Файл: Регулирование качества продукции средствами активного контроля..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 195

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

где Р (Xi\Ui,

\Xi, Ii) —-условная плотность

случайной величины л\-

 

при фиксированной совокупности (Ui, ц.,-, h)

 

параметров процесса,

относящихся к

тому

 

же і-му изделию.

 

 

Поясним

физический смысл величин, стоящих в формуле

(213)

под знаком интеграла. Функция Р 0 ) —априорная плотность на­ чального значения функциональной случайной составляющей;

функции Р (рі| \ii-i)—плотности вероятности перехода этой со­ ставляющей для двух соседних моментов времени. Эти функции от­

ражают априорные

сведения об изменениях

функциональной

слу-

 

п

 

 

 

чайной составляющей. Выражение вида UP

(xAUi,

іц, /,-) содержит

в себе информацию

об управляемом процессе.

Одновременно

это

выражение содержит информацию о собственно случайной состав­ ляющей (;„ процесса.

Формула (213) является исходной при синтезе оптимальных по точности систем подналадки с фиксацией текущих размеров изде­ лий. В зависимости от статистических свойств управляемых процес­ сов, в соответствии с формулой (213), строятся конкретные опти­ мальные алгоритмы управления. Для трех наиболее распространен­ ных описаний технологических процессов эти алгоритмы будут при­ ведены в следующих параграфах.

К изложенному тесно примыкают

некоторые результаты работы

[137]. В одном из разделов этой статьи рассматривается

задача оп­

тимального управления процессом вида

 

хп = г(п, Ѳ) +

С„

( я = 1, 2, . . . , ) ,

(214)

где г (п, Ѳ) —систематическая

составляющая;

 

Ѳ — определяющий ее поведение неизвестный

параметр;

последовательность независимых случайных вели­ чин.

Рассматриваемый алгоритм управления использует в качестве оптимальной оценки Ѳ апостериорное математическое ожидание

этого параметра, найденное по результатам наблюдений хп

= (хі,

. . . , Хп) '•

 

 

Ѳ =

м ( Ѳ | х „ ) ,

(215)

где M — символ математического ожидания.

 

Как следует из результатов

работ [83, 137], оценку вида

(215)

используют и оптимальные по точности алгоритмы подналадки.

§ 18. О П Т И М А Л Ь Н Ы Е ПО ТОЧНОСТИ АЛГОРИТМЫ П О Д Н А Л А Д К И СТАЦИОНАРНЫХ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ

Формула (195) дает общее представление о технологическом процессе. Случайная составляющая этого процесса образуется как сумма двух последовательностей {и.я } и (п=1, 2, . . . ) . В за­ висимости от статистических характеристик последовательности

159


{цп} технологические процессы разделим на стационарные и не­ стационарные. В данном параграфе построим оптимальные алго­ ритмы подналадки для двух классов стационарных технологических процессов, в следующем — для нестационарных.

I . Управление технологическим процессом с корреляционной

функцией Кц (т) =

ѳ | т 1

• Процесс этого типа является марков­

ским [145] и стационарным

[72].

Для

этого

процесса

переходная

плотность имеет вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1-1

 

1

exp;

,

(216)

 

 

 

 

 

где r =

е~%.

Пусть также

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

- —

exp

 

 

(217)

 

 

 

 

 

 

2з.і

 

 

 

В силу

взаимной

независимости

случайных величин

(п

= 1,

2, . . . ) , произведение плотностей имеет вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

exp

(X.

mt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2s;

 

 

 

 

 

 

 

s? ( 2 . )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(218)

Подставляя выражения

(216)

— (218)

в формулу

(213),

полу­

чаем

 

 

 

 

00

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2л-И

 

Г*

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

,

з , ( 2 я )

(1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

''n

 

 

 

 

У

exp

А

 

 

 

si=l-

(xi — ml u-i — £//)2

X

 

 

2а.2

(=1

 

 

2a?

 

 

 

 

 

^

'

 

 

 

 

 

 

 

 

X

^ „ t / u f t

. . .

<af(i,„.

 

 

 

(219)

Сразу же сделаем оговорку. Размеры реальных изделий изме­ няются лишь в конечных пределах; поэтому введение бесконечных пределов в выражение (219) сделано лишь для удобства расчетов. С другой стороны, известно, что нормальное распределение в бес­ конечных пределах с какой угодно точностью может быть аппрок­ симировано нормальным распределением, но с конечными преде­ лами.

Производя в формуле (219) интегрирование в соответствии с ме­ тодикой [102] и дифференцируя полученный результат по Un, нахо-

160


дим величину оптимального уровня настройки инструмента перед выпуском п-то изделия:

 

иѣа =

-mn

2s-,

 

 

(220)

где qn и p n — величины,

определяемые с помощью

рекуррентной

процедуры:

 

 

 

 

 

Р П =

А

 

 

 

 

(221)

 

г

р п _ 1 + ß. r + • 1

 

 

 

 

 

 

2 а;2С

 

 

 

 

 

 

1

\ ,

Х п - \

(222)

 

 

 

2з?/>„-і

I

£

 

 

2(1

г*\

<,

 

 

(223)

 

 

 

 

вспомогательная величина, зависящая от статистических характе­ ристик процесса. При п = 1, qx = 0

1

Pi = г -

2 ^

Таким образом, величина оптимального уровня настройки ин­ струмента выражается рекуррентно через составляющие qn и р п , связанные с аналогичными величинами, отнесенными к предыдуще­ му изделию, и через поправку, зависящую от размера предыдущего изделия. Выбор величины оптимального уровня настройки произво­ дится с учетом всей информации, накопленной к моменту подачи очередного подналадочного импульса.

В соответствии с выражением (220), величина подналадочного импульса для гс-го изделия может быть выражена через соответст­ вующие уровни настройки:

« : = " ; -

к

- , =

- « -

i (f

-

y

= 4

(224)

Анализ выражения

 

(221)

показывает,

что

последовательность

п} с ростом номера

n

монотонно

возрастает

до

какого-то

преде­

ла. Следовательно, при достаточно большом номере п величина р п

достигает некоторого установившегося значения р у с .

Очевидно,

при п-*-оо

 

 

рус =

lim ps =r- lim ps-\.

(225)

Подставляя выражение (225) в формулу (221) и решая квадрат­

ное уравнение относительно

р у с , находим

 

 

+ * +

( 2 2 6 )

1 1—2891

161


где

d=

Вустановившемся режиме оптимальный уровень настройки технологического процесса равен

^ - - ' « - о - і г -

( 2 2 7 )

В данной главе систематическая составляющая /„ считается де­ терминированной известной функцией времени. Поэтому ее компен­ сация может быть выполнена обычными методами [38]; в дальней­ шем рассмотрим лишь вопросы, связанные с компенсацией функ­ циональной случайной составляющей. Обозначим через Un* ту часть уровня настройки (227), которая учитывает случайную со­ ставляющую,

 

и'п = - г ^

(* = 1.

2.

• • • ) •

(228)

 

ЛРуС

 

 

 

 

Из формулы

(222) следует, что в установившемся режиме

спра­

ведливо равенство

 

 

 

 

qn

= а0<7„_і + 60 х„_і,

(я =

1,

2, • • • ),

(229)

где а0 и bo — некоторые коэффициенты,

зависящие

от статистиче­

ских характеристик

управляемого процесса. Вид их

может быть найден из формулы (222).

 

Из выражения (228) следует,

что

 

 

q„-i = -

20'пРус.

 

(230)

Подставляя выражения (230)

и (228)

в формулу

(229), находим

связь между уровнями настройки (компенсирующими функциональ­ ную случайную составляющую) для двух соседних изделий:

 

и*п = a t / L i +

fccn-i,

(231)

где а = а0, о — —

—-.

 

 

 

Коэффициенты а и b связаны со статистическими

характерис­

тиками управляемого процесса соотношениями:

 

а

- ( т - Щ 1

+

і £ г }

< 2 3 2 )

 

' р

^ - — \.

(233)

 

?Рус

 

 

 

162


При пренебрежимо малых износах (maO) формулы (231) — (233) являются основой оптимального способа автоматической под­ наладки технологического процесса. В соответствии с этим спосо­ бом измеряют размеры каждого изделия, а величину и знак уров­

ня настройки инструмента

выбирают

совпадающими с

величиной

и знаком суммы предыдущего уровня

настройки и отклонения раз­

мера предыдущего изделия

от заданного уровня, взятых

с постоян-

 

 

г=0,1

 

 

 

 

0,5

 

 

 

 

0,9

 

 

1,0

5

10

15п

 

О

 

Рис. 63. Графики зависимостей ß „ от

п

 

ными коэффициентами, устанавливаемыми в зависимости от стати­ стических характеристик управляемого процесса 1 .

Конструктивные вопросы реализации данного способа подналад­ ки рассматриваются в гл. X I I .

Подставив соотношение (220) в выражение (219) и проинтегри­ ровав получившееся выражение по п Un-\), определим величи­ ну дисперсии управляемого процесса при оптимальном по точности способе подналадки:

+

( 2 3 4 )

где величина рп определяется по формуле (221). Физический смысл дроби 1/2 рп — вклад, вносимый функциональной составляющей u„. Графики зависимостей Dn* от п при а? —<т£ = ] и различных зна­ чениях г приведены на рис. 63.

В установившемся режиме

 

D* =

о? +

а2

 

~

.

(235)

 

ус

.

V-

 

 

 

 

 

 

 

 

(1 4- d)+

- f ( d - l )

 

Приведем

ряд частных случаев.

 

 

 

1. Пусть

функциональная

составляющая

образует

последова­

тельность независимых

случайных величин (г = 0). Тогда

 

 

ус

С 1

 

 

 

2. Функциональная составляющая цг а является случайной вели­ чиной (г — 1). Тогда

D* = а ? . ус С

Авторское свидетельство № 305342. Бюллетень изобретений, 1971, № 18.

11*

163