Файл: Верещагин, И. К. Электролюминесценция кристаллов.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 17.10.2024

Просмотров: 103

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Энергетический выход люминесценции определяется отношением энергии, излученной за единицу времени, к энергии, затраченной за то же время. В наиболее благо­ приятных условиях, когда все рекомбинации происходят в люминофоре (0 = 1), выход при неизменности условий возбуждения во времени равен

Ghv

%Р-

(14.2)

1 = IV

Здесь G — число ионизаций в секунду, которое равно об­ щему числу рекомбинаций в кристалле, Р — доля реком­ бинаций с излучением; hv — средняя энергия фотонов; I — ток, проходящий через барьер и весь кристалл, ц0 — выход без учета температурного тушения люминесценции, т. е. при Р — 1. Условие постоянства G при возбуждении изолированных образцов соответствует достаточно корот­ ким прямоугольным импульсам напряжения, в течение которых не создается поляризации, источник тока не ис­ тощается и F0 = const.

Так как скорость ионизации равна G = -JN , где N

число ионизаций, созданных одним электроном, прошед­ шим барьерную область, то выход определится соотно­ шением

 

 

 

 

Ло =

N (Vo, Т ) hv

 

(14.3)

 

 

 

 

 

eV

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Выражение для

N может

быть

записано в виде

N =

=

а ехр (—bVо1),

где

а

и

Ъ даются уравнением

(12.9),

а

общее

напряжение,

приложенное к

кристаллу,

V =

=

V0 +

FK. Поскольку падение напряжения на однород­

ной части кристалла FK зависит

от сопротивления образ­

ца,

то F 0, N и г]о при данных F

и Т будут различными

для

кристаллов

разного

размера

[72].

Определив зави­

симость F 0 (F), можно

найти зависимость Цд (F),

а при

известном Р — и действительный выход Г).

 

 

б)

Форма

зависимости выхода

от напряя{ения. При

небольших напряжениях на кристалле, соответствую­

щих слабой ионизации

?=•- 1),

F 0 близко к F и почти

линейно растет с увеличением F (см. рис. 12.1). При бо­ лее высоких F, соответствующих напряжением на барьере, достаточным для значительной ионизации, падение на­ пряжения в объеме кристалла увеличивается и рост F 0 (F) замедляется. При этом функция N (F„) также испытывает

100


насыщение, и значения энергетического выхода, подсчи­ танные по (14.3), дают максимум при определенном на­ пряжении (рис. 14.1). Форма расчетных кривых т)0 (F) качественно соответствует форме экспериментальных за­ висимостей, полученных как для сульфида и окиси цинка

(§§ 31, 20), так и фосфида галлия [80]. С понижением тем­

пературы выход

увеличивается, а максимум кривой ц0 (F)

сдвигается к меньшим V, что

1DN;

также наблюдается на опыте.

 

Кривые на рис. 14.1 отно­

 

сятся к Т = 300 °К и значе­

 

ниям параметров, при кото­

 

рых

расчетные

зависимости

 

В (Т)

и В (V)

достаточно

 

близки к опытным для обыч*

 

ных образцов ZnS-электролю-

 

минофоров с зеленым свече­

 

нием

(§§ 29, 30). Значения

 

/Д?, которые использованы

 

при подсчетах ц (F), соответ­

 

ствуют при Т =

300 °К попе­

 

речнику кристаллов

ZnS в

 

 

 

 

 

несколько микрон.

Так как

энергетического

выхода

от напря­

обычно

измерения

выхода

жения.

1—5 — выход т> 0

при раз­

проводятся на более толстых

личных

7,R

(1 —- I,R =

0,4 в, г

1,0 «, 3 -2

в,

4 — 4 в и S — 8 в);

слоях

люминофоров, макси­

е s — квантовый выход иониза­

мум измеренного выхода при­

ции N при h R =1,54 и 8 в соответ­

ственно

(Ь = 20

в).

ходится на

напряжения, бо­

 

14.1.

Для исключе­

лее высокие,

чем показанные на рис.

ния множителя, входящего в экспериментальное значение напряжения и отражающего число последовательно рас­ положенных кристалликов в конденсаторе, на рис. 14.2 форма теоретических и экспериментальных зависимостей т] (F) сравнивается в двойном логарифмическом масшта­ бе. При этом все кривые совмещались в точке максимума выхода. Из рисунка следует, во-первых, что величина параметра Ь слабо влияет на форму теоретических кривых и, во-вторых, что расчетные кривые хорошо согласу­ ются с результатами, полученными как на монокристал­ лах ZnO, так и на образце ZnS с примерно одинаковыми размерами частиц.

Экспериментальные кривые tj (F) для обычных поли­ кристаллических образцов, имеющих определенное рас­ пределение частиц до размерам, являются результатом

101


сложения многих кривых т] (F), соответствующих части­ цам каждого размера. В этом случае нельзя, естественно, ожидать полного согласия опытных зависимостей с вы­ численными, которые относятся к кристаллам определен­

ного

размера

(IiR — const).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Что касается абсолютных значений выхода, то подсчет

максимального выхода при комнатной температуре и под-

,

 

 

 

 

 

 

ходящих для сульфида цинка

 

 

 

 

 

 

 

 

параметрах

и

измерения

на

 

 

 

 

 

 

 

 

ZnS-фосфорах дают значения

 

 

 

 

 

 

 

 

одного

порядка

(несколько

 

 

 

 

 

 

 

 

процентов). Вычисление аб­

 

 

 

 

 

 

 

 

солютного значения tj тре­

 

 

 

 

 

 

 

 

бует,

вообще

говоря,

учета

 

 

 

 

 

 

 

 

ряда дополнительных

фак­

 

 

 

 

 

 

 

 

торов,

которые

оказывают

 

 

 

 

 

 

 

 

влияние

на

выход реальных

 

 

 

 

 

 

 

 

образцов (условия возбужде­

 

 

 

 

 

 

 

 

ния,

размер

кристаллов

и

 

 

 

 

 

 

 

 

т. д.).

Роль этих факторов об­

 

 

 

 

 

 

 

 

суждается в связи с данными

Рис. 14.2. Форма теоретической и

о

выходе наиболее

детально

экспериментальной

 

зависимости

исследованных ZnS-фосфоров

энергетического

выхода

от напря­

31, п. в).

 

В целом

при

жения

при комнатной температуре.

 

личных значениях параметров(1

0 =

1

и

комнатной темпера­

1 , 2 , 3

— расчетные кривые при раз­

туре

для

образцов

широко­

при

Ь = 10 в

и

I i R

=

1 в;

2

b =

20 в, UR =

0,4 в; 3

Ь =

40 в,

зонных

материалов

можно

l tR

=

0;4 в). Темные точки — дан­

ные. измерений на переменном на­

ожидать внутреннего выхода,

пряжении для фракции цинк-суль-

фидного люминофора

со

средним

не

превышающего

 

несколь­

диаметром частиц

6

мкм

[73]);

ких

процентов, так как вели­

светлые точки — для монокристал­

барьером, включенным в запираю­

чина

Р

при

этом

в лучшем

ла окиси цинка с поверхностным

случае равна нескольким де­

щем

направлении

(импульсы

на­

пряжения прямоугольной

формы).

сятым. Например, для кривой

значение rj0 = 6% и при

3 на рис. 14.1 максимальное

Р =

0,25

rj =

1,5%. Измерен­

ный внешний выход может быть

значительно

меньше.

Значения р порядка 1 % в условиях, когда 0 приближа­

ется к единице,

наблюдались

как

для сульфида цинка,

так и для образцов

ZnTe

и GaAs

[74,

75].

 

 

 

 

в)

О предельном выходе. Предельный при данном ме­

ханизме возбуждения

энергетический

выход может быть

достигнут при устранении бесполезных потерь энергии в

объеме кристаллов (т. е. при V =

F 0) и подборе оптималь­

ных

условий

ионизации в

барьерном слое

[76].

 

 

 

102


Наиболее интенсивная ионизация будет происходить вблизи пробоя, когда N = 1 и V0 = fe/ln а. При этом из (14.3) следует, что

г]m= b £ h v p .

(14.4)

Величины а и Ъ, входящие в теоретическое выражение для N, связаны между собой и, если иметь в виду барьер Шоттки, то be — аЕ0 (см. (12.10)). Так как максимум отношения (In а)!а соответствует величине а = 2,72, пре­ дельное значение энергетического выхода определится выражением

Лт = г!0тР =

0 ,3 7 ^ -Р .

(14.5)

Если величина Е 0 изменяется в пределах от

АЕ до

1,5 АЕ, то соответствующие

значения ц 0т (Р = 1,

все ре­

комбинации происходят с излучением) для ZnS — Си с зеленым свечением (hv= 2,4 эв, АЕ = 3,7 эв) будут рав­ ны 24 и 16%.

Вид использованного здесь уравнения для N соответ­ ствует равным или близким по величине коэффициентам ионизации для электронов (а) и дырок ф). Используя предположение, что [1=0, и приближенное уравнение (8.4) для а, Неймарк получила для барьера Шоттки в том

же веществе и при тех

же условиях (Е0 = 6 эв = 1,6 ДЕ,

hv — 2,4 эв, V — Vо,

Р — 1) максимальный выход 17%

[41]. При этом предполагался более благоприятный (но менее вероятный) с точки зрения энергетического вы­ хода случай, когда всю разность потенциалов на крис­ талле проходят только первоначальные носители, попав­ шие в барьер.

Вдействительности предельный случай N — 1 и V =

=V0 неосуществим на практике, так как это соответствует коэффициенту умножения М = оо, т. е. большим пробой­ ным токам, при которых основная часть внешнего напря­ жения падает в объеме кристаллов. При наличии последо­ вательного сопротивления того или иного происхождения выход достигает максимума при определенном напряжении

на кристалле (см. рис. 14.1).

Если толщина барьера составляет около 10-6 « и в ка­ честве реально осуществимой толщины кристалла при­ нять 10~4 см, то при типичных свойствах ZnS—Cu-электро- люминофоров подсчет приводит к более низким значе­

103