Файл: Цифровые многозначные элементы и структуры учеб. пособие.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.07.2024

Просмотров: 130

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Надежность элемента по постепенным отказам Р2 равна вероят-

ности того, что т — мерный вектор A (/), определяющий работоспо­ собность элемента, находится в заданной области D (k), то есть

 

 

P2(t,k) = P{A(t)£D(k)}.

Здесь А (0 =

(А1 (О,

А 2 (/), .... A m(t))\ A t (t) = ср,- (а, (/).......ап (/)),

(г = 1 , 2 , ... ,

т), dj (t) — параметры радиодеталей, из которых состо­

ит элемент (/'

= 1 , 2 ,

..., п (к)).

Так как анализ надежности многоустойчивых элементов в общем

виде требует громоздких выкладок, ограничимся случаем, когда т =

1 .

Тогда при

А 0 =

А х (0)

ф 0:

 

 

Р А ‘,Щ =

Р (Л (1

- р (к)) A (t) С А0(1 + р (к))}

 

 

 

 

=

р {

А (-л 7 л° | < р (^)}’

 

 

где А 0 (1 — р (k))

и Ад (1 + р (к)) — границы допустимых

значений

величины

А (/) =

А х (t).

 

 

со­

Анализ схем многоустойчивых элементов показывает, что для

ставных элементов [25 ], у которых число k пропорционально

количе­

ству однотипных звеньев, в довольно широких пределах р (к) — const, п (к) = к. Для позиционных элементов, у которых число устойчивых состояний не зависит от сложности схемы, п (k) = const, а р (к) моно­ тонно стремится к нулю при возрастании k. Отсюда следует, что для

составных

элементов

 

 

 

 

 

 

 

 

P(t,k) = Pc (t,k) = e - KktP2(t),

(5.5)

где А0 =

к

п (k) =

const,

к0=

n(k)

 

 

2

kjt для позиционных элементов

 

 

 

 

п

( k )

 

 

 

 

P(t, к) =

Pn(t, k) = e- v

P{

 

< Р ( 6)},

 

где к0 =

n{k)

 

 

 

 

 

 

^

kj = const.

 

 

 

 

 

 

/=>

 

 

 

1, 2, ...,

п) во времени можно

Изменение параметров а; (/), (/ =

приближенно представить

в виде

 

 

 

 

 

 

 

а, (0 =

(«/о ±

Да/о) (1 + X-it),

 

где X j — случайная величина с

плотностью

распределения fj

(х/),

а Да/0 обусловливается погрешностью в установке параметра

(/)

иего изменениями под влиянием допустимых колебаний температуры

идругих физических факторов внешней среды.

Так как Да!о <С а/0 и Xjt <<£ 1, то

At = <р {ах (0, a, (t)..........

ап (t) = А0 + V (а/цХ/t ± Ла/0) Bh

 

/= 1

158


где Аа =

А (0), В,- =

дц>(а10, о20, . . . , ап0)

(/ 1 , 2 , .. *, п)*

 

 

 

 

dai

 

 

 

Таким образом,

 

 

у (к) — ДЛ

 

 

Р

А (0 -

< р (й ) = Р | У | «

(5.6)

 

А0

t

 

 

 

 

 

где Y =

V

°/ов/ у

АЛ = У]

Дл/0В/

 

 

Л

 

 

 

/=1

~ л Г Х/>

/= 1

 

 

 

 

 

 

 

Из выражения (5.6) видно, что с точки зрения надежности пози­ ционных элементов существует максимально допустимое число km =

= [2 ] — 1 состояний

([2 ] — ближайшее к z большее целое число),

которое определяется

из уравнения р. (2) — АЛ = 0.

При k С km надежность Рп позиционных элементов

 

| А ( / г ) — Д А

 

t

Pn(t,k) = e~Kt

\

ф (у) dy,

(5.7)

ц (£ ) — Д Д

 

 

 

t

 

 

где ф (у) — плотность распределения

случайной величины

У.

Из выражений (5.5) и (5.7) видно, что с ростом k надежность мно­ гоустойчивых элементов монотонно уменьшается. Однако это еще не значит, что применение таких элементов для построения цифровых устройств приводит к понижению их надежности. Например, если необходимо построить регистр для запоминания чисел, меньших или равных N, где N — некоторое большое число, то для этого потребу­

ется [log^AM с» элементов с числом состояний k. Следовательно,

с ростом k число элементов, необходимых для построения цифровых устройств с объемом памяти N, уменьшается, что способствует повы­ шению надежности этих устройств. Поэтому более полной характе­ ристикой надежности многоустойчивых элементов следует считать величину

P'(t,k) = P ~ k (t,k),

(5.8)

которую назовем приведенной надежностью.

Для приведенной надежности составных элементов из (5.5) и (5.8) получим

 

 

 

КЫ+ЬЦ)

 

 

 

K(t , k) = e

tnk .

 

где b (t) =

—InP, (t)

> 0. Нетрудно показать, что Pc (t, k)

при t >

> 0 имеет

максимум

в точке k =

z > 2,71, где z является

корнем

уравнения z In 2 = 2 -j— A-r- .

159



Таким образом, для составных элементов существует оптимальное

число k0 состояний, равное [г] 1

ИЛИ IZJ при котором приведенная

надежность максимальна

(рис. 95),

причем k0 > 3 .

Для

позиционных

элементов

 

также существует оптимальное чи­

 

сло состояний, при котором при­

 

веденная

надежность

элементов

 

максимальна.

Это следует из того,

 

что 2 <

k <

km. Однако k0 очень

 

зависит от вида функций

р (k) и

 

ф (у) и сделать какие-либо

выводы

 

 

 

 

 

20

40

60

во

Рис. 95. К расчету приве­

 

 

 

 

 

к

 

Рис.

96. Зависимость приведен­

денной надежности много­

 

ной

надежности

многоустойчи­

устойчивых элементов.

 

 

вых элементов от числа их сос­

 

 

 

тояний при ДЛ = 0,01:

 

о его величине в общем

случае не

I — е~^о^=0.9; at= 0,01; 2 — е—^ =

= 0,9; о* = 0,1;

3 — е

= 0,3;

представляется возможным.

Если

at =

0,901.

 

 

 

случайные величины X/,

(/ =

1 , 2 ,

 

 

 

 

 

..., п) имеют примерно одинаковые дисперсии, то вне зависимости от

вида функций f](xj)

при п = 5 ч- 10 можно

утверждать,

что случай­

ная величина Y распределена

по нормальному закону.

Если к тому

же предположить, что математическое ожидание М (Y) =

0, а р (1г) =

то

 

1+ААА

 

1

 

 

 

kt

У*

In k

 

 

 

 

2о2 dy

 

 

 

 

l-k& A

 

 

 

 

 

kt

 

 

 

где а 2—‘дисперсия

случайной

величины Y.

График

зависимости Р'п

от k приведен на рис. 96. На рис. 97 показано, как зависит оптимальное

число

k0 состояний позиционных

элементов от времени при Х0 =

= 10

°ч -I и а =

10 _6 ч~‘.

что с увеличением числа состояний

Таким образом,

несмотря на то,

надежность многоустойчивых элементов уменьшается, общая надеж­ ность устройств, построенных на их основе, в некоторых случаях может быть значительно повышена.

160


 

Более точная подстройка параметров многоустойчивых элементов

и облегчение условий работы,

то есть

уменьшение ДА, приводит

к увеличению к0— оптимального числа со­

ко

стояний (рис. 96). В моменты времени, ког-

100

да преобладают внезапные отказы, надеж-

$q

ность и оптимальное число состояний пози­

60

ционных элементов увеличиваются, а состав-

ных — уменьшаются (рис. 97).

При нали-

^

чии сильных механических воздействий

на

го

-----------------------------------------------------------Рис. 97. Зависимость оптимального числа состоя­

 

ний

многоустойчивых элементов от

времени при

 

Я0 =

Ю- 5 ч- 1 , а = 10_6 ч ~‘ и АЛ =

0,01.

 

 

конструкцию цифрового устройства следует применять позиционные элементы, так как в этих условиях надежность определяется в основ­ ном внезапными отказами [7]. В стационарных условиях более на­ дежными являются составные элементы, так как здесь преобладают постепенные отказы.

§ 5.8. Надежность фазо-импульсных многоустойчивых элементов

Фазо-импульсные элементы являются позиционными. Следователь­ но для них справедливо все сказанное в § 5.7 о надежности позици­ онных элементов, то есть существует максимально допустимое число kmсостояний и оптимальное k0 число состояний фазо-импульсных эле­ ментов. Оценим указанные величины для фазо-импульсного элемента, схема которого приведена на рис. 32.

Анализ работы этого элемента показывает [26], что более всего на его надежность по постепенным отказам влияет время Т заряда конденсатора С от нуля до опорного напряжения U0. Это время равно

Т = т In ь — и„ ’

где т = RC — постоянная времени цепи заряда конденсатора С от источника Е (на рис. 32 RC = R XC и Е = Ег — 27 В).

Элемент будет обладать k устойчивыми состояниями, если

 

к ~~{ < Т < —

где f — частота

синхронизирующих импульсов.

Отсюда получаем

 

 

+ ^ г4 г

где

2k — 1

тп = -------- г— .

2/ In t - U 9

161