Файл: Герсон Ф. Спектроскопия ЭПР высокого разрешения.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 24.06.2024

Просмотров: 107

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

леном. Хотя нафталин и образует по этому способу катионрадикал, можно показать, основываясь на сверхтонкой структуре его спектра ЭПР, что он является димером [59].

Другим химическим методом получения катион-радика­ лов является реакция, в которой дипротонированные хиноны или ароматические диазасоединения восстанавли­ ваются цинком или дитионитом натрия [60]:

Аг + 2 Н +

АгН2+,

2АгН2+ + Zn -> 2ArH+ + Zn2 + .

Электролитические методы. Хотя полярографические методы восстановления и окисления ароматических со­ единений известны давно [61—63], впервые электролити­ ческие методы получения ион-радикалов для ЭПР-иссле- дований были использованы только после 1960 г. [64—66, 200—239]. Ион-радикалы приготавливали в таких отно­ сительно полярных растворителях, как ацетонитрил (АЦН), Ы,Ы-диметилформамид (ДМФ) или диметилсульфоксид (ДМСО) в присутствии перхлората тетраалкиламмония в качестве электролита. Анион-радикалы образуются на по­ верхности ртутного катода, на котором и происходит вос­ становление. Катион-радикалы образуются при окислении на платиновом сетчатом аноде. В обоих случаях в качестве противоэлектродов обычно используют каломельные элек­ троды. Первыми ион-радикалами, приготовленными этими методами, были анион нитробензола [64] и катион п-фе- нилендиамина [65].

Вскоре появились обширные исследования Френкеля с сотр. [67—72] по получению радикалов электролитиче­ скими методами. Преимущества электролитического мето­ да перед химическим восстановлением щелочными метал­ лами состоят в следующем:

1. Анион-радикалы образуются непрерывно и непосред­ ственно в ячейке, используемой для измерения в ЭПРспектрометре, что обеспечивает достаточно высокую по­ стоянную концентрацию частиц с коротким временем жизни.

2. Восстановление можно проводить при минимально допустимых значениях потенциала, так что дальнейшее вос­ становление, требующее более высокого потенциала, как,

например, при присоединении второго электрона, стано­ вится невозможным.

3. Используются относительно полярные растворите­ ли, в которых анион-радикалы не ассоциируют с их противоионами, что способствует получению более простого спектра ЭПР (ср. дополнение 2.2).

4. Можно приготовить анион-радикалы ароматических соединений с такими заместителями, как галогены, которые не удается превратить в анион-радикалы с помощью ще­ лочных металлов.

Однако в обычных условиях (при комнатной темпера­ туре, в таких растворителях, как АЦН, ДМФ, ДМСО) электролитическое восстановление невозможно, если вос­ станавливаемое соединение имеет низкое сродство к элек­ трону (т. е. когда его трудно восстановить) и если устой­ чивость образующегося ион-радикала такова, что требуют­ ся низкие температуры. До недавнего времени в таких случаях использовали химическое восстановление, однако теперь открываются новые возможности [73, 74] благодаря электролитическому получению анион-радикалов в жидком аммиаке при —80 °С. Этим методом получены анион-ра­ дикалы даже таких соединений (например, 1,3-бутадиена и пиридина), которые при контакте с щелочными металла­ ми полимеризуются [73, 167].

Число публикаций, посвященных получению катионрадикалов электролитическим окислением [65, 75—77, 200, 285], относительно невелико. К веществам, дающим катион-радикалы этим методом, принадлежат аминопроизводные углеводородов.

Фотолитические методы. Тогда как химические и элек­ тролитические методы имеют довольно общее применение, облучение ультрафиолетовым светом используется для по­ лучения ион-радикалов в растворе только в отдельных случаях. Так, например, анион-радикалы получали из некоторых кетонов [37] и нитросоединений [38] в этиловом спирте в присутствии больших количеств этилата натрия. Кроме того, интенсивное ультрафиолетовое облучение 1,2,4,5-тетраметилбензола и гексаметилбензола в растворе серной кислоты дает соответствующие катион-радикалы [80].


1.3. ОПТИМАЛЬНЫЕ УСЛОВИЯ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ ЭПР

В тех случаях, когда спектр ЭПР указывает на присут­ ствие в растворе ион-радикала, первой задачей является получение информации относительно электронной струк­

туры этого ион-радикала. Чем больше в спектре

 

ЭПР будет

 

 

 

 

легко

идентифицируе­

 

7 в

 

 

мых

 

сверхтонких

ли­

 

 

 

ний,

тем

более удовле­

L K H J

 

 

 

 

творительной

 

будет эта

 

 

 

 

информация

 

по

коли­

 

 

 

 

честву

и

достоверности.

 

 

 

 

Количество

 

наблюдае­

 

 

 

 

мых сверхтонких линий

 

 

 

 

зависит

от

разрешения

 

 

 

 

(т. е. ширины

линии) и

Р и с .

4. Блок-схема

ЭПР-спек-

интенсивности

спектра

(т.

е.

отношения

сиг­

 

трометра.

 

 

/ — 2 — полюса электромагнита; 3 — ре­

нал/шум). Качество спек­

клистрон; 7—• ферритовый

вентиль;

S —

тров ЭПР

определяется

зонатор;

4 — образец; 5 — волновод;

6 —

 

 

 

 

 

 

 

аттенюатор; 9 — кристаллический детек­

двумя

причинами:

тех­

тор; 10 — усилитель; И — самописец;

/2 —

ническими

факторами,

 

модулятор.

 

 

 

 

 

 

которые

зависят

от

 

 

 

 

спектрометра

 

и

его

настройки, и внутренними факторами, зависящими от природы образца.

Технические факторы. На ЭПР-спектрометрах, поя­ вившихся за последние несколько лет, работать относи­ тельно легко, и их могут использовать химики, не имеющие опыта работы с электронным оборудованием. Поэтому здесь нет необходимости обсуждать устройство этих спектро­ метров, а при необходимости читатель может обратиться к некоторым другим книгам [5, 7, 10, 330] и руководст­ вам. Приведенное ниже описание ограничено рассмотре­ нием основных блоков (рис. 4).

Из рис. 4 видно, что изображенный прибор отличается от УФ- и ИК-спектрометров главным образом использо­ ванием магнита в дополнение к обычным блокам (источник излучаемой энергии, поглощающая ячейка и детектор), поскольку внешнее магнитное поле является в данном


случае, как и в ЯМР-спектроскопии, необходимым ус­ ловием для поглощения энергии. Напряженность поля обычно может достигать 10 ООО Э и легко регулируется. Его однородность в зазоре между полюсами магнита (10— 30 см по диаметру) не должна изменяться по объему образ­ ца более чем на Ю- 3 —10~6 частей напряженности поля в этой области. В область однородного поля помещают резо­ натор, который вмещает образец и соединяется со всеми другими компонентами блок-схемы. Качество резонатора определяется его способностью накапливать подаваемую энергию. В частности, потери энергии возникают, когда образец содержит полярную жидкость. Эти потери можно возместить за счет уменьшения поперечного сечения образ­ ца или путем изменения формы резонатора, с целью раз­ несения электрических и магнитных полей в объеме резо­ натора. Второй способ более предпочтителен, поскольку ин­ тенсивность сигнала зависит от поперечного сечения погло­ щающей ячейки.

Энергия в резонатор подается по волноводу. Ее источ­ ником служит электронная лампа, так называемый клис­ трон, который испускает электромагнитное излучение в узком диапазоне микроволновой области. В ЭПР-спектро- скопии используются клистроны двух типов: излучающие в Q-диапазоне (около 8 мм) и в X-диапазоне (3 см). Соглас­

но условию

резонанса

[уравнение (4)],

для клистрона

Q-диапазона

(v = 3 6

ООО МГц) требуется поле более высокой

напряженности

Н,

чем

для клистрона Х-диапазона (v

=

= 9500 МГц).

Поэтому

в первом случае

в соответствии

с

уравнением (6) имеет место более сильное поглощение. Однако при исследованиях органических радикалов в растворах эти преимущества компенсируются необходи­ мостью использовать более узкие ампулы для образца при применении клистронов Q-диапазона, так как потери энер­ гии в резонаторе при образцах одинакового размера в случае клистронов с длиной волны 8 мм больше, чем в случае клистронов 3-сантиметрового диапазона.

Между клистроном и волноводом'; помещается аттенюа­ тор для регулировки подводимой мощности и ферритовый вентиль для предохранения клистрона от отраженного излучения. Излучаемая мощность достигает детектора, представляющего собой кристаллический диод, через


Т-образный мост, который называется двойным Т-мостом. Этот мост может быть сбалансирован таким образом, что излучаемая мощность не достигнет детектора, если внутри резонатора отсутствует микроволновое поглощение. Од­ нако для повышения чувствительности кристаллического диода необходимо, чтобы к нему подводилось небольшое количество энергии даже в отсутствие поглощения. Это достигается небольшой разбалансировкой моста, при ко­ торой часть энергии пропускается на детектор. Возникаю­ щий при этом шум, даже в отсутствие поглощения ЭПР, является обычным фоном сигнала и складывается частич­ но из собственного шума детектора, а частично из шума клистрона. Отношение сигнал/шум увеличивается при модуляции магнитного поля (обычно с частотой 100 кГц). На выходе модулированный сигнал регистрируется само­ писцем в виде первой производной от интенсивности линии поглощения по напряженности поля. Сигналы большой ин­ тенсивности можно также наблюдать на экране осцилло­ графа.

Оптимальные условия для работы на спектрометрах современных моделей можно получить путем регулировки интенсивности микроволнового излучения, подбора ам­ плитуды модуляции, усиления и т. д. Здесь важно обра­ тить внимание на нежелательные эффекты, вызываемые насы­ щением и перемодуляцией, которые влияют на разрешение и (или) интенсивность сверхтонких линий. Поскольку воз­ никновение сигналов ЭПР обусловлено поглощением мик­ роволнового излучения, привлекает возможность исполь­ зовать интенсивное облучение, надеясь получить более сильные сигналы. Однако такое облучение ослабляет и искажает сверхтонкие линии. Рассматриваемое явление называется насыщением. Насыщение возникает в резуль­ тате того, что сильное облучение усиливает электронные

переходы между спиновыми энергетическими

уровнями

Ех и Е 2 до такой степени, что небольшой избыток

заселен­

ности (пх — п2 ) нижнего уровня уменьшается быстрее, чем

он может восстановиться за счет спин-решеточной

релак­

сации

(ср. разд.

1.1).

Результатом уменьшения разности

( П ] —

п2 ), т. е. избытка

заселенности, который обусловли­

вает поглощение,

явилось ослабление и искажение

сверх­

тонких линий. Для предотвращения насыщения необходимо,