Файл: Рождественская Т.Б. Аппаратура для точного измерения больших сопротивлений, малых постоянных токов и методы ее поверки.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 03.07.2024

Просмотров: 115

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

ввиду отсутствия соответствующих образцовых средств [33],

асвыше 1013 Ом практически не применялся.

Втечение последних лет некоторыми авторами было пред­ ложено применять пассивные эквивалентные цепи для ком­ плектной поверки высокоомных мостов [100, 129, 130, 131]. Од­ нако при исследовании предложенных цепей [33] установили, что они обладают существенными недостатками: предъявляют определенные требования к схеме и конструкции поверяемого прибора и во многих случаях не могут быть применены для поверки высокоомных измерительных приборов.

Ниже будут рассмотрены особенности схем и конструкций мер большого электрического сопротивления, высокоомных мо­ стов, с помощью которых аттестуют эти меры, а также пассив­ ные и активные эквивалентные цепи, предназначенные для комплектной поверки высокоомных измерительных приборов, даны рекомендации по выбору образцовых средств и методов поверки, обеспечивающих практическое внедрение новой по­ верочной схемы.

ОСОБЕННОСТИ СХЕМ МЕР БОЛЬШОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ

Меры электрического сопротивления являются основой созда­ ния большей части измерительных приборов. Без их постоянно­ го совершенствования невозможно расширение диапазонов и повышение точности приборов для измерения сопротивления.

Характеристики мер большого сопротивления зависят как от свойств резисторов, на основе которых они построены, так и от конструкции меры. Существенную роль при создании мер большого сопротивления играет способ их экранирования.

Меры большого сопротивления могут быть классифициро­ ваны по ряду признаков [32, 33, 34, 35, S3].

В зависимости от метрологического назначения, т. е. от положения, занимаемого в поверочной схеме, меры большого сопротивления подразделяются на рабочие и образцовые.

Образцовой называют меру, предназначенную для повер­ ки по ней других средств измерений, исследованную и атте­ стованную в метрологическом учреждении страны и утверж­ денную в качестве образцовой меры определенного разряда в соответствии с поверочной схемой.

В зависимости от вида применяемых резисторов, меры большого сопротивления делятся на проволочные (микропро­ волочные) и непроволочиые [71]. На основе микропроволоч­ ных резисторов возможно создание "мер большого сопротив­ ления номинальным значением до 101 0 Ом, а на основе непро­ волочных резисторов — до 1014 Ом.

32


В зависимости от схемы и способа применения образую­ щих меру резисторов меры большого сопротивления условно

можно разделить на несколько видов [83].

 

 

Мера однозначная вида R = r {R — полное

сопротивление

меры; г — сопротивление

резисторов, на

основе

которых по­

строена мера) состоит из

одного (рис. 10, а) или нескольких

последовательно включенных резисторов

(рис.

10,6). Метал-

I

I I

i l l

M l

I

I

I

6

Рис. 10. Схемы мер большого электрического сопро­ тивления

лический корпус меры является ее электростатическим экра­ ном Э. Меры этого вида (как и все меры большого сопротив­ ления) желательно герметизировать и заполнять сухим воз­ духом или инертным газом [13]. Герметизация повышает ста­ бильность сопротивления мер во времени.

Преимуществом таких мер является простота конструкции и минимум путей утечек тока, поскольку они имеют только два выводных изолятора.

Одиночные меры вида R=r аттестуют при рабочем напря­

жении, однако при аттестации необходимо измерять ее

пол­

ное сопротивление. Это является недостатком

подобных

мер,

3 Зак. 1225

 

33

так как с возрастанием измеряемого сопротивления точность измерения понижается.

Меры этого вида применяются как рабочие и образцовые (микропроволочные и непроволочные), имеют постоянное значение и могут использоваться в цепях постоянного и пере­

менного токов (при условии оценки их постоянной

времени).

Многозначная

мера вида R = T> г состоит из п

последова­

тельно включенных

резисторов (рис. 10, в) и имеет п + 2 выво­

да, включая вывод от экрана.

 

 

При аттестации измеряют сопротивление каждого

из ре­

зисторов гь Гц,

rN,

ее образующих, а действительное

значе­

ние определяют расчетным путем.

Данную меру можно аттестовывать с несколько повышен­ ной точностью, так как составляющие ее секции могут быть подогнаны и измерены более точно, чем полное (суммарное) сопротивление, вследствие того, что они имеют меньшие но­ минальные значения. Однако погрешность, обусловленная влиянием токов утечки в этой мере, возрастает ввиду наличия п+{ изоляторов.

Если секции п такой меры составлены из непроволочных резисторов, то для исключения погрешности, вызванной изме­ нением сопротивления непроволочных резисторов при изме­ нении приложенного к ним напряжения, меру следует атте­ стовывать при напряжении

 

^ р а б

L-'ат —

1

п

где л — количество резисторов; £/р а б — рабочее напряжение меры.

Меры этого вида, применяемые как рабочие и образцовые (микропроволочные и непроволочные), могут использоваться в цепях постоянного и переменного токов.

Принципиальная схема меры вида Rs=Rvii2 (рис. 10, г) основана на том, что эквивалентное сопротивление п резисто­ ров с равными номинальными значениями, соединенных парал­ лельно, в п2 раз меньше сопротивления тех же резисторов, носоединенных последовательно [98, 115, 127].

Действительное значение меры при определенных условиях

Rs — Rp fi2,

где Rs — сопротивление /г последовательно соединенных рези­ сторов;

Rp — сопротивление тех же п резисторов, которые соеди­ нены параллельно, измеренное при аттестации меры.

34


Погрешность определения значения меры Rs мер большого сопротивления, выполненных на основе йепроволочных рези­ сторов, зависит от неравенства сопротивлений отдельных рези­ сторов, составляющих меру, и от погрешности, вызванной за­ висимостью сопротивления непроволочных резисторов от при­ ложенного напряжения и обусловленной влиянием токов утечки.

Меры этого вида имеют следующие преимущества: повышенную точность аттестации, так как для аттестации

такого вида меры достаточно измерить ее значение при парал­ лельно соединенных резисторах, это значение в п2 раз меньшезначения меры при последовательно соединенных образующих

еерезисторов; возможность применения образцовой аппаратуры, имеющей,

более низкий диапазон измерений; сокращенное количество измерений; для аттестации меры

необходимо только измерить сопротивление при

параллель­

ном включении

резисторов

Rp и сопротивление изоляции,

Однако при

выполнении

мер вида Rs~Rpn2

номинальны­

ми значениями более 1010 Ом на основе кепроволочных рези­ сторов значительно повышаются требования к защите их от токов утечки и внешних электромагнитных помех, а также усложняется конструкция вследствие большого числа контак­ тов, необходимых для переключений. Кроме того, подбор не­ проволочных резисторов с одинаковыми значениями сопро­ тивления весьма затруднен из-за специфических особенностей их подгонки.

Несмотря на перечисленные трудности наиболее целесооб­ разно создание мер большого сопротивления вида Rs^Rpn2, на анализе погрешностей которых мы и остановимся.

ПОГРЕШНОСТИ МЕР БОЛЬШОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ

Погрешность мер большого электрического сопротивления яв­ ляется результирующей нескольких составляющих, основны­ ми из которых являются [32, 33, 35, 36]:

погрешность подгонки сопротивлений резисторов, обра­ зующих меру под номинальное значение (уі) ;

погрешность, вызванная нестабильностью сопротивления резисторов меры во времени (уг) ;

температурная погрешность, обусловленная зависимостью сопротивления резисторов от температуры (ѵз) ;

погрешность, вызванная влиянием внешней окружающей среды (у4 );

3*

35


погрешность определения действительного значения сопро­ тивления меры (у5 ) ;

погрешность, обусловленная изменением сопротивления ре­ зисторов ііри изменении приложенного к мере напряжения «(для мер, выполненных на непроволочных резисторах) (уб) ;

погрешность, вызванная влиянием токов утечки (уі). Специфические особенности изготовления микропроволоч­

ных и особенно непроволочных резисторов затрудняют точ­ ную их подгонку под номинальное значение.

Как уже отмечалось, тщательный отбор резисторов, искус­ ственное и естественное старение и наблюдение за их стабиль­

ностью

дают

возможность получить комплект

резисторов,

максимальное отклонение от номинального значения

которых

не превышает

± 0 , 0 1 %

для

микропроволочных

резисторов

105—109

Ом; ± 5 %

для

непроволочных

резисторов

1010

1 0 І 2 О м

и ± 1 0 % для непроволочных

резисторов 101 4 Ом.

Таким образом, погрешность уі, являющаяся следствием от­

клонения сопротивления

микропроволочных

и

непроволоч­

ных резисторов от номинального значения, лежит

в пределах

± ( 0 , 0 1 - 1 0 ) % .

 

 

 

 

 

 

 

 

Погрешность у% составляет

величину

порядка

± (0,003 —

0,005) % за 1 год для микропроволочных

мер

сопротивления

в диапазоне

Ю5 —10э Ом и ±(0,1—0,5)%

за тот же

период

для мер номинальными

значениями 101 0 —10м

Ом, созданных

на основе непроволочных

резисторов.

 

 

 

 

 

Температурная

погрешность меры большого

сопротивле­

ния уз складывается из погрешности

ц^, обусловленной зави­

симостью сопротивления

резисторов

меры

от

температуры,

и погрешности т^', являющейся следствием недостаточно точ­

ного измерения

температуры.

 

Погрешность

j ' 3

зависит от температурного коэффициента

применяемых в мере

резисторов.

Температурный коэффи­

циент составляет величину порядка

± (3 • 10_ 6 —2 • Ю - 5 ) 1/°С

для микропроволочных

резисторов

и ± (5 • Ю- 4 —2 • Ю - 3 ) 1/°С

для непроволочных

резисторов.

 

Погрешность

fg'

является величиной порядка ±0,00001%

для микропроволочных

мер и ± (0,0005—0,002) % для непро­

волочных мер. Ею практически можно пренебречь.

Погрешность у$ возникает из-за влияния окружающей сре­ ды как следствие образования пленки влаги и пыли на поверх­ ностях изоляторов и стеклянного баллона кепроволочных рези­ сторов [2, 57, 89, 90, 91, 93].

Эффективным средством ее уменьшения является гермети­ зация мер, гидрофобирование стеклянных баллонов и корпу-

36


сов, полировка изоляторов и применение силикагелевых осу­ шителей.

Погрешность у$ определяется погрешностью образцовой ап­ паратуры и погрешностью ув, вызванной зависимостью сопро­ тивления резисторов от приложенного напряжения (для непро­

волочных мер сопротивления).

 

 

 

 

 

Кроме

перечисленных

источников

погрешностей мер со­

противления вида Rs=Rpn2

может

появиться еще

один, вы­

званный неравенством действительных

значений

резисторов,

образующих меру. Погрешность, обусловленная этим

источ­

ником, достигает

( 7 - Ю - 7 — 2 - 1 0 _ 6 ) %

для

микропроволочных

резисторов до 10э

Ом и ± (0,006—0,01) % для непроволочных

резисторов

101 0 —1012

Ом.

 

 

 

 

 

 

Погрешность

образцовой аппаратуры

в диапазоне

106

1014 Ом составляет ± (0,001—0,1) %.

 

 

 

 

 

Для исключения погрешности ув, вызванной зависимостью сопротивления непроволочных резисторов от приложенного к ним напряжения, непроволочные меры должны аттестовываться при рабочем напряжении.

Исследованию влияния токов утечки на погрешность изме­ рения в высокоомных цепях постоянного тока посвящено значительное количество работ [12, 14, 28, 32, 33, 34, 35, 62, 69, 74, 92, 94, 95, 96]. Еще М. Ф. Маликовым было установлено

требование «..-.во всякое время и при любых

обстоятельствах

сопротивление изоляции должно оставаться

настолько боль­

шим, чтобы влияние шунтирования утечкой на величину элек­ трического сопротивления находилось за пределами точности измерения» [58].

Эти требования приобретают особый смысл при разработ­ ке мер предельно большого сопротивления, так как номиналь­ ные значения их сопротивления приближаются к значениям сопротивления изоляции лучших диэлектриков.

Погрешность у7, обусловленная влиянием токов утечки, мо­ жет стать одной из основных составляющих погрешности мер большого сопротивления, вследствие чего анализу влияния то­ ков утечки на погрешность мер большого сопротивления долж­ но быть уделено особое внимание.

Рассмотрим эквивалентную схему меры большого сопро­ тивления типа R=r (рис. 11).

Из рисунка видно, что влияние шунтирования резистора меры Г\ сопротивлением г\ определяется соотношением между

Т\ и г'ь а влияние шунтирования резистора меры

Г\ сопротив­

лениями гА и гв в значительной степени зависит

от разности

потенциалов между экраном и точками А и В меры, т. е. от

37