Файл: Кремниевые планарные транзисторы..pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 10.04.2024

Просмотров: 225

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Подставляя (Д.З, б) в (Д.1) и (Д.2) и проводя интегрирование, находим

Ld ехр

w6

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L d

(La+хк)

 

ехр W6o

 

 

ехр

 

Хк

+ L a ( — х'к

La)x

 

L n

 

 

' L d

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Xexp

,

 

~XYL \

1 , ~ „ 2

~ , 2 ,

 

8 g n (Фкк + 1 ^ Р - " 1)

(Д-5)

 

 

 

— - —

+ — (хк — *к ) =

 

 

 

 

 

 

L a

J

2

 

 

 

 

qNdK

 

При

выводе

уравнений

(Д.4) и

(Д . 5) мы

пренебрегли

членами

- 1 -

Х

к ^ ехр ( — ±а\

по

сравнению

с

ехр ( — ^ - ) и ехр ( — £ И

е

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

соответственно,

 

поскольку

при |

р-п | ~

^ к б с—Л ж

^ б о -

н а л и ч и и

явления

смыкания

р-п

переходов

(прокола

базы)

полагаем — x'K=Wfo —

(x''-х).

ѵэ эо

Величину лГ^— x£ = x£-f Wgo — (х"к— хд()) находим из (Д . 4):

 

X

Id

ехр

)

— — —

После

подстановки

выражения

(Д.6)

в (Д.5) получаем

уравнение

для определения £/к б с:

 

 

Ld ехр

XLÎ\l - 7 ^ ехр

І а

э эо

WQO \

1

 

L a

ехр I — —

+ — ехр

\ L a J

L a

I

z

-(х" — х

)

\ э

эaоo

/

ее 0

1

ехр

V L d L a

(фкк^кб с qN,du

(Д-6)

следующее

( Д - 7 )

Очевидно, что первый член в левой части (Д.7) значительно меньше второго, так как

 

 

ехр {

W6n \

Мд(хэ0) ~ ЮО > 1

 

 

L a

 

и, кроме того,

срк к

< UKQс ,

ибо ф к

к ж 0,5 В, а У к бс > Ю В .

Пренебрегая малыми членами в (Д.7), окончательно получаем следую­

щую формулу

для

с7к бс:

 

 

q

^кб r, =

2ее0

^a(x30)Wl0exP[~2(xl-xJ/La}

Г. ~.77-, . .,, ,„ X NdK[\nNa(x30)lNdK]*

X

L d

 

x'—x эо

(Д-8)

ехр

 

 

 

 

La


Глава девятая

О С О Б Е Н Н О С Т И СВЧ ТРАНЗИСТОРОВ

9.1. Основные направления в конструировании СВЧ транзисторов

Среди современных кремниевых планарных транзисторов важ­ ное место занимают приборы, предназначенные для работы в диа­ пазоне частот от нескольких сотен мегагерц до нескольких гигагерц при больших уровнях мощности. Существует также целый класс маломощных транзисторов сантиметрового диапазона для исполь­ зования в схемах, где требуются высокое усиление и малые шумы. Если при разработке малошумящих СВЧ транзисторов главной задачей является получение максимального значения предельной частоты fr и малой величины распределенного базового сопротив­ ления Г б , то при разработке мощных СВЧ транзисторов первостепен­ ную важность приобретает вопрос обеспечения равномерного токораспределения и отвода тепла.

Область применения мощных СВЧ транзисторов в специаль­ ной радиоаппаратуре весьма широка: они используются в предоконечных и выходных каскадах усилителей мощности передающих устройств, предназначенных для различных средств связи, в сис­ темах телевизионного приема на общую антенну, в авиационной аппаратуре, в космической телеметрии, в фазированных антенных решетках и для многих других специальных целей. Малосигналь­ ные транзисторы дециметрового диапазона с малым коэффициентом шума с успехом используются вместо преобразователей с барьером Шоттки и туннельных диодов, а также вместо сложных варакторных параметрических усилителей. Кроме того, они часто приме­ няются для широкополосного и узкополосного усиления.

Втабл. 9.1 представлены основные параметры современных зарубежных СВЧ транзисторов (по литературным данным на конец 1971 г.).

В[154] приводятся данные о том, что коэффициент шума тран­

зистора V578 на частоте 4 ГГц составляет 5—6,5 дБ, а на частоте 1 ГГц — всего 2 дБ. Наиболее высокое значение предельной час­ тоты fr, достигнутое в СВЧ транзисторах, составляет в настоящее время 12,6 ГГц [155] при толщине квазинейтральной базы 1200 Â; барьерные емкости коллекторного и эмиттерного переходов равны соответственно 0,08 и 0,045 пФ.

Успехи в области разработки СВЧ транзисторов стали в о з ­ можны в результате широкого и детального исследования электри-

236


Тиип

И з г о т о в и т е л ь

т р а н з и с т о р а

 

 

Т а б л и ц а

9.1

рабочая частота,Мгц

Основные

х а р а к т е р и с т и к и

напряжение питания,В

Емкость коллектора, пФ

выходная мощность,Вт

д.,п.к. %

 

к о э ф ф и ­

 

 

 

циент

 

 

 

усиления

 

 

 

по

мощно­

 

 

сти, д Б

ЗТЕ445

І Т Т , США

400

20

6,5

50

48

•—

С—25—28

СТС, США

400

25

7

65

28

J02001

TRW, США

400

40

5

50

24

ХВ5028

СТС, США

400

50

12

•—

28

2N5178

TRW, США

500

50

5

60

28

60

2N5595

TRW, США

1000

10

6

60

28

8

MSC1010*>

MSC, США

1000

10

8,2

60

28

2N5596

TRW, США

1000

20

5

55

28

16

MSC2010*>

MSC, США

1000

20

10

60

28

ТА7205

RCA, США

1200

11

11,5

60

28

—.

2N5483

TRW, США

2000

5

4

33

28

8

2N5921

RCA, США

2000

5

7

35

28

РТ8610*>

TRW, США

2000

10

7

30

28

V575

NEC, Япония

2300

2,5

10

18

5

РТ6635

TRW, США

3000

2

5

33

28

MSC3005*)

MSC, США

3000

5

5

30

28

V578

NEC, Япония

4000

8

MS0146

Texas Instr., США

4000

0,6

30

28

MSC4005*)

MSC, США

4000

5

4

30

28

6

*' Дл я использования в схемах с общей базой.

ческих и тепловых процессов, происходящих в структуре высоко­ частотных (в том числе и эпитаксиально-планарных) транзисторов, а также благодаря резкому качественному скачку в технологии, который привел к значительному усовершенствованию таких про­ цессов, как диффузия, эпитаксиальное выращивание, фотолито­ графия и создание омических контактов.

Основные проблемы, которые приходится решать при конструи­ ровании мощных транзисторов СВЧ диапазона, вытекают из тре­ бований, предъявляемых к параметрам этих транзисторов и опре­ деляющихся особенностями их применения в конкретных схемах. Несомненно, наиболее обширной областью применения является использование таких транзисторов в различных высокочастотных усилителях мощности. В связи с этими важнейшими характеристи­ ками, определяющими класс мощных СВЧ транзисторов, являются рабочая частота, максимальная выходная мощность, коэффициент усиления по мощности и коэффициент полезного действия.

Существует еще целый ряд параметров, специфичных для этого класса планарных кремниевых транзисторов, однако все они в той или иной степени определяют четыре вышеназванные характеристи­ ки. Таким образом, основные направления в конструировании СВЧ

237


мощных транзисторов обусловлены необходимостью одновременного сочетания требуемых высокочастотных свойств и энергетических показателей.

Все трудности, которые связаны с получением больших мощ­ ностей на высоких частотах, вытекают из противоречивости тех требований, которые предъявляются к размерам транзисторной структуры. Например, для повышения частотного предела необ­ ходимо уменьшать емкость коллекторного перехода, т. е. факти­ чески его площадь. Однако требование увеличения полезной мощ­ ности неизбежно влечет за собой увеличение размеров транзистор­ ной структуры.

Компромиссное решение было найдено с учетом

того факта

(см. гл. 4), что при высоких уровнях рабочего тока

происходит

оттеснение его к периферийной части эмиттера. Топология транзис­ тора разрабатывается таким образом, чтобы обеспечить макси­ мальное отношение периметра эмиттера к его площади; тем самым удается значительно увеличить активную область транзисторной структуры и обеспечить достаточно большой рабочий ток без уве­ личения общих размеров всей структуры. Идея создания транзисто­

ров с высоким отношением периметра

эмиттера к его площади

была предложена Флетчером в 1954 г.

[59].

Первым важным практическим результатом этой идеи явилась разработка гребенчатой (interdigitated) конфигурации транзистор­ ной структуры, в которой эмиттерная область имеет в плане вид «гребенки», а контакты эмиттера и базы располагаются рядом, регулярно чередуясь (см., например, [156]). Гребенчатая (или полосковая) конфигурация является основной для большинства мощ­ ных СВЧ транзисторов; фотография одного из них представлена на рис. 9.1.

Следующим крупным шагом в разработке транзисторных струк­ тур с высоким отношением активной части площади перехода к об­ щей площади было создание многоэмиттерных (overlay) транзисто­ ров [157—159], в которых вместо одного непрерывного эмиттера или набора вытянутых параллельных полосок имеется большое ко­ личество отдельных маленьких эмиттерных областей, объединенных слоем общей металлизации (рис. 9.2). Таким путем удается в преде­ лах той же самой площади коллекторного перехода получить гораз­ до больший периметр эмиттера. Кроме этого, многоэмиттерная конфигурация предполагает наличие в базовой области транзистор­ ной структуры сильнолегированной р+-сетки, являющейся пас­ сивной частью и соединенной с активной высокоомной областью базы. Наличие низкоомной р+-сетки позволяет значительно умень­ шить пассивную составляющую базового сопротивления и переход­ ное контактное сопротивление между кремнием и алюминием, т. е. в конечном счете снизить действительную часть входного им­ педанса прибора. Наконец, .третьим существенным отличием от гребенчатой конфигурации является то, что эмиттерная металлиза­ ция, объединяющая все отдельные эмиттерные элементы, проходит

23§