Файл: Регулирование качества продукции средствами активного контроля..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 187

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Процесс стабилизации контролируемого размера около его номинального зна­

чения осуществляется оценкой ожидаемого

значения

Х(п) на основании

измерен­

ных значений Х(п

1), Х(п — 2),

Х(п

— N) и

введением корректирующего

воздействия Z(n),

которое должно

компенсировать

составляющую an.

 

Предлагаемое решение существенным образом отличается от других систем

регулирования размеров. На измерительное

устройство поднастройщика

(рис. 59)'

поступают

выборки деталей, обработанных на станке. Оптимальное число деталей

в^ выборке

устанавливается

исходя из конкретного

технологического

процесса.

Как показали исследования,

при автоматизированной

обработке деталей

на стан­

ках целесообразно принимать /V = 6.

Выборки берут непрерывно в течение всего процесса обработки партии дета­ лей. По результатам измерения деталей статистический анализатор выдает соот­ ветствующую команду механизму регулирования. Кроме того, периодически проис­ ходит самонастройка измерительного устройства по образцовой детали, которая имеет заданный номинальный размер.

MP

ИУП

- OA і

Рис. 59. Блок-схема самокорректирующейся комби­ нированной системы регулирования размеров ОКБ:

С — станок; MP — механизм

регулирования;

CA—стати­

стический анализатор;

ИУП

— измерительное устройство

поднастройщика;

ОД — образцовая

деталь

Крибая плотности распреде­ ления отклонений размероб

Рис. 60. Зоны подналадок статистическо­ го анализатора

Принцип работы статистического анализатора CA заключается в следующем" Внутри поля допуска (рис. 60) устанавливают пять зон ( + 2-ая; + 1 ; 0; I ;

—2-ая) расположения значений отклонений Х(п). Некоторые выбранные коорди­ наты ±Ьі и ±&2 определяют границы этих зон. При необходимости число зон мо­ жет быть большим или меньшим.

141


На выходе измерительного устройства поднастройщика формируется инфор­

мация о

величине

отклонений

размеров

деталей

выборки

Х(п — 1), Х(п — 2),

Х(п

— jV) от

заданного номинала

и

о принадлежности

отклонений опреде­

ленным

зонам.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

п — 1, п — 2, . . . .

Пусть

/ — номер детали,

принадлежащей

выборке, т. е. / =

n—N;

X(/)

— отклонение

детали и

ф(у) — обозначение

зоны

расположения от­

клонения /-ой детали.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тогда

(/) определяется следующим

образом:

 

 

 

 

 

 

 

 

+

2 при

/>з

< * ( / ) ;

 

 

 

 

 

 

 

 

+

1 при

bi

< X

(у) а;

 

 

 

 

 

 

•1(f)

)

0 при

Ь1

<

I ХЦ)

\ <

lh;

 

 

1 при — &2 < X (У) < — Ьі,

2 при X (У) < — Ьг.

Корректирующее воздействие механизма регулирования

Z(n)

= A 2 <Р(А

( 1 6 1 )

 

j=n-N

 

где А — величина импульса регулирования;

 

<р(/) —сигнал, соответствующий ф ( / ) .

 

Вся получаемая информация

обрабатывается в статистическом

анализаторе

по определенному алгоритму для получения наиболее вероятной оценки области значений контролируемого параметра. В зависимости от положения оценки на вы­

ходе

статистического анализатора после окончания измерения детали с номером

(п—1)

появляется сигнал ср(я),

который может иметь

один из пяти

уровней

( + 2 ;

+ 1 ; 0; — 1 ; —2) и является

некоторой функцией

совокупности

значений

*ф(/) для данной выборки. Под его воздействием механизм регулирования осуще­ ствляет смещение настройки процесса на соответствующую величину. Сигнал Ц>(п) — 0 свидетельствует о том, что процесс не нуждается в регулировании. Сиг­ налы + 1: — 1 ; + 2 и —2 вызывают соответственно один или два импульса регу­ лирования.

Таким образом, данная система в отличие от известных позволяет осуществ­ лять двустороннее регулирование (нодналадку) импульсами различной величины по знаку и модулю в зависимости от действительных отклонений измеренных вели­ чин Х(п). В результате существенно увеличивается точность регулирования (под­ наладки) процесса (см. гл. V I I I , § 36).

Сигнал

ф(я)

подается

на

поднастройку

оборудования

согласно

принятому

алгоритму

системы (в данном

случае по так называемой скользящей

выборочной

медиане)

в том случае,

когда

любые

УѴ/2 деталей выборки

выходят за

соответст-

«ующие

границы

зон расположения

отклонений.

Этот

алгоритм сформулирован

следующим

образом:

 

 

 

 

 

 

 

 

і

 

 

 

+ 2/1, если, в —2-ой зоне более или

равно N/2

 

 

 

 

деталей, а в +2- ой зоне менее N/2

деталей;

 

 

 

 

+ А, если число деталей в —1-ой и —2-ой

 

 

 

 

зонах

более или

равно N/2

и в —2-ой

зоне

 

 

 

 

менее N/2

(при этом число деталей в

+1-ой

 

 

 

 

и +2 - ой

зонах также менее N/2) ;

 

 

 

 

 

=

{ —Л,

если

число

деталей в +1 -ой

и +2 - ой

(162)

 

 

 

зонах

более или

равно УѴ/2 и в +2-ой

зоне

 

 

 

 

менее N/2

(при этом число деталей в —1-ой

 

 

 

 

и —2-ой

зонах

также менее

N/2;

 

 

 

 

 

 

—2А,

если в 4-2-ой зоне

более или равно

 

 

 

 

N/2

деталей, а в —2-ой зоне

менее N/2

деталей;

 

 

 

 

О во всех

остальных случаях.

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

142


При выборочном контроле статистический анализатор выбирает N последних деталей, изготовленных после предыдущей поднастройки, и по алгоритму (162) решает, нужно ли осуществлять поднастройку. Если она необходима, то выдается

соответствующий сигнал

ср(«); в противном случае результат

измерений забывает­

ся и следующая обработка измерений производится через две выборки ц т. д.

Примем следующие

допущения:

 

1) систематическая

(закономерная) составляющая an при отсутствии регули­

рования изменяется линейно, т. е. величина а — постоянная для данной партии;

2) случайное отклонение g(n) является стационарной

некоррелированной

функцией от я, т. е. закон распределения случайных отклонений не зависит

от «

и корреляция между случайными отклонениями S (я), взятыми для двух

разных

отсутствует. При этом математическое ожидание случайных отклонений

с(я)

рав­

но нулю, так как в противном случае его следовало бы учесть как часть законо-> мерной составляющей an;

3)

интегральный закон распределения

случайных отклонений с, (л) задан

ку­

сочно-непрерывной функцией Ф(с) .

Случайная

величина

ç(n)

распределена

по

закону,

близкому к

нормальному

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

О, если

Л"< Зз

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

' - Х 1

dx, если -

3.

: X < 3,;

(163)

 

 

= У

2г.

— оо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1,

если X >

Зз,

 

 

 

 

 

 

 

причем,

— Зо < ! (п) < Зз;

 

 

 

 

4)

величины а

и бег, характеризующие

исходный процесс

обработки

изделий

без регулирования,

и величины А, Ь{

и Ьг,

характеризующие параметры

системы,

заданы целыми числами, что всегда может быть достигнуто соответствующим вы­ бором масштаба измерения регулируемого параметра X.

Момент окончанаия обработки n-ой детали условимся называть л-ым момен­ том времени. Можно считать, что результаты измерений «-ой детали вводятся в си­

стему до момента (п + 1).

 

 

 

 

 

Найдем положение Х0(п)

центра группирования отклонений в п-ът

момент

времени,

вычислив

математическое

ожидание

величины

Х(п) с учетом

выраже­

ний (160)

и (161):

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

л - 1

 

 

 

 

Хп(п) = М[Х(п))=ап

+ А Уі

VU)-

 

 

 

 

 

 

j-n-.X

 

 

Для

того чтобы

lim Хо(п)

¥=оо,

величина

импульса

регулирования А

должна

 

 

я*-°о

 

 

 

 

 

удовлетворять условию Na^.A

(при выборочном методе), которое следует из того,

что за время между двумя поднастройками центр группирования перемещается на величину, не большую Na.

Диапазон возможных

значений положения

центров

группирования

Х<>(п)

после поднастройки выражается условием

 

 

 

 

.

Хтіп

< Х0 (п) < Хтіх

(п = 1,

2

оо).

 

Согласно выполненному

анализу, Х т а х и

Х т 1 п

через параметры системы

могуѴ

быть выражены так:

 

 

 

 

 

 

 

 

*т»х =

*і + 3* +

С і - Л + Л Л - 2 д

J

 

 

Хт\п

 

- Ьг — Зз +

С2 А+

Nßa

J '

 

 

где о — среднее квадратнческое отклонение;

 

 

 

 

Ci и С 2 — коэффициенты,

характеризующие

рассогласование

между положением

центра группирования Х0(п)

и границами ±Ьі

и

±Ь2.

 


Число всех возможных положений центров группирования в данной системе

 

 

t' =

Л"п,ах — Хтіп

 

.

,

 

 

A-'- 6 s — С ,

— С 8 + 0 , 5 . Ѵ д

,

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

- f

1 —

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

4-

і,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

d

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

d

 

 

 

 

 

^

 

 

 

 

 

 

где d — наибольший общий делитель а и А.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Координата

любого из ѵ этих положений

на оси определяется величиной

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X ( n ) - * m l n

+

( ! i + l ) d ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(165)

где fi =

1, 2,

.. . ,

и —порядковый

номер

положения

центра

группирования.

 

Ниже излагается

методика

 

определения

 

закона

распределения

 

А (га)

при

п—»-оо,

разработанная на основании

работы

[119]. Применяя ее, можно

сравнивать

результаты,

получающиеся

при

использовании

 

различных

параметров

А,

±Ьу

я &2 описываемой

системы

регулирования

и параметров

о н а

исходного

техноло­

гического процесса обработки (процесса без

регулирования),

а

также

результаты

использования других подобных систем регулирования

размеров.

 

 

 

 

 

 

Рассмотрим поведение системы в такой

момент

времени п, когда

 

в

момент

tri <

п произошла

последняя

поднастройка.

 

Положение

центра

группирования

Хц(п)

Х(\і),

 

причем Х(ц)

имеет

ряд

значений

согласно

выражению

 

(165).

 

 

Вероятности попадания всех возможных значений

Х{\і)

в

соответствующие

зоны в этом случае определяются системами

 

уравнений:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k,

+ 2 ) =

1 Ф

[b3

Х(ц)

 

- i -

ka];

 

 

 

 

 

 

 

 

Р(и,

 

k,

 

+1)

=

Ф[Ьг

— Х(іі)-г-ка]

 

 

ФІЬ1

— Х(ц)

+

ка];

 

 

 

 

 

 

Р (ix,

k,

 

0) = Ф ]b, —

X

(<х) +

ka]

— Ф [— bx

— X

(;x) +

ka];

 

 

 

 

 

 

Я(;х,

k,

1)--=Ф[—Ь!

 

— X(;j.)

+

ka]

Ф \—

h

— X

([>.)+-ka\;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P(;x,

k,

2) =

Ф [— b%

A'(;x) +

ka].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При этом для

любого значения

|і и k

должно

быть

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/

 

=+2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1=-2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

Р(ц,

k, I)—вероятность

 

того,

что

деталь,

 

изготовленная

в

момент,

когда

 

 

 

 

 

центр группирования

находился

в

точке [ А ( р ) — k a ] ,

попадает

 

 

 

 

 

в 1-ю зону;

k =

0;

1 ; 2,

. . . ,

N

1 ;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

,

 

/ — число зон

распределения

(для

рассматриваемого

случая

/ =

5).

 

Состояние системы в момент п характеризуется двумерным вектором г с ком­

понентами Хо(п)

и

t(n),

где Хо(п)—координата

 

 

центра

группирования в

мо­

мент га; t(n)

— величина,

характеризующая

время,

прошедшее

с момента

послед­

ней поднастройки до момента га. Если

последняя

поднастройка

произошла после

т-он

детали,

то

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t (п) = п — m

при

п — m <

N +

1 :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t(n)

= N-\-\

 

при

 

п —

 

 

m>N-~\.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При

выборочном контроле

величина

(га — т)

кратна

N.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Найденные

вероятности

возможных

состояний

системы в

момент

 

времени

(га + 1), если

в момент времени

 

я система находилась в состоянии

0(п) Х(ц);

і(п)

= Г], позволили

произвести

расчет

вероятностей

для

случаев

T^N

 

и 7"> N.

Если в момент га состояние системы

было [А(ц.);

7"] и Т~> N,

то

система

в

момент

(п + 1)

может перейти из этого состояния в одно из следующих пяти состояний:

 

 

Р[Х0(п+1)

 

=

Х(р.)

 

+

а+2А;

 

t(n+

 

1) -

1] • ••-/?+ 2 ((*,

Т);

 

 

 

 

 

Р[Х„(п+

 

1) =

Х(ѵ.)

 

+

а +

А;

/ ( л + ! ) . - =

1]

R

х

(|х,

Т);

 

 

 

 

 

 

Р]Х0(п+\)

 

=

Х>.)+а;

 

t(n+

 

1) =

J V + 1 ]

=

« e ( ( i ,

7");

 

 

 

 

(166)

 

 

P

[Ao (n

+

1) =

X

fr)

 

+

a -

A;

t (n +

 

1)

1] -

/?_, (fx,

T);

 

 

 

 

 

 

Я

[Л'(1

4- 1) =

*

fo)

 

+

в -

2Л;

* (л +

 

1) =

1 ] •-- R_2

(.*,

7").

 

 

 

144


При

этом

Яо(ц,

7")

+

Ri(ii,

Т)

 

 

 

Т)

+ / ? - 2 ( | х ,

Г)

+ / ? + 2

( ц ,

Г)

-

1

и никаких других состояний, кроме указанных в системе (166), быть не может.

 

Определим правые части системы (166). Согласно заданному алгоритму (162),

вероятность того, что в исходном состоянии [Х(\і],

Т] и Т>

N

потребуется

подна-

стройка

на

величину

+2А,

 

т. е. вероятность

перехода

в

следующий

(я +

1)

мо­

мент в состояние [Х(ц)

+

а + 2А,

1]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(

 

N

 

 

 

 

N

\

 

 

 

/ ? + 2 ( и ,

т) =

2

 

 

S

Q

(и,

иь

. . . , « » ) - < ?

I*.

y

 

-

°

' ° - °

- т

' ( 1 6 7 )

 

 

 

 

B.-JV/2 "2

 

«5

 

 

 

 

 

 

\

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

суммирование

ведется

по

всем

«і,

. . . , Us так,

что

Uf +

• • • +

и5

= N

и

" ^ ' M i ^ A f ;

Q ([л, Ui, . . . ,

иь), — вероятность того, что при положении центра

груп­

пирования,

определяемом

условием

Х0(п)

=

Х()л),

детали

с

номерами

n,

n 1,

п 5 распределятся

по зонам в следующем порядке: «і

деталей

в

зоне

+ 2 ;

яг в зоне

+ 1 ; из в зоне 0;

И4 в зоне —1 и и$ в зоне

—2.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Вероятность того, что в том же исходном состоянии потребуется

поднастрой-

ка на другую из величин,

предусмотренных

алгоритмом

(162),

выражается

сле­

дующими зависимостями:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вероятность подиастройки на

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л'-2

 

S

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R+ib,

 

т)=

 

2

 

 

q ( ! * . « ; . " «

 

 

 

« • ) +

 

 

 

Л - 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

+

Ü

 

 

S

Qo^.

 

«г

 

и6)+

 

2

 

2

 

со*,

«

г

- и

»

и

1

6 8

>

 

ѵ

,

«з

«5

 

 

 

 

 

 

 

N

"s

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

«»=

g-

~

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

" * =

Т"

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где суммирование

производится по всем

иг, . . . , и 5

так, что

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N

 

 

N

 

 

 

 

N

 

 

 

 

« 2 +

. . . + U f t = /V — их

и м 4 + и 6 < ~ , а и і =

— — 1, ы" = — — 2,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и

= —

— 3;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вероятность подиастройки на —А

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л'-2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N-1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/ г _ і ( > .

7")=

 

 

2

 

S

(р.. «1

 

 

«д) +

 

2

 

 

3

 

Q x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л

 

S

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X

((I,

« ь

 

г / ' ) +

2

 

Q f e

"1.

 

« р ,

 

 

 

 

(169)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л' и,,

 

и.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где суммирование

производится по всем Ui,

. . . ,

Urk так, что Ыі +

. . . +

Ui =

jV и 5

и и, + и2

 

N

 

 

 

N

 

,

 

N

 

 

 

 

N

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

< — , a V = — —

1, ы5 " = — — 2, u 5 ' " = у — 3;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

вероятность подиастройки на —

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

я _ 2 ( ; А , г ) =

 

2

 

2

с ^ .

 

 

 

« » ) - < ? ( p . V ' °' °- °' " f " ) ' ( І 7 0 )

 

 

 

 

 

 

 

Л' « 1 , и ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10—2891

145