Файл: Соммер А. Фото-эмиссионные материалы.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 18.06.2024

Просмотров: 105

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

света, а также положения интерференционных максиму­ мов в зависимости от толщины пленки, Уолнс получил значения коэффициента поглощения и показателя пре­ ломления, которые приведены на рис. 13 и 14.

Тафт и Филипп (Л. 96] измерили спектральные ха­ рактеристики поглощения при температуре 90 °К на пленках неизвестной толщины. Для расчета своих характеристик они использовали абсолютную величину коэффициента поглощения при энер­ гии фотона 2 эв, полученную Уолисом. Их результаты, особенно инте­ ресные благодаря обнаружению тонкой структуры оптического по­

глощения, приведены на рис. 15.

 

 

 

 

Кривые

поглощения, полученные

 

 

 

 

Кун нем

[Л. 81] из измерений

Cs3Sb

 

W

w

эв

пленок

известной

толщины,

приве­

 

дены на

рис. 16.

Для облегчения

Рис.

13.

Зависимость

сравнения

результаты Уолиса, Спай-

коэффициента

погло­

сера, Тафта и Филиппа и Купце объ­

щения Cs3Sb от энер­

гии

фотонов [Л. 138].

единены

на рис. 17.

 

 

 

 

 

Кроме

Уолиса,

показатель пре­

ломления измеряли Моргулис и др. [Л. 135], Кунце(Л.81] и Едличка [Л. 121] *. В области энергий фотонов меньше 1,5 эв величины показателя преломления, которые приво­ дит Кунце, примерно на 0,6 больше, чем значения, полу­ ченные Уолисом. Едличка приводит только одно значение

Рис. 14. Зависимость показате­

Рис. 15. Зависимость коэффициен­

ля преломления

CssSb от дли­

та поглощения Cs3Sb от энергии

ны волны

[Л. 138].

фотонов [Л. 96].

показателя преломления (2,59 при 7 600 А), которое хорошо совпадает с результатами других авторов.

1 Обстоятельное исследование оптических констант Cs3Sb выпол­ нено также Хлебниковым и Мела.мидом {Л. 288*]. (Прим. ред.)


Как видно из рис. 17, результаты всех опубликбййН' ных работ очень хорошо согласуются между собой. Это неудивительно, поскольку величина коэффициента по­ глощения в отличие от некоторых электрических харак­ теристик, рассмотренных в § 4-7, определяется собст-

Рнс. 16. Зависимость

коэф-

Рис. 17. Коэффициент поглоще-

фицнента поглощения

Cs3Sb

ния Cs3Sb. Сравнение результатов

от энергии фотонов [Л. 81].

[Л. 81, 96, 127, 138].

венными свойствами материала. Влияние дефектов или примесей проявляется в виде незначительной структуры на кривой поглощения в области энергии фотонов мень­ ше ] эв. Однако Уолис указал, что абсолютная величи­ на коэффициента поглощения, связанного с дефектами, так мала, что надежные измерения не могут быть вы­ полнены на тонких пленках СвзБЬ, используемых в экс­ периментах.

4-9. ИНТЕРПРЕТАЦИЯ ИЗМЕРЕНИИ

Большинство исследований, рассмотренных в преды­ дущих параграфах, было выполнено с целью изучения полупроводниковых свойств СэзЭЬ, а также выяснения механизма фотоэмиссии из этого соединения. Ниже об­ суждаются основные выводы, сделанные из этих экспе­ риментальных результатов.

Как уже отмечалось,

сильное

поглощение

света

в полупроводнике возможно

только

при энергии

фото-

61

.нов, достаточной для возбуждения электронов из валеШ'- иой зоны в зону проводимости. Фотопроводимость свя­ зана с этим же процессом, так что для 'получения фото­ проводимости с большим квантовым выходом необ­ ходимо, чтобы энергия фотонов превышала величи­ ну Ее. Таким образом, Ширина запрещенной зоны полупроводника может быть определена из измерений длинноволновой границы оптического Поглощения и фотопроводимости.

Следует отметить, что спектральные характеристики поглощения и фотопроводимости обычно асимптотически приближаются к оси абсцисс, так что часто оказывается необходимым сделать определенные теоретические пред­ положения для того, чтобы получить наиболее вероят­ ную величину.

В случае Cs3Sb Спайсер і[Л. 127] нашел, что спект­ ральная характеристика фотопроводимости так плавно

приближается к оси абсцисс, что определить

значение

Eg из этой кривой практически невозможно. В

то же

время порог оптического поглощения может

быть доста­

точно точно определен

из кривой,

представленной

на

рис. 17, что позволяет

получить

значение

Eg=l,6

эв

(Уолис|[Л. 138], Спайсер [Л. 127]).

Аналогично тому, как порог поглощения и фотопро­ водимости соответствует ширине запрещенной зоны Eg, порог фотоэмиссии наблюдается при энергии фотонов, равной (Eg+Ea), где Еа — электронное сродство. Важно подчеркнуть, что не существует прямых методов измере­ ния величины Еа. Поэтому значение Еа может быть по­ лучено только вычитанием Eg из (Eg+Ea). При опреде­ лении величины (Eg+Ea) по длинноволновой границе спектральной характеристики фотоэмиссии также суще­ ствует неопределенность, связанная с плавным ходом характеристики вблизи границы, из-за влияния дефектов иа фотоэмиссию.

Для того чтобы преодолеть эту неопределенность, Спайсер [Л. 127] вывел аналитическое выражение для спектральной характеристики фотоэмиссии полупровод­ ников. Добившись совпадения расчетной спектральной характеристики фотоэмиссии с экспериментальными данными в области больших энергий фотонов, Спайсер получил «теоретическую» кривую для CsaSb, из которой он смог затем определить «действительный» порог фото­ эмиссии материала. Эта кривая приведена на рис. 18.


Длинноволновая

граница

фотоэмиссии,

определенная

из этой

кривой

 

(Eg+Ea)

=2,05 эв,

откуда

электронное

сродство

£ о = 0 , 4

5

эв. Спайсер указал,

что отклонение

экспериментальных

данных от

теоретической

кривой

вблизи порога

(рис. 18) можно

объяснить

возбуждени­

ем электронов

с

уровней

дефектов.

Поскольку

СэзБЬ —•

полупроводник

/;-тппа, фотоэмиссия

в

области

фотонов

с малой энергией связана, по-видимому, с возбуждени­

ем заполненных

акцепторов. В

таком

случае

охлажде-

ние

материала

должно

приве­

 

Iіі—і—і—і—і—і

сти

к уменьшению

фотоэмис­

 

сии с этих центров. Это под­

 

 

 

 

 

 

тверждается

данными,

приве­

 

 

 

 

 

 

денными на рис. 9.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Следует

отметить,

что до

 

 

 

 

 

 

этой

работы

Спайсер а

было

 

 

 

 

 

 

принято,

что

величина

(Eg +

 

 

 

 

 

 

а)

близка

к 1,6

эв, т. е.

 

 

 

 

 

 

равна ширине запрещенной зо­

 

 

 

 

 

 

ны.

Так,

например,

Апкер

 

 

 

 

 

 

[Л. 104], основываясь

на изме­

 

 

 

 

 

 

рениях Бартона

[Л. 136], пред­

 

1\2

' 2,0

2,8

3,бэв

положил,

что дно зоны

прово­

Рис.

18.

Эксперименталь­

димости в Cs3Sb практически

ная

(сплошная

линия) и

совпадает

с уровнем

вакуума.

теоретическая

(пунктирная

Это

означает,

что электронное

линия)

спектральные

харак­

теристики

квантового

выхо­

сродство Еа

= 0. Величина элек­

да

фотоэмиссии

из

Cs3Sb

тронного

сродства,

полученная

 

 

 

[Л. 127].

 

Спайсером ( £ а = 0 , 4 5

эе),была

 

 

 

 

 

 

.подтверждена

Тафтом

и Филиппом (Л. 96], которые из

измерений распределения электронов по энергиям

и из

оптических

измерений

получили

минимальную

величину

£а = 0,4 эв.

Наиболее

вероятная зонная

схема

С б з Э Ь

в упрощенной

форме

приведена

на рис. 19.

 

 

Модель, представленная на рис. 19, не учитывает ни наличия уровней в запрещенной зоне, связанных с де­ фектами, ни изгиба зон на границе с вакуумом. Оба эти эффекта, несомненно, имеют место, но соответствующие оптические и электрические измерения недостаточно полны и воспроизводимы. Как уже отмечалось, воспро­ изводимых результатов измерений уровней дефектов не удается получить на тонких поликристаллических плен­ ках, используемых для измерений, поскольку их свойст­ ва меняются от образца к образцу. С практической точ-


модель энергетических

ки зрения очень важно, что, несмотря на это, фотоэмис­ сионные характеристики оказываются достаточно вос­ производимыми, за исключением припороговой области.

Можно высказать следующие качественные сообра­ жения о природе и свойствах уровней дефектов в CssSb.

1.Материал всегда имеет проводимость р-типа, по­ этому большинство уровней дефектов — акцепторы.

2.Положение акцепторных уровней относительно валентной зоны точно неизвестно, поскольку величина энергии активации, определенная из температурной за­ висимости проводимости, обнаруживает большой раз­ брос для разных образцов.

3.Согласно приблизительной оценке акцепторные уровни лежат примерно на 0,5 эв выше верхней грани­ цы валентной зоны.

4.Имеется убедительное доказательство того, что причина возникновения этого уровня заключается в стехиометрическом избытке сурьмы.

Если предположить, что уровень Ферми совпадает с акцепторным уровнем, то положение последнего долж­ но определять два важных свойства фотоэмиссионного материала: сопротивление и термоэлектронную эмиссию.

Как было отмечено Спайсером

[Л.

3],

расположение

акцепторного уровня

вблизи

валентной

зоны

полезно

с

практической

точки

зрения,

так

как

это

приводит

к

уменьшению

термоэлектронной

эмиссии

и увеличению

Еа=0,№эв~$ I

—*—і—Ї '

£

=1бэ8

9

'

Рис. 19. Упрощенная

проводимости. С этой точки зре-

ни я с л е Д У е т отметить одно необъ-

ясненное противоречие: хотя раз­

брос

измеренных значений

энер-

г и и

активации

свидетельствует

о флуктуациях

положения

уров­

ня

Ферми,

термоэлектронная

эмиссия и

сопротивление

Cs3Sb

фотокатода

достаточно воспроиз-

водимы.

зон Cs3Sb.

Поскольку

Cs3Sb — полупро­

 

водник р-типа,

следует ожидать,

что энергетические зоны на границе с вакуумом изо­

гнуты

вниз,

что

благоприятно

для

фотоэмиссии.

Спайсер

[Л.

113]

обсудил

аргументы

за и против

предположения о наличии изгиба

зон їв Cs3Sb. Его аргу­

менты состоят в

следующем: низкое

«эффективное»

электронное

сродство Cs3Sb

и

других

антимонидов


/>типа по сравнению с

материалами

га-типа позволяет

предположить,

что существует

благоприятный изгиб

зон. С другой

стороны,

хорошая

воспроизводимость

измерений порога фотоэмиссии

указывает, что изгиб зон,

который сильно зависит от уровней дефектов, играет незначительную роль. Основная трудность объяснения всех явлений, связанных с влиянием изгиба зон, заклю­

чается в том, что до сих пор

не

существует

никаких

экспериментальных

методов,

позволяющих

отличить

действительное изменение

электронного

сродства

от

«эффективного» изменения, связанного с изгибом

зон.

Измерения распределения змиттированных

фотоэлек­

тронов по энергиям

дают

количественную

информацию

о минимальной энергии, которая

требуется

электрону

в зоне проводимости для возбуждения другого электро­ на из валентной зоны. Для большинства полупроводни­ ков порог генерации пар значительно больше, чем тео­ ретический минимум, соответствующий ширине запре­

щенной зоны. Однако в Cs3Sb -порог равен 2эв

[Л. 104],

т. е. только на 0,4 эв больше, чем ширина

запрещенной

зоны.

 

 

 

 

Согласно

Тафту и Филиппу [Л. 96]

и Спайсеру

[Л. 105] такое

исключительное поведение

Cs3Sb

може г

быть связано

с частичным

нарушением упорядоченности

кристаллической решетки

Cs3Sb.

 

 

Г л а в а п я т а я

Ф О Т О К А Т О Д Ы НА ОСНОВ Е О Д Н О Щ Е Л О Ч Н Ы Х АНТИМОНИДОВ (КРОМЕ Cs3Sb)

Соединения сурьмы с другими щелочными металлами (кроме Cs)—LisSb, Na3Sb, K3Sb и Rb3Sb — также были приготовлены и исследованы в виде тонких пленок. Длинноволновая граница и квантовый выход в видимой области спектра у этих четырех материалов ниже, чем у Gs3Sb. Этим объясняется, почему ни один из этих антимонидовне нашел практического применения в качестве фотокатода и почему они изучены значительно менее подробно, чем соединения сурьмы с цезием.

Описание свойств этих соединений мы начнем с Кз5Ь, поскольку этот материал изучен наиболее подробно.

5.-1.0

гд5