Файл: Моряков, О. С. Вакуумно-термические и термические процессы в полупроводниковом производстве учеб. пособие.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 24.10.2024

Просмотров: 62

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

креплена электронная пушка 7. Колпак крепится к подъемной стой­

ке кронштейном.

Под колпаком расположены карусель 1 с держателями подло­ жек 2, нагреватель подложек 16, электронная пушка 7 с фокусиру­ ющей и отклоняющей системами 6 и магнитной призмой 5, держа­ тель источника примеси (галлия) 11 и держатель 13 германия и охлаждаемый жидким азотом экран 12.

Рис. 57. Установка УРМЗ 279.010 для вакуумного реактивного напыления:

) — сосуд Дьюара, 2 и 3 — рукоятки управления гидропри­ водом подъема колпака и каруселью, 4 и 8 — рукоятки управления вакуумным затвором и клапанной коробкой, 5 — воронка для заливки жидкого азота, 6 —колпак, 7 — элек­ тронная пушка, 9 — основание

Источником вещества пленки служит слиток германия, а леги­ рующей примесью — металлический галлий, осаждение которых на подложки (в виде эпитаксиальной пленки) идет совместно.

Многопозиционная карусель позволяет поочередно обрабатывать 24 подложки, закрепленные в вольфрамовых держателях. Смену по­ зиций производят вручную, вращая ручку, управляющую системой конических и цилиндрических шестерен. Поворот карусели фиксиру­ ется мальтийским крестом.

Нагреватель 16 подложек представляет собой вольфрамовую ленту, закрепленную на охлаждаемых токовводах.

Плавление и испарение веществ, осаждаемых на подложки, осу­ ществляется электронной пушкой 7, состоящей из катода, анода к

94

А-А

U« ¿ « 4>Q , S * £*

1§ S w § I

a

О

b>j¡ _*

О q 2

2 <U С£

я F- о

*-теммpa aÜÜÜ<d о

с{ с. О

s 5 ь

« 1g s!

в й> 2 «я

га о" ^

СС Ч Я

м те га

2« йх« Ч

,i 5ш о.

з я

нга

ЗК

- о


управляющей диафрагмы. Электронный пучок проходит фокусиру­ ющую и отклоняющую системы 6 и поворачивается на 90° магнит­ ной призмой 5, после чего попадает на поверхность слитка герма­ ния. В результате бомбардировки электронами германий плавится и начинает испаряться. Скорость испарения зависит от мощности электронного пучка, которая, в свою очередь, зависит от тока эмис­ сии и напряжения на электродах. Фокусирующая и отклоняющая системы, а также магнитная призма защищают электронную пушку от запыления германием.

Испарение галлия ведут из кварцевой трубки, нагреваемой воль­ фрамовой спиралью, закрепленной на держателе. Температуру на­ грева регулируют в диапазоне 250—450° С. Вакуумный пост уста­ новки включает механический ВН-6-2М и паромасляный Н-2Т на­ сосы, клапанную коробку, высоковакуумный затвор, натекатели, ловушки и трубопроводы. Работа системы водоохлаждения паро­ масляного насоса и токовводов контролируется гидрореле.

Пульт управления, выполненный отдельно от установки, пред­ ставляет собой металлический сварной шкаф с приборами и органа­ ми управления и подключается к установке через панель разъемов.

Техническая характеристика установки УРМ 3 279.010 приведена ниже.

Объем рабочей камеры, м3

........................................................напыляемых

 

0,12

Количество

одновременно

подложек,

шт./цикл.....................................................................................

 

 

 

 

 

24

Размер подложки, м м ............................................................

 

 

22—27

Температура нагрева подложек, еС .................

 

0—900

Предельный

вакуум

в

рабочей камере,

5-10~7

мм

рт. ст.................................................................

 

м и н

 

.

Время

откачки,

 

130

Мощность электронной пушки, кВт.....................

 

0,5

Ускоряющее напряжение, к В .................................

 

20

Диаметр электронного пучка, м м .........................

 

1

Скорость осаждения германия, мкм/мин . . .

 

2

Диапазон регулировки температуры испарителя

250—450

галлия,

° С

....................................................................

 

 

 

 

Питание от сети переменного тока:

 

50

частотой, Г

ц ........................................................

В

 

 

 

напряжением,

 

 

.

380

Мощность в установившемся режиме, кВт .

7,5

Расход воды при давлении 2—4 ат, л/ч . .

.

400

Давление

сжатого воздуха,

а т .............................

 

2—4

Габариты

установки,

м м ....................................

 

 

1250X816X1960

Масса

установки, к г

......................................................

 

 

550

Габариты пульта, м м

............................................

 

 

1200X650X1950

Масса

пульта,

к г .............................................................

 

 

 

270

Контрольные вопросы

1.Что такое эпитаксия?

2.Какими преимуществами обладают эпитаксиальные приборы по сравнению

сдиффузионными?

3.Какие методы наращивания эпитаксиальных слоев вы знаете?

4.Каков технологический процесс наращивания эпитаксиальных слоев ме­ тодами осаждения из газовой фазы и испарением в вакууме?

96


5.Каково устройство установки для наращивания кремниевых эпитаксиаль­ ных слоев?

6.Каково устройство установки для наращивания германиевых эпитаксиаль­ ных слоев?

Г Л А В А С Е Д Ь М А Я

ВАКУУМНО-ТЕРМИЧЕСКИЕ И ТЕРМИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПЛЕНОК

§ 34. Сведения о пленках

Пленки широко применяют для получения пассивных и активных компонентов в полупроводниковых приборах.

Как пассивные компоненты пленки используют в качестве ди­ электриков для маскировки поверхности полупроводниковых плас­ тин при локальной диффузии, для пассивации поверхности пластин и стабилизации параметров электронно-дырочных переходов, а также для изготовления омических контактов, токопроводящих до­ рожек, резисторов, конденсаторов и индуктивностей. Эти пленки обычно разделяют на тонкие (от 100 до 10 000 А) и толстые (свы­ ше 10 000 А).Толстые пленки имеют ограниченное применение (ис­ пользуются в качестве резисторов).

Активные компоненты —это пленки с электронно-дырочными пе­ реходами. Однако тонкопленочные полупроводниковые приборы се­ рийно пока не выпускаются. Рассмотрим только пленки, применяе­ мые в качестве пассивных компонентов.

Исходными материалами для изготовления этих пленок служат нихром, тантал, керметы (смесь керамики или других диэлектриков с металлом), хром, алюминий, золото и различные соединения крем­ ния и германия.

Пленки получают различными методами, основными из которых являются химический (например, окисление кремния), вакуумная конденсация (термическое испарение в вакууме), катодное или ре­ активное распыление, ионноплазменное распыление и осаждение из паровой или газовой фазы (эпитаксиальное выращивание).

Химический метод был рассмотрен в главе четвертой. Эпитакси­ альному выращиванию посвящена шестая глава. Поэтому ознако­ мимся с процессами вакуумной конденсации, катодным и ионно­ плазменным распылением.

§ 35. Технологические методы изготовления пленок

Вакуумной конденсацией обычно получают металлические плен­ ки для невыпрямляющих (омических) контактов полупроводнико­ вых приборов, токопроводящих дорожек, резисторов, конденсаторов и других пассивных элементов интегральных схем.

На рис. 59, а показана схема рабочей камеры установки для ва­ куумного напыления металлов (т. е. их термического испарения в

97


вакууме) с последующей конденсацией на охлажденной подложке. Процесс ведут под колпаком 1 при давлениях 1+2,5-10~5 мм рт. ст. Пластины полупроводника (подложки) 6 укладывают на нагрева­ тель 7, а на испаритель 2 помещают полоски металла 3, предназна­ ченного для напыления. Чтобы ограничить зону конденсации метал­ лических паров, используют неподвижный экран 4, который направ­ ляет их на полупроводниковые пластины. Подвижная заслонка 5 предотвращает напыление загрязненного металла в начале процес­ са.

Рис. 59. Рабочие камеры установок для напыления -материалов:

а ~ вакуумного, б — катодного, в — ионноплазменного;

1 — колпак,

2 —испари­

тель, 3 — распыляемый

материал,

4 и 14 — неподвижные

экраны, 5 —заслонка,

6 — полупроводниковая

пластина,

7 —нагреватель, 8 — натекатель,

9 — плита,

10 — заземленный экран,

11 ~ катод, 12 — анод,

13 — мишень

 

Познакомимся с технологическим процессом распыления сплава серебро — золото — сурьма при изготовлении невыпрямляющих кон­ тактов транзисторов ГТ311 на установке ЖК 43.05, который состоит из следующих операций:

подготовки установки и откачки рабочей камеры до давления

~ 30~6 мм рт. ст.;

отжига германиевых пластин при температуре нагревателя 520±5° С в течение 10 мин;

напыления сплава при температуре испарителя 520±5°С в те­ чение 15 с;

вплавления сплава в германий при температуре 520±5°С в те­ чение 5 мин;

повторного напыления сплава в течение 20 с при температуре на­ гревателя пластин 400+5° С и еще одного напыления при темпера­ туре нагревателя 340±5° С;

охлаждения пластин до комнатной температуры.

В результате напыления и вплавления на поверхности германия образуется металлическая пленка толщиной 0,0004—0,0006 мм.

Достоинствами этого метода являются сравнительная простота и воспроизводимость процесса, возможность напыления на подлож­ ку как одного, так я нескольких металлов, непосредственно (в ва­ кууме) сплавление пленки с подложкой, предохраняющее пластины от окисления и загрязнения. К недостаткам его относится некото­

98


рая неравномерность пленок по толщине и составу (так как напыле­ ние происходит из точечного источника и при различных темпера­ турах), а также инерционность процесса как в период разогрева, так и после выключения испарителя.

На качество пленок влияет состав остаточных газов (пары воды, кислород, окись углерода и др.) и степень разрежения в напыли­ тельной установке.

Как до начала работы, так и при напылении на поверхностях пластин могут адсорбироваться молекулы газа; это явление проис­ ходит тем отчетливее, чем медленнее испаряется металл, т. е. чисто­ та пленок зависит от скорости испарения, так как с увеличением скорости молекулы остаточных газов рассеиваются. Масс-спектро- метрический анализ показывает, что на долю водяных паров прихо­ дится около 97% от общего количества остаточных газов. Вымора­ живая водяные пары с помощью жидкого азота, можно существенно улучшить вакуум. Такие же результаты дает применение химиче­ ских газопоглотителей или высокотемпературный прогрев рабочей камеры при откачке. Однако при прогреве значительно увеличивает­ ся продолжительность производственного цикла.

Время откачки установки можно уменьшить, если перед разгер­ метизацией заполнить колпак осушенным и очищенным воздухом и сократить, насколько возможно, время сообщения его с атмосферой. Например, если начать очередной процесс спустя пять минут после подъема колпака, продолжительность откачки сокращается в два раза.

На рис. 59, б показана рабочая камера установки для катодного распыления, которое основано на разрушении напыляемого мате­ риала, служащего катодом, положительными ионами газа.

Технологический процесс ведут при небольшом (КН —10~2 мм рт. ст.) давлении инертного газа. Для ионизации газа между анодом и катодом прикладывают достаточно высокое напряжение (несколь­ ко киловольт). В результате в рабочей камере возникает так назы­ ваемый тлеющий разряд. Ионы остаточного газа бомбардируют рас­ пыляемый материал (катод), частицы которого распыляются и пе­ реносятся на полупроводниковую подложку. Если необходимо, под­ ложки можно нагревать. Заслонка имеет то же назначение, что и при вакуумной конденсации металлов. На качество пленок влияет расстояние от катода до анода, межэлектродное напряжение и дав­ ление газа под колпаком.

Методом катодного распыления получают пленки тугоплавких металлов (тантала, титана, циркония, ниобия), а также кремния, германия, алюминия, никеля, серебра, золота и др. Достоинствами этого метода является равномерность пленок по толщине и химиче­ скому составу, а недостатком —некоторое их загрязнение остаточ­

ными газами.

Разновидностью процесса катодного распыления является реак­ тивное распыление. В отличие от катодного его ведут в разреженной среде определенного газа, реагирующего с атомами распыляемого металла. В результате на подложке осаждается пленка. Например,

99