Файл: Пикаев, А. К. Дозиметрия в радиационной химии.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 137

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
Рис. 3. Зависимость сечения фотоэф­ фекта а для свинца от энергии фото­ на Еф

быть выбит электрон c L - и более высоких оболочек. Поэтому сече­ ние* фотоэффекта имеет скачки при энергиях фотонов, равных энер­ гиям связи электронов. На рис. 3 в качестве примера приведена зависимость сечения фотоэффекта для свинца от энергии фотона [8].

Вероятность фотоэффекта возрастает с увеличением атомного номера материала и уменьшается с ростом энергии фотона. В ча­ стности, вероятность этого процесса уменьшается при увеличении энергии Е фотона приблизительно по закону Е~3(при Е < 0,5 Мэе)

и по закону Е~г (при Е

0,5

Мэе).

 

Подчеркнем, что в ослабле­ нии фотонного излучения при прохождении его через среду фотоэффект играет преоблада­ ющую роль для излучений с энергией ниже 0,1 Мэе и для сред с атомным номером более

20.

Комптоновское рассеяние. Комптоновским рассеянием на­ зывается процесс взаимодейст­ вия фотонного излучения с ве­ ществом, в котором фотон в ре­ зультате упругого столкнове­ ния с электроном теряет часть своей энергии и изменяет на­ правление своего первоначаль­ ного движения, а из атома вы­ бивается электрон отдачи. В ли­ тературе встречаются и другие названия этого процесса: эффект Комптона, некогерентное рас­ сеяние. Электрон отдачи ча­

сто называют также комптоновским электроном. Схематически процесс комптоновского рассеяния показан на рис. 4.

Энергия Е электрона отдачи равна

Е — hvo hv,

(23)

где

hv0 — энергия первичного фотона,

a hv — энергия рассеян­

ного

фотона.

 

*Вероятность протекания того илн иного процесса характеризуется сечением, которое измеряется в см2. 10~24 см2 составляет барн. Сечение означает отно­ шение числа элементарных актов какого-либо процесса в 1 сек. на атом, яд­ ро или частицу к числу падающих частиц на 1 см2 в 1 сек. Оно обычно обо­ значается буквой а.

23


Величины Е и hv можно найти по формулам

hvо

 

В ~ 1 + 0,51/ [/iv0 (1 cos 0)]

(24)

 

 

 

 

 

 

0,51

 

 

(25)

 

/iv“

1 -!- 0 ,51//п’о — cos 0

 

 

 

 

В

этих

формулах 0,51

Мэе) — это иг0с2 (т0 — масса

покоя

электрона,

а с

— скорость света). Угол 0 показан на рис. 4.

 

'

Свободный.

/РассЕЯНный

 

зпектрон

\

ho /

ротон

 

 

ho0

 

 

\ / в

 

 

 

Подог ’щид тотон

 

Рис. 4. Схема процесса

ком­

 

 

 

 

дяонтроп'п

птоновского рассеяния средой

 

 

 

 

фотонного пзлученпя

 

 

 

 

 

отдооо

^

 

 

На рис. 5 приведена зависимость доли энергии первичного фотона, передаваемой электронам отдачи, от энергии фотона [11]. Кривая распределения электронов отдачи по энергии имеет резко выраженную границу, соответствующую максимальной энергии Ет&х электрона отдачи (рис. 6). Величина 2?т ах определяется из формулы

Л\'о

(26)

•^гаах — 1-j- 0,25/hv0 '

Рис. 5. Зависимость доли / энергии первичного фотона, передаваемой элек­ трону отдачи, от энергии фотона

Рис. 6. Дифференциальное сечение в для комптоновского эффекта

как функ­

ция энергии электронов Едл в случае фотонов с энергией Еф = 0,2

-н 1,2 Мэе

На рисунке указаны также величины максимальной энергии электронов отдачи

24


На рис. 6 иа оси ординат отложены сечения взаимодействия на электрон и иа единичный интервал энергии [8].

Комптоновское рассеяние является одним из наиболее суще­ ственных процессов взаимодействия фотонного излучения в срав­ нительно широкой энергетической области. Например, оно доми-\ нирует над другими процессами в свинце, если энергии фотонов равны 0,5 —5 Мэе, в железе при энергиях 0,1 —10 Мэе, в алюминии

при энергиях 0,05—15 Мэе и в воздухе при

энергиях 0,02 —

23 Мэе.

 

 

 

Чтомноо

Позитрон

 

Ядра

 

 

hv > Zm0a z

 

Рис. 7. Схема процесса обра­

Подающий /ротон

 

 

зования электронно-позитрон­

Элвктрон о~

ных пар

 

Образование электронно-позитронных пар. Этот эффект со­ стоит в исчезновении фотона в кулоновском поле ядра или элек­ трона и создании пары электрон — позитрон (рис. 7). При этом образовавшейся паре передается вся энергия h v фотона за вычетом энергии покоя возникшей пары, равной 2лг0с2 = 1,022 Мэе, т. е.

E+ -j-E - = hv 2тас-,

(27)

где i?+ и Е_ — соответственно энергии позитрона и электрона. Таким образом, данный эффект имеет порог, равный 1,022 Мэе.

Сечение рассматриваемого процесса возрастает с увеличением энергии фотона и увеличивается приблизительно пропорциональ­ но квадрату атомного номера среды.

Образование пар сопровождается относительно мягким у-из- лучением. Природа его такова. Позитрон нестабилен в присутствии электронов среды, и он быстро исчезает путем рекомбинации с од­ ним из электронов (в основном свободных) * . При этом исчезно­ вение позитрона приводит к испусканию эквивалентного количе­ ства энергии в виде фотонного излучения. Возникают два фотона

сэнергией 0,511 Мэе.

Вкулоновском поле орбитального электрона возникают пары,

приводящие к образованию триплета, т. е. пары электрон — по­ зитрон плюс электрон, в поле которого протекает процесс и кото­ рый выбивается из атома. Пороговая энергия для образования триплета равна 4 тп.0с2. Этот процесс имеет небольшое значение по сравнению с процессом образования пары в поле ядра.

Другие виды взаимодействия фотонного излучения. Когерент­ ное (томпсон-рэлеевское) рассеяние представляет собой рассеяние

* Этот процесс называется аннигиляцией.

25


фотонов связанными атомными электронами, при котором атом ни возбуждается, ни ионизируется. Этот процесс протекает, в ос­ новном, в случае фотонов низкой энергии и материалов с большими атомными номерами. Рассеянные фотоны имеют ту же длину вол­ ны, что и первичные, т. е. материалу не передается никакой энер­ гии. Имеет место только ослабление первичного пучка.

Фотораспад ядер (или ядерный фотоэффект) — это процесс взаимодействия фотонного излучения с ядрами, приводящий к ис­ пусканию нейтрона, протона или а-частицы. Он имеет место в том случае, когда энергия фотона превышает энергию связи соответ­ ствующей частицы в ядре. Фотораспад характерен для фотонного излучения высокой энергии (выше 10—15 Мэе для материалов с низкими атомными номерами и выше ~ 7 Мэе для материалов с большими атомными номерами). Исключение составляют реакции (у, п) для дейтерия и бериллия, которые начинают протекать с энергией фотонов 2,23 и 1,665 Мэе соответственно (см. также стр. 37).

Ослабление инт енсивност и и поглощение энергии фотонного и злучен и я

п р и прохож дении через вещество

В результате протекания различных процессов взаимодей­ ствия с веществом интенсивность потока фотонного излучения при прохождении через вещество уменьшается. Возьмем узкий моно­ хроматический пучок фотонов, падающий на прибор-детектор, измеряющий интенсивность (рис. 8). Если между этим прибором и источником излучения находится какой-либо поглотитель тол­ щиной АI, помещенный в пучок, то интенсивность I пучка при про­ хождении через этот поглотитель уменьшится на величину АI,

д / = _ | а/ д /,

(28)

где |х — коэффициент пропорциональности, называемый линей­ ным коэффициентом ослабления.

После перегруппировки уравнения (28) и интегрирования его от 0 до I получаем

I = h e-W ,

(29)

где /„ — начальная интенсивность излучения.

Уравнение (29) выражает общеизвестный экспоненциальный закон ослабления.

Для пучка фотонов с различными энергиями закон ослабления выражается формулой

I = Jie-W

+

/ 2e-W + . . . + I.e"^1,

(30)

где 11: / 2, .

.

., 11 — начальные интенсивности фотонов с энерги­

26


ями Ег, Ег, . . ., Et, a jXj, р2, . . ., рг — соответствующие линейные коэффициенты ослабления,

Уравнение (29) было выведено для узкого параллельного пучка фотонов. В этом случае детектор регистрирует только первичное нерассеянное излучение. Если же пучок широкий, то детектор, помимо нерассеянных фотонов, регистрирует также фотоны, мно­ гократно рассеянные в поглотителе (рис. 9). Говоря по-иному,

Рис. 8. Ослабление узкого монохроматического пучка фотонов при прохож­ дении через вещество

1 — источник излучения; 2 — коллиматор; з — поглощающая среда; 4 — прибор-детек­ тор

Рис. 9. Ослабление широкого пучка фотонов при прохождении через вещество

Обозначения те же, что на рис. 8

детектор будет измерять большее количество фотонов. Вклад мно­ гократно рассеянного излучения по сравнению с первичным излу­ чением учитывается с помощью так называемого фактора накоп­ ления (англ. — buildup factor). Его обозначают буквой В. Тогда для случая широкого пучка уравнение (29) трансформируется к виду

I = Б1ое~^1.

(31)

Если I измеряется в см, то р имеет размерность см~г. На прак­ тике чаще используют массовые коэффициенты ослабления р/р,

где

р — плотность поглощающего вещества в г/см3. Очевидно,

р/р

не зависит от плотности и имеет размерность см2/г.

По определению МКРЕ [21], массовый коэффициент ослабле­ ния для косвенно ионизирующих частиц — это частное от деления dN на произведение р, N и dl, где N — число частиц, падающих перпендикулярно на слой материала с толщиной dl и плотностью р, a dN — число частиц, которые осуществляют взаимодействие

в этом слое.

Следовательно,

 

р ______1

dN

(32)

р ~ р N

dl

 

27