Файл: Гласкер, Дж. Анализ кристаллической структуры.pdf

12

Принятые обозначения

скостей, а также коор­

динаты

точки обратной

решетки;

(hkl) — индексы грани кристал­

ла, какой-либо его пло­

скости или ряда парал­

лельных

плоскостей;

/

— интенсивность

каждого

рефлекса (в произволь­

1СОгг

ной

шкале);

— значение

/,

поправлен­

i

ное

на

Lp

и Abs;

— мнимая

единица, i —

= /= Г ;

г, / — любое целое число;

к — см. hkl;

фактор,

К — масштабный

приводящий

значения

F2 к абсолютной шкале

(по отношению к рас­

сеянию

одним

электро­

ном) ;

Lp — факторы Лоренца и по­

ляризации. Эти факто­

ры используют при кор­

ректировке

значений

I

на

геометрические усло­

вия

их

измерения;

I — см. hkl\

между дву­

I — расстояние

мя точками в элемен­

тарной

ячейке;

М, М' — атомы

или группы ато­

мов, которые заменяют­

ся при получении изо­

морфной пары

кристал­

лов;

белка Р

с

Mi М2 — замещенные

тяжелыми

атомами;

m — зеркальные

плоскости;

пг

число

эксперименталь­

ных наблюдений;

т , п, г, р — любое целое число;

N — число

атомов в элемен­

тарной

ячейке;

МА — число

Авогадро — число

молекул в одном моле,

равное

6,02 ■1053;

пт— обозначения

винтовых

осей;

п

и

г

являются

Принятые обозначения

13

целыми числами и мо­

гут быть равными соот­

ветственно

2,

3, 4,

6

и

1, . . . .

(п — 1);

Р (UVW) — функция

Паттерсона,

оцененная

в точках

U,

V

и

W

элементарной

р

ячейки;

число

парамет­

— полное

ров

при

уточнении;

Р, А, В, С, F, I — обозначения

решеток:

Р — примитивная, А,

В,

С — центрированные

на

одной

грани,

F — цент­

рированная

на всех гра­

нях

элементарной ячей­

ки,

I.— объемноцентри-

рованная;

минимизи­

Q — функционал,

руемый

в

расчете .

по

методу

наименьших

квадратов;

R — фактор

расходимости

_ 2 l ( i * i - i * l ) i

s (hkl)

R ~

2 ( i* i)

— знак

рефлекса

hkl

для

центросимметричной

структуры;

Tv — поправочный фактор на

тепловое

движение;

ам­

( и 2)

— среднеквадратичная

плитуда

колебания

ато­

w (hkl)

ма;

одного

наблюдения

— вес

в уточнении

по методу

наименьших

квадратов;

V» V; V*.— объем

элементарной

ячейки в прямом и об­

ратном

пространствах-;

U, V, W — координаты

какой-либо

одной из ряда система­

тически

размещенных

в

пространстве точек, вы­

раженные в долях па­

раметров

элементарных

ячеек

а,

Ь и с

(исполь­

зуются в функции Пат­

X, у, z\ X], уj, гj

терсона) ;

какого-либо

— координаты

одного

из

систематиче­

Принятые обозначения

t5

(дельта-функция);

i

и

/ — целые

числа;

0 — угол

между

первичным

пучком

рентгеновских

лучей

и

«отражающей

плоскостью».

20 — от­

клонение дифрагирован­

ного пучка от прямого;

X — длина

волны;

как

пра­

вило, длина волны из­

лучения,

используемого

в дифракционном экспе­

Р (XYZ)

рименте;

плотность,

— электронная

выражаемая

как

число

электронов

в единице

объема в точке X, У, Z

элементарной

ячейки;

2 — знак суммирования;

ФН' фК' Фн-к — фазовый угол структур­

ного

фактора;

ф — угловая

переменная,

пропорциональная

вре­

мени

прохождения

вол­

ны. Она имеет вид

2Jtvf,

где

v — частота

и

/ — время;

V — частота

волны;

( )

^

среднее

значение

неко­

___ 1, 2, 3,_4, 6

торой величины;

— поворотные

оси;

1, 2, 3, 4, 6 —

поворотно-инверсион­

ные оси;

пт.

2]. 4j, 42, 43 — винтовые

оси