Файл: Регулирование качества продукции средствами активного контроля..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 142

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Случайная величина К* в выражениях (602) и (603) распреде-

•* У

лена асимптотически нормально. Параметры этого распределения имеют вид [88]:

M {К = N ~ 1 К хуу

(607)

~Л'

 

 

 

М-22 Кху:

+ 0

 

(608)

 

 

 

 

N

 

 

 

где

Ц22 — смешанный центральный момент:

 

 

 

 

 

N

 

 

 

(609)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

п = 1

 

 

 

 

На

основании

выражения (585)

и с учетом

формулы (607) можно

записать

 

 

 

 

 

 

 

 

Р\

\ к % ~ к х у

\ < ц

N

'

(610)

 

 

 

 

 

Р'

Из выражения

(610)

следует

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(611)

 

Аналогично определяется необходимая длительность случайно­

го процесса для оценки с требуемой точностью

коэффициента кор­

реляции и для выражения (606).

 

 

 

 

При исследовании технологических процессов практический ин­ терес может представлять вероятность некоторого события. На­ пример, вероятность разладки технологического процесса, вероят­ ность брака или же вероятность получения изделия, отвечающего заданным требованиям и т. п. В качестве оценки для искомой ве­ роятности используют частоту наступления этого события при не­

котором количестве испытаний (числе тактов процесса).

Оценкой

Р*

(А) для вероятности Р {А)

события А

может служить

величина

 

 

Р*

{А) -

 

 

 

 

 

N

 

 

где

m — число случаев наступления события А;

 

 

N — число испытаний

(число тактов исследуемого процесса).

 

Случайная величина —

имеет математическое ожидание р и дис-

 

N

ту

 

 

Персию

 

 

 

 

-Р)

 

 

M

 

/>(!

(612)

N

458


Подставив формулу (612)

в выражение (585), получим

m

(613)

~ N ~ P

 

Из выражения (613) получим необходимое число испытаний (тре­ буемое число тактов процесса)

(614)

Е2

На основании выражения (613) абсолютная ошибка решения дан­ ной задачи АР равна

m

n i

t -\f P(X

~P)

(615)

~N

 

 

 

 

Определим теперь величину относительной ошибки б Р

(616)

рг Р

При этом максимальное значение относительной ошибки равно

З р шах = Ч

\/~~

(617)

Этому значению соответствует

минимальная длительность

про­

цесса:

(618)

Р*р шах

Анализ последнего выражения показывает, что малые вероятно­ сти Р (А) следует определять через другие вспомогательные вели­ чины аналитическим путем.

§ 59 МЕТОДИКА О П Т И М И З А Ц И И Т Е Х Н О Л О Г И Ч Е С К И Х П Р О Ц Е С С О В

Как уже указывалось в § 56, аналитическое решение задач, свя­ занных с проектированием и модернизацией технологических про­ цессов, в большинстве случаев является сложной, а иногда и прин­ ципиально неразрешимой задачей. В связи с этим многие из этих задач целесообразно решать путем математического моделирования на ЦВМ.

Впоследнее время в ряде работ методами математического мо­ делирования проведен выбор оптимального алгоритма системы под­ наладки технологического процесса и определены ее параметры.

Вработе В. А. Чудова и М. И. Коченова [153] рассмотрена методика выбора способа управления размерной настройкой при моделировании процессов односторонней и двусторонней подна­ ладок на ЦВМ и показываются количественные и качественные

459


возможности

этой

методики. В соответствии с данной методикой

размеры

последовательно обработанных

деталей

неуправляемого

технологического процесса образуют исходный ряд

чисел { Х І } , ко­

торый вводится и запоминается в ЦВМ.

 

 

Операция моделирования процесса сводится к последовательно­

му преобразованию

исходного

ряда

чисел {ХІ}

в итоговый ряд

{ Л : / }

П О

формуле

 

 

 

 

 

 

= х/ +

m.tA+ +

ntA-,

(619)

где А+ и А" — величины положительного и отрицательного

импуль­

 

сов подналадки.

 

 

Ші и

ПІ — числа положительных и отрицательных импульсов,

( ,

поданных при обработке предыдущих — 1)-ых де­

 

талей.

 

 

После

определения очередного значения

отклонения

размера

детали х\

устанавливается необходимость в очередном подналадоч-

ном импульсе. Например, при моделировании

односторонней под­

наладки

по трем деталям подряд значения х\,

х\_х, х'с__2

сравнива­

ют с уровнем границы подналадки. Если все они лежат выше этого

Уровня, то подают импульс А~,

и тогда ПІ+І =

щ+

1.

 

Если же хоть одно из этих трех значений

лежит ниже

границы

подналадки, то импульс не подается, и тогда

щ+і

= ПІ. По

форму­

ле (619) находят значение х'і+і

и т. д.

 

 

 

Если в зоне обработки находится одна деталь, то можно считать, что каждый подналадочный импульс сразу изменяет размер всех последующих деталей на одну и ту же величину. Если же в зоне обработки одновременно находятся несколько деталей, то подна­ ладка будет осуществлена не сразу для всех последующих деталей,

а постепенно, т. е. смещение уровня настройки станка

происходит

не сразу после подачи импульса, а за время обработки

нескольких

деталей. При моделировании авторы предлагают это отразить по­ степенным (от детали к детали) нарастанием величины смещения вплоть до полного номинального значения величины подналадочно­ го импульса. Длительность такого переходного процесса при бес­

центровом

шлифовании на

проход

равна

времени

обработки

6—10

деталей.

 

 

 

 

 

Д л я итогового ряда {х\} в работе

подсчитывались

суммарные

значения уровней настройки ха

и среднего квадратического

откло­

нения

. По этим величинам проводилось сравнение

эффективно­

различных систем подналадки.

 

 

 

 

стиД л яOsобеспечения объективности сравнения

различные

системы

подналадки

моделировались

на одной

и той

же партии

деталей.

Поэтому выбор системы подналадки может быть обоснован уже на стадии проектирования технологического процесса. Каждая пара чисел Хх и os подсчитывалась для заданного алгоритма и фикси­ рованных параметров системы подналадки (положение сигнальной границы и величины подналадочного импульса).

460


Д ля проверки методики моделирования был смоделирован

про­

цесс пульсирующей

и односторонней

подналадки

по k

деталям

подряд при k, равном

1, 2, 3, 4, 5, и

различных

величинах

под­

наладочного импульса А. Вычисления

проводились

на

машине

«Минск-1».

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В работе Л. А. Либермана [95] выбор оптимальных

параметров

системы односторонней подналадки

осуществлен

путем моделиро­

вания процесса с заданными вероятностными свойствами

на ЦВМ

типа БЭСМ-2М.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Исследование смещения настройки и параметров исходных про­

цессов было проведено при обработке деталей на автоматах

про­

дольного точения моделей 1А10П и 1Б10В,

токарно-револьверных

станках моделей 1Г325 и «Habegger»

 

F-38

(автомат);

круглошли-

фовальных станках моделей 312М и ЗА 150

(врезное

 

шлифование

до упора, а на станке

модели ЗА150 также

с прибором

 

активного

контроля), внутришлифовальном станке модели Л3186 (с прибором

активного контроля)

и бесцентровошлифовалыюм автомате модели

ВШ-215. На каждом

станке

было

обработано от 1000 до 4000 де­

талей. Последовательность

размеров между двумя поднастройка-

ми станка рассматривалась

как

одна

из реализаций случайной

функции с целочисленными значениями

аргумента.

В соответствии с этими исследованиями для нерасширяющегося пучка разработана методика расчета систем подналадки технологи­

ческих процессов.

 

 

 

 

 

 

 

 

Нерасширяющийся

пучок реализаций рассматривался как ста­

ционарный случайный

процесс, наложенный на неслучайную функ­

цию времени.

 

 

 

 

 

 

 

 

Параметрами процессов этого типа являются: среднее квадрати­

ческое отклонение

ас случайной

величины | ,

характеризующей

мгновенную точность

обработки;

интенсивность

смещения уровня

настройки на один такт процесса

а; корреляционная функция

ста­

ционарной случайной составляющей

смещения

настройки

Kj(t)',

а2х о — дисперсия начальной

настройки.

 

 

Интенсивность смещения а определялась по формуле

 

а =

M [xt

X j _ i )

=

M {xt — xi_x\.

 

Характер корреляционных

связей

в исследуемых

процессах

был

аппроксимирован следующим

образом

 

 

 

 

K;(0)

1

 

при г < m;

 

 

 

 

 

 

 

m

 

 

 

 

 

 

0

 

при x > m .

 

Здесь

 

 

 

 

 

 

 

 

31-2891

461