Файл: Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений..pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 21.10.2024
Просмотров: 55
Скачиваний: 0
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
ДЕТЕКТОРЫ В ДОЗИМЕТРИИ
ИОНИЗИРУЮЩИХ
ИЗЛУЧЕНИЙ
ПО Л У П PO ВО ДИ И К О ВЫ Е Д ЕТ ЕК Т О Р Ы
ВД О ЗИ М ЕТР И И
ИО Н И ЗИ Р У Ю Щ И Х
ИЗЛ УЧ ЕН И Й
Под редакцией доктора технических наук
В. К. ЛЯПИДЕВСКОГО
МОСКВА АТОМИЗДАТ 1973
УДК 539.1.074.55
ft |
Гі^-С. fl;.'- |
• |
г |
I |
каучно" • |
1"‘:V ! |
|
I |
(&С»ЛИО - |
УС\' |
f |
:ЭКс^.'ЛІЛЯг
Л? [ ЧИТАЛЬНОГО ЗАДА
Цъ - з ф ч і ,
Полупроводниковые детекторы в дозиметрии иони зирующих излучений. М., Атомиздат, 1973, 180 с. (Авт. Кронгауз А. Н., Ляпидевский В. К., Манделышайг ІО. Б., Подгорный В. Н.).
В книге рассмотрены полупроводниковые детекто ры, широко применяемые в спектрометрии ионизирую
щих |
излучений. |
Весьма |
перспективно |
использование |
||
таких |
детекторов |
для |
дозиметрии |
рентгеновского |
и |
|
у-излучения, излучения |
ускорителей |
заряженных |
ча |
|||
стиц |
и пр. |
|
характеристики |
полупроводни |
||
Изложены основные |
||||||
ковых |
материалов, |
используемых для |
детектирования |
излучения; процессы, происходящие в них под дейст вием излучения; дозиметрические характеристики одно родных и неоднородных полупроводниковых детекторов; описаны схемы включений и дозиметры с использова нием полупроводниковых детекторов.
Рис. 44, табл. 8, библиографических ссылок 354.
03315—088
Атомиздат, 1973
034(01)—73
ПРЕДИСЛОВИЕ
Полупроводниковые детекторы широко применяются для ре гистрации различных видов излучений. Этому вопросу посвяще но большое число монографий, в которых рассмотрено приме нение детекторов для спектрометрии заряженных частиц (Дж. Дирнли и Д. Нортроп. Полупроводниковые счетчики излучений. М., «Мир», 1966 г.; Ю. К- Акимов и др. Полупроводниковые де текторы ядерных частиц и их применение. М., Атомиздат, 1967), применение полупроводников для регистрации излуче ний видимого диапазона и для преобразования световой энер гии в электрическую (С. М. Р ы б к и н . Фотоэлектрические явления
в |
полупроводниках. |
М., Физматгиз, 1963 г.; А. М. Васильев, |
А. |
П. Ландсман. |
Полупроводниковые фотопреобразователи. |
М„ «Советское радио», 1971 г.; А. Амброзяк. Конструкция и тех нология полупроводниковых фотоэлектрических приборов М., «Советское радио», 1970 г.).
Однако в дозиметрии ионизирующих излучений полупровод никовые детекторы, несмотря на весьма ценные качества (большая чувствительность, линейная зависимость сигнала от поглощенной дозы в большом диапазоне энергий и др.), приме няются сравнительно мало. Это обусловлено тем, что полупро водниковые детекторы нетканеэквивалентны, и поэтому для их применения в дозиметрии, где требуется определять поглощен ную дозу в тканях организма или экспозиционную дозу, необ ходима разработка' специальных методов. Методы дозиметрии с помощью нетканеэквивалентных детекторов освещены в литера туре недостаточно полно. Поэтому авторы пытались в какой-то степени заполнить этот пробел, обобщив и систематизировав материалы по применению полупроводниковых детекторов в до зиметрии ионизирующих излучений.
Книга состоит из восьми глав. |
Сначала рассматриваются |
||
общие характеристики |
детекторов, |
для определения |
которых |
не требуется знания |
физических |
процессов, происходящих |
|
при поглощении излучения в рабочем объеме детектора |
(гл. 1). |
Затем кратко рассмотрены физические процессы, происходя щие в рабочем объеме полупроводникового детектора при его облучении (гл. 2). Эти процессы определяют собой характе
3
ристики сигнала на выходах детектора, и поэтому их рассмот рение должно предшествовать рассмотрению свойств конкрет ных детекторов (гл. 3 5). Важное значение для дозиметрии представляет изучение влияния внешних факторов на характе ристики детекторов (гл. 6). В гл. 7 и 8 рассмотрены методы до
зиметрии с помощью полупроводниковых детекторов и дозимет рическая аппаратура.
Главы 1—3 и 7 написаны В. К. Ляпидевским, |
§ 3.4 гл. 3 — |
А. Ф. Василевичем, Н. Г. Волковым и В. К. |
Ляпидевским |
гл. 8 — А. Н. Кронгаузом, Ю. Б. Мандельцвайгом и В. Н. Под
горным, гл. |
4 |
и 6 — А. Н. Кронгаузом и В. Н. Подгорным, |
гл. 5 — Ю. |
Б. |
Мандельцвайгом. |
Авторы будут признательны за все замечания, которые про сим направить в издательство.
ГЛАВА 1
ДОЗИМЕТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ДЕТЕКТОРА
Полупроводники и изоляторы* широко применяются в каче стве детекторов элементарных частиц. Кристаллы с узкой зап рещенной зоной (0,5—2,5 эв) обычно используются в качестве полупроводниковых детекторов, а кристаллы с широкой зап рещенной зоной (3,5—7,0 эв) — в качестве сцинтилляционных и люминесцентных детекторов.
Если на выходе детектора регистрируется изменение прово димости под действием излучения, то независимо от ширины запрещенной зоны будем называть детектор полупроводниковым (ППД)**, если регистрируется свечение — то люминесцентным. Если свечение люминофора регистрируется находящимся с ним
в оптическом контакте |
полупроводником — то комбинирован |
ным. |
детекторы можно разделить на два |
Полупроводниковые |
больших класса — однородные и неоднородные.
Однородный детектор представляет собой кристалл с одина ковым по всему чувствительному объему типом проводимости. Для изготовления детекторов применяют м-атериалы с большой шириной запрещенной зоны (алмаз, CdS и пр.). Это обусловле но тем, что полупроводники с малой шириной запрещенной зоны обладают при комнатной температуре большой темновой прово димостью и поэтому могут применяться в качестве детекторов излучений только при достаточно низких температурах, что не всегда практически осуществимо.
От этого недостатка свободен неоднородный ППД, представ ляющий собой полупроводник, в котором имеются области с различным типом проводимости — электронным (п) и дыроч ным (р).
* Деление на полупроводники и изоляторы в значительной степени условно. Обычно изоляторами считают такие вещества, в которых концентра ция темповых носителей пренебрежимо мала по сравнению с концентрацией носителей, генерируемых излучением. Тогда ширина запрещенной зоны при комнатной температуре должна превышать 1,5 эв. Кроме того, необходимо, чтобы расстояние уровня Ферми от ближайшего края запрещенной зоны превышало 0,75 эв.
** К ППД следует отнести и детекторы, основанные на регистрации изменения свойств полупроводников под действием излучения.
5
Некоторые важные для дозиметрии характеристики детектора можно определить, не рассматривая физические процессы, про исходящие в самом детекторе при его облучении. Такой под ход позволяет выделить наиболее общие характеристики, свой ственные любому детектору излучений, например функцию от клика (вероятность того, что при прохождении через детектор частицы с данными свойствами на выходе детектора появится сигнал — а).
§1.1. ОСНОВНЫЕ ВЕЛИЧИНЫ, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
ИЕГО ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ С ВЕЩЕСТВОМ
Пусть на |
поверхность детектора падает поток |
фотонов |
||
(рис. 1.1, а). |
Образующиеся электроны |
передают |
энергию ве |
|
ществу, заполняющему рабочий объем |
детектора, |
и |
веществу, |
6 |
в |
г |
Рис. 1.1. Схема взаимодействия электромагнитного излучения с веществом, заполняющим рабочий объем детектора (а), поглощенная (б), экспозиционная (е)
дозы и керма (г):
1 — рабочий объем детектора; |
'2 — стенка; 3 — вещество, окру |
жающее |
детектор. |
окружающему детектор. Электроны, образовавшиеся в окру жающем детектор веществе, также могут попасть в рабочий объем детектора и потерять в нем часть своей энергии. Эти
I
6
электроны дают вклад в поглощенную дозу наряду с электро нами, образовавшимися в самом детекторе. Приведем основные определения.
Плотность потока фотонов (частиц) есть число фотонов (частиц), проникающих в единицу времени в объем сферы с единичной площадью центрального сечения.
Для направленного излучения плотность потока фотонов (ча стиц) есть число фотонов (частиц), проходящих в единицу вре мени через нормально расположенную поверхность единичной площади
Ф = N/St, |
(1.1) |
где N — число фотонов; S — площадь |
поверхности; t — время. |
Интенсивность излучения — это энергия излучения, прони кающего в единицу времени в объем сферы с единичной пло щадью центрального сечения:
J = ф £ѵ, |
|
(1.2) |
|
где Еу — энергия фотона (энергию электрона, |
ß- и а-частиц |
||
обозначим Ее, Е$ и Еа соответственно). |
(частиц) |
по ка |
|
Спектр излучения — распределение фотонов |
|||
кой-либо величине. Энергетический спектр |
|
|
|
Ф(ЕУ) |
|
(1.3) |
|
распределение фотонов (частиц) |
по их энергиям. |
номе |
|
Поглощенная доза излучения |
в веществе с атомным |
||
ром z |
|
|
|
Dz = Eaz/m, |
|
(1.4) |
где Еог — энергия, переданная на ионизацию и возбуждение веще ства в объеме с массой т и атомным номером z (см. рис. 1.1, 6 ) (или, иначе, поглощенная в массе т энергия). Поглощенная до за обычно измеряется в радах (1рад=100 эрг/г = 6,24-ІО7 Мэвіг).
Экспозиционная доза рентгеновского или у-излучения
Ai = Q/m, |
(1.5) |
где Q — сумма электрических зарядов каждого знака, образую щихся в воздухе при полном использовании всех заряженных
частиц, освобожденных |
первичным излучением в |
массе т (см. |
рис. 1. 1, е). |
кулон на килограмм — экспозиционная |
|
По ГОСТ 8848—63, |
||
доза рентгеновского и |
у-излучений, при которой |
сопряженная |
корпускулярная эмиссия на килограмм сухого атмосферного воздуха производит в воздухе ионы, несущие заряд в один ку
лон электричества каждого знака. |
|
рентгенах |
|
Допускается измерять |
экспозиционную дозу в |
||
(Ір = 2,57976-10-4 к/кг). 1 |
р создает в |
1 см3 воздуха |
при давле |
нии 760 мм рт. ст. и температуре 0°С |
1 к или 2,08-ІО9 пар ионов. |
7
Принимая, что на образование одной пары ионов расходуется 34 эв, получаем, что при экспозиционной дозе в 1 р энергия у-
излучения, переданная электронам |
в 1 |
см3 воздуха, равна |
||
0,114 эрг/см3 или 88 эрг/г. |
|
отнесенная к единице вре |
||
Мощность дозы излучения — это |
||||
мени доза излучения |
|
|
|
|
|
Pz = |
DJt, Рд ~ |
Djt, |
(1.6) |
где t — время |
облучения. |
веществе |
с |
атомным номером z |
Керма в |
облучаемом |
|||
|
|
K z = Ekzlm, |
(1.7) |
где Ekz — сумма кинетических энергий всех заряженных частиц, освобожденных первичным излучением в массе т (см. рис. 1.1, г).
Отметим, что кинетическая энергия электронов расходуется на образование тормозного излучения, ионизацию и возбуж
дение атомов среды. Кинетическая энергия |
ионов крайне мала, |
и ее можно не учитывать. |
веществе с атомным |
Массовый коэффициент ослабления в |
|
номером z |
|
Ѵтт= dJ/(Jdx), |
(1.8) |
где dJ—изменение интенсивности излучения при прохождении слоя толщиной dx, происходящее в результате передачи энер гии электронам и рассеяния. Толщина слоя dx г/см2, а — массовый коэффициент ослабления, см2/г.
Массовый коэффициент передачи энергии излучения в веще стве с атомным номером z для фотонов с энергией Еу
dJk _ |
Ekz |
__ Кг |
Кг |
(1.9) |
|
Jdx |
JtSdx |
Jt |
ФtEy ' |
||
|
где dJk—изменение интенсивности в результате передачи энер гии электронам, Kz — керма.
Электронное равновесие — это такое состояние, когда погло щенная энергия излучения в некотором объеме среды* равна суммарной кинетической энергии электронов, образованных в том же объеме.
В условиях электронного равновесия плотность потока вто ричных электронов Фе изменяется так же, как плотность потока фотонов Фѵ, т. е. отношение Фе/Ф? остается постоянным.
Массовый коэффициент поглощения энергии
И’п m z |
dJп |
JtSdx |
E k z (1 - R z ) |
= n*m20 - R z ) . (MO) |
|
Jdx |
JtSdx |
|
* Равная сумме потерь энергии на ионизацию и тормозное излучение вторичными электронами в этом объеме.
8