, с. 24—28.

21.Евласов С. Е. Прибор для определения коэффициента отражения от просветленных поверхностей. — «Оптико-механическая промышленность», 1962,

№7, с. 13—15.

22.Забелин А. А., Рябова Н. В. Получение интерференции с большой раз­ ностью хода при использовании в качестве источника света газового ОКГ• «Оптико-механическая промышленность», 1968, № 4, с. 9—11.

3 2 6

23.Заказное Н. П. Специальные вопросы расчета и изготовления оптиче­ ских систем. М., «Недра», 1967, 97 с.

24.Захарьевский А. Н. Интерферометры. М., ОборонгизД1952, 293 с.

25.Знаменская М. А., Кривовяз Л. М., Юрщик А. Н. Контроль однослой­

ных просветляющих пленок. — «Оптико-механическая промышленность», 1968,

№10, с. 65—67.

26.Знаменская М. А., Кривовяз Л. М., Юрщик А. Н. Опыт коррекции ка­ чества цветовоспроизведения кино и фотообъективами. — «Техника кино и теле­ видения», 1967, № 12, с. 19—24.

27.Ильин Ф. С., Федотов Г. И., Федин Л. А. Лабораторные оптические при­ боры. М., «Машиностроение», 1966, 496 с.

28.Инюшин А. И., Шифферс Л. А. Интерференционный метод контроля вогнутых параболических поверхностей. — «Оптико-механическая промышлен­ ность», 1966, № 7, с. 33—39.

29.Калмыкова О. В. Расчет разрешающей силы объектива при фотографи­ ровании штриховой и радиальной миры, помещенной в фокальной плоскости

объектива коллиматора. — «Оптико-механическая промышленность», 1958, № 5, с. 26—27.

30.Каталог цветного стекла. М., «Машиностроение», 1967, 62 с.

31.Карлин О. Г., Липовецкий Л. Е., Сюткин В. А. Измерение деталей с ас­ ферическими поверхностями на сферометре ИЗС-7. — «Оптико-механическая

промышленность», 1972, № 4, с. 39—41.

32.Карлин О. Г., Сюткин В. А. Применение сферических и асферических пробных стекол для контроля асферических поверхностей. — «Оптико-механи­ ческая промышленность», 19J2, № 3, с. 37—39.

33.Коломийцов Ю. В. “Контрастность картины в двухлучевых интерферо­ метрах при неравенстве интенсивностей пучков лучей и при наличии рассеян­

ного света.— «Оптико-механическая промышленность», 1961, № 11, с. 27—28.

34.Коломийцов Ю. В., Духопел И. И. Бесконтактный интерференционный метод контроля сферических поверхностей линз. Оптика и спектроскопия. Т. 1. вып. 1, май, 1956, с. 94—101.

35.Коломийцов Ю. В. и др. Оптические приборы для измерения линейных

иугловых величин в машиностроении. М., «Машиностроение», 1964, 254 с.

36.Колядин А. И. О расчете коротковолновой границы пропускания опти­ ческих приборов. — «Оптико-механическая промышленность», 1969, № 8, с. 1—6.

37.Кравков С. В. Глаз и его работа. М.—Л., изд АН СССР, 1950, 532 с.

38.Крылова Т. Н. Отражение света от просветленной поверхности при раз­

личных углах падения. — «Оптико-механическая промышленность», 1968,

№11, с. 18—22.

39.Крылова Т. Н., Соколова Р. С. Насадка к спектрометру ИКС-12 для из­ мерения коэффициента отражения. — «Оптико-механическая промышленность», 1963, № 8, с. 28—30.

40.Куликовская Н. И., Королева А. В., Валяева И. Л. Применение асфе­ рических поверхностей в оптических приборах. — «Оптико-механическая про­ мышленность», 1971, № 7, с. 57—64.

41.Курицин А. М. Спектральное пропускание современных киносъемоч­

ных и фотографических объектов. — «Техника кино и телевидения», 1962, № 10,

.с 19—22.

42.Левин Б. М., Духопел И. И. Интерферометр для контроля плоскостей

иплоскопараллельности. — «Оптико-механическая промышленность», 1958, № 6, с. 13—15.

43.Липовецкий Л. Е., Кукс В. Г. Контроль асферических поверхностей на сферометрах, длинномерах и других приборах с шаровыми или торическими

измерительными элементами. — «Оптико-механическая промышленность», 1963,

№9, с. 27—33.

44.Лукьянов С. Ю. Фотоэлементы. М., изд АН СССР, 1948, 372 с.

45.Максутов Д. Д. Изготовление и исследование астрономической оптики.

327

47.Меланхолии Н. М. и Грум-Гржимайло С. В. Методы исследования оп­ тических свойств кристаллов. М., изд АН СССР, 1954, 192 с.

48.Методы и приборы для контроля качества кристаллов рубина. М., «Наука», 1968, 104 с.

49.Мороз Л. П. Интерференционные методы исследования фотообъективов. —

«Оптико-механическая промышленность», 1936, № 11, с. 17—18; 12, с. 14—16; 1937, № 1, с. 11—18.

50.Новик Ф. С., Ногин П. А. Киносъемочная оптика. М., «Искусство», 1968, 408 с.

51.Ободовский В. В., Рождественский В. Н., Черный И. А. «Янтарное» просветление и окрашенность фотографических объективов. — «Оптико-меха­ ническая промышленность», 1967, № 5, с. 60—65.

52.Обреимов И. В. О’ приложении френелевой дифракции для физических

итехнических измерений. М., изд АН СССР, 1945, 84 с.

53.Омельченко А. И. Об измерении малых углов отклонения стеклянных клиньев с высокой точностью. — «Оптико-механическая промышленность», 1965, № 2, с. 33—34.

54.Омельченко А. И., Панаиотова Н. Н. Коинциденц-фокометр.— «Оптико­ механическая промышленность», 1960, № 7, с. 34—35.

55.Пер А. Г. Производство оптико-механических приборов. М., Оборонгиз, 1959, 336 с.

56.Погарев Г. В. Измерение показателей преломления оптического стекла. Изд. Л. ЛИТМО, 1963, 32 с.

57.Пуряев Д. Т. О деформации волнового фронта при продольной и попе­ речной расфокусировках для отражающих эллиптических и геперболических

поверхностях вращения, — «Оптико-механическая промышленность», 1962, № 11, с. 11—17.

58. Пуряев Д. Т. Интерферометр для контроля асферических поверхностей вращения второго порядка. — «Известия высших учебных заведений СССР. Приборостроение», т. VI, 1963, № 4, с. 131—136.

59. Пуряев Д. Т. К расчету компенсационных объективов для контроля асферических поверхностей вращения интерференционным методом. — «Оп­ тико-механическая промышленность», 1966, № 6, с. 14—18.

60. Пуряев Д. Т. Контроль асферических поверхностей вращения второго порядка на интерферометре Тваймана.— «Известия высших учебных заведе­ ний СССР. Приборостроение», 1967, т. X, № 6. с. 99—101.

61. Пуряев Д. Т., Кривовяз Л. М., Каменева П. А., Никитин С. В., Бу­ тенко В. М. Интерферометр для контроля асферических поверхностей вращения

с. 23—24.

64.Романова М. Ф. Интерференция света и ее применение. Л.—М., ОНТИ, 1937, с. 176.

65.Русинов М. М. Несферические поверхности в оптике. М., Расчет, из­

67.Соболева Н. А. и др. Фотоэлектронные приборы. М., «Наука», 1965,

592 с.

68.Соколова Р. С., Лейпус В. М. Приспособление ФМ-40 к спектрофото­ метру СФ-4 для измерения коэффициента отражения. — «Оптико-механическая промышленность», 1958, № 3, с. 34—36.

69.Справочная книга по светотехнике. М., изд АН СССР. Ответственный ред. акад. В. С. Кулебакин, 1956, 456 с,

3 2 8