ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 15.10.2024
Просмотров: 117
Скачиваний: 0
рода, 2) быть инертным, 3) обладать достаточной механической прочностью.
Особенно трудно удовлетворить первое требование. Поэтому при облучении в ампулах требуется поправка на холостой опыт, но при этом нужно убедиться, что эта поправка постоянна. Ра дикальный способ состоит в удалении упаковки перед измере нием, но это требует 3—5 сек, а иногда исключает возможность повторного анализа.
Уменьшить величину окисной пленки позволяют такие прие мы, как подготовка поверхности пробы к анализу в бескисло родной среде и замена рабочего газа в пневмопочте азотом или инертным газом. Эффективным средством может быть травле ние поверхности облученной пробы химическим способом. При анализе алюминия для удаления поверхностного слоя достаточ ной толщины применялась обработка раствором NaOH
(160 г/л) при температуре 90—95° С в течение всего 5 сек |
[352J. |
При попытке достигнуть предельной чувствительности |
опре |
деления кислорода в некоторых матрицах сталкиваются с силь ным увеличением погрешности, обусловленной мертвым време нем и перегрузкой регистрирующей аппаратуры. Например, при интенсивности потока нейтронов 5-109 нейтрон;сек облуче ние алюминия и меди дает интегральную скорость счета более
105 имп/сек [349]. При |
такой |
загрузке |
происходит |
смещение |
энергетической шкалы |
измерительной |
установки, что |
приводит |
|
к изменению эффективности |
регистрации у-излучения |
16N. |
Точность у-активационного анализа
По точности получаемых результатов и источникам погреш ности у-активационный анализ имеет много общего с активаци онным анализом на быстрых нейтронах. Это обстоятельство в целом обусловлено некоторыми общими свойствами активирую щего излучения в обоих случаях: высокой проникающей спо собностью, значительным градиентом плотности и, как правило, нестабильностью интенсивности. Основным способом получения количественных результатов также является метод мониторов. Учитывая эту общность, видимо, нет необходимости останавли ваться на всех возможных источниках погрешности и можно ограничиться рассмотрением только тех из них, которые пред ставляются специфичными для данного метода.
В отличие от активационного анализа па быстрых нейтро нах, где энергия начальных нейтронов зависит от используемой ядерной реакции и практически постоянна, источники тормоз ного излучения позволяют менять энергию в широких пределах. Поэтому возникает проблема точной установки желаемой энер гии, поскольку в ходе экспериментов часто приходится прово дить облучения при разных уровнях предельной энергии. Кро
298
ме того, заданная энергия в ходе облучений должна поддержи ваться постоянной. Так как в определенных энергетических ин тервалах ход зависимости удельной активности элементов от энергии тормозного излучения резко различен, то в методе мониторирования это может привести к ухудшению точности опре делений.
Наиболее простой способ исключения этого источника по грешности состоит в применении в качестве монитора опреде ляемого элемента или элемента, имеющего аналогичный ход интегральной кривой возбуждения. Возможно также использо
вание различных |
систем |
стабилизации |
энергии |
излучения. |
||
Предварительные |
оценки |
показывают, |
что |
при |
стабилизации |
|
максимальной энергии |
тормозного |
излучения |
в |
пределах |
±15 кэв этот фактор не оказывает влияния на точность полу чаемых результатов.
Как уже отмечалось выше, жесткое тормозное излучение об ладает высокой проникающей способностью, поэтому при облу чении небольших проб эффект ослабления практически можно
не учитывать. Однако для достижения максимальной |
концен |
||
трационной чувствительности иногда приходится |
прибегать к |
||
весьма большим навескам (до 100—200 г), |
но |
тогда |
эффект |
экранирования становится заметным. |
|
|
|
Известно, что ослабление моноэнергетического у-излучения |
|||
веществом подчиняется закону |
|
|
|
|
|
|
( 1 1 . 1 9 ) |
где Ф0 и Фт — исходная плотность потока |
у-квантов и |
плот |
ность на глубине л: см\ ц — линейный коэффициент поглощения, см~1. Тогда уравнение активации (5.3) с учетом поглощения тормозного излучения в случае облучения однородной пробы параллельным пучком принимает вид:
0 Е,п о р
где p(£) — функция изменения линейного коэффициента погло щения с энергией у-излучения; S — площадь пробы; р — плот ность вещества пробы. Аналитическое решение приведенного выражения невозможно, и расчет может быть выполнен только численным интегрированием.
Однако, как показал Лутц [353], в условиях резонансного хода функции возбуждения функцию ц(В) с достаточной для практических целей точностью можно заменить постоянной ве личиной р (£ т ), где Ет — резонансная энергия рассматривае мой ядерной реакции. Тогда поправочный коэффициент ослаб-
299
ления, определяемый как отношение удельной активности дан ного элемента в пробах его удельной активности в отсутствие поглощения, равен
/ т е р м --- |
(11.21) |
Р (Ет) I |
|
где / — толщина пробы, см; р (£ т ) — линейное |
сечение погло |
щения вещества пробы при энергии Ет, см-1. Однако теорети
ческая оценка ослабления в |
реальных условиях |
значительно |
||
затрудняется |
из-за градиента потока активирующего излучения |
|||
и |
угловой |
зависимости |
спектрального |
распределения |
Ф0(£, £макс). |
Экспериментально поправку на ослабление тор |
мозного излучения можно определить с помощью двух монито ров, устанавливаемых до и после пробы.
В определениях при умеренных энергиях тормозного излу чения (до 25 Мэе) очень малую роль играют интерферирую щие реакции, поскольку выход ядерных реакций с вылетом за ряженных частиц низок. Однако при увеличении энергии до 35—60 Мэе роль таких реакций возрастает. Специфичным ис
точником |
помех может оказаться поток нейтронов, |
которые |
всегда сопровождают жесткое тормозное излучение. |
Однако, |
|
поскольку |
основное свое применение у-активационный |
анализ |
пока находит в области концентраций выше 1СН5%, интерфери рующие реакции редко играют существенную роль.
Вообще говоря, анализу общей точности у-активационного анализа уделено мало внимания. Имеются только данные по оценке сходимости и правильности метода применительно к не которым конкретным системам. В большинстве случаев относи тельное стандартное отклонение лежит в пределах 5-f-20%.
Анализ источников погрешности при использовании бетатро на с внутрикамерным облучением был сделан Р. А. Кузнецо вым [136]. Для этого случая характерны малые размеры зоны облучения, сильный градиент плотности и значительная неста бильность излучения. Поэтому единственную возможность по лучения надежных количественных результатов в таких усло виях предоставляет метод мониторов.
Указанные особенности пучка излучения предъявляют жест кие требования к анализируемым пробам. Очевидной является необходимость выдерживать с высокой точностью размеры и форму облучаемых проб. Более того в статических условиях можно анализировать только однородные пробы, иначе полу ченные результаты не будут характеризовать среднее содержа ние исследуемого компонента в пробе. Неоднородные пробы
перед облучением |
необходимо измельчить |
и гомогенизи |
ровать. |
пробы упаковываются в |
небольшие кю |
Порошкообразные |
веты, выточенные из алюминия. Эти кюветы вводятся в специ альном держателе в систему для внутрикамерных облучений.
300
Все устройство сконструировано таким образом, чтобы обеспе чить хорошую воспроизводимость положения пробы и монитора в зоне облучения.
Перечень исследованных факторов, методика исследования и полученные результаты приведены в табл. 25. При выполне нии каждого опыта проводилось не менее 30 определений. Ана лиз полученных данных показывает, что в данном случае основ ным фактором, определяющим точность результатов, является операция упаковки пробы.
Т а б л и ц а 25
Влияние различных факторов на точность определений
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Относи |
Номер |
|
Изучаемый фактор |
Методика исследования |
|
тельное |
||||||
опыта |
|
|
стандарт |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ное откло |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
нение, % |
1 |
Стабильность установки и вое- |
Периодические |
измерения |
0,5 |
|||||||
|
производимость |
геометрических |
активности эталонного |
пре |
|
||||||
|
условий |
при измерении |
парата |
двух |
медных |
1,1 |
|||||
2 |
Воспроизводимость |
геометри- |
Облучение |
||||||||
|
ческих |
условий |
при |
облучении |
мониторов |
|
|
|
|
|
|
3 |
и погрешность мониторирования |
Облучение медного и по- |
|
||||||||
Влияние |
нестабильности энер- |
1,3 |
|||||||||
4 |
гии излучения |
|
|
лиэтиленового мониторов |
|
1,6 |
|||||
Влияние |
нестабильности ин- |
Облучение буры с |
медным |
||||||||
|
тенсивности излучения |
|
монитором. Ряд |
навесок, |
ди |
|
|||||
5 |
Влияние |
операции |
упаковки |
сперсионный |
анализ |
|
|
2 ,6 |
|||
|
|
|
|
|
|||||||
|
пробы в контейнер |
|
|
|
|
|
|
|
|||
На |
результаты |
определений |
могут влиять |
величина |
навески |
и состав пробы. Для изучения этих факторов были приготовле ны смеси из сахарозы и окиси в разных соотношениях. Из каж дой смеси отбирали по две пробы, которые упаковывали в кю веты, и проводили определение удельной активности углерода при облучении с медным монитором. Оказалось, что при значи тельном изменении величины навески (244—728 мг) и состава пробы (содержание свинца меняется в пределах 0—80%) удельная активность не показывает значимого отклонения от среднего значения.
Точность активационного анализа на заряженных частицах
Основные особенности этого метода были рассмотрены в- гл. 6, здесь же будет сделано несколько дополнительных заме чаний, касающихся точности метода при определении крайне низких содержаний элементов по методу толстого слоя.
301