ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 17.10.2024
Просмотров: 88
Скачиваний: 0
Если ионизация происходит в подобном барьере, поле в
котором изменяется |
линейно |
от 8 т при |
х = 0 до нуля |
при х = W, т. е. |
8 (х) = 8 |
т (1 — x/W), |
то квантовый |
выход ионизации N или коэффициент умножения М мож |
|||
но выразить через |
ширину барьера W и максимальное |
поле 8 т следующим |
образом. |
|
|
Используя выражение (8.5) для а и (7.8) для М (слу |
|||
чай р = 0), получим |
|
|
|
|
w |
|
|
М = ехр |
S |
ехр |
(9.1) |
|
0 |
|
|
где сх и с2 — постоянные *). После подстановки значения 8 (х) это выражение приобретет вид
или, если ввести новую переменную у = сг/82 и соот ветственно изменить пределы интегрирования,
М — ехр ' ciW |
ехр (— у) |
dy |
(9.3) |
W n С2 |
У |
|
|
®т |
|
|
|
Интеграл подобного типа, входящий в выражение для М и в случае а = р, элементарно не вычисляется и значе ния М и N для каждого 8 т могут быть получены только с помощью таблиц. С другой стороны, при толковании характеристик электролюминесценции существенна боль
шей частью только о^щая |
форма зависимостей М (8) и |
N (8). Удобнее поэтому |
пользоваться более простыми |
выражениями, соответствующими некоторому постоян ному эффективному значению поля в барьере. Поскольку коэффициент ионизации очень быстро меняется с полем, в качестве действующего может быть взято максимальное поле в барьере (в данном случае 8 т = 2V0/W = 2 8СР).
*) Применение к случаю барьеров с изменяющимся полем выражений а ($), полученных для однородного поля, предполагает
выполнение определенного соотношения, включающего значения как <?, так и d1$/dx [32]. Для резких р — ^-переходов в германии
и кремнии это соотношение обычно выполняется при ширине пере хода, большей 1СГ5 см.
62
Так как основное число ионизаций происходит в той части барьера, в которой присутствует наиболее высокое поле, то за эффективную ширину барьера можно принять WI2 или еще меньшую величину.
Если принять, что а = р, то можно пользоваться сле дующей формулой, в которую входит ё т — максимальное поле в р —«-переходе или поверхностном барьере:
N = J a{8)dx = mWa($n). |
(9.4) |
О |
|
Возможность предположения, что эффективная ширина барьера остается постоянной частью т действительной ширины W для всех 8, может быть показана в случае, когда выполняется эмпирическое соотношение
|
|
|
(9.5) |
в котором |
Vb — напряжение пробоя (т. е. |
напряжение, |
|
при котором начинается резкий рост тока, |
при V —*■Vb, |
||
М -» оо), а |
и постоянно для всех V. Уравнение (9.5) со |
||
ответствует |
зависимости N = 1 — М -1 = |
{ V I V b Y , |
т . е. |
степенной аппроксимации этой величины, и хорошо |
вы |
полняется для многих р — «-переходов [43].
Интеграл в (9.4) выражается достаточно точно, если для ступенчатых переходов принять т = 0,32 [39]. Для плавных (диффузионных) переходов в GaAs в работе [43] использовалось значение т = 0,38. Если а и р немного различаются, в (9.4) войдет некоторое среднее значение этих коэффициентов. В работе [18] получено аналитиче ское выражение для т (случай линейного изменения кон центрации примеси в переходе) .
(9.6)
в которое входит г — показатель степени приближенной
зависимости а ~ 8 Г. При г — |
7 |
т = 0,32 и уменьшается |
||
с ростом г. |
объемного |
заряда |
W барьера Шот- |
|
Толщина области |
||||
тки увеличивается |
с ростом |
обратного |
напряжения V0 |
63
на барьере: |
|
W = koW.Vо2 |
(9.7) |
(здесь к0 — размерный коэффициент, |
равный 1 в-1''2 и |
W]i — толщина барьера при V0 = 1 в, |
контактный потен |
циал qxg^Fo). Используя (9.4), выражение для а (8.5) и
учитывая, что максимальное |
поле |
$ т в барьере равно |
|
удвоенному среднему |
|
|
|
2Vo |
2 У Ко |
(9.8) |
|
W — |
Wiko |
||
’ |
|||
можно записать выражение для N в следующем виде: |
|||
У = а е х р ( ----. |
(9.9) |
Величины а и Ь, входящие в это уравнение, не зависят от напряжения. В качестве характеристики поля в барьере может быть взято и $ ср; тогда значения а и Ъ будут иными,
чем для случая ё т.
Если опытные значения N удовлетворяют (9.9), то вели чины а и Ъ могут быть опре делены из зависимости N (F0), которая должна изображаться прямой в координатах In N и F 0-1 с наклоном, равным Ъ. Обычно ожидаемая для барьера Шоттки зависимость (9.9) хоро ню выполняется для ряда образ цов веществ, люминесцирующих в видимой области (ZnS, SiC, ZnO). На рис. 9.1 приведены экспериментальные зависимости N (F0), полученные из измере ний коэффициента умножения фототока в карбиде кремния [50]. С увеличением температу ры наклон прямых увеличивает ся, что также соответствует тео
ретическим зависимостям (8.9) и (8.8).
Уравнение (9.9) в равной мере относится как к по верхностным барьерам, возникшим вследствие контакта с металлом или из-за присутствия поверхностных состоя-
64
няй, так и к р —/^-переходам с линейным законом изме нения поля. Для плавных переходов, поле в которых изменяется по закону
|
Ш= |
( ^ ) 2] , |
(9.10) |
причем W |
Fo8 |
V0S, выражение для |
N (F0) |
будет иметь несколько иной вид: |
|
||
|
N ~ |
FoVs exp (-cF o Vs) |
(9.11) |
(с — постоянная при |
данной температуре). Изменение |
||
температуры |
приведет |
к изменению величин а, |
& и с |
(§ 8).
Уравнения (9.9) и (9.11) соответствуют области отно сительно высоких полей в кристаллах. Электролюминес ценция, связанная с ударной ионизацией, наблюдается обычно именно в этой области, поэтому (9.9) и (9.11) мо гут быть использованы при подсчетах зависимости ярко сти свечения от внешнего напряжения V, если известна функция F 0(F).
§10. Яркость люминесценции в различных условиях. Спектры излучения
Существуют два основных способа возбуждения ЭЛ. 1) р —га-переход или барьер другого типа включен в за пирающем направлении; через него может протекать постоянный ток и основная доля свечения происходит одновременно с возбуждением (эффект Лосева). 2) Изоли рованные от электродов кристаллы возбуждаются пере менным или импульсным напряжением, причем иониза ция и основная часть рекомбинаций разделены по време ни. После выключения напряжения носители, созданные: при ионизации и разведенные полем к противоположным граням кристалла, могут двигаться в обратном направле нии и рекомбинировать (эффект Дестрио). В идеальномслучае кристаллы имеют непроницаемые для дырок гра ницы, так что все рекомбинации происходят в пределах люминофора.
Этим двум способамшозбуждения ЭЛ, очевидно, будут соответствовать и различные выражения для яркости
151-53].
3 И. К, Верещагин |
65 |
Рассмотрим сначала первый случай. На рис. 10.1 приведена энергетическая схема полупроводника с элект ронной проводимостью, находящегося в контакте с ме таллическим электродом и включенного в запирающем направлении. При этом второй контакт с кристаллом (не показанный на рисунке) может быть омическим или та ким же, как и первый (в условиях рис. 10.1 он будет включен в прямом направлении). Непосредственно к барь
ерной |
области |
приложено напряжение |
У0 |
(часть |
внеш |
|||||||
|
|
|
|
него напряжения V) и кон |
||||||||
|
|
|
|
тактная разность |
потенциа |
|||||||
|
|
|
|
лов ф. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Из металла (p-области или |
||||||||
|
|
|
|
поверхностных уровней) в об |
||||||||
|
|
|
|
ласть |
объемного |
заряда |
по |
|||||
|
|
|
|
падают электроны, |
которые |
|||||||
|
|
|
|
затем |
могут |
ускоряться |
и |
|||||
|
|
|
|
проводить ионизацию. Соот |
||||||||
|
|
|
|
ветственно, |
в |
стационарных |
||||||
|
|
|
|
условиях через сечение у кон |
||||||||
|
|
|
|
такта протекают электронный |
||||||||
|
|
|
|
/ 0 и дырочный (/ |
— / 0) токи. |
|||||||
Рис. 10.1. Схема энергетических |
Проходя] |
область |
барьера, |
|||||||||
электроны |
и |
дырки |
могут |
|||||||||
зон кристалла с барьером. Пунк |
||||||||||||
тиром |
показан вариант |
схемы в |
рекомбинировать |
с ‘ |
излуче |
|||||||
случае |
р — n-перехода с |
высоко |
||||||||||
омной |
n-областью. |
— глубина |
нием, хотя основное число |
|||||||||
донорных уровней, |
ДК — ширина |
рекомбинаций будет происхо |
||||||||||
запрещенной зоны, |
Ь’у — уровень |
дить за пределами кристалла. |
||||||||||
|
Ферми. |
|
||||||||||
|
|
|
|
Если |
барьер |
находится |
на |
|||||
|
|
|
|
границе с металлом, |
то боль |
шинство рекомбинаций будет происходить без излучения. Число рекомбинаций электронов и дырок в области барье ра пропорционально их концентрациям п и р . Если дыр ки имеют определенную вероятность захватываться цент рами свечения, то число дырок на них также может быть пропорционально р. Таким образом, интенсивность свече ния в барьерной области шириной W определяется интег
ралом ^ n(x)p(x)dx, где п и р зависят от расстояния х от
о
границы кристалла. Произведение пр будет, очевидно, иметь максимум в слое, близком к поверхности кристалла. Так как основное число ионизаций происходит в области самого высокого поля, можно, упрощая задачу, принять,
«6