Файл: Гольденберг Л.М. Импульсные и цифровые устройства учебник.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 09.04.2024
Просмотров: 280
Скачиваний: 4
коллектором этих транзисторов было отрицательно (или, по край ней мере, не превосходило некоторой небольшой положительной величины). Другими словами, необходимо, чтобы низкий уровень напряжения на коллекторе был выше высокого уровня напряжения на базе, т. е. цКб мші = ик„„„ — и5 макс > 0. Очевидно, что в рас сматриваемой схеме это условие выполняется благодаря примене нию выходных эмиттерных повторителей; напряжение на выходе эмиттерного повторителя (которое является входным для после дующего элемента) меньше коллекторного напряжения транзисто ров Т0 или соответственно Ти . . . , Тт на величину напряжения база — эмиттер («б акт 0,7 В).
Переходные процессы
В схемах ПТТЛ длительность переходных процессов мала. Это обусловлено, как указано в разд. 2.53, следующими факторами.
Во-первых, открытые транзисторы работают в активном ре жиме, вследствие чего устраняется задержка выключения, связан ная с рассасыванием избыточного заряда.
Во-вторых, транзистор Т0 работает в режиме схемы ОБ и, кроме того, управляется по цепи эмиттера от источника с малым выход
ным сопротивлением— эмиттерного |
повторителя |
на транзисторах |
Т1, ..., Тт\ это приводит к быстрому переключению Т0. |
||
В-третьих, входные транзисторы |
Tlt ..., Tm |
также переклю |
чаются быстро, так как управляющие перепады напряжения по даются на их базы от выходных эмиттерных повторителей пред шествующих элементов ПТТЛ: важно отметить, что в схемах ПТТЛ управляющие перепады напряжения невелики (порядка де сятых долей вольта), и поэтому при передаче отрицательных (за пирающих) перепадов напряжения транзисторы выходных эмит терных повторителей не запираются н отсутствует соответствую щая задержка в установлении выходных низких уровней (£°).
В-четвертых, для переключения схемы ПТТЛ требуются малые перепады управляющего напряжения и при этом сопротивления резисторов в схеме невелики; поэтому при достаточно больших значениях питающих напряжений токи, определяющие скорости перезаряда паразитных емкостей, оказываются большими и дли тельность этого перезаряда невелика.
Характеристики элементов ПТТЛ
Нагрузочная способность п элементов ПТТЛ велика благодаря их малому выходному сопротивлению (обусловленному выход ными эмиттерными повторителями на Тв ы х 1 и Твых2) и большому входную сопротивлению схемы (обусловленному отрицательной обратной связью через резистор RBв цепи эмиттеров входных тран зисторов Т1, Тт). Увеличение п ограничено ростом суммарной
172
.паразитной емкости и соответствующим снижением быстродей ствия.
Из условий работоспособности (2.172) и (2.173) следует, в ча стности, что зависимость нагрузочной способности элементов ПТТЛ
(«) по обоим выходам от коэффициентов усиления транзисторов |$ является квадратичной. Это обусловлено тем, что п тем больше* чем больше коэффициент усиления по току эмиттерного повтори теля и чем меньше величина входного тока нагрузочного транзи стора, которая, в свою очередь, обратно пропорциональна ß. Обыч но п < 10.
Коэффициент объединения по входу m ограничен ростом сум марной паразитной емкости (на выходе транзисторов Ти ..., Гт )г а также увеличением габаритов элемента за счет увеличения чис ла входных транзисторов. Обычно m ^ 5.
Быстродействие элементов, по упомянутым в пункте переход ные процессы причинам, весьма велико; обычно /ЭСр элементов ПТТЛ не превышает единиц наносекунд.
Помехоустойчивость элементов ПТТЛ невелика, так как для переключения схемы ПТТЛ требуется весьма небольшой положи тельный или отрицательный перепад напряжения; обычно Un по рядка 0,2 -=-0,3 В. Для увеличения помехоустойчивости необходимо увеличить амплитуду входных перепадов; при этом для предотвра щения насыщения входных транзисторов вводят дополнительный сдвиг выходных уровней напряжения эмиттерных повторителей от носительно коллекторных. Это достигается при помощи дополни тельных смещающих диодов, включаемых в цепи эмиттеров выход ных эмиттерных повторителей.
Потребляемая мощность относительно велика (для достижения быстрого перезаряда паразитных емкостей используются резисторы в схеме с малым сопротивлением). Обычно Рср — порядка десят ков милливатт.
2.6.7.МИКРОМОЩНЫЕ ЦИФРОВЫЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
Всвязи с разработкой больших интегральных схем (ВРІО) и все более широким внедрением бортовых вычислительных и управ ляющих систем значительное внимание уделяется созданию микромощных (йли микроваттных) ЦРІС, т. е. схем, потребляющих в
расчете на одну основную ЦИС мощность РСр < 300 мкВт (обыч ные ЦИС потребляют единицы или десятки милливатт; ЦРІС боль шой мощности потребляют более 30 мВт).
Уменьшение потребляемой мощности достигается в основном за счет увеличения сопротивлений резисторов (т. е. уменьшения токов) в рассмотренных выше логических схемах. Наряду с этим разрабатываются и специальные микромощные логические схемы, в частности схемы на транзисторах дополняющей проводимости (типа п-р-п и типа р-п-р), потребляющие мощность только в про цессе переключения.
173
Основные количественные соотношения, записанные для рас смотренных выше ЦИС, сохраняют сил)' и для микромощных ва риантов. Следует, однако, отметить и некоторые особенности-пере ходных процессов и статических режимов микромощных схем. Так, например, с ростом сопротивлений резисторов уменьшаются ско рости заряда паразитных емкостей (барьерных, монтажа и т. д.) и возрастает время задержки включения. Поэтому важно, чтобы у применяемых транзисторов были невелики барьерные емкости; до пустимая величина паразитных емкостей ограничивает значения коэффициентов разветвления по выходу и объединения по входу (кстати, от их величин зависит и средняя мощность, потребляемая схемой, так как ими определяется минимально допустимая вели чина напряжения источника питания).
В микромощном режиме распространение получили только на сыщенные цифровые интегральные схемы. Эти схемы позволяют получить малые уровни входного напряжения (в открытом состоя нии) и обладают достаточно высокой помехоустойчивостью; в то же время длительность рассасывания в микромощных схемах мала по сравнению с общим временем задержки.
Выпускаемые промышленностью микромощные схемы типа РСТЛ, ДТЛ, ТТЛ потребляют мощность порядка Рср = 100-ь300 мкВт. Средняя задержка в этих схемах ^зср = 200-ь400 нс, нагрузочная способность п ^ . 8 .
2.7. КЛЮЧЕВЫЕ СХЕМЫ НА ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРАХ
2.7.1. КЛАССИФИКАЦИЯ И ХАРАКТЕРИСТИКИ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ
Типы полевых транзисторов
Полевой транзистор — униполярный полупроводниковый при бор; ток в нем обусловлен только свободными основными носите лями в проводящем канале между двумя электродами (омически ми контактами) — истоком и стоком. Проводимость канала моду лируется поперечным (перпендикулярным направлению тока) электрическим полем, создаваемым при помощи управляющего электрода— затвора. Различают два класса полевых транзисторов: с управляющим р-/г-пере.\одом и с изолированным затвором; по следние, в свою очередь, делятся на А4ДП транзисторы (транзи сторы со структурой металл— диэлектрик — полупроводник) с встроенным проводящим каналом и МДП транзисторы с индуци рованным каналом.
Проводящие каналы в полевых транзисторах могут быть либо п-типа (в которых носителями заряда являются электроны), либо /О-типа (в которых носители заряда—дырки). При этом возмож ны два режима работы полевых транзисторов — режим обеднения и режим обогащения канала носителями заряда. В режиме обед нения рост абсолютной величины напряжения на затворе и3 при
174
водит к уменьшению величины тока стока |ісІ транзистора, в ре жиме обогащения рост |л3| приводит к росту |і0|.
По самой структуре полевой транзистор с управляющим р-п- переходом может нормально работать лишь в режиме обеднения, МДП транзистор с индуцированным каналом — лишь в режиме обогащения, МДП транзистор с встроенным каналом — и в ре жиме обогащения, и в режиме обеднения. В настоящее время по технологическим и конструктивным соображениям в схемах на дискретных компонентах и в пленочно-гибридных микросхемах в качестве активных элементов используются преимущественно по левые транзисторы с управляющим р-л-переходом и МДП транзи сторы с встроенным каналом, а в ИС — МДП транзисторы с инду цированным каналом. При этом у большинства транзисторов с управляемым р-л-переходом — канал p-типа, у большинства МДП транзисторов с встроенным каналом — канал л-типа, а у МДП транзисторов с индуцированным каналом — канал р-типа.
Статические характеристики
На рис. 2.55 приведены структура, условное изображение и ти повые статические характеристики полевого транзистора с управ ляемым р-л-переходом с каналом p-типа (аналогичные характери-
о) |
S) |
С |
Стон |
Истон |
‘г |
|
иі и
г)
стики имеет транзистор с каналом л-типа, но здесь ППОр < 0 ) .
На рис. 2.56 и 2.57 приведены структуры, условные изображе ния и типовые статические характеристики соответственно для МДП транзисторов с встроенным каналом л-типа и индуцирован ным каналом p-типа (у МДП транзистора с встроенным каналом p-типа /Упор > 0; у МДП транзистора с индуцированным каналом л-типа Ппор > 0). Для различных типов полевых транзисторов по роговый уровень отпирания транзистора |[/ПОр| составляет вели
175
чину порядка нескольких вольт. Рабочая точка открытого полевого транзистора может располагаться либо в пологой области сто ковых характеристик (так называемой области насыщения), либо в крутой области (так называемой триодной области) характери стик.
В качестве границы между крутой и пологой областями стоко вых характеристик обычно принимают геометрическое место то чек, для которых приближенно выполняется равенство ис = и3 —
— Üпор (см., например, пунктирную линию на рис. 2.57а). В крутой области, где стоковое напряжение мало (|пс|< |« з — £/ПОр|), стоко-
176
вын ток іс приблизительно линейно зависит от стокового напря жения и, кроме того, характеристика ic = f{uc) проходит через начало координат (именно поэтому МДП транзистор в этой обла сти может быть использован в качестве квазилинейного резистора).
Достаточно хородпая для практических расчетов аппроксимация характеристик транзистора в крутой области дается выражением [15]
 = |
V [ ( И з - |
иао р ) н с - |
J и * ] , |
( 2 . 1 7 5 ) |
где V — «удельная крутизна» |
(единицы или десятки мкА/В2) — па |
|||
раметр транзистора, |
величина которого |
зависит |
от конструкции |
|
и технологии изготовления транзистора. |
|
стоковый ток іс |
||
В пологой области, при |
|ис| > |ы3 — С/ПОр|, |
практически не зависит от напряжения ис (выходное сопротивле
ние Двы.ч = -д ^в этой области достигает сотен килоом); в этой
области зависимость стокового тока от напряжения затвора вполне удовлетворительно аппроксимируется квадратичной параболой
Іс = |(« з - ^ п о р )2. |
(2.176) |
Одним из важных параметров полевого транзистора является его крутизна 5, т. е. крутизна характеристики ic = f(u3):
S |
діс |
|
|
ди3 |
«с= const |
|
|
|
|
||
В пологой области согласно (2.176) |
|
||
5 = VI «з — Д, |
(2.177) |
||
Обычно для дискретных МДП |
транзисторов 5 |
не превосходит |
1 мА/В, а для МДП транзисторов ИС — 0,1 мА/В. Другим важным параметром является так называемый масштабный ток / м— сто ковый ток, определенный для полевых транзисторов с управляю щим р-я-переходом и для МДП транзисторов с встроенным кана лом при напряжениях и3 = 0, и0 — ІІПор, а для МДП транзисторов
с индуцированным |
каналом — при |
«3 = 2t/nop, и0 = Uaov. |
|||
Из (2.176) |
получаем |
|
|
||
Заметим, |
что |
согласно |
(2.177) |
крутизна транзистора S 0 при |
|
«з = 0 (или «з = |
2ДПор) |
|
|
||
|
|
So |
< /с |
|
■Ѵ І U,пор |
|
|
ди3 |
и =0. и |
||
|
|
|
|
з J’ з |
^пор |
следовательно,
I Uпор 1SQ |
(2.178) |
|
2 |
||
|
т. е. все три основных параметра полевого транзистора Ua0р, Sa, Ім тесно связаны друг с другом.
177