Файл: Евдокимов, В. Д. Экзоэлектронная эмиссия при трении.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 19.10.2024

Просмотров: 121

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

чѳнияH

/Н° до реверса; y j

- после реверса.

Найдем

среднее

значение

M отклонений,

а затем

среднюю квадратичную

ошибку

а

по

формулам

 

 

 

п

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

А Г І

 

 

> ( А у ;

41)'

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I n

( пn-1 )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

По критерию

Стыодента

[182],

t - значимость

отклонения

M - опреде­

ляется

как t =

М:/ ст при числе степеней

свободы f = ( п - 1 ) .

Оценка

достоверности

проводилась по таблицам

Стьюдента.

 

 

 

 

 

С ростом числа реверсивных циклов

значимость

воздействия

ревер­

са на изменение микротвердостн убывает, что свидетельствует не

только

о меньших

перепадах

Д у

со временем,

ко и о развитии

уста ­

лостных процессов в поверхностных слоях металла.

 

 

 

 

 

Если

провести

исследование

влияния

реверса

в целом по рис. 41

и 43

без связи

его со временем, то получается

высокая достоверность.

Так,

для стали

25

M = 0,380; ст

= 0,08;

t = 4,75;

f =

16;

достовер­

ность

 

99,9%. Для стали

45

М= 0,47; ö

= 0,07;

t

= 6,71;

f. = 17;

достоверность

99,9%.

Дальнейшая оценка результатов

экспериментов

при 50% реверса проводилась по методу

двухфакторного

дисперсионно­

го анализа. При этом одновременно изучались два фактора

т

и

V при

фиксированном

значении

третьего фактора Р на разных

уровнях т

и V.

Матрица итоговых результатов двухфакторного анализа

 

 

 

имеет вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т к

 

 

Итого

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

У

 

 

 

 

Г к .

 

 

 

X 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

IL

 

 

21

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ѵ 2

 

 

 

 

У

 

 

У

 

 

 

 

 

к 2

 

 

 

X

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

12

 

 

22

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

У

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X

 

 

 

 

 

 

13

 

 

2 3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

 

V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

 

 

 

 

 

 

 

У

 

 

У

 

 

 

 

 

 

 

X .

 

4

 

 

 

14

 

 

24

 

 

 

 

 

к,

 

к

 

 

m

Итого

 

 

Г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

і = 1

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

Г

к

 

1

 

Г| = 2 y -xj = 2 r . . ;

к = ( ] , . . . , 6) m = ( 1, . . . . 4)

 

 

 

 

 

 

 

j = 1 13

 

i = l

'J

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Средние значения этих величин определялись

по формулам

 

 

 

 

 

m

 

 

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2 у--

 

Д

у--

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Г: = 1 =1 1 J ; X: = t = l Ч •

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

m

 

1

к

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Расчетные величины матрицы участвуют в определении дисперсии воспроизводимости SQ при числе степеней свободы f" = ( k - l ) ( m - l ) ,

89



а также

в

определении дисперсий ST2

и S

имеющих

число

степенен

свободы

f,

= ( k - 1 )

 

и £ 2

= ( m - l ) соответственно. Дальнейшая

схема

вычислений

имеет

следующий

вид:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k

m

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

1,т .ч:

 

О , - - i t

 

г .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т

]= 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

д <

т к ; = ! 1

 

т к

j = l ]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с , =

Q, + Q 4 - Q : '

 

 

 

 

 

 

 

 

Q 3 - Q,

 

 

 

 

( к - 1 ) ( т - 1 )

 

 

 

 

к - 1

 

 

 

m -1

 

 

После всех расчетов

приступаем

к анализу факторов т и

ѵ.

Чтобы

факторы

т

и

V были

значимы,

необходимо,

чтобы

S2

и S2

значимо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

т

ѵ

 

 

отличались

от

S 2

т.е. S 2 /S 2

 

>F

; S.2 ,/S3 >F

где

F ,

 

значе-

 

 

 

 

°

 

 

т

°

1- р

ѵ

о

1-р

1 _ Р

 

ния из таблицы распределения Фишера при

степенях свободы

f

=(k- 1 )

или

(m- 1) и

f2 = ( k - l ) ( m - 1).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Выше было сказано, что к входным переменным параметрам отно­

сятся не только скорость и время трения,

но и

нормальная

нагрузка.

Для

оценки

влияния

факторов ѵ , т , Р

на

различных

их

уровнях при у с ­

ловии реверсивности трения был применен метод планирования экспе­ риментов на основе латинских квадратов. Как известно, метод постро­ ения латинских квадратов связан с построением дробно-факторного эксперимента. Планирование экспериментов при 30% реверса проводи­

лось

при помощи латинского

квадрата

первого порядка

размером

Ю х Ю (К = 10). Анализ с

применением латинского квадрата требует,

чтобы число уровней всех факторов было одинаковым,

чего всегда мож­

но добиться повторением каких-либо из уровней недостающее число

раз

[182]

 

 

 

 

Латинский квадрат

первого порядка

(10х 10), ( k=

10) применительно

к

факторам Р, ѵ, т

имеет

вид

 

 

 

P .

p 2

p.

 

 

1

 

 

 

V

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

V i / y "

ѵ і

 

T j + m »

 

v k

\ / r k i

V Y k 2

T i - i / r k i

Итого

 

• > •

Г.

 

 

î

P k

Итого

 

 

 

 

V r i k

 

 

 

T . / r 2 k

X

2

 

 

 

T j - i / r j k

X .

 

 

]

 

\ - i / r K k

x

k

k

 

k

 

r k

2 Г ;

= 2

 

i =

l 1

1=1

90


Схема расчетов для латинских квадратов похожа на двухфакторный дисперсионный анализ, описанный выше. Обозначим через наблю­ дения, проведенные при уровнях Р- и ѵ. а через Г- и Xj - соответ­ ственно итоги по столбцам и строкам. Тогда получим следующий по­ рядок анализа:

k

к

г

1

к

2

 

 

 

к

2

i

к

.

к

 

Q = J_

S

X. -, Q4

= 4(

S

Г:)* = - (

2

X:) .

k i = l 1

k i = i

k

j = l

 

В связи с необходимостью оценивать третий фактор обозначим че ­

рез

у

сумму

всех наблюдений,

проводившихся

при

уровне т факто­

ра времени т,

независимо от того, какие были

при

этом уровни фак­

торов

Р

и

v. По выборке рассчитываем

 

 

0.

=

 

k

 

 

 

 

, 1

2 У .

 

 

 

 

 

k

ѵ = 1 ѵ

 

 

 

Затем

определяем дисперсию

воспроизводимости

S 3

 

 

 

 

 

 

 

о

s , _ Q, + 2 Q 4 - Q 2 - Q 3 - Q 5

о( k - l ) ( k - 2 )

где число степеней свободы f2 = (k- l)(k -2). Дисперсии S*; S", и

ST , имеющие число степеней свободы f, = ( к - 1 ) , находим из выра ­ жений

Р

К ^

'

V

к - 1

Ц= ( Q , - Q J / ( k - D .

Эти дисперсии должны значимо отличаться от дисперсии

по

критерию

Фишера,

т.е.

=

Sp / Sg,

Fv = S2 /S^ и

^ т =

П Р И степе­

нях свободы ft и

f,

[269]

должны

давать F T a b j l

< ^расч-

Т о г д а

действие

факторов

Р, ѵ и

т оценивается дисперсиями следующего

вида:

 

 

 

 

 

 

 

Р

k

т

k

v

k

Всевозможные сочетания уровней, на которых проводился экспери­ мент, мы не приводим изза громоздкости таблиц.

91


На основании проведенного анализа можно заключить, что факторы времени, нагрузки, скорости и реверсивности движения с достоверно­ стью влияют на изменения свойств поверхностных слоев и, в частно­ сти, на микротвердость. При этом аналогичный по схеме анализ ука­ занных факторов трения свидетельствует и о достоверности их влияния на интенсивность экзоэлектронной эмиссии и контактной разности по­ тенциалов.

Как видно из рис. 41, 43, при реверсивном трении нарушается пря­ мая взаимосвязь между твердостью и экзоэмиссией, обнаруженная при одностороннем трении, что заставляет высказаться в пользу дислока­ ционного механизма, предопределяющего эмиссию электронов с дефор­ мированной поверхности. Этот вывод может быть также подтвержден и значительным изменением работы выхода электрона на рис. 41, 43 (кривая 3) при реверсе.

Из литературы известно [78, 270, 271], что изменение работы в ы ­ хода при деформации металлов связано главным образом с дефектами структуры. При этом основную роль здесь играют дислокации, поверх­ ностные ступеньки и ребра атомарного масштаба, т.е. субмикрорельеф поверхности. Так, рассматривая с термодинамической точки зрения деформированный металл как раствор, вторым компонентом которого

являются дефекты,

В.И.Крюк

и В.В.Павлов [ 271]

показывают,

что

и з ­

менение работы выхода за счет дислокаций и субмикрорельефа в

сред­

нем составляет 0,1

- 0,3 эв,

а за счет вакансий

- 0,04 эв.

Зависи­

мость же между работой выхода и концентрацией дефетков имеет сле ­

дующий вид:

 

 

 

а

~ а д е ф +

" Т 1 п 1 Л деф;

для

меди, деформированной растяжением

 

,

. ,

RT ]

A i

a— const

+ 3

~2~ 'S

I >

где

а д ѳ ф - парциальная работа выхода дефектных атомов, зависящая

от мольного объема металла; ІѴдеф - концентрация дефектов, мольная доля.

Таким образом, с ростом числа дефектов уменьшается работа выхода, что стимулирует увеличение интенсивности экзоэлектронной эмиссии. Вывод подтверждается приведенными выше данными по экзо ­ электронной эмиссии, контактной разности потенциалов, степени д е ­ формации и дефектности структуры образцов при одностороннем и р е ­ версивном трении.

При изучении осциллограмм экзоэмиссии при трении были обнару­ жены "всплески" ее интенсивности в момент реверса. Эти "всплески"

эмиссии [108] впервые навели на мысль о возможном

упрочении по ­

верхностей

трения в момент реверса с последующим их

разупрочнени­

ем. Однако

на кривых микротвердости (рис. 41, а) такой промежуточ­

ной стадии

упрочнения перед разупрочнением не наблюдалось, что,

92