Файл: Физические основы молекулярной электроники (Плотников), 2000, c.164.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 25.03.2024

Просмотров: 103

Скачиваний: 2

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Глава 111 Электроника молекулярных систем на поверхности полупроводников

целое будет релаксировать к новому состоянию равновесия, соот­ ветствующему минимальной энергии взаимодействия. Изучая по­ добные тонкие релаксационные процессы, можно получать цен­ ную информацию как о времени жизни возбужденных состояний

молекулы и ее энергии связи с поверхностью, так и о степени за­

рядовой гетерогенности подложки. Эти данные естественно не­ обходимы при рассмотрении молекулярных комплексов на повер­

хности, которые, в принципе, могут являться элементами молеку­

лярной электроники.

3.4.1. Ориентационнаярелаксация молекул красителей на поверхности полупроводников. Как отмечалось выше, локаль­ ные электрические поля заряженных дефектов на поверхности помимо воздействия на электронные переходы молекул в адсор­ бированном состоянии и вибронную структуру их спектров, мо­

гут оказывать влияние на ориентацию молекул на поверхности.

Об ориентационной релаксации можно судить по температурным зависимостям частоты (или длины волн) максимума флуоресцен­ ции уmг, (1). Для описания такой релаксации удобной является мо­ дель с четырьмя "плавающими" уровнями, широко применяемая при рассмотрении спектров флуоресценции адсорбированных мо­ лекул. Эта модель получила такое название, поскольку энергети­ ческое погпошение уровней, отвечающих за поглощение и излу­ чение света, определяется стадией ориентационной релаксации

молекулы.

Суть данной модели хорошо иллюстрируется энергетичес­ кой диаграммой, представленной на рис.3.12, изображающей за­ висимость потенциальной энергии системы "молекулы красителя + молекулы ближайшего окружения" от угла поворота молекулы красителя около равновесного положения. Две кривые соответ­ ствуют основному (кривая 1) и возбужденному (кривая 2) состоя­ ниям молекулы красителя. При прямом франк-кондоновском пе­ реходе в оптическое возбужденное состояние молекула оказыва­ ется на одном из верхних колебательных уровней - переход hv('\"

111


hv 2

Физические основы молекулярной электроники

РИС.З.12. Конфигурационная диаг­ рамма системы адсорбированная

молекула красителя-молекулы

ближайшего окружения. Потенци- альная энергия основного (1) и

возбужденного (2) состояния. hV -

ex

переход при оптическом возбуже­

дении молекулы; hvp hVm и hv2- переходы при излучателъной де­ зактивации молекулы. 1,2, З, 4--

«плавающие»уровни энергии

о

на рис.3.12. Затем начинаетсяпроцесс поворотно-колебательной

релаксациисистемы:

(3.11)

где "[г - характерное время затухания колебаний. Величина t r зависит от температуры: "[,. = "[о ехр (V/k1), где V - величина барьера переориентации системы. Если температура настолько мала, что время поворотно-колебательной релаксации много боль­ ше времени жизни возбужденного состояния, то излучательный переход происходит из верхнего возбужденного состояния 2 (hv 1 на рис. 3.12) И, соответственно, зависимость уmг, (1) является сла­ бой. В другом предельном случае электронный переход происхо­ дит с уровня 3 после полного завершения ориентационной релак­ сации - При этом сильной зависимости уmг, (1) также не наблюдается. В промежуточном случае величина кванта флуо­

ресценции зависит от степени завершенности релаксации:

v тF (Т)= v2 (Т)+ [v 1(Т)- V 2(Т)}хр{- т / '[о exp(V / kT)}, (3.12)

112

Глава 11/ Электроника молекулярных систем на поверхности полупроводников

где 't - время жизни молекулы в возбужденном состоянии.

В предположении линейного характера изменения уm/•. (1) на участке сильного температурного батохромного сдвига полу­ чаем уравнения относительно V и t:

(3.13)

где '[о - полупериод вращательных колебаний, совершаемых ад­ сорбированной на поверхности молекулой вблизи своей равновес­ ной ориентации; ~T= Т2- Т, - температурный диапазон, где про­ исходит наибольшее изменение максимума флуоресценции на ве­ личину yтг~ (1); Т" = Т2 - (~T/e).

В общем случае на релаксацию фотовозбужденных моле­

кул на поверхности влияет как состояние подложки, так и окру­

жающие их другие молекулы. Для того, чтобы выяснить вклад под­ ложки, необходимо было определить условия, при которых взаи­ модействия молекул красителя с поверхностными центрами бу­ дут превалировать над межмолекулярными взаимодействиями. Последние в значительной мере определяются присутствующими на поверхности молекулами, наиболее часто молекулами воды, то

есть степенью гидратации поверхности.

Таблица 3.2.

Зависимость величины V и т адсорбированных молекул РВ от концентра­ ции молекул Н2О- NH 20 на поверхности Ge и заряда ЛД - Q/Т

 

N Н=1О11 . см-2

N H 20 = 1015 ·см-2

о;

V,

 

V,

 

зар. эл/см-2

кДж/моль

't,пс

кДж/моль

т, пс

О

6

35

16,3

42(41,7)

 

 

 

 

 

2 . 1011

3

25

14,4

36(30,1)

 

 

 

 

 

113


Физические основы молекулярной злектроники

Из таблицы видно, что в результате гидратации происхо­ дит значительное, в несколько раз, увеличение величины барьера

переориентации.

Для молекул РВ характерно образование водородных свя­ зей. Молекулы воды и ОН-группы могут выступать в качестве соединяющих цепочек между гидратированной поверхностью по­ лупроводника и адсорбатом. Об образовании таких связей свиде­ тельствует коротковолновый сдвиг спектра флуоресценции на 1О нм при гидратации. При изменении степени гидратации поверх­ ности наблюдалосъ и изменение средних времен t пребывания мо­ лекул РВ в возбужденном состоянии (таблица 3.2). Отметим;'что определенные таким образом величины t хорошо согласуются с данными прямых их измерений из кинетик флуоресценции в пи­ косекундном диапазоне (цифры в скобках в таблице 3.2). При пе­ резарядке поверхностных состояний (в частности, ловушек диэ­ лектрика) условия релаксации молекул на поверхности могут до­

вольно существенно изменяться.

Результаты расчетов по формулам (3.13) для случая заря­ женной поверхности представлены в таблице 3.2. Из нее следует, что при заряжении ЛД- в обоих случаях наблюдалось заметное уменьшение t (для гидратированного образца до 36 пс). Этот эф­ фект обусловлен появлением дополнительного канала миграции энергии электронного возбуждения молекул РВ к электронам, ло­ кализованным на ЛД- с выбросом их в зону проводимости аеО2В случае молекул РВ, адсорбированных на поверхности кварца,

когда перенос энергии в диэлектрик отсутствует, значения, полу­

ченные из температурных зависимостей и измеренные на пикосе­ кундном флуориметре, равны, соответственно, 60,9 и 56 пс.

Заряжение лд приводило еще к одному эффекту - до­ полнительному сильному изменению значений барьеров V: на бо­ лее гидратированных образцах на 12% , на дегидратированных до 500/0. В последнем случае, как мы уже говорили, на поверхности отсутствуют слабо связанные молекулы воды (H20 )k'прочно свя­ занные с поверхностью по координационному механизму, и ОН­ группы. Степень протонизации (H20 )k'а следовательно и проч-

114


Глава /11 Электроника молекулярных систем на поверхности полупроводников

ность связи С красителем уменьшается при отрицательном заря­

жении поверхности, что вызывает уменьшение глубины потенци­ альной ямы и величины барьера переориентации молекул V.

3.4.2. Неоднородноеуширение спектров флуоресценции красителей на поверхности полупроводников. Как было показа­ но выше, зарядовая и химическая (обусловленная присутствием дополнительных молекул) гетерогенность поверхности сильно изменяет различные характеристики адсорбированных на повер­ хности молекул красителей. Однако наиболее универсальной ха­ рактеристикой, отражающей гетерогенность исследуемой повер­ хностти, является неоднородное уширение спектров флуоресцен­ цИИ (НУС). Как видно из рис.3.13, на линейном участке зависимо­ сти уmг" (1)наблюдается заметное изменение полуширины спект- ров флуоресценции л.У2' что как раз и связано с НУС - излучаю­ щие молекулы находятся на разной стадии колебательной релак­ сации, т.е. на разных участках потенциальной кривой 2 на рис.3.12. Наибольшее уширение соответствует средней части линейного участка зависимости утр (1), где t,.::::: t, что непосредственнопро­ являетсяв эксперименте(кр.2 на рис.3.13).В условиях,когдаярко проявляетсяНУС, наблюдаетсясильная зависимостьположения максимумаспектрафлуоресценциии его шириныот частоты воз­ буждающегоизлученияу .

 

 

ех

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

з:

 

 

 

 

 

 

 

 

j"

 

 

 

 

 

 

t:i

 

 

 

 

 

 

 

 

~

180

 

 

 

 

 

u

 

о

 

 

 

 

 

::=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

f'f'> ..

 

 

 

 

 

 

~

 

 

 

 

 

 

 

о

 

-..1

 

 

 

 

 

 

r..

РИС.3.13. Температур-

~ .

175

 

 

 

 

 

11~

 

;;>t:z..

 

 

 

 

 

ные зависимости поло-

 

 

 

 

 

 

жения максимума п /n

 

 

 

 

 

 

 

1.0

спектра флуоресценции

 

 

 

 

 

 

 

 

170

 

 

 

 

 

 

акридинового желтого

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(АЖ) на поверхностиSi"

 

 

 

 

 

 

 

0,8

(/) и относительнойпо-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

лушираны этого спект-

 

 

 

 

 

 

 

 

ра <»: (2) [О12]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

150

200

250

300

 

 

 

 

Т,К

115


Физические основы молекулярной электроники

Теоретические зависимости уm,..(уех) и л.У2 дЛЯ случая, ког­ да спектры состоят из одной диффузной полосы, представлены следующими формулами:

v"'(v)=

а

2

 

 

 

 

2

 

 

 

п

V

 

= _CX_ v

 

 

(3.14)

F

ех

2

2

 

ех

 

1

2 ег ,

 

00 n

 

 

 

+сх

 

 

 

2 (

2

 

2

 

2

 

2

1+ 2сх

2

 

) _ аО аО +

n _

аО

 

(3.15)

а

v ex -

 

2

 

2

-

4

 

2 •

 

4

ао+аn

 

l+сх

 

 

 

Здесь аn - дисперсия, соответствующая неоднородному

уширению спектра, ао- дисперсия однородно уширенного спек­

тра, a(vt':x) определяется из анализа экспериментальных зависи­ мостей ширины спектра, Ау} - от частоты возбуждающего излу­ чения, Уех. На линейном участке зависимости Vmf{Vex) из угла на­

клона можно однозначно определить параметр неоднородности

а. = аn/аО.

При этом предполагалосъ, что спектр флуоресценции мо­ делируется кривой р(у). Количественная характеристика спектра

-дисперсия о = л.У2 определяется следующим выражением:

(3.16)

где So =Jр(v)dv, а интегрированиепроизводитсяпо всей спект­

ральной полосе.

Зная величинуаnдля исходнойповерхности,можнопо из­

менениюее величиныоценитьстепеньгетерогенностидля анало­

гичныхповерхностей,подвергнутыхразличнымвоздействиям.По­ скольку величина ао определяетсяв основномструктуройсамой

молекулы красителя и на различных поверхностяхменяется не­

значительно,то степень гетерогенностиповерхностидостаточно

хорошо характеризуетсяпараметромнеоднородностип.

116