Файл: Утевский, Л. М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 14.10.2024

Просмотров: 111

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

П Р И Л О Ж Е Н И Е I V

СХЕМЫ НЕКОТОРЫХ СОВМЕСТНЫХ ЭЛЕКТРОНОГРАММ ОТ Ф Е Р Р И Т А (МАРТЕНСИТА) И ЦЕМЕНТИТА

ПРИ СОБЛЮДЕНИИ

ОРИЕНТАЦИОННОГО

СООТНОШЕНИЯ

Ю. А. БАГАРЯЦКОГО:

< Ю 0 > ц | | < 1 1 0 > а ,

< 0 1 0 > ц | | < 1 1 1 >

И < 0 0 1 > 1 , | | < 1 1 2 >

 

 

Ц

OS

 

На приведенных ниже схемах рефлексы цементита обозначены точками, а рефлексы о. ц. к. железа — светлыми кружками. Другие примеры см. в гл. 17 п. 2.

На схемах указаны положения всех рефлексов, встречающихся на экспериментальных электронограммах, в том числе рефлексов, запрещенных структурным фактором, но появляющихся вследствие кратных отражений.

321 231

 

 

 

О

О .

 

©

 

 

 

 

163

 

 

 

 

 

 

 

 

 

002

 

 

 

 

 

 

011

 

oil

 

 

 

 

 

(?)

©

 

121

021

121

 

 

012

ф

 

 

 

 

 

 

ООО

" у

ioo °2Р 100

 

 

©

• .

 

570


 

112

 

• 002

 

• 112

 

©

°

 

о

 

©

 

 

о

 

о

о

о

 

о

#

 

°

*

°01/ *

о

 

°

 

*<70/ ° 010*

°

 

•»W о

о Off* 110

 

®

 

<>(§>)

 

о

(5)

 

о

 

о

 

о

 

о

 

 

о

 

о

 

 

 

 

 

 

 

О

«

 

 

 

 

®

о

о

®

°

о ®

 

 

 

 

 

112

002

112

о• о

//2• • //Р

НО

/00

ОООт

110

о

® •

о

о э ©

О. 020 9 121

Q©

#«

101 •

 

-

 

W •

 

 

 

ООО *

 

 

.

 

ф

 

 

 

 

 

о//2

.?// //г

/0/ ••

'

• • •

[Ш]а // / / / / у

36*

571



П Р И Л О Ж Е Н И Е V

ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП В ЗАВОДСКОЙ ЛАБОРАТОРИИ

Использование просвечивающего электронного микроскопа целе­ сообразно и эффективно для изучения структурных причин влияния вариаций химического состава (включая примеси) и технологии па свойства металла. Ниже названы лишь основные направления иссле­ дований.

1. И с с л е д о в а н и е

м и к р о с т р у к т у р ы ,

выявляемой

травлением

шлифа (в особенности плохо

разрешаемой

металлогра­

фически);

распределения

фаз; формы,

размеров и распределения

дисперсных включений, в том числе неметаллических. Объект иссле­ дования в микроскопе — фольга или реплика (например, углеродная [3—6; 8 ] ) , копирующая рельеф протравленного шлифа и несущая в себе включения дисперсных фаз, пассивных в травителе, исполь­ зованном для отделения реплики от образца; реплики без включений пригодны лишь для сравнения объектов с известным количественным соотношением фаз и при самой тщательной подготовке шлифа, про­ травленного для полного снятия наклепанного при шлифовке поверх­ ностного слоя.

2. М и к р о д и ф р а к ц и о н н а я и д е н т и ф и к а ц и я метал­ лических, карбидных, нитридных, интерметаллидных фаз и неметал­

лических

в к л ю ч е н и й , в особенности дисперсных. Объект

иссле­

дования

в микроскопе — фольга или реплика с включениями

опреде­

ляемой фазы. Надежность анализа дифракционных картин должна

быть

обеспечена мерами,

изложенными в гл. 4, 9, 15 и

16.

3.

И с с л е д о в а н и е

п о в е р х н о с т и и з л о м а

— нетравлен-

ной или слегка протравленной. Необходимо соблюдать максималь­ ную осторожность при получении излома и при дальнейших мани­ пуляциях с ним. Объект исследования в микроскопе— реплика. Воз­ можно, хотя и затруднительно, изготовление фольги, одна из поверх­ ностей которой является поверхностью излома.

Некоторые методические детали и типичные фрактограммы мож­ но найти в альбоме «Электронномикроскопическая фрактография» (М., «Металлургия», 1973), созданном на заводе «Красный Октябрь».

4. И с с л е д о в а н и е

д и с л о к а ц и о н н о й

с т р у к т у р ы

металла на разных стадиях

термической и пластической обработки,

однородности деформации и влияния на нее включений разной при­ роды и формы; определение степени и однородности протекания про­ цессов полигонизации и рекристаллизации; изучение характера выде­ ления различных фаз на дислокациях. Объект исследования в микро­ скопе — только фольги.

Быстрое получение результата электронномикроскопического ис­ следования далеко не всегда возможно, и это следует учитывать при постановке работы, заранее методически не подготовленной. Однако отработка методики и накопление некоторого опыта позволяют до­ статочно оперативно — даже для заводской лаборатории — решать многие вопросы.

572


СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. Р а к и н В. Г., Б у й н о в Н. Н. — ФММ, 1959, т. 7, вып. 6,

с. 939—943.

2.Справочник по электронной фрактографии. Вып. 1\. М., ОНТИ ВИАМ, 1967, 814 с. с ил.

3.Г а р д и н А. И. Электронная микроскопия стали. М., Металлургиздат, 1954. 234 с. с ил.

4. П и л я н к е в и ч А. Н.

Практика электронной микроскопии (ме­

тоды препарирования).

Киев, Машгиз, 1961. 175 с. с ил.

5.Металловедение и термическая обработка (справочник). М., Металлургиздат, 1961. 1656 с. с ил.

6. Лаборатория

металлографии. М., «Металлургия»,

1965.

439 с.

с ил. Авт.:

Е. В. П а н ч е н к о, Ю. А. С к а к о в ,

Б. И.

К р и -

м е р , П. П. А р с е н т ь е в , К. В. П о п о в , М. Я- Ц в и л л и н г .

7. Г о р е л и к С. С ,

Р а с т о р г у е в Л. Н.,

С к а к о в Ю. А. Рент­

генографический

и

электроннооптический

анализ

(Приложения).

М., «Металлургия»,

1970. 107 с. с ил.

 

 

8. У т е в с к и й Л.

М. — «Заводская лаборатория»,

1952, № 6,

с.695—698.

9.«Электронная микроскопия тонких кристаллов». М., «Мир», 1968.

 

574 с. с

ил. Авт.: П.

X и р ш, А. X о в и, Р. Н и к о л

с о н ,

 

Д . П э ш л и, М. У э л а н.

 

 

10.

Т о м а с

Г.

Электронная

микроскопия металлов. М., ИЛ,

1963.

 

347 с. с ил.

 

 

 

 

П. А м е л и н к с

С.

Методы прямого наблюдения дислокаций. М.,

 

«Мир», 1968. 440 с. с ил.

 

 

12.

Х е й д е н р а й х

Р. Основы просвечивающей электронной

мик­

 

роскопии. М., «Мир», 1966. 471 с. с ил.

 

13.

Ф р и д е л ь

Ж .

Дислокации. М., «Мир», 1967. 643 с. с ил.

 

14.К о т т р е л л А. X. Дислокации и пластическое течение в крис­ таллах. М., Металлургиздат, 1958. 267 с. с ил.

15.

Х а л л

Д.

Введение

в

дислокации. М., Атомиздат,

1968.

280 с.

 

с ил.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

16.

Н о в и к о в

И.

И.

Дефекты

кристаллической

решетки

метал­

 

лов. М., «Металлургия»,

1968. 188 с. с ил.

 

 

 

 

 

17. М a k i n

М. J. — «Phil.

Mag.»,

1968, v. 18, №

153,

p. 637—654.

18.

M o r r i s

D. V. R. — «PhiI. Mag.», 1970, v. 22, № 180,

p. 1273—

 

1278.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

19.

Ж д а н о в

Г. С ,

В е р ц н е р

В. П. — Д А Н СССР,

1965, т. 163,

 

№ 4, с. 865—867.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

20.

Э н д р ю

с

К-, Д а й с о н

Д.,

К и о у н С .

Электронограммы

 

и их интерпретация. М.,

«Мир», 1971. 256

с. с ил.

 

 

 

21.

А г m i t a g е W. К-,

М а с С о n a i 11 А. — «J. Scient.

Instrum.»,

 

1964, v. 41, № 6, p. 401-403.

 

 

 

 

 

 

22.

A g a r

A. W. — «Brit. J.

 

Appl.

Phys.», 1960, v.

11,

p.

185—187.

23.

H e i m e n d a h l M ,

В e 1 1 W.,

T h o m a s

G . - « J .

Appl.

Phys.»,

 

1964, v. 35, № 12, p. 3614—3616.

 

 

 

 

 

 

573