Файл: Утевский, Л. М. Дифракционная электронная микроскопия в металловедении.pdf

ПРЕДИСЛОВИЕ

Эта книга призвана помочь металловеду практически овладеть методом просвечивающей дифракционной элек­ тронной микроскопии — приемами съемки и объективно­ го анализа электронных микрофотографий и микроди­ фракционных картин для решения типичных металловед­ ческих задач, помочь полнее использовать возможности метода.

За последние годы изданы капитальные учебно-мето­ дические руководства и монографии по электронной микроскопии, дефектам в кристаллах и физическому ме­ талловедению, пользуясь которыми специалист, имею­ щий современную общую физико-математическую подго­ товку, может приобрести научную и методическую квалификацию, необходимую для результативного при­ менения дифракционной электронной микроскопии в ис­ следованиях металлов и сплавов.

Фундаментальное руководство по теории и практике электронной микроскопии «Электронная микроскопия тонких кристаллов» издано в 1965 г. английскими металлофизиками П. Хиршем, А. Хови, Р. Никольсоном, Д. Пэшли и М. Уэланом — создателями теории дифрак­ ционного контраста и авторами ряда работ, ставших классическими. Совершенно очевидно, что эта книга, вы­ шедшая в русском переводе в 1968 г., еще долго не уста­ реет. Но следует считаться и с тем, что рассчитана она на читателя, имеющего достаточно солидную подготовку в области кристаллографии, классической оптики, кван­ товой механики, теории упругости, хорошо владеющего современными дислокационными представлениями. Коро-

че говоря, книга рассчитана скорее на физика, чем на металловеда. И естественно, что в этой книге, как и в других монографиях и руководствах по электронной микроскопии, не получили достаточного освещения мето­

пии появилось немало нового, позволяющего точнее ре­ шать различные структурные задачи, в том числе и та­ кие, которые еще недавно нельзя было даже поставить. Наиболее важное и разбросанное по разным журналам, не всегда доступным, должно быть принято на вооруже­ ние металловедами-микроскопистами. Мы надеемся так­ же, что для начинающих может быть полезным и соб­ ственный методический опыт авторов.

Все это и побудило нас составить настоящую книгу, в которой основное внимание уделено тем вопросам, ко­ торые меньше других отражены в литературе, но повсе­ дневно возникают при постановке и в ходе электронномикроскопического исследования металлов и сплавов. Так, в книге более детально и конкретно, чем в имею­ щейся литературе, показаны приемы и техника построе­ ния модели обратной решетки кристалла и ее сечений для расшифровки электроннодифракционных картин в целях фазового анализа и определения локальной кри­ сталлографической ориентировки и разориентировки — тем более, что даже в монографии [ 1 ] , специально по­ священной этому вопросу, упущен ряд важных моментов. Другим специфическим для электронной микроскопии подходом к решению многих вопросов металловедения и физики металлов является определение ориентационных и габитусных соотношений фаз по дифракционным картинам и микроизображениям с помощью стереогра­ фических проекций, матриц соответствия и моделей сов­ мещенных обратных решеток. Поскольку ни в учебной, ни в монографической литературе эти приемы не рас­ смотрены совместно, им уделено значительное место.

Материал книги расположен в той последовательно­ сти, в какой выполняется исследование, начиная от тех­ нической подготовки эксперимента и изготовления об-

10

ков, В. М. Косевич, А. Г. Козлова, Е. А. Пикус, А. Б. Ноткин, Г. Д . Сухомлин, М. А. Ногаев, П. В. Терентьева,

А.В. Суязов, В. И. Иконников, В. К. Беляев.

Т.А. Дзиграшвили выполнил большую часть рисун­ ков. Помощь в подготовке книги оказали: Л. А. Морозо­

вых превращений Института металловедения и физики металлов Ц Н И И Ч М при постоянной и квалифицирован­ ной помощи Н. Н. Коноховой, Т. М. Климовой, С. Н. Вью­ новой, Л. А. Болдыревой, Т. Г. Валовой.

Мы весьма признательны докт. техн. наук проф. Ю. А. Скакову за критический просмотр рукописи и цен­ ные рекомендации, которые были учтены при редактиро­ вании.

Основываясь при составлении этой книги главным образом на собственном опыте, мы, возможно, какие-то вопросы осветили слишком подробно, а какие-то скудно или даже вовсе упустили и с благодарностью и интере­ сом примем любые замечания и советы.

12