Файл: Арифов У.А. Угловые закономерности взаимодействия атомных частиц с твердым телом.pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 09.04.2024
Просмотров: 106
Скачиваний: 0
рений внутри н отсутствием их вне этого угла. Показано, что обнаружение рассеянных ионов вне предельного угла обусловлено многократными соударениями бомбардирующего иона с атомами мишени; формы энергетических и угловых распределений этих ионов в исследуемой нами области энергии (0,5—5 кэв) первич ных ионов подтверждают такую точку зрения и не указывают на их какое-либо иное происхождение.
Рассмотрение угловых зависимостей энергетических распреде лений рассеянных ионов в случае, когда масса бомбардирующего иона меньше массы атома мишени (ml > n i 2), показало, что в ряде случаев в составе ионов, рассеянных на данный угол, обнару
живается значительно большее количество |
ионов, |
обладающих |
|
энергиями большими, чем энергии ионов, рассеянных |
на тот |
же |
|
угол после первого упругого соударения |
с атомами |
мишени, |
и |
связано оно тоже с многократными соударениями иона с атомами мишени. Ионы, испытавшие однократные столкновения, ввиду строгой определенности значения их энергии в энергетическом спектре, образуют максимум. Ионы, претерпевшие многократные соударения, имеющие разброс энергии, располагаются по обе сто роны максимума однократных соударений в соответствии с траек торией их отклонения на данный угол, в согласии с вероятностью
рассеяния. |
С |
уменьшением угла |
рассеяния, |
как мы видели |
|
(см. § 6 гл. |
I), |
максимум спектра в |
сторону |
больших |
энергий |
круто спадает, и его полуширина резко сокращается, |
показывая |
||||
тем самым, |
что высокоэнергетический склон максимума, |
как и его |
низкоэнергетический склон, обусловлен ионами, претерпевшими многократные соударения с атомами мишени.
Действительно, вероятность того, что ион испытывает большое
число соударений с атомами, зависит от расположения |
атома, с |
||||||||
которым происходит первое столкновение. |
С увеличением |
угла |
|||||||
падения большую |
часть |
пробега |
первичный |
ион |
проходит на |
||||
меньшей глубине и имеет, следовательно, меньшую |
вероятность |
||||||||
испытать кратные соударения. Как мы показали |
(см. § |
5, 6 |
гл. I |
||||||
и II), ион, рассеянный на данный угол, в результате многократных |
|||||||||
последовательных |
соударений |
с наивыгодными |
углами |
будет |
|||||
обладать большей энергией, чем |
ион, рассеянный |
на |
тот |
же |
угол |
||||
в результате однократного соударения. |
рассеянных |
ионов в |
|||||||
Исследование углового распределения |
|||||||||
зависимости от энергии и угла |
падения |
первичных |
ионов и от |
||||||
состояния поверхности |
(шероховатости — от |
степени |
полирован |
ное™) показало, что в области угла падения Ф < 40° вид углового распределения определяется в основном ионами, идущими из глу бины твердого тела, т. е. распределение изотропно, близко к косинусоидальному. При углах падения, близких к скользящим, вид углового распределения соответствует изменению дифферен циального сечения рассеяния от угла рассеяния,, т. е. с уменьше нием угла рассеяния интенсивность рассеяния резко возрастает. Установлено, что резкое убывание интенсивности рассеяния при
262
малых углах рассеяния (т. е. крутон спад от максимума в сторону меньших углов) в случае поликристаллической мишени главным образом обусловлено шероховатостью, которая препятствует рас сеянию ионов под скользящим углом. Показано, что в случае поли рованной поверхности такой результат объясняется удлинением пути движения ионов в приповерхностном слое вдоль направления выхода рассеянных ионов, вылетающих под малыми углами. Изу чение изменения величины нижнего граничного угла распреде ления в зависимости от энергии показало, что на форми рование спадающей ветви углового распределения влияет и экра нирующее действие цепочек атомов вдоль направления пучка
ПОНОВ.
Установленные в результате эксперимента угловое и энергети ческое распределения рассеянных ионов совпадают с теоретиче скими кривыми, полученными при выполнении с помощью ЭВМ численных расчетов рассеяния быстрых ионов атомами твердого тела на основе модели парных одно- и многократных столкнове ний с использованием потенциала Фирсова для характеристики экранированных кулоновских сил отталкивания между ионом и атомом твердого тела.
При рассмотрении угловых закономерностей рассеяния ионов монокристаллическими образцами (см. гл. II) выяснилось, что, кроме закономерностей рассеяния, обнаруженных в случае поликристаллических образцов, наблюдается еще ряд принципиально новых закономерностей н явлений. Последние, как показали исследования, обусловлены упорядоченным расположением ато мов кристалла и связанными с ним облегчением движения заря женных частиц вдоль определенных направлений кристалла и блокировкой выхода их из кристалла цепочками атомов и т. д.
При исследовании угловой зависимости коэффициента рассея ния ионов, углового и пространственного распределений их, как мы видели выше (см. § 2, 3 гл. II), указанные эффекты проявля ются в виде максимумов и минимумов этих распределений.
При интегральных исследованиях |
минимальное |
рассеяние |
ионов наблюдается в случае совпадения |
направления |
падения |
ионного пучка с основными кристаллографическими направления ми мишени. В этих направлениях нижележащие атомы экрани рованы поверхностными атомами кристалла, с чем связано нали чие каналов с разными поперечными сечениями. Часть первичных ионов проникает в эти каналы, что приводит к снижению значения коэффициента рассеяния.
При дифференциальных исследованиях, т. е. при измерении углового и пространственного распределений рассеянных ионов, обнаруживаются минимумы (и соответственно максимумы), обус ловленные блокировкой выхода рассеянных ионов в определенных направлениях. Было показано, что указанные эффекты (особенно сти) сугубо объемные и наблюдаются в наиболее выраженном виде только при сравнительно больших (Е ^ 1 кэв) энергиях
263
номов, когда эффективные сечения рассеяния малы, кристалл достаточно прозрачен, а глубоколежащие слои вносят существен ный вклад в рассеяние. Сглаживание анизотропий углового и про
странственного распределений |
с увеличением |
угла падения под |
|
тверждает правильность такой точки зрения. |
|
||
Таким образом, |
так же, как существование минимального угла |
||
рассеяния, эффект |
ограничения |
рассеяния |
относится не только |
к поверхности, но и к более глубоким слоям твердого тела. |
Следует отметить, что в случае полированной грани монокри сталла влияние экранирующего действия цепочек атомов на фор мирование нижнего ограничения рассеяния при измерении угло вого распределения больше, чем в случае полированного поли кристалла. Значение нижнего граничного угла растет при переходе основной рассеивающей цепочки от менее плотно упако ванного ряда к более плотно упакованному.
Энергетический спектр ионов, рассеянных монокристаллами, обладает тонкой структурой, обусловленной многократными после довательными соударениями бомбардирующих ионов с упорядо ченно расположенными атомами кристалла. В энергетическом спектре обнаруживаются не один, а несколько пиков двукратного происхождения, т. е. имеется возможность экспериментально обнаружить пики, обусловленные ионами, претерпевшими повтор ные (двукратные) столкновения с атомами, расположенными в различных направлениях по отношению к атому, с которым про исходит первое соударение.
Действительно, |
в случае |
монокристаллической |
мишени, как |
известно, имеются |
выбранные |
направления с различной плот |
|
ностью упаковки, |
что должно привести к появлению |
ряда допол |
нительных пиков как в высокоэнергетической, так и в низкоэнер
гетической областях пика однократного соударения [189, |
190], что |
|||
н имеется в эксперименте (см. |
гл. |
II). |
ионов, рассеянных |
|
Исследованием энергетических |
спектров |
|||
кристаллами, в зависимости |
от энергии, угла |
падения |
и массы |
бомбардирующего иона, рода и ориентации мишени по отношению к пучку первичных ионов было установлено, что вероятность дву кратного соударения прямо пропорциональна атомным номерам иона, атома мишени и углу падения первичных ионов и обратно пропорциональна энергии первичных ионов и расстоянию между атомами, на которых происходит последовательное рассеяние.
При irii<m 2 в энергетическом спектре, полученном на углах, далеких от предельного угла однократного рассеяния, обнаружи
ваются только пики кратных столкновений, а в |
спектре, |
снятом |
|
внутри этого угла, — пики |
обоих столкновений, |
т. е. однократных |
|
и многократных. Однако |
в области энергии |
первичных |
ионов |
<0,5 кэв и при сравнительно больших массах бомбардирующего иона (например, Cs+) в энергетическом спектре рассеянных ионов появляются другие дополнительные пики, происхождение которых можно объяснить возможностью соударения тяжелого бомбардп-
264
рующего иона одновременно с несколькими атомами кристалла [78, 84], а также возможностью проявления изотопических эффек тов [274].
Рассмотрение энергетических спектров, полученных при сколь зящих углах падения и вылета (Ф = 0 ^ 8 0 °) показало, что в этом случае при определенных условиях (когда основными рассеиваю щими цепочками служат плотно упакованные ряды атомов) энер гетические положения однократного и двукратного пиков спектра смещены в сторону больших энергий, что свидетельствует о цепо чечном столкновении. В ряде теоретических работ [124, 129, 191, 279, 280, 322, 323] указано, что при малых межатомных расстоя ниях и углах, составляемых направлениями пучка ионов и осями атомных цепочек, рассмотрение столкновений как строго индиви
дуальных актов |
уже не |
является |
корректным. |
Действительно,, |
|||||
как показывает |
эксперимент, |
более |
правильным |
в |
этом случае, |
||||
по-видимому, является рассмотрение рассеяния ионов |
атомными |
||||||||
цепочками. Таким образом, |
результаты |
исследований |
угловых |
||||||
зависимостей |
энергетических |
распределений ионов, |
рассеянных |
||||||
кристаллами, |
показывает, |
что |
в составе |
рассеяния |
обнаружива |
ются не только ионы, претерпевшие одно- и двукратные соударе ния с атомами мишени, но и ионы, испытавшие соударения гораз до большей кратности, т. е. цепочечные столкновения.
Исследования угловых закономерностей рассеяния ионов полн- и монокристаллами пс-казали, что газовая модель рассеяния при менима и в этом случае. Она (газовая или двухатомная модель) помогает пониманию многих закономерностей рассеяния атомных частиц твердым телом. Однако при подробном изучении процесса рассеяния ионов кристаллами (см. гл. II и III) выяснилось, что принадлежность атома кристаллической решетке (энергия связи между атомами, высокая плотность их, упорядоченное расположе ние атомов решетки, тепловые колебания их и т. д.) в некоторых случаях приводила к проявлению ряда особенностей, отличаю щих взаимодействие ионов с твердыми телами от взаимодействия с газовыми мишенями. Поэтому в дальнейших исследованиях внимание было уделено влиянию кристаллической структуры, теп ловых колебаний атомов решетки и ее дефектов на угловые зако номерности рассеяния ионов, так как они в основном отличают твердое тело от газовой мишени.
Результаты исследований (см. гл. III) показывают, что угло вое, пространственное и энергетическое распределения рассеянных ионов резко изменяются в зависимости от азимутального угла поворота мишени, что свидетельствует о тесной связи характера рассеяния и их распределений с расположением атомов в различ ных плоскостях решетки мишени.
Эффекты каналирования ионов, т. е. глубина минимумов (или высота максимумов), полуширина, расположения их в угловых и пространственных распределениях рассеянных ионов дают све дения о различном и в то же время строго упорядоченном распо
265
ложении атомов в различных плоскостях кристалла. В процессе исследования установлено, что формы углового, пространственного
и энергетического |
распределений рассеянных |
ионов |
зависят |
от |
||
массы (размера), |
энергии |
бомбардирующих частиц |
(ионов), |
что |
||
дает возможность |
по характеру указанных |
распределений судить |
||||
о массе и энергии |
частиц, |
налетающих |
на |
кристалл. Изучение |
выраженности или сглаживания анизотропий угловых и простран ственных распределений рассеянных ионов помогает установить совершенство тех или иных кристаллов, выращенных в различных условиях и т. д.
Анизотропия потери энергии рассеянных ионов в зависимости от азимутального угла поворота мишени обусловлена изменением числа столкновений ионов с атомами цепочки, плотность которой неодинакова вдоль различных направлений. Сглаживание же ани зотропии углового и пространственного распределений (см. § 2, 3 гл. III) и смещение пиков энергетического спектра, полученного при скользящих углах, хорошо объясняется влиянием тепловых колебаний атомов решетки на процесс рассеяния ионов. Дело з
том, что при достаточно высоких температурах (Т X) 2000°К) кристалла тепловые колебания атомов решетки могут приводить к уменьшению взаимного экранирования атомов в цепочке и соот
ветственно к изменению условий рассеяния |
на такие, |
в которых |
||
преимущественно |
реализуются |
независимые парные |
соударения, |
|
и следовательно, |
пики спектра, |
если они |
соответствуют ионам, |
испытавшим цепочечные столкновения, могут смещать свои энерге тические положения в сторону меньших энергий спектра, что и наблюдается в эксперименте (см. § 3 гл. III).
Известно, что увеличение температуры мишени приводит к росту амплитуды колебаний атомов решетки и соответственно к сглаживанию различий плотности упаковки атомов в цепочках. Последнее и является причиной сглаживания анизотропии угло вого и пространственного распределений. Влияние температуры мишени на процесс рассеяния значительно больше тогда, когда одновременно больше как угол падения, так и угол вылета, т. е. когда условия рассеяния иона изменяются в сторону преоблада ния цепочечных столкновений.
Следует отметить, что несмотря на отсутствие |
аналитической |
||
теории рассеяния, основные наблюдаемые эффекты |
допускают, |
||
качественное объяснение на основе теоретических |
моделей |
рас |
|
сеяния изолированными рядами атомов [124, 129, |
191, |
279, |
230, |
347]. Хорошее согласие столь идеализированной теории |
(модели) |
с основными положениями эксперимента, как показали наши ис следования угловых закономерностей рассеяния ионов на образ цах (кремния и германия), у которых температура отжига радиа ционных нарушений значительно выше, чем у металла [99] (см. § 5 гл. III), связано с условиями экспериментов, обеспечиваю щих эффективный отжиг дефектов.
266