Файл: Атамалян Э.Г. Методы и средства измерения электрических величин учеб. пособие.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 25.06.2024

Просмотров: 152

Скачиваний: 7

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Т и п

Д и а п а з о н ч а с т о т

п р и б о р а

 

Л2-22 800 Гд ± 20%

Л2-23

760 Гц ± 5%

Л2-12

10-5-100 МГц

 

1,5 кГп

СП

 

 

 

П о г р е ш н о с т ь

П р е д е л ы и з м е р е н и я

и з м е р е н и я , %

hn b 3 -5- 300 Ом

5

>h2b (0,1 -5- 3) 10-3

 

h2ib 0,1-5-10

мкСим

 

(1 — Л21й) 0,003-5-0,3

 

hn e 0,1 -5- 10

кОм

 

Н12е (0,1 -5- 3) Ю-з

 

h22e (0,1 -5т 3) 10-1 Q im

 

№н е -И )

Ю-5-1000

 

^СйO' * ЕВО’

^CBS 0>03 -=- 1®®

МК^

h21b 0,9 -5- 1,0

 

5

h 22b 0,4-5-'4,0

мкСим

5

1СВО 5

50

мкА

5

Параметры диодов:

 

/0бр. 20 -5- 300 мкА

5

t V 0,5-5-2,0

В

5

Измеритель параметров высокочастотных транзисторов

| ^21и 10,5

y^MA/i,2

15

h21e 10 -5- 1000

10

ICB0 2-5- 100

мкА

2,5

Т а б л и ц а 9-1

Ре ж и м и з м е р е н и я

ис (2 -5- 99 В)

(0,03 4-29,9 мА)

/ Е 1 мА

^обр. = (Ю -^ ЮО В) + 3%

50 -5- 400 В ± 3%

Упр. = (3-5-100 мА) ± 3%

20 -5- 300 мА ±

3%

U c (2 -5- 100

В) ± 3%

 

/ £ (0,5 -5- 30

мА) ± 3

%


—о

oi

Т и п п р и б о р а

Л2-13

Л2-32

Л2-31

Л2-26

Л2-33

 

 

 

Продолжение табл. 9-1

Д и а п а з о н ч а с т о т

П р е д е л ы и з м е р е н и я

П о г р е ш н о с т ь

 

и з м е р е н и я , %

Р е ж и м и з м е р е н и я

 

На постоянном

токе

10, 20, 50, 100 МГц

На постоянном токе

Токи

0,1 ч - 120 мА

 

Измеритель

параметров

мощных транзисторов

 

 

h21E 3

1000

 

 

 

 

10 1

 

 

У21£ 100 мА/В 4 - 30 А/В

 

 

10 /

 

 

^ CBS'

U BESat 0'*

-г- 10 В

 

 

10

 

 

/ Св о .

! ЕВО

 

мкА -V- 100 мА

 

5

 

 

1CBS 10 мкА ч- 300 мА

 

 

5

 

 

Измерители

параметров

полевых

транзисторов

 

 

g fs 0,5 Ч- 30

мА/В

 

 

10; 15

 

 

/ GSS 0 , 3 * 10_1' +

| 0 _ 6 А

 

 

10

 

 

/О 50,1 4 -5 0

мА

 

 

 

5

 

 

U a s ith) ^,3

 

30

В

 

 

5

 

 

g /s 2 ч- 1000

мкСим

 

 

10

 

 

Измеритель статических параметров туннельных диодов

 

и г и 2 30 Ч- 700

мВ;

 

 

 

 

 

U-, 300 ч- 1500

мВ

 

 

для токов

1,5

 

 

 

 

 

 

 

Uii

£/2 5% -{-5 мВ

 

 

 

 

 

 

 

 

и 3 3

 

 

Измеритель

временных

параметров интегральных логических схем

I

3 4 - 1000 нс

 

 

 

 

I ±

15% + 1

нс I

и с (2 Ч- 20

В),

(0,1 Ч- 10

А)

/ с (0,1 Ч- 10

А),

(0,01 Ч-

1 А)

^ a s i ’ V a s i i О’3 "г- 50 В,

U DS 0,3

4 -5 0

В,

/ DS до 50 мА

 

 

U o s r ^ G S//0,3 4 -5 0

В

UDS 0,3 Ч- 50 В

 

 

-


назначен для измерения !гглЬ, fh

в диапазоне частот 5 н- 100 МГц;

погрешность

измерения

составляет

не более ±15% ; частота измере­

ния Гь'ьСс — 5

МГц; пределы измерения постоянной времени цепи

коллектора

150

1500

пФ Ом; погрешность измерения гь>ьСс не бо­

лее ± 10%.

В приборе

предусматривается

возможность установки и

контроля режима по постоянному току.

 

Прибор типа Л2-12

измеряет параметры

|/j2ie|, /i2ie0> I cbo высоко­

частотных транзисторов.

 

 

Технические данные приборов для измерения параметров полу­ проводниковых приборов даны в табл. 9-1.

Литература

ГОСТ 15172—70; 15605—70.

Радиоизмерительные приборы. Каталог — проспект. ВНИИТЭИР, 1971, 1972. Справочник по полупроводниковым диодам и транзисторам. Под ред. Горю­

нова Н. Н. «Энергия», 1968, 1969.

С т е п а н е н к о И. П. Основы теории транзисторов и транзисторных схем. «Энергия», 1967.

Транзисторы, Параметры, методы измерений и испытаний. Под ред. Бергель­ сона И. Г. «Советское радио», 1968.

Глава 10

ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

§ 10-1. Общие сведения

Развитие современных ЭВМ основывается на прогрессе электрон­ ной техники; так, на смену первому поколению ЭВМ (ламповым ЭВМ) с появлением транзисторов пришло второе поколение, полупроводни­ ковые элементы которого работают с меньшим потреблением мощности и превосходят ламповые элементы по быстродействию в 10 раз, а по надежности в 100 раз (это позволило расширить функциональные за­ дачи ЭВМ). Расширение функциональных задач ЭВМ привело к рез­ кому усложнению аппаратуры, увеличению ее веса и габаритов, росту стоимости и значительному снижению надежности. Решение возник­ шей на пути развития ЭВМ «проблемы больших количеств» элементов потребовало создания групповых технологических методов производ­ ства радиоэлектронной аппаратуры. Работы по микроминиатюризации радиоэлектронной аппаратуры привели в начале 60-х годов к появле­ нию нового направления — микроэлектроники, занимающейся со­ зданием функционально законченных элементов радиоэлектронной аппаратуры в виде интегральных схем (ИС).

Интегральной схемой (микросхемой) называют микроминиатюр­ ный функциональный узел радиоэлектронной аппаратуры, в котором элементы и соединительные проводники, входящие в схему узла, изготовляются в едином технологическом цикле на поверхности (или в объеме) материала основания (подложки) и имеют общую гермети­ зацию и защиту от механических воздействий. Первые ИС были при­ менены в ЭВМ. Опыт показал, что использование ИС в ЭВМ влечет за собой не только уменьшение веса и габаритов последних, но и резко улучшает их основные параметры: надежность, быстродействие, стои­ мость. С созданием ИС связано появление третьего поколения ЭВМ.

§ 10-2. Классификация интегральных схем

Интегральные схемы классифицируют по методу изготовления (тех­ нологии); степени интеграции элементов; характеру применения.

Классификация интегральных схем по методу изготовления. Су­ ществуют два основных технологических метода изготовления ИС: пленочный и полупроводниковый. Используя различные сочетания базовых технологических методов, реализуют следующие виды ИС

(рис. 10-1).

Полупроводниковой интегральной схемой называют микросхему,

элементы которой выполнены в объеме или на поверхности полупро­ водниковой подложки методами полупроводниковой технологии. По­ лупроводниковые ИС дают возможность реализовать схемы с повы­ шенным’ количеством активных элементов и эффективно защищать их от влияния внешней среды; являются наиболее перспективными для цифровой аппаратуры (на их основе в настоящее время создаются

178


большие интегральные схемы, которые характеризуются высокой плотностью упаковки: свыше 100 элементов в одном монокристалле).

Пленочной интегральной схемой называют микросхему, элементы и соединения которой выполнены в виде пленок различных материа­ лов, нанесенных на диэлектрическую подложку в определенной по­ следовательности. Пленочные ИС применяют в:

а) схемах, где пассивных элементов (резисторов, конденсаторов и т. п.) значительно больше, чем активных;

б) устройствах, где требуется высокая точность изготовления пас­ сивных элементов (генераторах, фазочувствительных схемах и т. п.).

Тонкопленочной интегральной схемой называют пленочную микро­ схему с толщиной пленок до 1 •10~в м.

Рис. 10-1. Классификация интегральных схем по ме­ тоду технологии

Толстопленочной интегральной схемой называют пленочную микро­ схему с толщиной пленок свыше 1 -1(Г6 м.

Гибридной интегральной схемой называют микросхему, часть элементов которой имеет самостоятельное -конструктивное оформле­ ние. Пассивные элементы и соединения гибридной ИС реализуют методами пленочной технологии, а в качестве активных элементов используют навесные бескорпусные полупроводниковые приборы.

Классификация интегральных схем по степени интеграции элемен­ тов. Со времени своего появления ИС прошли путь от схем с малым уровнем интеграции (1—2 транзистора и 2—3 резистора в корпусе) до схем, включающих в себя многоразрядные регистры, счетчики, запоминающие устройства. Подобная эволюция стала возможной благодаря резко возросшему уровню технологии и производства ИС.

Именно многообразие различных по функциональной насыщен­ ности ИС требует проведения классификации по степени интеграции элементов в пределах корпуса.

Если степень интеграции не превышает 20—40 элементов, то схема является малой, маломасштабной интегральной схемой (МИС).

Микросхемы со степенью интеграции около 50—100 элементов от­ носят к средним, среднемасштабным интегральным схемам (СИС).

179


Схемы, имеющие степень интеграции порядка сотни и более элемен­ тов, соединенных между собой многослойной коммутацией, называют

большими интегральными схемами (БИС) или субсистемами.

Развитие в последние годы технологии униполярных транзисторов со структурой металл — диэлектрик (окисел) — полупроводник (МДП или МОП-транзнсторы) позволяет качественно повысить степень ин­ теграции ИС. Сравнительная простота технологии изготовления, малое потребление мощности, низкая стоимость, а также ряд ценных схемо­ технических свойств МДП-транзисторов, позволяет строить на их ос­ нове устройства, начиная от настольных клавишных ЭВМ до косми­ ческих приборов.

Неограниченные возможности БИС позволили перейти к проекти­ рованию на их основе ЭВМ четвертого поколения.

Классификация интегральных схем по характеру применения. При анализе элементов ЭВМ, автоматизированных систем управления

(АСУ), радиолокационной и другой радиоаппаратуры

видно, что по

А

В

с

0

0

0

1

0

0

0

/

0

1

/

1

Рис. 10-2. Логический элемент И

назначению и характеру выполняемых функций их можно разделить на цифровые (логические) и линейные (аналоговые).

Цифровые элементы — элементы, выполняющие различные логи­ ческие функции алгебры: логики, обработки, хранения и передачи данных. Эти элементы используют в устройстве управления, логиче­ ских и арифметических узлах ЦВМ и АСУ.

Линейные

элементы — элементы,

используемые для

усиления и

согласования

сигналов, выработки

различных серий

импульсов,

в качестве фильтров, детекторов и

т. п. Их применяют

в устрой­

ствах запоминающих,ввода-вывода ЦВМ, а также в аппаратуре связи. По характеру применения ИС делят также на цифровые и линей­

ные ИС.

Цифровые ИС используют в качестве инверторов, клапанов и дру­ гих логических схем в устройствах обработки и передачи информа­ ции; триггеров в регистрах ЦВМ. В цифровой аппаратуре информация имеет двоичный вид и представляется двумя уровнями напряжения: логического нуля «0» и логической единицы «1» (для определенности можно считать, что «0» соответствует низкий уровень напряжения, а' «1» — высокий).

Все арифметические и логические устройства ЦВМ основаны на использовании трех основных логических элементов: И — схемы совпадения, ИЛИ — собирательной схемы и НЕ — схемы инвертора. На рис, 10-2 приведены электрическая эквивалентная схема элемента И

180