ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 15.10.2024
Просмотров: 157
Скачиваний: 0
рис. 38 [187]. Для работы система устанавливается внутри уско рительной камеры источника ионов.
Ядерные реакции на заряженных частицах часто сопровож
даются вылетом вторичных заряженных частиц |
другого типа, |
||
чем исходные. Энергия вторичных |
частиц при |
определенной |
|
энергии |
облучения — это величина, |
характерная |
для данной |
ядерной |
реакции, которая допускает |
надежную идентификацию |
Рис. 38. Схема экспериментальной установки |
для |
||||
аналитических |
исследований по методу спектро |
||||
метрии |
мгновенных заряженных |
частиц: |
|
||
1 — цилиндр |
Фарадея; 2 — мишень; 3 — детектор; |
4 — |
|||
предусилитель; 5 — основной |
усилитель; 6 — одноканаль |
||||
ный анализатор; |
7 — счетное |
устройство; |
8 — многока |
||
нальный анализатор; 9 — интегратор тока. |
|
взаимодействующих ядер. Большая часть вторичных частиц вы летает в направлении, противоположном движению пучка ионов, поэтому детектор стремятся расположить должным образом. Однако конечные размеры детектора и необходимость пропу стить пучок ионов к мишени приводят к компромиссному реше
нию— детектор |
помещают под углом |
150—165° по отношению |
к направлению движения пучка ионов. |
рассеяние часть ионов |
|
От мишени |
претерпевает упругое |
первичного пучка, поэтому для их поглощения детектор закры вают тонкой пленкой из майлара. Чтобы подавление рассеян ных частиц было успешным, максимальная энергия пучка не должна превышать некоторого предела. С помощью такой уста новки измеряют спектры вторичного излучения мишени, по которым можно осуществить идентификацию ядер, вступающих в реакцию, и проводить количественные расчеты (рис. 39).
Таким способом можно получить разнообразную аналитиче скую информацию [179, 181, 187]. Процесс измерения очень прост и быстр. Учитывая, что в таких экспериментах энергия
150
активирующего излучения мала (0,5—1,5 Мэе), метод приго ден только к исследованию тонких поверхностных пленок на
содержание некоторых легких |
элементов. В результате появ |
|
ляется возможность |
изучения |
реакций и процессов в тонких |
поверхностных слоях. |
Это может быть кинетика окисления ме |
|
таллов, сорбция в парах, диффузия в твердом теле и т. д. |
||
2,7Изд |
ч,оизд |
|
|
|
Номер канала |
|
90 |
|
-100 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Рис. 39. Спектр |
мгновенных а-частиц реакций |
(d , |
а ) |
на |
||
|
мишени из АЬОз, обогащенной 180: |
|
|
|
|||
|
/ — реакция lsO(d, |
a)HN; 2 — реакция 180(d, a)16N. |
|
|
|||
Чувствительность метода очень высока. Например, при токе |
|||||||
пучка |
дейтронов 1 |
мка |
и энергии |
730 кэв |
по |
реакции |
|
180(р, |
a )15N может |
быть надежно обнаружено |
3,7-К)-12 г изо |
||||
топа |
180 при длительности |
облучения |
всего 3,5 |
мин. |
Столь вы |
сокая чувствительность обусловлена низким фоном полупровод никовых детекторов и высоким выходом заряженных частиц. При
изучении изотопных эффектов можно |
определить |
отношение |
|
180 /160 |
непосредственно из получившегося спектра |
по отноше |
|
нию площадей пиков (см. рис. 39). |
позволяет |
исследовать |
|
Для |
достаточно толстых слоев метод |
распределение концентрации изучаемого компонента по глуби не поверхностного слоя [179]. Так, четко выраженный резонанс ный характер реакции 180 (р, a )l5N (рис. 40) предоставляет очень удобную возможность для таких исследований.
Если энергия протонов равна 629 кэв, то имеет место мак симальный выход a-частиц. При повышении энергии пучка об ласть резонансной энергии протонов перемещается в глубь про бы. Следовательно, основной процесс генерации a -ча'стиц будет происходить уже в тонком слое на некоторой глубине. Интен сивность a -частиц дает количество искомого компонента на этой глубине. Меняя последовательно энергию излучения, можно
151
установить исследуемое распределение кислорода по глубине. Разрешение высокое и составляет ~320 А для окисной пленки на поверхности циркония.
§ 3. Спектрометрия р-излучения
Подавляющее большинство радиоизотопов, образующихся при всех методах активации, испытывает p-распад с испуска нием электронов или позитронов. Этот процесс, как правило, сопровождается у-излучением, и в общей массе радиоизотопов лишь небольшое число их являются чистыми р-излучателями. Поскольку спектроскопия у-излучения имеет значительное превосходство перед спектроскопией p-излучения, последняя получила незначительное распространение. Основные ее недо статки вытекают из сплошного энергетического распределения и небольшой проникающей способности р-частиц. Последнее свой ство требует приготовления для прецизионных измерений доста точно тонких источников.
Для идентификации р-излучателя необходимо определить максимальную энергию спектра. В практике активационного анализа для этой цели находят применение полупроводниковые и сцинтилляционные бета-спектрометры и метод поглощения. Идентификация и раздельное количественное определение не скольких компонентов в смеси любым из перечисленных выше методов представляют сложную проблему и практически реали зуются при числе компонентов не более 3—4. Возникающие при анализе сложных смесей р-излучателей затруднения обусловле
152
v
ны низкой характерностью p-спектров (сплошное распределе ние, несколько p-переходов у одного радиоизотопа, помехи со стороны у-излучения). Поэтому бета-спектрометрия в актива ционном анализе находит преимущественное применение для проверки радиохимической чистоты препаратов и идентифика ции (3-излучателей с простой схемой распада (без сопровож дающего у-излучения), а также для раздельного определения 2—3 компонентов в смеси, сильно различающихся по макси мальной энергии р-спектра.
Метод поглощения
Пробег |3-частиц в веществе пропорционален их начальной энергии. Поэтому, определив максимальный пробег р-частиц в нужном веществе путем последовательного увеличения тол-
Рис. 41. Зависимость между пробегом и энергией Р=частиц.
щины фильтра между источником и детектором до постоянной скорости счета, можно оценить максимальную энергию спектра по приближенному соотношению [43]:
|
Ер, „акс = 1,92 V |
R l макс + |
0,22% макс |
; |
|
||
|
|
0,05 < % |
макс < |
3,0 |
Мэе. |
|
(7.1) |
На рис. 41 |
связь |
между пробегом |
и Ер, макс представлена |
гра |
|||
фически. |
анализа |
кривых поглощения в своей |
наиболее |
про |
|||
Метод |
стой форме дает значение Ер, макс с относительной погрешностью 10—15%, причем для достижения такой точности требуется до статочно высокий начальный уровень скорости счета — более
153
3-103 имп/мин. Точность определения энергии методом погло щения можно повысить, используя более сложные и трудоемкие
методы [43, 184].
В настоящее время метод поглощения, как метод идентифи кации и анализа смесей [5-излучателей, по существу вытеснен более совершенными методами спектроскопии с помощью сцинтилляционных или полупроводниковых спектрометров. Сейчас практический интерес могут представлять лишь отдельные слу чаи, когда этот метод дает простое решение аналитической проблемы.
Например, Винчестер [188] использовал метод поглощения для избирательного определения К в силикатных минералах и породах. Поскольку радиоизотоп 42К (Ер, макс= 3,55 Мэе, Т1/2 — = 12,5 ч) обладает весьма жестким (5-излучением, то, используя алюминиевый фильтр толщиной 700 мг/см2, можно дискримини ровать p-излучение многих других элементов (кроме As, Ga, In) и определить К в интервале 0,1-4-5% с относительной погреш ностью 2%.
Сцинтилляционные и полупроводниковые бета-спектрометры
Для анализа сплошных p-спектров ни один тип спектромет ров не имеет особых преимуществ перед другим. Определение Ер, макс с помощью бета-спектрометров может производиться в дифференциальном или интегральном режиме как из тонких, так и из толстых источников. В зависимости от условий калиб ровка спектрометра производится по радиоизотопам с известной Ер, макс (сплошной спектр) или по электронам конверсии (моноэнергетический спектр). Бета-спектрометры позволяют доста точно точно определять Ер, Ма к с с препаратом сравнительно не большой активности.
Интегральные методы. Галлик и др. [189] показали, что зави симость числа отсчетов от положения порога интегрального дис криминатора при измерении [5-излучателя с простой схемой распада на сцинтилляционном спектрометре в основной своей части представляет прямую линию. Если эту прямолинейную часть продлить, то она пересечет ось абсцисс в точке, которая характеризует максимальную энергию излучения. Положение точки пересечения мало зависит от обратного отражения, тол щины препарата, расстояния источник — детектор.
Оценку энергии препарата осуществляют по калибровочно му графику с точностью до 2 отн. % для энергий выше 0,3 Мэе. Большое удобство интегрального метода заключается в возмож ности использования для определений не только сухих препа ратов, но и растворов, которые наливают в небольшую кювету.
В случае смеси двух [5-излучателей кривая зависимости чис ла отсчетов от уровня дискриминации сначала криволинейна и переходит в прямую линию, когда мягкий компонент полностью
154
дискриминируется. Суммарную кривую можно разложить на компоненты. Экстраполируя прямую до оси ординат и вычитая ее из общей кривой, получают кривую для мягкого компонен та. Такой подход позволяет проводить качественный и количе ственный анализ простой смеси (3-излучателей. Присутствие же сткого у-излучения может помешать анализу.
Другой подход к быстрой идентификации (3-излучателей ин тегральным методом развит Трусевичем и др. [] 90]. С помощью сцинтилляционного спектрометра измеряют число отсчетов ис следуемого препарата и эталоны (известный (3-излучатель) при нескольких фиксированных уровнях интегральной дискримина ции. Для каждого уровня находят отношение Ni/N0, где N0— число отсчетов для нижнего уровня дискриминации; Л/* — число отсчетов для г-го уровня дискриминации. • Аналогичную про цедуру выполняют для эталонного препарата. Затем строят сравнительную кривую, откладывая для каждого уровня дис криминации в логарифмическом масштабе по оси абсцисс зна чения NilN0 для исследуемого препарата, а по оси ординат — для эталонного. Угол наклона получившейся прямой (или одного из участков двухкомпонентной кривой) позволяет найти по ка либровочному графику энергию излучения радиоизотопа в ис следуемом препарате.
Для идентификации одного (3-излучателя с простой схемой распада достаточно выполнить измерения только при двух уров нях дискриминации. Область идентифицируемых активностей простирается до 10~9— 10_1° кюри. Для исследований пригодны толстые пробы. Этим методом возможен также анализ смеси (3-излучателей, но тогда число используемых уровней дискрими нации должно быть больше.
Дифференциальные методы. С тонким источником диффе ренциальный метод дает непосредственно спектр (3-излучения с его характерной формой (рис. 42). Если полученные данные представить в специальных координатах, то на графике полу чится прямая линия [183]. Удобство графика Ферми — Кюри (как называют эту систему построения) состоит в том, что точ ка пересечения прямой с осью ординат дает максимальную энер гию спектра. Если в анализируемом спектре присутствует не сколько (3-излучателей разной энергии, то получившуюся слож ную кривую можно разложить таким образом, чтобы была вы делена прямая линия для каждого компонента. Относительное содержание каждого (3-излучателя можно определить по площа ди под соответствующей прямой.
Однако при использовании метода встречается и ряд специ фических трудностей, которые обусловлены искажениями формы (3-спектра под действием некоторых факторов. Чаще всего силь ное искажение спектра происходит вследствие рассеяния (3-частиц в препарате и отражения от подложки. Поэтому их толщина должна быть меньше 1 мг/см2. Это значит, что подоб-
155