Файл: Регулирование качества продукции средствами активного контроля..pdf

скольким подряд возникающим импульсам практически равна еди­ нице, можно найти из выражения

Для определения параметра В при подналадке по повторным импульсам можно пользоваться следующей зависимостью:

Из полученного выражения следует, что подналадка по повтор­ ным импульсам приводит к уменьшению параметра В (по сравне­ нию с подналадкой по первому импульсу). Однако сравнение фор­ мул (149) и (150) с формулой (157) показывает, что методы усред­ ненных подналадок являются более эффективными. Из формулы

(157) следует, что начиная с — = 2 , более выгодной является под-

наладка по первому импульсу (разумеется, если не учитывать влия­ ния грубых погрешностей размеров).

Экспериментальная проверка точности различных методов под­ наладки неоднократно проводилась на различных станках, в том числе и на токарных станках автоматической линии по обработке валов электродвигателей. Так, например, в процессе работы указан­ ной линии осуществлялись подналадки по одной детали, по медиане и по повторным импульсам при К = 2 и К = 3.

и при разных методах подналадки1 . Как следует из сводной табли-

1 Кривые распределения построены для минимальных размеров деталей, по­ скольку система подналадки срабатывала при уменьшении размеров деталей.

132

цы, расчетные данные, полученные по формуле (141), удовлетвори­ тельно согласуются с экспериментальными. Несколько большее зна­ чение расчетных погрешностей по сравнению с экспериментальными объясняется сравнительно небольшим количеством подналадочных импульсов. Относительно небольшой выигрыш в точности при подналадках по медиане и повторным импульсам по сравнению с под-

Из сводной таблицы и кривых распределения размеров деталей следует, что наименьшей точностью обладает подналадка по одной детали, а наибольшей — подналадка по медиане. Подналадка по повторным импульсам с точки зрения точности занимает промежу­ точное положение, причем при К — 3 точность выше, чем при К — 2.

Эффективность применения усредненных подналадок зависит от значений параметров а и 0 и от их соотношения. Усредненные под­ наладки обладают наибольшей эффективностью при больших зна­ чениях мгновенного рассеивания размеров деталей. Однако по­ скольку в состав суммарных погрешностей подналадочных систем

входят также составляющие А и 6 0 , то использование усредненных подналадок не всегда приводит к существенному повышению точ­ ности по сравнению с подналадкой по одной детали.

Поэтому использование усредненных подналадок целесообразно при технологических операциях высокой точности, когда каждый Микрометр погрешности имеет существенное значение.

ѵ Подналадка по методу группирования. Метод группирования, применяемый для автоматического статистического контроля каче­ ства прй\подналадке процесса, основан на том, что результаты из­ мерений выборки из п деталей с помощью верхнего и нижнего контрольных .пределов наблюдаемого признака качества (размера) подразделяются на три группы: п+, пг, п° (рис. 56,а) . При этом предполагается, что кривая распределения будет находиться между нижним Дн и верхним Дв пределами допуска.

Данный способ целесообразно использовать при двусторонней (реверсивной)' подналадке с постоянным по модулю и переменным по знаку импу'льсом. Метод группирования является наиболее про­

больше гв .' или гн , то это изменение считается значительным и не­ обходимо^ произвести регулировку (подналадку) станка. Изменение

134

S < So, то изменение рассеивания распределения размеров деталей считается незначительным.

Из рис. 56 можно видеть, что при смещении положения распре­ деления размеров деталей вправо (в направлении больших разме­ ров), число п+ увеличивается, а число п~ уменьшается. Сглажива­ ние кривой распределения вследствие большого рассеивания раз­ меров приводит к одновременному повышению обоих чисел п+ и п~ или к уменьшению числа п°.

Преимуществом подналадки по методу группирования является то, что разность г = \п+ — п~\ не находится под влиянием случай­ но больших или случайно малых величин, как это имеет место при подналадке но средней арифметической. Кроме того, сортировать размеры обработанных деталей по двум контролыю-подналадоч- ным пределам (границам) гораздо проще, чем измерять их абсо­ лютные размеры.

Строгое определение контрольных пределов для данного мето­ да может быть осуществлено с помощью оценки соответствующей

оценке усредненного положения центра распределения, и контроль­

выборки п = 10, которые устанавливают зависимость между веро­ ятностью подналадки (регулировки) станка P{z') и смещением положения статистического распределения z'a при постоянном зна­

135

Статистический предел регулирования для суммы S0 устанав­ ливается по кривой функции надежности контроля метода группи­ рования для суммы S при постоянном объеме выборки п = 10 и при определенных контрольных пределах ±zo = ±l,5cr, а также

0,8 -л

п+ = nr.

Подналадка по знакам отклонений и алгебраически набранному

счету. При подналадке по знакам отклонений учитывается только количество выходов или, наоборот, невыходов отклонений размера детали за пределы установленного уровня настройки и совершенно не учитывается абсолютная величина отклонения размера от этого установленного уровня. Сигнал на подналадку в этом случае по-

чдается при достижении определенного количества выходов или не­ выходов. К данному типу подналадки могут быть отнесены все из­ вестные методы подналадок, за исключением подналадки по сред­ нему арифметическому размеру.

Рассмотрим одну из простых и эффективных подналадок по зна­ кам отклонений, являющуюся разновидностью подналадки по мето­ ду группирования. Очередная подналадка в этом случае произво­ дится только тогда, когда среди N последних деталей, изготовлен-

136