Файл: Малкин, О. А. Импульсный ток и релаксация в газе.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 17.10.2024

Просмотров: 68

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

ВВЕДЕНИЕ

Низкотемпературная плазма в последнее время широко применяется в ряде отраслей науки и техники. Начиная от разреженной слабоионизованной плазмы в газонапол­ ненных лампах, люминесцентных светильниках, иониза­ ционных камерах масс-спектрометров н др., кончая плот­ ной многократно ионизованной плазмой мощных импульс­ ных дуг и плазмой, возникающей при взаимодействии лазерного импульса с твердым телом, — везде существует и используется низкотемпературная плазма. Разумеется,

термин «низкотемпературная» условен — верхней

 

грани­

цей диапазона температур могут быть

величины

порядка

100 000—200 000 °К. Принятосчитать,

что

низкотемпера­

турной называют плазму с температурой

наиболее

высо-

коэиергетпчиой_компоненты порядка энергии первой

иони­

зации этой

компоненты,

т. е.

подчиняющейся неравенству

(к т і;\іакс <

e '” . Так

как

энергии

ионизации

химиче­

ских элементов находятся в пределах от 3,89 до 24,5 эв, то верхней границей температурного диапазона для низ­ котемпературной плазмы можно считать температуру около

250 000 °К.

До недавнего времени практически использовали тем­ пературы не выше (1—1,5)-10'J °К — плазматроны, ста­ билизированные дуги, газонаполненные лампы высокого давления и т. п. Стремление увеличить коэффициент полез­ ного действия тепловых физических процессов, поднять световую мощность импульсных источников света для накачки твердотельных лазеров, повысить удельный им­ пульс движительных устройств, снизить время инжекции частиц в ускорители и термоядерные установки; необходи­ мость применения более высокоплавких материалов для защитных покрытий и нанесения таких пленок; интенси­ фикация плазмохимических процессов — все это обусло-

7


вило повышение верхней практически используемой тем­ пературной границы в среднем до (5—10) • 104°К. В плаз­ менных ускорителях, в некоторых движителях применяют­ ся еще большие энергии, доходящие до десятков и сотен электронвольт. Вследствие известной специфичности по­ добных устройств рассмотрение свойств плазмы в них не входит в нашу задачу (по этому вопросу см, книги [1—3] и обзоры [4, 5]). Поэтому в дальнейшем верхним пределом рассматриваемого диапазона температур плазмы будем считать (54-10) • 104°К, или 5—10 эв.

Свойства газа, находящегося в столь широком диапазоне температур, изменяются весьма существенно, что обусло­ вливает многочисленные виды применения его в самых различных технических и технологических устройствах. К ним относятся электронные приборы слаботочной и си­ ловой электроники — тиратроны, газотроны, ртутные вен­ тили, разрядники, вакуумные, воздушные и масляные вы­ ключатели и т. п. Широко используются сейчас различные плазматроны — плазменные сварочные горелки и резаки, подогреватели, технологические устройства для напыления тугоплавких материалов, изготовления многослойных и тонких покрытий и др. В последнее время начали приме­ няться плазмохимические реакторы для получения проме­ жуточных продуктов реакции, ускорения химико-техиоло- гическнх процессов, каталитического управления скоростью реакций, не осуществляемых в обычных условиях, и др. Все большее применение находят газовые лазеры, дающие широкий диапазон длин волн индуцированного излучения и обладающие возможностью внутренней модуляции. На­ конец, низкотемпературная плазма используется в широком классе лабораторных и научно-исследовательских устано­ вок, моделирующих рабочие процессы в технологических промышленных устройствах, различные виды космофизи­ ческих процессов и многое другое. На претендуя на полноту этого краткого упоминания многочисленных применений низкотемпературной плазмы, можно отметить, что диапа­ зон их резко расширился в последние годы и продолжает расширяться. Последнее объясняется освоением тех видов плазмы, свойства которых до последнего времени (а за­ частую и сейчас) оставались неизученными и непонятными: неравновесной, нестационарной, неидеальной плазмы. Мы ограничимся рассмотрением двух первых видов; свойства неидеальной, плотной плазмы сейчас интенсивно изучают (см., например, работы [6—8]).

8

Неравновесной низкотемпературная плазма бывает в громадном большинстве случаев. Удобное для теорети­ ческого описания II расчетов свойств равновесное состояние ее является поэтому некой физической моделью, реализуе­ мой лишь в единичных случаях, да н то в результате тща­ тельного подбора внешних условии и проведения специаль­ ных мероприятий. Действительно, для получения полно­ стью равновесной плазмы необходимо строгое соблюдение закона Планка для излучения, включая взаимодействие со стенками, ограничивающими плазменный объем, наличие распределений Максвелла по энергиям всех компонент с единой температурой, распределений Больцмана для заселенностей* энергетических состояний всех степеней свободы компонент с тем же параметром — температурой, выполнения законов действующих масс для всех видов реакций (в широком смысле, включая диссоциацию, иони­ зацию и т. п), справедливости уравнения состояния газа.

Причинами неравновесное™ могут быть: диффузия тепла, массы, зарядов к стенкам и обратно, нескомпенсиро­ ванный выход излучения из объема плазмы; неизотермнчность компонент, различающихся массой, зарядом и свой­ ствами, из-за воздействия внешних полей (электрического, магнитного, силового); отсутствие равновесных распреде­ лений компонент вследствие недостаточной интенсивности обменного взаимодействия их и др.

Комплекс требований, необходимых для равновесия, выполняется лишь в единичных случаях — печь Кинга для температур около 2000 °К, ударная труба (до 20 000— 30 000 °К), эталон равновесного излучения на основе ка­ пиллярной сильноточной дуги (40 000 °К и более). Не случайно оба последних метода получения равновесной плазмы представляют собой импульсные установки. Только таким способом удается обойти одну из серьезнейших причин неравновесное™ плазмы — передачу энергии на стенки сосуда, в котором она находится. Если характерное время жизни плазмы меньше времени передачи энергии стенкам, то можно пренебречь влиянием последних и ис­ следовать так называемое квазистационарное состояние газа. По своей физической сущности оно является стацио­ нарным, однако лишь для тех процессов, характерные вре­ мена которых меньше времени жизни плазмы. Изучение

* Заселенностью данного энергетического состояния называют объемную концентрацию частиц, находящихся в этом состоянии.

9


свойств квазистацпонарного газа требует применения раз­ решенных по времени методов исследования. Тем не менее получить на практике высокие температуры и плотности компонент плазмы гораздо проще для импульсных экс­ периментальных установок, чем для стационарных условий. Кроме того, сейчас применяют целый ряд устройств, рабо­ тающих в импульсном режиме, — газовые лазеры с внут­ ренней модуляцией, импульсные источники света, плазмохимические реакторы, МГД-преобразователи, плазменные инжекторы и ускорители и т. п. Задача изучения их рабо­ чего процесса требует создания моделирующих установок, в которых используется не только квазистацпонарная, но и существенно нестационарная плазма.

Следовательно, возникает необходимость изучения свойств релакснрующей низкотемпературной плазмы. Ре­ лаксацией называют процесс перехода из неравновесного состояния газа* при изменении внешних условий в стацио­ нарное состояние вне зависимости от того, является ли оно равновесным или неравновесным.

Таким образом, практическое применение ряда уст­ ройств, упомянутых выше, в которых используется низ­ котемпературная плазма, требует исследования свойств ста­ ционарной, квазистационарной и релакснрующей неравно­ весной плазмы. Теоретическое и экспериментальное изу­ чение подобных объектов сильно затруднено не только своеобразием режимов их существования и влиянием внеш­ них условий, но и обилием физических процессов взаимо­ действия частиц-компонент газа друг с другом, ведущих как к изменению их энергетических состояний, так и к раз­ личным процессам переноса и появлению микроскопиче­ ских потоков, неустойчивостей, колебаний и прочее. За последнее время удалось установить, что изучение свойств плазмы необходимо начинать с рассмотрения отдельных единичных процессов взаимодействия частиц — элементар­ ных физических процессов. Понятие элементарности про­ цесса означает, что реакция между сталкивающимися час­ тицами обладает единственной и однозначной стадией свое­ го протекания и приводит к заметному изменению энергети­ ческого состояния каждого из реагентов. Типичным при­ мером элементарного процесса является возбуждение атома электронным ударом до одного из дискретных энергети­

* Понятие релаксации применимо к любому агрегатному со стоянию вещества.

10

ческих состояний. Только рассматривая всю совокупность отдельных элементарных процессов, действующих в кон­ кретном случае, можно определить интегральные параметры газа — плотность, температуру и концентрацию компонент находящихся в разных энергетических состояниях. Ситуа­ ция здесь напоминает положение, в котором находится исследователь, пытающийся решить интегральное уравне­ ние с известной левой частью и неизвестными подынтег­ ральными функциями (а иногда и пределами интегрирова­ ния) — в правой. В действительности так и обстоит дело: задача описания данной совокупности элементарных про­ цессов в плазме сводится к системе ннтегро-дифференцналь- ных уравнений для концентраций и энергий компонент с известными из эксперимента левыми частями, имеющими вид diij/dt или dcSj!dt. Трудности решения подобной системы очевидны. Однако описанный путь изучения свойств плаз­ мы — единственный, так как без сведений об отдельных элементарных процессах задача определения параметров и свойств плазмы и управления ими становится неоднознач­ ной и бессмысленной.

Известно, что вероятность элементарного процесса ха­ рактеризуют эффективным сечением, матричным элемен­ том перехода, коэффициентом -(константой) скорости про­ цесса, силой осциллятора (для радиационных процессов), средней длиной пробега между взаимодействиями и т. п. В зависимости от конкретных условий исследования можно измерить те или иные характеристики элементарных про­ цессов. Основной трудностью здесь является выделение характеристик единичного процесса, так как в громадном большинстве случаев в реальных условиях сосуществует большое количество различных элементарных процессов. Поэтому эксперимент зачастую дает интегральные сведения о целом ряде процессов, иногда даже без данных об их числе и относительных вкладах. В то же время получение комплектных сведений о параметрах и свойствах различных компонент плазмы — нейтралов, возбужденных и иони­ зованных частиц, а также об их энергетических распределе­ ниях, позволяет по-новому описать физические процессы в реагирующем газе. Классическая химическая и физи­ ческая кинетика обоснована лишь до невысоких темпера­ тур—не более 1500—2000 °К, что объясняется отсутствием учета отдельных элементарных процессов и наличием общего термодинамического подхода. При более высоких темпера­ турах невозможно пренебрегать ни участием компонент,

U


находящихся в промежуточных энергетических состояниях, ни нарушениями равновесных распределений, вызванных протеканием реакций в газе. Необходимы сведения о сече­ ниях основных II промежуточных реакций, а также о фи­ зически существующих функциях распределений реагентов по энергии. Только при наличии этих сведений можно дос­ товерно определить коэффициенты скорости реакций в плазмохиммческом реакторе, в канале МГД-генератора, в ак­ тивной зоне газового лазера и т. д. Таким образом, задача описания элементарных процессов и управления ими в низ­ котемпературной плазме требует нового подхода, создания нового научного направления—кинетики элементарных про­ цессов в реагирующем газе. Такая работа сейчас уже ведет­ ся целым рядом коллективов, однако количество задач, которые необходимо решить, пока еще очень велико.

Теоретическое решение полной системы кинетических уравнений, о которой говорилось выше, в общем случае не получено. Теория неравновесной плазмы для заданных внешних условий — давления, распределения электриче­ ского и магнитного полей, геометрии плазменного объема, способа создания плазмы и т. п. — должна дать возможность определить распределение всех компонент плазмы по энер­ гетическим состояниям и рассчитать концентрации компо­ нент и распределения их по плазменному объему, степень ионизации, ток (для активной* газоразрядной плазмы), баланс энергии, скорости движения компонент и др. Экспе­ риментальные исследования должны, с одной стороны, под­ твердить предсказания теории, а с другой, выявить физические процессы, неучтенные при разработке тео­ ретической модели плазмы.

Проблема изучения элементарных процессов в низкотем­ пературной плазме весьма обширна; здесь рассмотрим результаты исследования низкотемпературной плазмы им­ пульсного тока в двух крайних случаях— слабой и много­ кратной ионизации. Разумеется, термины «слабо-» и «сильноионизованная» плазма условны. Нижнюю границу сте­ пени ионизации можно найти, используя ленгмюровское определение плазмы — ионизованного газа, характерный размер которого равен дебаевскому радиусу или превышает его. Степень ионизации подобного газа естественно принять

вкачестве минимальной величины. Для характерного раз­

*Термин «активная» используется для плазмы, в которой имеется градиент электрического поля и течет ток.

12


мера лабораторной плазмы 1 см и температуры электронов 1 эв минимальная концентрация электронов, определенная из указанных соображений, равна 6 ■ ІО'1 слг3. Верхний предел степени ионизации слабоионизованного газа можно определить, исходя из сравнения частот соударений с уча­

стием нейтральных и заряженных

частиц,

отнесенных

к какому-либо виду элементарного

процесса — упругие

соударения, возбуждение, ионизация и т. п.,

либо к про­

цессам переноса. Частоту соударений частиц-компонент ионизованного газа определяют с помощью выражения: Vui—и i<JkiVhh где ііI— концентрация «ударяемых» (поня­ тие, разумеется, условное) частиц; акі — сечение элемен­ тарного процесса соударения частиц сортов k и /; uhi — относительная скорость сталкивающихся частиц. Можно, например, считать слабоионнзоваиным такой газ, у которо­ го частота неупругих процессов возбуждения частиц на дискретные энергетические уровни электронным ударом значительно меньше, чем то же для удара нейтральных частиц. Тогда верхняя граница слабой степени ионизации определится неравенством

4 м а к с « ------- ------------------■

( В . 1 )

tfan ^ан i^eii veii

 

где стан, creH — сечения возбуждения нейтральных частиц ударами атомов (молекул) и электронов соответственно; иан, ѵеП— относительные скорости частиц при соударе­ ниях атом — нейтрал и электрон — нейтрал.

Оценим

лгЦмакс,

задаваясь сечениями

возбуждения

при энергиях электронов

и

нейтралов

порядка 1—10 эв,

по данным

работ

ПО—12],

равными

<тан ~ 5

• ІО-20

слі2

и Of,, да ІО-15 слі2;

скорости частиц при указанных энергиях

составляют

vau « 5

• ІО5

см • сек*1 (масса

атома А да 20)

и сепда5-108 см-сек-1.

В

результате

получаем,

что

-Гн макс « 3 • ІО"8.

Итак,

по

отношению к элементарным

процессам

возбуждения и

ионизации

степень

ионизации

слабоионизованной плазмы весьма мала и находится в диа­ пазоне ІО-12 < (х„)сл « ІО-7 для температуры электронов и нейтралов 1—10 эв.

Обратимся теперь к одному из важнейших физических процессов в ионизованном газе — установлению стацио­ нарного распределения электронов по скоростям. Следуя работе [13], считаем, что плазма слабо ионизована, когда частота межэлектронных соударений ѵее намного меньше

J3