Файл: Троицкий О.А. Радиация и прочность твердых тел.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 21.07.2024

Просмотров: 84

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

находящийся в межузлии, выталкивает соседний атом из нормального положения в решетке и сам занимает осво­

бодившееся место. Поскольку

энергия

образования м е ж ­

узел ы-юго

атома

в чистых металлах

или растворах за­

мещения

всегда

значительно

больше

энергии образова ­

ния вакансий, межузельный механизм диффузии в этих объектах имеет второстепенное значение.

Таким образом, наиболее частым должен быть вакансионный механизм диффузии. Эффект Киркендолла подтверждает этот вывод. Неодинаковый поток диффун­ дирующих компонентов компенсируется потоком вакан­ сий, что приводит к появлению пористости в материале. Поскольку диффузия имеет, в основном, вакансионный характер, коэффициент диффузии зависит от концентра­

ции

вакансии.

 

Г Л А В А V

 

И З М Е Н Е Н ИЕ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ

 

ТВЕРДЫХ ТЕЛ ПРИ ОБЛУЧЕНИИ

 

К а к мы уже знаем, деформация твердых тел делится

на

две области — упругую и пластическую. В упругой

области при снятии нагрузок тело возвращается в исход­ ное состояние и никаких изменений формы не проис­ ходит.

 

В пластической области происходят необратимые про­

цессы и тело

может

существенно изменить свои

размеры

и

форму.

 

 

 

 

 

 

Если рассматривать действие облучения на прочность

и

пластичность твердых тел, то логично

проанализиро­

вать

возможное влияние облучения

как на

упругую, т а к

и

на

пластическую

деформацию

тел.

 

 

 

§ 1. Действие облучения на упругую деформацию

 

Основным

эффектом действия

облучения

является

создание внедренных атомов и вакансий. При облучении, как результат большей частью вторичных эффектов, мо­ гут возникать т а к ж е дислокации. Поскольку внедренный атом и вакансия являются противоположными дефекта­ ми, они должны влиять на механические свойства твер­

дого тела диаметрально

противоположно.

В действительности, так оно и есть. Вакансии и внед­

ренные атомы по-разному

влияют на упругую деформа -


д ню решетки. Присутствие внедренных атомов уменьша­

ет среднее межатомное

расстояние

в

решетке и тем

самым увеличивает межатомные силы.

Как

следствие

этого, возрастает сопротивление упругому

деформирова­

нию решетки. Вакансии

же, напротив,

дают

противопо­

ложный эффект, поскольку создают известное «разря­ жение» в материале.

Несравненно больший вклад, чем вакансии и внедрен­ ные атомы, в упругую деформацию твердых тел вносят дислокации. Именно с наличием дислокаций связано наиболее заметное изменение упругих констант твердых тел, подвергаемых облучению.

Прежде чем анализировать направление изменения упругих свойств тел при облучении, посмотрим, как из­ меняется упругость твердых тел от наличия в них легко­

подвижных

дислокаций.

 

Будем рассматривать дислокацию струны,

закрепленной

по концам и движущейся в одной из плоскостей

скольжения

Если

к кристаллу приложено напряжение т,

то дислока­

ция

выгнется

и тем самым осуществит элементарный акт

квазиупругой деформации (мы специально применили здесь термин квазиупругой, поскольку дислокации осуществляли обычно пластическую деформацию, а не упругую. Вместе с

тем в данном

случае концы

дислокаций были

закреплены,

и она двигалась как упругая струна).

 

 

 

 

Итак, в кристалле, к которому

приложено

небольшое

напряжение т,

дислокация упруго изогнется

на

расстояние

а так, как показано на рис. 30 а.

 

 

 

xb

 

При этом на линию дислокации

действует сила

(где

b — известный

уже вектор Бюргерса). Если

длина

дислока­

ционной

линии

в единице объема составляет

Л 0

то

элемен­

тарный

акт квазиупругой деформации, вносимый дислокаци­

ей, запишется

в виде А0Ьа.

Д л я перехода к макроскопиче­

ской картине воспользуемся

лучше

выражением

N0bS,

где

Рис. 30. Изгиб дислокации, закрепленной в различных точках точечными дефектами.


N0 — число

таких дуг

в единице объема и 5 —площадь, ох­

ватываемая

каждой из

дуг

Общая

деформация

решетки е0 бЩ . будет являться суммой

истинно упругой деформации єС т., связанной с изменением межатомных расстояний, и квазиупругой єкв.упр., имеющей дислокационную природу по указанному выше механизму.

Истинную

деформацию

можно

выразить

через закон

Гука, а вместо єкв.упр. подставим ее значение,

приведенное

выше. Тогда

общая деформация

запишется в

виде

 

є общ- = =

+

NbS,

 

где G —модуль упругости.

 

 

 

 

Из этого

выражения

видно,

что общая

деформация

решетки, помимо её истинных упругих свойств, представ­ ляемых первым слагаемым, зависит от длины дислока­ ционных линий или числа дислокационных дуг в единице объема н от величины заметаемой ими площади.

В необлучаемых кристаллах величина свободных уча­ стков дислокаций определяется точками закрепления, ко­ торые представляют собой либо узлы при пересечении дислокаций, либо области расположения примесей и то­ чечных дефектов.

В облученных кристаллах дислокации оказываются за­ крепленными более жестко, поскольку радиационные точечные дефекты и комплексы из таких дефектов образуют новые цен­

тры закрепления. Эти новые центры

закрепления уменьшают

длину свободных сегментов и площадь, заметаемую

одним

сегментом. Однако,

как видно

из

рис.

30 б, число дуг при

этом возрастает Из

приведенного

выше

выражения

следу­

ет, что увеличение

числа дуг N

увеличивает общую

упру­

гую деформацию, а уменьшение площади, заметаемой одной дугой, наоборот, уменьшает деформацию. Следовательно,

суммарный эффект должен зависеть от

того, какой из фак­

торов

окажет более сильное влияние. Оказывается, сначала

облучение уменьшает упругую деформацию, но с ростом

до­

зы облучения относительная

разность

модулей

бездефект­

ного

и облученного материалов падает. Таким образом, сна­

чала

основную роль играет фактор

заметаемый

площади

Sr

а затем начинает преобладать

фактор длины свободного сег­

мента

или увеличения числа

дуг

N.

 

 

 

Следовательно, в результате облучения может изме­ ниться упругая деформация твердого тела или опреде­ ляющий эту деформацию модуль упругости. На кристал-


л ах

меди,

например,

модуль

упругости

увеличивается?

на

10%. Аналогичные

изменения

наблюдаются

на

дру­

гих

типах

кристаллов,

а т а к ж е

на

поликристаллах

раз­

личных веществ, при

этом, конечно, величина

эффекта

существенно изменяется.

 

 

 

 

 

 

Эффект

изменения

модуля

упругости

в результате

облучения может быть анизотропен. Например, в графи­

те в плоскостях легкого движения дислокаций

(в плоско­

стях базиса) в результате

облучения

модуль

упругости

может увеличиться

в десять раз. 3 цинке радиационные

изменения

модуля

упругости т а к ж е

анизотропны.

Что ж е

представляют

собой новые места

закрепле­

ний на линиях дислокаций? Самое простейшее из них — это внедренные атомы и вакансии, которые присоединяв ются к дислокации и.образуют на ней дефекты типа сту­ пенек. Такие ступеньки препятствуют перемещению ли­ нии дислокации. В некоторых кристаллах, например, в ионных, существенным являются электрические и упру­ гие взаимодействия между дислокациями и точечными дефектами.

Облучение может производить дефекты непосредст­ венно на линиях дислокаций по механизму фокусирую­ щихся столкновений, на котором мы уже останавлива ­ лись. Однако при произвольной геометрии облучения подавляющая часть дефектов производится равномерно по объему тела и поэтому находится вдали от линий дис­ локаций. Только небольшая часть дефектов возникает непосредственно на линиях дислокаций. То обстоятель­

ство, что при низких температурах происходит

сущест­

венное

увеличение модуля

упругости,

свидетельствует

о большой чувствительности

упругих свойств

решетки

д а ж е

к малому количеству

имеющихся

дефектов.

Дополнительное существенное изменение модуляупругости происходит после того, как дефекты, произве­ денные равномерно но объему, получают возможность двигаться и оседать на линиях дислокаций. Это проис­ ходит при повышении температуры.

Облучение меди, например, при низких температурах приводит к возрастанию модуля упругости. Последую­ щее ж е нагревание вызывает дополнительное увеличе­ ние модуля упругости, т. к. дефекты, созданные в объеме,, двигаются и оседают на дислокациях, образуя новые точки закрепления.

1<

97


Резюмируя сказанное относительно влияния облу­ чения на упругую деформацию решетки, следует подчерк­ нуть, что из двух компонент деформации — истинно упругой и обратимой дислокационной — действию облу­ чения подвержена в большей мере вторая компонента, которая определяется наиболее важным дефектом кри­ сталлического строения — дислокацией.

§ 2. Влияние облучения на внутреннее трение

В тесной связи с упругими свойствами кристаллов находится такое важное механическое свойство, как внут­ реннее трение. По сути дела, мы уже обсудили возмож­ ное влияние облучения на внутреннее трение в кристал­

ле,

поскольку движение

дислокационных сегментов и

•есть

ю т элементарный

акт, который лежит в основе

внутреннего трения твердых тел. Остается только доба­ вить, что, подобно делению деформаций на упругие и пластические, внутреннее трение разделяют на амплитудонезависимое и амплитудозависимое.

Выше речь шла исключительно об амплитудонезависимом внутреннем трении. Оно возникает, если к кристаллу при­

ложено осциллирующее напряжение Р =

P0siit(nl

с достаточ­

но

малой

амплитудой

Р0. Общая деформация,

как

и преж­

де,

будет

состоять на

упругой деформации решетки

и

обра­

тимой дислокационной

деформации.

 

 

 

 

 

Из экспериментов с внутренним трением в последние

годы стало

ясно,

что

модуль

упругости зависит от

квад­

р а т а длины

дислокационного

сегмента,

а внутреннее

тре­

ние — от

длины

сегмента в

четвертой

степени.

Отсюда

следует,

что при

облучении

решетки

внутреннее

трение

д о л ж н о уменьшаться с поразительной скоростью, во мно­ го раз большей, чем изменяется модуль упругости.

Длина дислокационного сегмента до облучения состав­ ляла L 0 = где Л 0 —плотность дислокаций и N0 —число

точек закрепления до облучения. После облучения длина

дислокационного сегмента будет составлять уже L = N

где п —число новых центров закрепления, созданных облу­ чением. Очевидно, п должно быть пропорционально дозе облучения.