Файл: Верещагин, И. К. Электролюминесценция кристаллов.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 17.10.2024

Просмотров: 106

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

в предыдущий полупериод. В этой схеме предполагается, что большинство освобожденных дырок имеют возможность вернуться к центрам свечения.

Небольшие световые пики, появляющиеся после вы­ ключения каждого импульса, могут быть связаны с воз­ вращением к центрам свечения электронов, освобожден­ ных теплом и перемещаемых полем поляризации, которое присутствует в промежутках между импульсами.

Форма световых пиков определяется временной зави­ симостью электронного тока от противоположного края кристалла и изменением со временем числа дырок на уров­ нях центров свечения. Поток электронов может состоять, очевидно, как из электронов, освобожденных полем из ловушек (малые напряжения), так и образовавшихся вследствие ионизации (более высокие напряжения). Тог­ да по мере роста напряжения в пределах фронта импуль­ са в область скопления дырок устремятся сначала элект­ роны, освобожденные из ловушек, а позже — преимущест­ венно появившиеся вследствие ионизации. В веществах с большой концентрацией глубоких ловушек и большим се­ чением захвата электронов первые приходящие в область скопления дырок электроны будут захвачены ловушками, причем за короткое время импульса (менее мсек) ловушки глубиной в несколько десятых электрон-вольт не будут освобождены теплом при комнатной температуре. Тогда основная часть рекомбинаций в левой части образца на рис. 15.2, в произойдет только после начала ионизации в правой части кристалла. Подобные условия рекомбина­ ции осуществляются в обычных ZnS-люминофорах, что вытекает из ряда наблюдений (§ 32).

Мгновенная яркость свечения L (t) будет пропорцио­ нальна как числу оставшихся к моменту t ионизованных центров свечения р (t), так и концентрации электронов п (t) в той же области кристалла, причем п изменяется независимо от р и определяется напряжением на кристал­ ле и величиной G (t). Если р убывает только вследствие рекомбинации, то

о

о

110

где L выражено в числах квантов за секунду, у — коэф­ фициент, а р 0 — концентрация дырок в момент начала рекомбинации, когда t — 0. Если рекомбинация происхо­ дит у самой границы кристалла с двумя одинаковыми барьерами, то концентрация электронов п у вершины то­ го барьера, который включен в прямом направлении

L,G,B

Рис. 15.3. Изменение скорости генерации G и мгновенной яркости свечения

L в пределах прямоугольного импульса напряжения длительностью

I. 1,2,

2 L (1) при напряжении У = 60, 70 и 80 в соответственно; 4 , 5 , 6

G

при тех же V; 7, s — зависимости средней яркости В от длительности разно­ полярных импульсов t (V = 60 и 70 в), с помощью которых получены соответ­ ствующие кривые G. Все величины — в относительных единицах. Образец — сульфид цинка с зеленым свечением.

(у анода), пропорциональна / 0 + 1), где / 0 — ток насыщения, выраженный в числах электронов за се­ кунду, а М — коэффициент умножения. Скорость иони­

зации G = I — / 0 = / 0 — 1), т. е. при

М

1 п ~

~ / л ( ? и при больших напряжениях L ~

Gp. В началь­

ные моменты прямоугольного импульса напряжения, ког­ да р еще постоянно, a G растет из-за установления напря­ жения на барьере, возрастание L определяется увеличе­ нием G. В последующие моменты обе величины и G) падают, поэтому их произведение и L проходят через мак­ симум. На рис. 15.3 сравнивается форма опытных зависи­ мостей L (t) и G (t), которая в целом оказывается одинако­ вой [83]. Различия между кривыми L и G можно оценить

111


следующим образом:

L

h ( M + l)

м + l

(15.2)

G

h { M — 1) p ~~ M - l p ‘

 

Это отношение не зависит от / 0, который может изменять­ ся со временем как вследствие истощения источника элек­ тронов, так и из-за зависимости / 0 (F0). После установле­ ния F0 и М (F 0) эти величины начинают уменьшаться со временем, а дробь + 1)/(М — 1) — увеличиваться. Одновременный спад р (t) ослабляет изменения L/G со

временем. При высоких напряжениях, когда М

1,

отношение + 1)/(М — 1) изменяется медленнее

и

более ясно проявляется уменьшение р (t) (см. рис. 15.3).

Небольшое запаздывание максимума

Ь по отношению

к максимуму G может происходить как

из-за продолжаю­

щегося вначале захвата электронов ловушками, так и вследствие конечного времени подвода дырок к центрам свечения.

Таким образом, наблюдающееся соответствие кривых L и G согласуется с предположением о том, что в сульфиде цинка рекомбинация контролируется ионизацией, про­ текающей одновременно в другой области кристалла (прикатодной).

Уравнение (15.1) можно использовать для вычисления кривой L (t), если известна зависимость п (t) или / (t) =

= / 0 М (F0),

т. е.

зависимость

F 0 (t).

Эту

зависимость

(для того барьера,

в котором в данный

полупериод идет

ионизация)

можно

получить из

опытных

кривых G =

= / 0 — 1) либо с помощью опытов с малыми допол­ нительными импульсами, перемещающимися вдоль ос­ новного [81]. Более простой задачей является определение положения максимума яркости в условиях, когда он до­ стигается во время продолжающегося с постоянной ско­ ростью роста напряжения, т. е. в случае возбуждения люминофора треугольными или трапециевидными импуль­

сами (рис. 15.4). Условие максимума яркости^- = 0 при­

водит к следующему выражению:

(15.3)

которое относится ко времени tm, прошедшему от начала импульса до максимума светового пика (рис. 15.4, а).


При линейном росте напряжения от нуля до амплитуд­ ного значения в течение времени t a (рис. 15.4, а)

V

V = -р £ . Так как максимум света достигается в преде-

а

лах фронта импульса только при достаточно высоком F a,

tm,мксек

Рис. 15.4. Положение основного светового пика на переднем фронте трапецие­

видного импульса напряжения, а) — кривые напряжения V, тока I

и света

L (штриховые линии — тож е при более крутом

фронте импульса), t

— вре­

мя роста

V, 1

— время и

V m — напряжение,

соответствующие максимуму

яркости,

б) — зависимость

t

от t при Va =

const. Сплошная кривая —

расчетная: t

~ 3/ . Светлые

точки — экспериментальные данные

работы

[85], темные — работы [84].

то п ~ I и, если воспользоваться степенной аппроксима­ цией зависимости тока от напряжения, / ~ Vх, то из (15.3) будет следовать, что

у.

/ ' \ ~ 1

( , 5 ' 4 )

При Va = const для образцов сульфида цинка с зеленым свечением, у которых и ж 3, должна, таким образом, на­

блюдаться зависимость tm ~ ta\ Рис.

15.4, б показывает,

что ожидаемая зависимость довольно

хорошо согласует­

ся с измеренной [84]. Вместе с увеличением ta уменьшает­ ся напряжение Vm, соответствующее максимуму света,


так как

а

При синусоидальном возбуждении максимум L также появляется в условиях продолжающегося роста напряже­ ния и тока. Используя исходное уравнение вида (15.3), можно при некоторых упрощениях получить зависимо­ сти tm (или соtm = cpm) от частоты и других факторов, ко­ торые также согласуются с результатами измерений. При вычислении tm и срт в общем случае следует учитывать присутствие как излучательных, так и безызлучательных рекомбинаций, соотношение между которыми отражается величиной квантового выхода рекомбинации [86]. Так как величина Р влияет одновременно и на усредненные по времени характеристики свечения (средняя яркость, энер­ гетический выход), то значения фт оказываются связанными с этими характеристиками. Случай синусоидального на­ пряжения более подробно рассмотрен в разделе VI, по­ священном сульфиду цинка, на котором проделано боль­ шинство подобных измерений (§ 32). Там же обсуждает­ ся происхождение других световых пиков, в том числе возникающих при возбуждении люминофоров однополяр­ ными импульсами.

IV. КАРБИД КРЕМНИЯ

§ 16. Общие сведения

Карбид кремния был первым веществом, на котором наблюдалась электролюминесценция. В технических крис­ таллах со случайными р — п-переходами О. В. Лосев наблюдал оба основных вида свечения: рекомбинационное излучение р —«-переходов, включенных в прямом направ­ лении («свечение II»), и излучение, возникающее под действием сильного поля в обратно смещенных переходах («свечение I») [1]. Позже было выполнено большое число работ, относящихся к физико-химическим, электрическим и оптическим свойствам как технических, так и специаль­ но выращенных, более чистых кристаллов SiC. Результа­ ты этих исследований подробно изложены в [2].

Карбид кремния может иметь как кубическую решетку (^-модификация) с шириной запрещенной зоны АЕ = 2,33 эв

при Т =

293 °К, так и гексагональную (а-модификация),

которая

образуется при Т

2400 °С. Последняя имеет бо­

лее 30 политипных форм, АЕ у которых изменяется от 4,1 эв для формы 2Н до 2,74 эв для 8Н при комнатной температу­ ре [2—4]. Самой изученной из них является форма 6Н (АЕ = 2,96 эв), так как она получается в наибольших ко­ личествах при обычно используемом способе выращи­ вания кристаллов (конденсация из паров; см. [5—8]).

Типичной донорной примесью (обычно неизбежно при­ сутствующей) является азот с глубиной уровня, завися­ щей от политипа и равной примерно 0,1 эв для кристал­ лов 6Н [9]. Акцепторные уровни создают бор (0,39 эв), алюминий (0,29 эв), бериллий (0,4 и 0,6 эв) и другие эле­ менты [9—12]. Указанные глубины уровней относятся

кобразцам с относительно малым содержанием примеси;

сувеличением ее концентрации энергия ионизации

115


уменьшается [9, 10J. Глубина акцепторов не изменяется при переходе от одного политипа к другому [9].

Присутствие и количество примесей, как обычно, силь­ но влияет на процессы излучательной рекомбинации. В кристаллах с электронной проводимостью, обусловлен­ ной азотом, при низких температурах проявляется го­ лубая полоса свечения с энергией квантов для середины полосы hv = 2,65 эв [13, 14]. Голубая полоса является сложной и связана, по-видимому, как с переходами элек­ тронов с уровней азота в валентную зону, так и с перехода­ ми из зоны проводимости на уровни акцепторов [15]. При Т = 300 °К синяя полоса почти потушена, т. е. если тушение внешнее, в кристаллах существуют другие пути для рекомбинации без излучения.

Яркая даже при комнатной температуре люминесцен­ ция возникает только в том случае, когда в кристаллах одновременно присутствуют доноры и акцепторы. Наиболее интенсивное свечение дают кристаллы с примесями азота и бора [13, 16—19]. Так как в этом случае для образцов всех форм ДЕ hv ^ 0,9 эв, а глубина уровня бора не­ изменна (0,4 эв), можно допустить, что излучение возникает при переходе электрона на уровень бора с донорного уров­ ня глубиной около 0,5 эв [15]. То, что азот способствует образованию центров свечения и в этом случае, следует из отсутствия свечения образцов с бором, в которых азот имеет малую концентрацию [16], и возрастания свечения вместе с увеличением содержания азота вплоть до пример­ но 3-1018 еж-3, когда наступает концентрационное тушение. Таким образом, донорный уровень 0,5 эв может принад­ лежать азоту.

В гексагональной решетке 6Н, в которой ближайшие соседи данного атома расположены по вершинам тетраэдра (каждый атом углерода окружен четырьмя атомами крем­ ния, и наоборот), возможно три различных состояния как для С, так и для Si. В частности три состояния С различа­ ются расстояниями до ближайшего атома Si вдоль опреде­ ленного направления (например, гексагональной оси). Если атомы N и В замещают углерод, то им также соот­ ветствуют три состояния в решетке, которые проявля­ ются при изучении электронного резонанса [20] и спек­ тров синего свечения, связанного с азотом [14]. Различия в энергии этих состояний для N составляют около 0,03 эв, поэтому в синей области спектра наблюдается три близкие полосы. Таким же образом растроение уровней акцепто­

116