Файл: Видершайн, М. Н. Производственный контроль параметров элементов цифровой автоматики.pdf

вые приборы и их применение». Вып. 8 . М., «Советское радио», 1962, с. 137—

173.

18.Мирский Г. Я. Измерение временных параметров. М,—Л., «Энергия», 1964, 72 с.

19.Проект типового положения об отделе технического контроля (ОТК) предприятия. — «Надежность и контроль качества», № 6 , 1969, с. 45—66.

20.Тафт В. А., Видершайн М. Н. Использование туннельных диодов в схе­ мах измерения временных параметров импульсных сигналов. В сб. «Расчет и надежность электронных устройств», М., «Транспорт», 1968, с. 113—123.

21.Тафт В. А., Видершайн М. Н. Сравнительная оценка эффективности различных методов контроля качества функциональных узлов радиоэлектрон­ ной аппаратуры. В сб. «Расчет и надежность электронных устройств», М., «Транспорт», 1968, с. 34—41.

22.Типовое положение о подразделении надежности. «Надежность и кон­ троль качества». Ежемесячное приложение к журналу «Стандарты и качество»,

№4, 1969, с. 58—74, № 5, 1969, с. 56—77.

23.Томас Л. Ф. Контроль качества. М., «Изд-во стандартов», 1968, 184 с.

24.Туннельные диоды и их применение в схемах переключения и в устрой­ ствах СВЧ диапазона. «Советское радио», 1965, 184 с.

25.Фадеев Н. И. Технология производства узлов электронных вычисли­ тельных машин. М., «Машиностроение», 1969, 312 с.

26.Флейшер, Джонсон. Новый метод аналого-цифрового преобразования

в наносекундном диапазоне. Электроника (русский пер.) Т. 36, № 18, 1963, с. 26—30.

27.Хальд А. Математическая статистика с техническими приложениями. М., «Иностранная литература», 1956, 664 с.

28.Ху. Уменьшение времени нарастания импульса с помощью диодов с на­

коплением зарядов. «Электроника» (русский перевод), Т. 36, № 7, 1963, с. 45—48.

29. Шор Я- Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надеж­ ности. М., «Советское радио», 1962, 552 с.

30.«Экспресс-стандарт». Качество. Стандарты. Метрология. Вып. 38 (164) ВНИИКИ, 1968, с. 11—12.

31.Эккеркунст В. Автоматизация линейных измерений. Перевод с немец­ кого. Изд-во стандартов. М., 1969, 239 с.

32.Anjard Ronald Р. Bubble leak testing. Mater Res and Stand., 9, № 2,

1969, p. 23—26.

33. Annual Symposiam on Reliability. Proceedings, 1967, p. 253—266.

34.Automatik system speeds Transistor Testing Electrical Design News, October, 1967, p. 77.

35.Biegs В. C. How to measurepower — supply perfomance. Electron. World, 79, № 4, 1968 p. 41—43.

36.Cline James E., Morris James M., Schwartz Saymour — scanning elect­ ron mirror microscopy and scanning electron microscopy of integrated circuits.

IEEE Trans. Electron Devices, 16, № 4, 1969 p. 371—375.

37.Dauphin A., Leclereg C. Etat actual de la normalisation des essais climatiques et de robustesse mecanique. Courrier normalis, 36, № 208, 1969, p. 422— 425.

38.Diodes that swith in a billionth of a second. Computers and automation,

v.9, № 4 , i960, p. 18.

39.Electronic Components, v. 8 , № 7, 1967, p. 795—800.

40. Electronic News, p. 1, № 605, 1967, p. 35.

41. Fricke H. W. Der Abtast—Oszillograf. Arbeitsweise—Vorteile. Electro­ nic 16, № 12, 1967, S. 361—364.

213