Файл: Кузнецов, Р. А. Активационный анализ.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.10.2024

Просмотров: 157

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

рис. 38 [187]. Для работы система устанавливается внутри уско­ рительной камеры источника ионов.

Ядерные реакции на заряженных частицах часто сопровож­

даются вылетом вторичных заряженных частиц

другого типа,

чем исходные. Энергия вторичных

частиц при

определенной

энергии

облучения — это величина,

характерная

для данной

ядерной

реакции, которая допускает

надежную идентификацию

Рис. 38. Схема экспериментальной установки

для

аналитических

исследований по методу спектро­

метрии

мгновенных заряженных

частиц:

 

1 — цилиндр

Фарадея; 2 — мишень; 3 — детектор;

4

предусилитель; 5 — основной

усилитель; 6 — одноканаль­

ный анализатор;

7 — счетное

устройство;

8 — многока­

нальный анализатор; 9 — интегратор тока.

 

взаимодействующих ядер. Большая часть вторичных частиц вы­ летает в направлении, противоположном движению пучка ионов, поэтому детектор стремятся расположить должным образом. Однако конечные размеры детектора и необходимость пропу­ стить пучок ионов к мишени приводят к компромиссному реше­

нию— детектор

помещают под углом

150—165° по отношению

к направлению движения пучка ионов.

рассеяние часть ионов

От мишени

претерпевает упругое

первичного пучка, поэтому для их поглощения детектор закры­ вают тонкой пленкой из майлара. Чтобы подавление рассеян­ ных частиц было успешным, максимальная энергия пучка не должна превышать некоторого предела. С помощью такой уста­ новки измеряют спектры вторичного излучения мишени, по которым можно осуществить идентификацию ядер, вступающих в реакцию, и проводить количественные расчеты (рис. 39).

Таким способом можно получить разнообразную аналитиче­ скую информацию [179, 181, 187]. Процесс измерения очень прост и быстр. Учитывая, что в таких экспериментах энергия

150


активирующего излучения мала (0,5—1,5 Мэе), метод приго­ ден только к исследованию тонких поверхностных пленок на

содержание некоторых легких

элементов. В результате появ­

ляется возможность

изучения

реакций и процессов в тонких

поверхностных слоях.

Это может быть кинетика окисления ме­

таллов, сорбция в парах, диффузия в твердом теле и т. д.

2,7Изд

ч,оизд

 

 

 

Номер канала

 

90

 

-100

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 39. Спектр

мгновенных а-частиц реакций

(d ,

а )

на

 

мишени из АЬОз, обогащенной 180:

 

 

 

 

/ — реакция lsO(d,

a)HN; 2 — реакция 180(d, a)16N.

 

 

Чувствительность метода очень высока. Например, при токе

пучка

дейтронов 1

мка

и энергии

730 кэв

по

реакции

180(р,

a )15N может

быть надежно обнаружено

3,7-К)-12 г изо­

топа

180 при длительности

облучения

всего 3,5

мин.

Столь вы­

сокая чувствительность обусловлена низким фоном полупровод­ никовых детекторов и высоким выходом заряженных частиц. При

изучении изотопных эффектов можно

определить

отношение

180 /160

непосредственно из получившегося спектра

по отноше­

нию площадей пиков (см. рис. 39).

позволяет

исследовать

Для

достаточно толстых слоев метод

распределение концентрации изучаемого компонента по глуби­ не поверхностного слоя [179]. Так, четко выраженный резонанс­ ный характер реакции 180 (р, a )l5N (рис. 40) предоставляет очень удобную возможность для таких исследований.

Если энергия протонов равна 629 кэв, то имеет место мак­ симальный выход a-частиц. При повышении энергии пучка об­ ласть резонансной энергии протонов перемещается в глубь про­ бы. Следовательно, основной процесс генерации a -ча'стиц будет происходить уже в тонком слое на некоторой глубине. Интен­ сивность a -частиц дает количество искомого компонента на этой глубине. Меняя последовательно энергию излучения, можно

151


установить исследуемое распределение кислорода по глубине. Разрешение высокое и составляет ~320 А для окисной пленки на поверхности циркония.

§ 3. Спектрометрия р-излучения

Подавляющее большинство радиоизотопов, образующихся при всех методах активации, испытывает p-распад с испуска­ нием электронов или позитронов. Этот процесс, как правило, сопровождается у-излучением, и в общей массе радиоизотопов лишь небольшое число их являются чистыми р-излучателями. Поскольку спектроскопия у-излучения имеет значительное превосходство перед спектроскопией p-излучения, последняя получила незначительное распространение. Основные ее недо­ статки вытекают из сплошного энергетического распределения и небольшой проникающей способности р-частиц. Последнее свой­ ство требует приготовления для прецизионных измерений доста­ точно тонких источников.

Для идентификации р-излучателя необходимо определить максимальную энергию спектра. В практике активационного анализа для этой цели находят применение полупроводниковые и сцинтилляционные бета-спектрометры и метод поглощения. Идентификация и раздельное количественное определение не­ скольких компонентов в смеси любым из перечисленных выше методов представляют сложную проблему и практически реали­ зуются при числе компонентов не более 3—4. Возникающие при анализе сложных смесей р-излучателей затруднения обусловле­

152

v

ны низкой характерностью p-спектров (сплошное распределе­ ние, несколько p-переходов у одного радиоизотопа, помехи со стороны у-излучения). Поэтому бета-спектрометрия в актива­ ционном анализе находит преимущественное применение для проверки радиохимической чистоты препаратов и идентифика­ ции (3-излучателей с простой схемой распада (без сопровож­ дающего у-излучения), а также для раздельного определения 2—3 компонентов в смеси, сильно различающихся по макси­ мальной энергии р-спектра.

Метод поглощения

Пробег |3-частиц в веществе пропорционален их начальной энергии. Поэтому, определив максимальный пробег р-частиц в нужном веществе путем последовательного увеличения тол-

Рис. 41. Зависимость между пробегом и энергией Р=частиц.

щины фильтра между источником и детектором до постоянной скорости счета, можно оценить максимальную энергию спектра по приближенному соотношению [43]:

 

Ер, „акс = 1,92 V

R l макс +

0,22% макс

;

 

 

 

0,05 < %

макс <

3,0

Мэе.

 

(7.1)

На рис. 41

связь

между пробегом

и Ер, макс представлена

гра­

фически.

анализа

кривых поглощения в своей

наиболее

про­

Метод

стой форме дает значение Ер, макс с относительной погрешностью 10—15%, причем для достижения такой точности требуется до­ статочно высокий начальный уровень скорости счета — более

153


3-103 имп/мин. Точность определения энергии методом погло­ щения можно повысить, используя более сложные и трудоемкие

методы [43, 184].

В настоящее время метод поглощения, как метод идентифи­ кации и анализа смесей [5-излучателей, по существу вытеснен более совершенными методами спектроскопии с помощью сцинтилляционных или полупроводниковых спектрометров. Сейчас практический интерес могут представлять лишь отдельные слу­ чаи, когда этот метод дает простое решение аналитической проблемы.

Например, Винчестер [188] использовал метод поглощения для избирательного определения К в силикатных минералах и породах. Поскольку радиоизотоп 42К (Ер, макс= 3,55 Мэе, Т1/2 — = 12,5 ч) обладает весьма жестким (5-излучением, то, используя алюминиевый фильтр толщиной 700 мг/см2, можно дискримини­ ровать p-излучение многих других элементов (кроме As, Ga, In) и определить К в интервале 0,1-4-5% с относительной погреш­ ностью 2%.

Сцинтилляционные и полупроводниковые бета-спектрометры

Для анализа сплошных p-спектров ни один тип спектромет­ ров не имеет особых преимуществ перед другим. Определение Ер, макс с помощью бета-спектрометров может производиться в дифференциальном или интегральном режиме как из тонких, так и из толстых источников. В зависимости от условий калиб­ ровка спектрометра производится по радиоизотопам с известной Ер, макс (сплошной спектр) или по электронам конверсии (моноэнергетический спектр). Бета-спектрометры позволяют доста­ точно точно определять Ер, Ма к с с препаратом сравнительно не­ большой активности.

Интегральные методы. Галлик и др. [189] показали, что зави­ симость числа отсчетов от положения порога интегрального дис­ криминатора при измерении [5-излучателя с простой схемой распада на сцинтилляционном спектрометре в основной своей части представляет прямую линию. Если эту прямолинейную часть продлить, то она пересечет ось абсцисс в точке, которая характеризует максимальную энергию излучения. Положение точки пересечения мало зависит от обратного отражения, тол­ щины препарата, расстояния источник — детектор.

Оценку энергии препарата осуществляют по калибровочно­ му графику с точностью до 2 отн. % для энергий выше 0,3 Мэе. Большое удобство интегрального метода заключается в возмож­ ности использования для определений не только сухих препа­ ратов, но и растворов, которые наливают в небольшую кювету.

В случае смеси двух [5-излучателей кривая зависимости чис­ ла отсчетов от уровня дискриминации сначала криволинейна и переходит в прямую линию, когда мягкий компонент полностью

154


дискриминируется. Суммарную кривую можно разложить на компоненты. Экстраполируя прямую до оси ординат и вычитая ее из общей кривой, получают кривую для мягкого компонен­ та. Такой подход позволяет проводить качественный и количе­ ственный анализ простой смеси (3-излучателей. Присутствие же­ сткого у-излучения может помешать анализу.

Другой подход к быстрой идентификации (3-излучателей ин­ тегральным методом развит Трусевичем и др. [] 90]. С помощью сцинтилляционного спектрометра измеряют число отсчетов ис­ следуемого препарата и эталоны (известный (3-излучатель) при нескольких фиксированных уровнях интегральной дискримина­ ции. Для каждого уровня находят отношение Ni/N0, где N0— число отсчетов для нижнего уровня дискриминации; Л/* — число отсчетов для г-го уровня дискриминации. • Аналогичную про­ цедуру выполняют для эталонного препарата. Затем строят сравнительную кривую, откладывая для каждого уровня дис­ криминации в логарифмическом масштабе по оси абсцисс зна­ чения NilN0 для исследуемого препарата, а по оси ординат — для эталонного. Угол наклона получившейся прямой (или одного из участков двухкомпонентной кривой) позволяет найти по ка­ либровочному графику энергию излучения радиоизотопа в ис­ следуемом препарате.

Для идентификации одного (3-излучателя с простой схемой распада достаточно выполнить измерения только при двух уров­ нях дискриминации. Область идентифицируемых активностей простирается до 10~9— 10_1° кюри. Для исследований пригодны толстые пробы. Этим методом возможен также анализ смеси (3-излучателей, но тогда число используемых уровней дискрими­ нации должно быть больше.

Дифференциальные методы. С тонким источником диффе­ ренциальный метод дает непосредственно спектр (3-излучения с его характерной формой (рис. 42). Если полученные данные представить в специальных координатах, то на графике полу­ чится прямая линия [183]. Удобство графика Ферми — Кюри (как называют эту систему построения) состоит в том, что точ­ ка пересечения прямой с осью ординат дает максимальную энер­ гию спектра. Если в анализируемом спектре присутствует не­ сколько (3-излучателей разной энергии, то получившуюся слож­ ную кривую можно разложить таким образом, чтобы была вы­ делена прямая линия для каждого компонента. Относительное содержание каждого (3-излучателя можно определить по площа­ ди под соответствующей прямой.

Однако при использовании метода встречается и ряд специ­ фических трудностей, которые обусловлены искажениями формы (3-спектра под действием некоторых факторов. Чаще всего силь­ ное искажение спектра происходит вследствие рассеяния (3-частиц в препарате и отражения от подложки. Поэтому их толщина должна быть меньше 1 мг/см2. Это значит, что подоб-

155