Файл: Регулирование качества продукции средствами активного контроля..pdf

В данной главе рассмотрим варианты схемных решений уст­ ройств, реализующих оптимальные алгоритмы подналадки и позво­ ляющих компенсировать погрешности, вызванные тепловыми и си­

циклом обработки станка [61]. Состояние блок-схемы соответству­ ет моменту начала обработки п-то изделия. Обработанное (п — 1)-ое

Уроіень

сраЪнения

Рис. 204. Блок-схема устройства для подналадки технологического процесса

сравнивается с заданным уровнем, определяемым источником опор­ ного напряжения. В качестве заданного уровня может быть выбран

подналадочного импульса «„. Подналадочный импульс в этом бло­ ке формируется на каждом такте процесса, исходя из условия обес­

429

Весовые коэффициенты а и Ъ в этой формуле определяются на основании имеющихся априорных данных о статистических харак­ теристиках технологического процесса. В зависимости от типа про­ цесса коэффициенты а и Ь определяются в соответствии с выраже­ ниями (232) и (233), если стационарный марковский процесс с экспоненциальной корреляционной функцией. Если же {р-п} про­ цесс с независимыми приращениями, то коэффициенты а и Ь опре­ деляются в соответствии с выражениями (232) и (233).

С выхода блока формирования подналадочный импульс ип по­ ступает на исполнительный механизм, осуществляющего подналад­ ку прибора активного контроля. Выходная величина исполнитель-

Un

—о

430

При компенсации трента в схеме весовой коэффициент m опре­ деляется соотношением сопротивлений Rz и Rw'-

R,

m = —. Rw

Для обеспечения малой погрешности за счет сеточных токов при длительном хранении напряжений в схему периодически подаются тактовые импульсы ТИ от генератора такта. При этом срабатывают реле РІ и Р3 и в схеме происходит компенсация погрешности, вы­ званной сеточным током. Частота следования тактовых импульсов может быть определена в соответствии с методикой расчета схемы, приведенной в § 50.

ный импульс вычисляется в этом случае в соответствии с рекуррент­ ной формулой (240) :

оптимального подналадочного импульса в соответствии с выраже­ нием (535). В отличие от схемы на рис. 205 в данном случае необ­ ходимо запоминать информацию о двух предыдущих тактах про­

ветствующими значениями весовых коэффициентов а, Ь, с и d по­

ханизм системы подналадки.

432

Рис. 207. Функциональная схема блока формирования опти­ мального подналадочного импульса (случайная функциональ­ ная составляющая {р.п } образует марковский процесс второго порядка)

мирования подналадочного импульса аналогична схеме, приведен­

ных условий, изменение материала заготовок изделий и режущего инструмента и т. п. Поэтому для оптимального ведения технологи­ ческого процесса требуется непрерывное или периодическое «обнов­ ление» априорной информации, т. е. возникает необходимость в пе­ риодическом или непрерывном определении статистических характе­ ристик процесса. Ниже рассматриваются возможные пути реализа­ ции этого требования.

На рис. 208 приведена блок-схема системы подналадки техноло­ гического процесса, в которой одновременно с процессом управле­ ния происходит определение статистических характеристик про-

433