ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 18.06.2024
Просмотров: 105
Скачиваний: 1
света, а также положения интерференционных максиму мов в зависимости от толщины пленки, Уолнс получил значения коэффициента поглощения и показателя пре ломления, которые приведены на рис. 13 и 14.
Тафт и Филипп (Л. 96] измерили спектральные ха рактеристики поглощения при температуре 90 °К на пленках неизвестной толщины. Для расчета своих характеристик они использовали абсолютную величину коэффициента поглощения при энер гии фотона 2 эв, полученную Уолисом. Их результаты, особенно инте ресные благодаря обнаружению тонкой структуры оптического по
глощения, приведены на рис. 15.
|
|
|
|
Кривые |
поглощения, полученные |
||||
|
|
|
|
Кун нем |
[Л. 81] из измерений |
Cs3Sb |
|||
|
W |
w |
эв |
пленок |
известной |
толщины, |
приве |
||
|
дены на |
рис. 16. |
Для облегчения |
||||||
Рис. |
13. |
Зависимость |
|||||||
сравнения |
результаты Уолиса, Спай- |
||||||||
коэффициента |
погло |
сера, Тафта и Филиппа и Купце объ |
|||||||
щения Cs3Sb от энер |
|||||||||
гии |
фотонов [Л. 138]. |
единены |
на рис. 17. |
|
|||||
|
|
|
|
Кроме |
Уолиса, |
показатель пре |
ломления измеряли Моргулис и др. [Л. 135], Кунце(Л.81] и Едличка [Л. 121] *. В области энергий фотонов меньше 1,5 эв величины показателя преломления, которые приво дит Кунце, примерно на 0,6 больше, чем значения, полу ченные Уолисом. Едличка приводит только одно значение
Рис. 14. Зависимость показате |
Рис. 15. Зависимость коэффициен |
|
ля преломления |
CssSb от дли |
та поглощения Cs3Sb от энергии |
ны волны |
[Л. 138]. |
фотонов [Л. 96]. |
показателя преломления (2,59 при 7 600 А), которое хорошо совпадает с результатами других авторов.
1 Обстоятельное исследование оптических констант Cs3Sb выпол нено также Хлебниковым и Мела.мидом {Л. 288*]. (Прим. ред.)
Как видно из рис. 17, результаты всех опубликбййН' ных работ очень хорошо согласуются между собой. Это неудивительно, поскольку величина коэффициента по глощения в отличие от некоторых электрических харак теристик, рассмотренных в § 4-7, определяется собст-
Рнс. 16. Зависимость |
коэф- |
Рис. 17. Коэффициент поглоще- |
фицнента поглощения |
Cs3Sb |
ния Cs3Sb. Сравнение результатов |
от энергии фотонов [Л. 81]. |
[Л. 81, 96, 127, 138]. |
венными свойствами материала. Влияние дефектов или примесей проявляется в виде незначительной структуры на кривой поглощения в области энергии фотонов мень ше ] эв. Однако Уолис указал, что абсолютная величи на коэффициента поглощения, связанного с дефектами, так мала, что надежные измерения не могут быть вы полнены на тонких пленках СвзБЬ, используемых в экс периментах.
4-9. ИНТЕРПРЕТАЦИЯ ИЗМЕРЕНИИ
Большинство исследований, рассмотренных в преды дущих параграфах, было выполнено с целью изучения полупроводниковых свойств СэзЭЬ, а также выяснения механизма фотоэмиссии из этого соединения. Ниже об суждаются основные выводы, сделанные из этих экспе риментальных результатов.
Как уже отмечалось, |
сильное |
поглощение |
света |
в полупроводнике возможно |
только |
при энергии |
фото- |
61
.нов, достаточной для возбуждения электронов из валеШ'- иой зоны в зону проводимости. Фотопроводимость свя зана с этим же процессом, так что для 'получения фото проводимости с большим квантовым выходом необ ходимо, чтобы энергия фотонов превышала величи ну Ее. Таким образом, Ширина запрещенной зоны полупроводника может быть определена из измерений длинноволновой границы оптического Поглощения и фотопроводимости.
Следует отметить, что спектральные характеристики поглощения и фотопроводимости обычно асимптотически приближаются к оси абсцисс, так что часто оказывается необходимым сделать определенные теоретические пред положения для того, чтобы получить наиболее вероят ную величину.
В случае Cs3Sb Спайсер і[Л. 127] нашел, что спект ральная характеристика фотопроводимости так плавно
приближается к оси абсцисс, что определить |
значение |
Eg из этой кривой практически невозможно. В |
то же |
время порог оптического поглощения может |
быть доста |
|||
точно точно определен |
из кривой, |
представленной |
на |
|
рис. 17, что позволяет |
получить |
значение |
Eg=l,6 |
эв |
(Уолис|[Л. 138], Спайсер [Л. 127]).
Аналогично тому, как порог поглощения и фотопро водимости соответствует ширине запрещенной зоны Eg, порог фотоэмиссии наблюдается при энергии фотонов, равной (Eg+Ea), где Еа — электронное сродство. Важно подчеркнуть, что не существует прямых методов измере ния величины Еа. Поэтому значение Еа может быть по лучено только вычитанием Eg из (Eg+Ea). При опреде лении величины (Eg+Ea) по длинноволновой границе спектральной характеристики фотоэмиссии также суще ствует неопределенность, связанная с плавным ходом характеристики вблизи границы, из-за влияния дефектов иа фотоэмиссию.
Для того чтобы преодолеть эту неопределенность, Спайсер [Л. 127] вывел аналитическое выражение для спектральной характеристики фотоэмиссии полупровод ников. Добившись совпадения расчетной спектральной характеристики фотоэмиссии с экспериментальными данными в области больших энергий фотонов, Спайсер получил «теоретическую» кривую для CsaSb, из которой он смог затем определить «действительный» порог фото эмиссии материала. Эта кривая приведена на рис. 18.
Длинноволновая |
граница |
фотоэмиссии, |
определенная |
|||||||
из этой |
кривой |
|
(Eg+Ea) |
=2,05 эв, |
откуда |
электронное |
||||
сродство |
£ о = 0 , 4 |
5 |
эв. Спайсер указал, |
что отклонение |
||||||
экспериментальных |
данных от |
теоретической |
кривой |
|||||||
вблизи порога |
(рис. 18) можно |
объяснить |
возбуждени |
|||||||
ем электронов |
с |
уровней |
дефектов. |
Поскольку |
СэзБЬ —• |
|||||
полупроводник |
/;-тппа, фотоэмиссия |
в |
области |
фотонов |
с малой энергией связана, по-видимому, с возбуждени
ем заполненных |
акцепторов. В |
таком |
случае |
охлажде- |
|||||||||||
ние |
материала |
должно |
приве |
|
I—і—і—і—і—і—і—і |
||||||||||
сти |
к уменьшению |
фотоэмис |
|
||||||||||||
сии с этих центров. Это под |
|
|
|
|
|
|
|||||||||
тверждается |
данными, |
приве |
|
|
|
|
|
|
|||||||
денными на рис. 9. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
Следует |
отметить, |
что до |
|
|
|
|
|
|
|||||||
этой |
работы |
Спайсер а |
было |
|
|
|
|
|
|
||||||
принято, |
что |
величина |
(Eg + |
|
|
|
|
|
|
||||||
+Еа) |
близка |
к 1,6 |
эв, т. е. |
|
|
|
|
|
|
||||||
равна ширине запрещенной зо |
|
|
|
|
|
|
|||||||||
ны. |
Так, |
например, |
Апкер |
|
|
|
|
|
|
||||||
[Л. 104], основываясь |
на изме |
|
|
|
|
|
|
||||||||
рениях Бартона |
[Л. 136], пред |
|
1\2 |
' 2,0 |
2,8 |
3,бэв |
|||||||||
положил, |
что дно зоны |
прово |
Рис. |
18. |
Эксперименталь |
||||||||||
димости в Cs3Sb практически |
ная |
(сплошная |
линия) и |
||||||||||||
совпадает |
с уровнем |
вакуума. |
теоретическая |
(пунктирная |
|||||||||||
Это |
означает, |
что электронное |
линия) |
спектральные |
харак |
||||||||||
теристики |
квантового |
выхо |
|||||||||||||
сродство Еа |
= 0. Величина элек |
||||||||||||||
да |
фотоэмиссии |
из |
Cs3Sb |
||||||||||||
тронного |
сродства, |
полученная |
|
|
|
[Л. 127]. |
|
||||||||
Спайсером ( £ а = 0 , 4 5 |
эе),была |
|
|
|
|
|
|
||||||||
.подтверждена |
Тафтом |
и Филиппом (Л. 96], которые из |
|||||||||||||
измерений распределения электронов по энергиям |
и из |
||||||||||||||
оптических |
измерений |
получили |
минимальную |
величину |
|||||||||||
£а = 0,4 эв. |
Наиболее |
вероятная зонная |
схема |
С б з Э Ь |
|||||||||||
в упрощенной |
форме |
приведена |
на рис. 19. |
|
|
Модель, представленная на рис. 19, не учитывает ни наличия уровней в запрещенной зоне, связанных с де фектами, ни изгиба зон на границе с вакуумом. Оба эти эффекта, несомненно, имеют место, но соответствующие оптические и электрические измерения недостаточно полны и воспроизводимы. Как уже отмечалось, воспро изводимых результатов измерений уровней дефектов не удается получить на тонких поликристаллических плен ках, используемых для измерений, поскольку их свойст ва меняются от образца к образцу. С практической точ-
ки зрения очень важно, что, несмотря на это, фотоэмис сионные характеристики оказываются достаточно вос производимыми, за исключением припороговой области.
Можно высказать следующие качественные сообра жения о природе и свойствах уровней дефектов в CssSb.
1.Материал всегда имеет проводимость р-типа, по этому большинство уровней дефектов — акцепторы.
2.Положение акцепторных уровней относительно валентной зоны точно неизвестно, поскольку величина энергии активации, определенная из температурной за висимости проводимости, обнаруживает большой раз брос для разных образцов.
3.Согласно приблизительной оценке акцепторные уровни лежат примерно на 0,5 эв выше верхней грани цы валентной зоны.
4.Имеется убедительное доказательство того, что причина возникновения этого уровня заключается в стехиометрическом избытке сурьмы.
Если предположить, что уровень Ферми совпадает с акцепторным уровнем, то положение последнего долж но определять два важных свойства фотоэмиссионного материала: сопротивление и термоэлектронную эмиссию.
Как было отмечено Спайсером |
[Л. |
3], |
расположение |
|||||
акцепторного уровня |
вблизи |
валентной |
зоны |
полезно |
||||
с |
практической |
точки |
зрения, |
так |
как |
это |
приводит |
|
к |
уменьшению |
термоэлектронной |
эмиссии |
и увеличению |
Еа=0,№эв~$ I
—*—і—Ї '
£ |
=1бэ8 |
9 |
' |
Рис. 19. Упрощенная
проводимости. С этой точки зре-
ни я с л е Д У е т отметить одно необъ-
ясненное противоречие: хотя раз
брос |
измеренных значений |
энер- |
||
г и и |
активации |
свидетельствует |
||
о флуктуациях |
положения |
уров |
||
ня |
Ферми, |
термоэлектронная |
||
эмиссия и |
сопротивление |
Cs3Sb |
||
фотокатода |
достаточно воспроиз- |
водимы.
зон Cs3Sb. |
Поскольку |
Cs3Sb — полупро |
|
водник р-типа, |
следует ожидать, |
что энергетические зоны на границе с вакуумом изо
гнуты |
вниз, |
что |
благоприятно |
для |
фотоэмиссии. |
|
Спайсер |
[Л. |
113] |
обсудил |
аргументы |
за и против |
|
предположения о наличии изгиба |
зон їв Cs3Sb. Его аргу |
|||||
менты состоят в |
следующем: низкое |
«эффективное» |
||||
электронное |
сродство Cs3Sb |
и |
других |
антимонидов |
/>типа по сравнению с |
материалами |
га-типа позволяет |
||
предположить, |
что существует |
благоприятный изгиб |
||
зон. С другой |
стороны, |
хорошая |
воспроизводимость |
|
измерений порога фотоэмиссии |
указывает, что изгиб зон, |
который сильно зависит от уровней дефектов, играет незначительную роль. Основная трудность объяснения всех явлений, связанных с влиянием изгиба зон, заклю
чается в том, что до сих пор |
не |
существует |
никаких |
||||
экспериментальных |
методов, |
позволяющих |
отличить |
||||
действительное изменение |
электронного |
сродства |
от |
||||
«эффективного» изменения, связанного с изгибом |
зон. |
||||||
Измерения распределения змиттированных |
фотоэлек |
||||||
тронов по энергиям |
дают |
количественную |
информацию |
||||
о минимальной энергии, которая |
требуется |
электрону |
в зоне проводимости для возбуждения другого электро на из валентной зоны. Для большинства полупроводни ков порог генерации пар значительно больше, чем тео ретический минимум, соответствующий ширине запре
щенной зоны. Однако в Cs3Sb -порог равен 2эв |
[Л. 104], |
|||
т. е. только на 0,4 эв больше, чем ширина |
запрещенной |
|||
зоны. |
|
|
|
|
Согласно |
Тафту и Филиппу [Л. 96] |
и Спайсеру |
||
[Л. 105] такое |
исключительное поведение |
Cs3Sb |
може г |
|
быть связано |
с частичным |
нарушением упорядоченности |
||
кристаллической решетки |
Cs3Sb. |
|
|
Г л а в а п я т а я
Ф О Т О К А Т О Д Ы НА ОСНОВ Е О Д Н О Щ Е Л О Ч Н Ы Х АНТИМОНИДОВ (КРОМЕ Cs3Sb)
Соединения сурьмы с другими щелочными металлами (кроме Cs)—LisSb, Na3Sb, K3Sb и Rb3Sb — также были приготовлены и исследованы в виде тонких пленок. Длинноволновая граница и квантовый выход в видимой области спектра у этих четырех материалов ниже, чем у Gs3Sb. Этим объясняется, почему ни один из этих антимонидовне нашел практического применения в качестве фотокатода и почему они изучены значительно менее подробно, чем соединения сурьмы с цезием.
Описание свойств этих соединений мы начнем с Кз5Ь, поскольку этот материал изучен наиболее подробно.
5.-1.0 |
гд5 |