Файл: Иваницкий Г.Р. Исследование микроструктуры объектов методами когерентной оптики.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 22.06.2024

Просмотров: 61

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Таким образом, при параллельном переносе модуль спектра не изменяется |Si(co.v, соу) |= |S2(co.v, му) I. но по­

является

дополнительный

фазовый

множитель

ехр [/(со.-сДА'+а)уДг/)]. Этим обстоятельством

пользуются

для получения инвариантных к сдвигу описаний объекта [Л. 101]. Как уже отмечалось, все существующие светопрнемнпкп, включая глаз человека, реагируют только на освещенность и не замечают изменения фазы, поэтому при параллельном переносе элементов объекта в плоско­ сти Пя1 для наблюдателя характер спектра в плоскости

Плч не изменяется.

у') вокруг начала коор­

При повороте функции

динат на произвольный фиксированный угол а величина якобиана преобразования |D| = 1. Кроме того, известно [Л. 41], что если матрица А описывает поворот коорди­ натной сетки вокруг начала координат, то матрица, обратная к А, транспонирована с ней, т. е.

( А ) - » =

(А)'.

(30)

Учитывая (30) и (27), можно прийти к выводу, что

при повороте объекта

 

 

М =

L,

(31)

т. е. спектр поворачивается на такой же угол.

При равномерном изменении масштаба (сжатии и растяжении) функция fi(x', у') принимает тр^{тх,ту). При этом матрицы М н L, определяющие координаты точек объекта и его спектра соответственно во входной и частотной плоскостях, вырождаются в диагональные и принимают форму

 

М =

m

 

пг

(32)

 

0

 

I

 

 

 

 

 

 

 

 

пг

 

Величина |D|

согласно

(28) будет равна mг-. Спектр

(сйж, соу) преобразованной функции равен:

 

S2(wx,

+ 0О

 

 

 

Шу) = j j

f„ (rnx, my) exp [— /(шхх -f- totJy)] dx dy.

Вводя

новые

переменные x'=m x, y,= my, получим:

 

 

 

 

«-*->

 

 

>sK.

=

U * '. У')Х

 

30


X exp [ — j ^ Л+

у) ] dx' dlJ'-

(33)

Интеграл (33) есть не что иное, как спектр исходного сигнала fi(x', у') при частотах соJm и щ/т, т. е.

S2К , a>u) = — Sl

(34)

Итак, при равномерном сжатии точек объекта в пло­ скости Пл1 в частотной плоскости Плг во столько же раз расширяется спектр на оси частот и уменьшается мо­ дуль спектра, при равномерном увеличении размеров объекта происходит равномерное сжатие спектра и соот­ ветственное увеличение его модуля.

8. ПЛОСКИЙ ОБЪЕКТ С ХАОТИЧЕСКИМ РАСПОЛОЖЕНИЕМ И СЛУЧАЙНОЙ ОРИЕНТАЦИЕЙ ЭЛЕМЕНТОВ, ФОРМА

КОТОРЫХ ОТЛИЧАЕТСЯ ОТ КРУГА

Если Л0б (г, 0 ) — функция, описывающая распределе­ ние амплитуд в плоскости объекта, то при когерентном освещении и бесконечной апертуре системы спектр этой функции в полярных координатах можно записать:

 

оо

2г.

 

 

S06.a (р. ф) =

f г dr

I* Аоб (г,Ч) ехр {—/Г[гр cos (0 — Ф)]} с?0.

 

6

6

 

(35)

 

 

 

 

Периодичность

аргумента 0 в функции Л0б(г, 0)

по­

зволяет записать ее так:

 

 

 

00

 

Лоб(г,

0 ) = £ Ат {г) ехр(/т0).

(36)

 

 

 

1Н— — СО

 

В соответствии со стандартным приемом [Л. 78]

спектр этой функции можно выразить

 

 

 

00

(37)

S oG.a(P>

Ф )=

 

Sm (р) ехр

где

Ш =

— СО

 

 

 

 

 

 

Sm =

f Ат (г) Jm (гР) г dr\

(38)

 

 

 

О

 

Jm — функция Бесселя первого рода и т-го порядка.

 

31


Отметим в соответствии с формулой (31)

Л 0б ( Л 0) — S 06.r (P. Ф );

Л 0б [/'. (6 — « ) ] — 5 0б.а [р, (Ф — а )].

Если в дополнение к повороту функция Л0о(г, 0) сме­ щается в направлении 0Она величину г0 из своего преж­ него положения, то согласно формуле (29) спектр примет вид:

Soc.afp, (Ф—та)]ехр{—/[pr0cos (0О— Ф)]}.

(40)

Если имеется N объектов подобной формы и одинако­ вых размеров, разбросанных хаотически со случайной

ориентацией

в плоскости

(г, 0), то спектр для

всего

ансамбля непрерывающпхся объектов будет:

 

 

N

 

 

SN(Р.

ф) = S

5 0б.а [р, (Ф — а й )] ехр {—у fprs cos (0fi

Ф)]},

 

S=l

 

(41)

 

 

 

 

где

ag, rg,

Qg— случайные

переменные, суммирование

идет по индексам для всех объектов. Значение спектра более детально можно записать с учетом (37)

/V

 

/V

 

 

Sn = J ]

(Р)

ехр

(ф — ag

Ш= —00

 

g = 1

 

 

 

P 'fiC o s ( 0 g — Ф ) ] | .

(4 2 )

Суммирование по g во втором сомножителе формулы (42) может рассматриваться как суммирование векторов, имеющих единичную длину, случайную фазу или ориен­ тацию в комплексной плоскости.

Если любое значение фазы равновероятно, то в соот­ ветствии с теорией случайных процессов [Л. 65] наиболее ожидаемой величиной суммы по g будет Nl>2.

' Таким образом, наиболее вероятная величина интен­

сивности в спектральной

плоскости

будет:

 

 

 

 

 

 

 

00

 

 

5 НЛ, (Р,

Ф ) = < [SN(Р,

Ф )]2>

=

N

£

[ S m (р)]2,

(4 3 )

 

 

 

 

 

т = — со

 

 

где угловые

скобки означают

усреднение

по всему

ан­

самблю. Фактически это

другая

запись выражения

(22)

32


со

при Q = X [Sm(p)]2. На основании теоремы Парсеваля1

1П——0О

можно также записать:

о-

 

S„.v(P) = yv f Is a(p, Ф)Г^Ф-

(44)

6

 

Здесь берется N раз среднее в секторе йФ для каж­ дого угла (]> и для каждой отдельной частицы. Интенсив­ ность при этом есть величина, получаемая за счет стати­ стического усреднения амплитуд волн, дифрагируемых объектами в направлении угла Ф.

Таким образом, решая обратную задачу, т. е. измеряя интенсивность спектра как функцию вектора-радиуса р необходимо найти i[5a(p, Ф)] для каждой группы микро­ объектов, отличающихся своими геометрическими пара­ метрами. Затем на основании этого результата можно определить неизвестный параметр простых по форме ми­ крообъектов, для которых вычислено значение Q (напри­ мер, круглых объектов с различными радиусами, прямо­ угольных объектов с постоянной шириной, но с перемен­ ной длиной и т. д.).

Рассмотрим техническую реализацию этой програм­ мы. В этом случае основой расчетов может служить

интегральное выражение [Л. 76]

 

S„ (р) = j п (v) Q (р, v) dv,

(45)

v1

 

где v — изменяющийся параметр класса микрообъектов. Например, v может быть радиус круглых дисков, a n(v)dv — число дисков с радиусом v между v и v + dv.

На рис. 4 показана структурная схема установки и результаты измерении, полученные на ней [Л . 76].

Измерения производятся в фокальной плоскости (рис. 4), в ко­ торой собран прямой пучок; левее диафрагмы создается параллель­ ный монохроматический пучок света (при использовании излучения ОКГ диафрагма не нужна).

Измеряемые микрообъекты располагаются

на

предметном стек­

ле в рабочем пространстве установки (между

6 и

7). Свет, рассеян­

ный под данным углом Ф ь приходит в фокальную плоскость на за­ данное расстояние от центра. Регистрация S „(p) производится либо на фотопленку с последующим фотометрированием, либо фотоумно-

Формулировку теоремы Парсеваля см., например, в книге А. Арго «Математика для электро- и радиоинженеров». М., «Наука», 1965, стр. 664.

3—552

33


жителем. Последний перемещается в фокальной плоскости по ра­ диусу, от центра к периферии. Размер фокального пятна в этих из­

мерениях соответствовал Ф инн«10'.

Измерения S „(p) производились

для углов Ф 1 >|ФмI,„ и захватывали

область до

Ф |^5 -ь 6°. Освещен­

ность в фокальной плоскости убывает чрезвычайно

быстро,

пример­

но на порядок на каждый градус

угла Ф|.

При

столь

больших

Рис. 4. Структурная схема установки для измерения распределения частиц по размерам и результаты, полученные при ее использовании.

а — структурная схема установки; б — распределение частиц по размерам, по­ лученное на установке и микрофотографически (плоские модели метнл-

метакрнлатового порошка):

/ — оптический блок: 1 — точечный источник, 2 —

конденсорная линза, 3 — узкополосный светофильтр;

4 — точечная диафрагма,

5 — коллимационная линза;

6 — выходная диафрагма;

7 — приемная линза, 8 —

фокальная плоскость линзы

7, 9 — рабочее пространство, 10, II — нейтральные

ослабители, расположенные в фокальной плоскости; II — блок, преобразующий освещенность в электрический сигнал: 12 — двигатель фотоумножителя. 13 — ре­

версивная муфта, 14— ФЭУ,

15 — усилитель, 16 — функциональный потенцио­

метр; ///-счетно-решающий

блок: 17 — устройство дифференцирования.

18 —

функциональное устройство,

19 — блок

произведения, 20 — интегратор;

IV —

устройства управления {21), памяти (22),

индикация {23).

 

перепадах (на 5— б порядков) для измерений в области малых Ф 1 целесообразно использовать нейтральные ослабители. Фон прибора, возникающий за счет рассеяния на оптических элементах системы, вычитается при измерениях. На рис. 4,6 сопоставлены кривые рас­ пределения, полученные расчетом по формуле (45) (сплошные ли­ нии), с данными, полученными прямым измерением на микрофото­ графиях '(столбчатые кривые).

34