Файл: Регулирование качества продукции средствами активного контроля..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 153

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

ti-je изделие

Ilpufîop

Исполни­

т.

актив­

тельный

ного

механизм

контроля

 

 

(п-1)-ое

Блок

изделие

 

формиро­

 

вания

поднала­

дочного

импульса

Оператор

Статистиче­ ский анализа­ тор

Рис. 208. Блок-схема устройства для контроля

Рис. 209. Блок-схема устройства непрерывного

определения параметров а и Ь технологического

и подналадки технологического процесса

процесса

 

цесса. Состояние блок-схемы соответствует моменту окончания об­ работки (п—1)-го изделия.

Обработанное [п—1)-ое изделие измеряется датчиком разме­ ров изделий, вынесенным из зоны обработки. Полученная величина сравнивается с заданным уровнем, и определяется отклонение регу­ лируемого параметра хп. Затем величина хп поступает на вход блока формирования подналадочного импульса и на вход статисти­

ческого анализатора. Структура

блока

формирования

поднала­

дочного импульса в зависимости от типа

технологического

про­

цесса аналогична описанным выше на рис. 205 или 207.

Х П - І по­

На вход статистического анализатора кроме величины

ступает также относящаяся к концу (п—1)-го

такта процесса ве­

личина уровня настройки

Un-i.

На основании

известных

величин

л-ті-1 и 1)п-\ подналаживаемого

процесса в статистическом

анализа­

торе определяется величина

суммарного

возмущения ЦП-І,

дейст­

вующего на процесс в (п

1)-ом такте,

 

 

 

 

тіп= хп

Un-\

= п-\

-т- £л-і

+ ln-

 

(536)

В статистическом анализаторе по известной последовательности {цп} (п — \, 2,..., N) определяются статистические характеристи­ ки процесса г of и а ?по методике, изложенной в гл. X.

На основании полученных статистических характеристик про­ цесса можно вычислить новые значения весовых коэффициентов а и Ь в соответствии с формулами § 18 и при необходимости приве­ сти их корректировку в блоке формирования подналадочного им­ пульса с помощью оператора, обслуживающего данное технологи­ ческое оборудование.

Схема системы подналадки рис. 208 обладает существенным недостатком — она является разомкнутой относительно определения статистических характеристик. Поэтому все погрешности при опре­ делении весовых коэффициентов а и Ь не могут быть скомпенсиро­ ваны.

Этого недостатка лишена схема непрерывного определения коэф­ фициентов а и Ь, представленная на рис. 209. При построении дан­ ной схемы использовано соотношение, определяющее уровень на­ стройки прибора активного контроля:

 

 

Vn

= aUn_i - f ~ & Y i n

_ i .

 

 

Уровень

настройки

{Un}

(п =

1, 2 , . . . )

можно

рассматривать

в качестве

модели возмущения

{т)„}, действующего

в технологиче­

ском процессе.

 

 

 

 

 

 

Принцип действия схемы, представленной на рис. 209,

основан

на использовании метода

идентификации

объекта

с применением

(s + 1)-ой

модели.

Для

определения его

s параметров

[148, 151]

используются три модели технологического процесса. Параметрами в моделях являются величины а и Ь, соответствующие весовым коэффициентам в выражении (534).

435


Состояние схемы на рис. 209

соответствует

концу

( я 1 ) - г о

такта процесса. Перед началом поиска во всех моделях

установле­

ны некоторые априорные значения параметров a и Ь.

 

 

Причем в модели М2

параметр a смещен на некоторую величину

Да, a в модели М 3

параметр Ь смещен на величину Ab (знак смеще­

ния можно выбирать произвольным).

 

U^n,

 

 

 

 

Обозначим выход модели в n-ом такте

где / — номер моде­

ли. Тогда в моделях Ми

М2

и М3 реализуются

 

соответственно сле­

дующие соотношения:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 5 3 7 )

 

 

 

ир

= аи^

+

Ьъ-1\

 

 

 

 

 

 

UM

=

[а + Да) Щ

- f Ц „ _ І

;

 

 

( 5 3 8 )

 

 

Vf

=

aU^l,

+

(b +

Ab) , , „ _ ,

 

 

 

( 5 3 9 )

 

 

 

 

( л =

1,2

 

).

 

 

 

 

 

 

Ha каждом такте

процесса

в схеме

вычисляются

следующие

разности х^> :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

•*</> = -»]„ — «</>

 

 

 

 

 

і '540)

 

 

 

і я =

1,2

 

).

 

 

 

 

 

 

 

Выберем в качестве критерия

близости

моделей

М%, М2 и М3

к процессу

{т]„} оценки дисперсий

последовательностей

{х'п}:

 

 

Q [а,

Ь) = М* ( U-,«1»]2] = Оу\

 

 

 

«

 

Q |> +

Да, Ь) =

М* {[х^]г\

=

D*!2>;

 

 

(542)

 

Q (а, Л -f- Aô) =

7W* {[43 >]2 } = D;<3>.

 

 

( 5 4 3 )

Задача

состоит в определении

таких

значений

параметров а*

и b *, при которых критерий близости

Q (а, Ь) — минимален, т. е.

 

 

Q [a*,

b*)

=

min Q (a, 6),

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

b G Q b

 

 

 

 

 

 

где Qa и І2ь — области возможного изменения параметров а и b.

Минимальному

значению

критерия

Q (a*,

b *)

соответствует

равенство нулю градиента

функции

Q (а, Ь)

в точке

 

экстремума

(а *, b * ) , т. е.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

или

dQ

да

grad Q (a*, b*) = 0

= 0 и —

= 0.

За счет приращений Аа и До по параметрам a u b величина рабочего шага при поиске методом градиента соответственно равна:

о= — — • Да;

ада

436


где ô 0

и оь — величины

рабочих

шагов по параметрам а

и Ь.

В точке Q (a*,

b *) обеспечивается минумум дисперсии

размеров

изделий относительно заданного

уровня.

 

 

 

 

На практике приращение критерия качества целесообразно оп­

ределять в конечных разностях, т. е.:

 

 

 

 

 

 

AQ (a.

Ь) _

Q(a+

Да. Ь) — Q (а, Ь)

 

 

 

 

Да

 

 

 

Да

 

 

 

 

 

 

AQ (a,

b) _

Q(a,

Ь +bb)—Q(a,

b)

 

 

 

 

 

Ab

~

 

 

Aft

 

 

 

 

Величина рабочего шага по параметрам

а и b в конечных разно­

стях соответственно равна:

 

 

 

 

 

 

 

 

la

= — Ka[Q

+

Да, b} — Q (а, Ь)];

 

 

 

8* = - / C * [ Q

(я, ô +Aft) — Q (а , 6)1,

 

 

где Ка

и Кь — коэффициенты

пропорциональности

(нормирующие

 

множители).

 

 

 

 

 

 

 

Величины Q (a, b), Q (а +

Да, Ь) и Q (а, & +

До)

определяются

соответственное

выражениями

(541) — (543).

Вычислительные

операции на схеме рис. 209 происходят в следующей

последователь­

ности:

 

 

 

 

 

(п—1)-го

 

 

 

 

1. В блоке разности в конце

такта

вычисляется не­

вязка

по выражению (540).

 

 

 

 

 

2.С помощью квадратора (Кв.) невязка х~п возводится в квад­

рат.

3.В блоке вычисления среднего происходит определение оцен­

ки дисперсии последовательности {x{nJ)} D*(f). Оценку дисперсии можно производить, например, с помощью схемы для определения скользящего среднего либо для определения среднего по фиксиро­ ванной величине выборки (см. § 52).

4.На суммирующих элементах происходит вычисление величин

ôo и оь:

Ъ„ = - К ь \Df)-D?4.

5. При замыкании ключей К\ и /С2 от системы синхронизации

дан­

ной схемы величины ô a

и оь интегрируются и на выходе

соответст­

вующих интеграторов образуются напряжения,

пропорциональные

параметрам а и Ь. Эти напряжения поступают

в модели

Mi,

М2

и М3.

 

 

 

 

 

На рис. 210 показана схема модели М4 . Величины а и b поступа­

ют на соответствующие

входы множительных

звеньев М3{

и

М32,

на выходе которых образуются слагаемые выражения

(534).

 

437



Данная система определения параметров а и Ь является замкну­ той. Поэтому все погрешности решающих элементов, используемых в схеме, компенсируются установлением соответствующих значений параметров а и Ь, обеспечивающих минимум критерия качества.

АЗЯ,

АЗЯ,

Рис. 210. Функциональная схема блока форми­ рования оптимального подналадочного импульса с параметрическим заданием величин а и Ъ

1—а Ас

г.

 

 

 

к іч

1

мз,

 

АЗЯ;

 

АЗЯ'.,,10

«Г

il m

 

r

к " I

 

K< s- I—л "? / m ^ /

 

—АЗЯ]

T- АЗЯ1,

 

К/

 

 

 

 

 

0—»j

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ks.

1—çsàb

 

 

•BY

 

 

çs b

 

 

 

Рис. 211. Схема адаптивного устройства для оптимальной подналадки техноло­ гического процесса

На рис. 211 представлен вариант аппаратурной реализации блоксхемы рис. 209. Состояние схемы соответствует моменту окончания (п — 1)-го такта технологического процесса. Собственно модели Ми М2 и М3 на рис. 211 показаны пунктиром. В состав каждой модели входят две аналоговые запоминающие ячейки АЗЯ^ и АЗЯ^ и ключи К([\ К(£\ К{р (/ — номер модели).

438