Файл: Данилин Н.С. Теория и методы неразрушающего инфракрасного контроля радиоэлектронных схем.pdf

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 15.07.2024

Просмотров: 119

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

го

Рис. 2.4. Схема объекта испытаний.

Рис. 2.5. Типичный инфракрасный профиль вдоль строки.

цепи коллектора транзистора Q,|. Оценка этого частного дефекта является иллюстрацией того, что в диаграмме теплового поля от­ ражаются изменения распределенного тепла не только на дефект­ ных компонентах, но и на остальных элементах схемы.

В приборе «Компер» на выходе радиометра дключей усили­ тель, который выдает напряжение от 0 до 10 В. Для калибровки на 1 и 97-м элементах фиксируются опорные уровни напряжения, соответствующие постоянной разности температур. Эти уровни ме­

няются

в соответствии с усилением и проградуированы

от 0 до

10 В в

градусах Цельсия. Разрешающая способность

системы

по температуре позволяет разбить пределы измерения температу­ ры на 64 уровня. Значение напряжения в измеряемой точке, выра­ женное в восьмеричном коде, вводится в устройство обработки данных-

Результаты печатаются на ленте во время обратного хода раз­ вертки. Можно применить различную технику вывода данных в зависимости от требований оператора, 250 выбранных точек про­

нумерованы от 0 до

372, а уровни напряжений — от 0 до

77. В

простейшем устройстве вывода

данных номера точек

и соответ­

ствующие мм номера

уровней

напряжений печатаются

на

ленте

и одновременно вводятся в ЗУ па перфоленте. Этот метод приме­ няется в случае, когда об исследуемом печатном узле не имеется предварительной информации, и тогда полученные окончательные материалы являются исходными диаграммами при выявлении причин дефектов.

Если же об исследуемых узлах имеется предварительная ин­ формация, то используется другой метод обработки результатов: номера точек, в которых регистрируются результаты измерений, печатаются вместе с разностями уровней полученных величин и уровней эталонной диаграммы. Данные для эталонной диаграммы приобретаются путем усреднения результатов измерений по нес­ кольким годным узлам и выбора наилучшего варианта. Знаки плюса и минуса при разности уровней, полученной при сравнении исследуемой диаграммы с эталонной, указывают, что результат измерения относительно стандартного уровня больше или меньше. Третий метод — это метод пороговой оценки. Измеренные уровни напряжений печатаются на бланке только для тех точек, в которых их отклонения от уровней эталонной диаграммы превосходят зара­ нее заданную величину. Эта величина аналогична среднему и стандартному отклонениям, применяемым в статистическом ана­ лизе. Метод пороговой оценки является наиболее удобным при отбраковке узлов.

В годных печатных узлах, которые были приняты при испыта­ нии электрических параметров, при регистрации -теплового поля могут быть выявлены области потенциальных отказов. Хорошим примером этому может явиться выявление отказа электролити­ ческого конденсатора, включаемого с обратной полярностью. Этот дефект в большинстве случаев выявить невозможно, поскольку


для того, чтобы ом сказался на результатах измерений электри­ ческих параметров, необходимо от 2 до 20 мин. В некоторых слу­ чаях этот дефект вообще невозможно выявить обычными метода­ ми испытания схемыПри использовании инфракрасного метода этот дефект является достаточно явным, поскольку конденсатор с обратной полярностью потребляет значительный избыточный ток.

Таким образом, инфракрасный профиль схемы служит харак­ теристикой ее состояния при анализе и поиске дефектов.

§ 2.3. КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ЭЛЕМЕНТОВ

Контроль качества элемента может быть использован для оцен­ ки физической структуры материалов, определения качества сое­ динений, обнаружения скрытых дефектов такого рода, как трещи­ ны, пустоты и посторонние включения, а также для контроля свар­ ных и паяных соединений.

Объект можно исследовать инфракрасными методами в слу­ чае, если его температура отличается от температуры фона, на котором он наблюдается. Необходимый температурный градиент создается либо путем внешнего возбуждения объекта, когда тепло

сообщается

объекту

теплопроводностью

или

лучеиспусканием,

либо путем внутреннего возбуждения объекта,

когда его

нагрев

происходит

благодаря

рассеиванию в нем

электрической

энергии.

В любом случае температура объекта при подаче возбуждения на­ чинает повышаться и постепенно достигает температурь1! теплового равновесия, при котором тепло, сообщаемое объекту извне, урав­ новешивается потерями тепла за счет теплопроводности, конвек­ ции и лучеиспускания.

На выходе радиометра, контролирующего такой объект, будет возникать электрический сигнал, возрастающий от уровня, соот­ ветствующего окружающей температуре, до уровня, соответствую­ щего температуре теплового равновесия объекта.

Способы возбуждения изменяются в зависимости от области применения и размеров исследуемых объектов. Один из таких спо­ собов заключается в том, что между двумя точками объекта соз­ дается разность температур. Эти точки выбираются таким обра­ зом, чтобы свойства проверяемого элемента влияли на тепловой поток между ними. Терморельеф поверхности между этими двумя точками характеризует распространение тепла и поэтому позволя­ ет обнаружить наличие любых аномалий, скрытых под исследуе­ мой поверхностью.

В примере применения данного метода, показанном на рис. 2.6, хорошее сварное соединение характеризуется наличием боль­ шой поверхности расплавленного металла и отсутствием узких по­ перечных сечений. Это соответствует очень малой величине тепло­ вого сопротивления и выражается в том, что температура между точками Р) и Р2 изменяется почти по линейному закону: по линии А. В отличие от этого плохое сварное соединение представляет собой узкое поперечное сечение, которое ограничивает тепловой

?7


поток через место соединения. Тепловое сопротивление в этой точ­ ке имеет большую величину, в результате чего разность темпера­ тур на сварном соединении получается также большой (как пока­ зано на рис. 2.6 линией В).

Рассмотренный метод может применяться для контроля каче­ ства паяных соединений нескольких последовательных или парал­ лельных спаев и сварных швов любой конфигурации. При дан­ ном методе исследуемый объект можно нагревать лучистой энер­ гией света, сфокусированного на объекте с помощью оптической системы. Разницу лучеиспускательной способности поверхности можно определить путем предварительного сканирования нагре­ того объекта, так как он имеет при этом одинаковую температуру во всех точках, или что еще лучше, лучеиспускательная способ­ ность в разных точках может быть уравнена путем нанесения од­ ного из нескольких (имеющихся для этих целей) термопластичес­ ких или термореактивных покрытий на основе полиэфирных, эпок­ сидных, силиконовых и полиуретановых соединений.

При другом методе создания градиента температуры внешним возбуждением одну из поверхностей исследуемого объекта подо­ гревают облучением, а на противоположной поверхности снимают карту распределения температуры (терморельеф). Этот метод обеспечивает контроль процесса диффузии тепла через поверхност­ ные слои материала и позволяет обнаруживать дефекты на пути диффузионного распространения тепла. Физические неоднородно­ сти — участки плохих соединений, пустоты или посторонние вклю­ чения — уменьшают передачу тепла от нагреваемой поверхности К поверхности, сканируемой инфракрасным радиометром. Поэтому температура в области неоднородностей оказывается более низ­ кой, чем в тех местах, где соединения имеют высокую прочность.

28

Принудительное воздушное охлаждение ненагреваемой поверхно­ сти объекта увеличивает разность температур между хорошо и плохо соединенными участками и облегчает обнаружение дефектов

такого рода.

Данный метод находит различные применения: от проверки нанесенных гальваническим способом покрытий до контроля ка­ чества сварных швов. В настоящее время этот метод входит в программы проверки корпусов ракетных двигателей, сотовых па­ нельных конструкций, лопаток роторов для вертолетов и реактив­ ных двигателей.

При использовании третьего метода объект помещают в усло­

вия с точно известной, более высокой

окружающей температурой,

т. е- приблизительно в такие условия,

как в термостате, и затем

снимают карту распределения температуры по поверхности объек­ та. Физические свойства материала по пути распространения теп­ ла от сердцевины объекта к его внешним поверхностям, а следо­ вательно и скрытые аномалии, сказываются на температурной кар­ те объекта. Этот метод наиболее удобен для проверки объектов значительной толщины, поскольку термостатные окружающие ус­ ловия по своему действию эквивалентны помещению источника тепла в середину объекта.

При внутреннем нагреве в результате рассеивания мощности происходит превращение части тока, протекающего через электри­ ческий или электронный компонент с конечным сопротивлением,

втепло. Возникающее при этом повышение температуры приводит

кпропорциональному увеличению мощности излучаемой поверх­ ностью данного элемента, и эта мощность может рассматриваться как параметр, характеризующий электрический режим компо­ нента.

Например, на рис. 2.7 нижняя кривая показывает эталонную термограмму углеродистого резистора, рассеивающего номиналь­ ную мощность. Эта кривая показывает, что максимальная темпе­ ратура имеет место в центре резистора и спад температуры по обе стороны от центра происходит одинаково, т. е. кривая симметрич­ на. Температура проволочных выводов резистора равна 34°С.

Термограмма дефектного резистора, рассеивающего точно та­ кую же мощность, характеризуется второй кривой на том же ри­ сунке. Максимум этой кривой приблизительно на 10°С превыша­ ет максимальную температуру эталонного резистора и смещен от центра резистора. Кроме того, температура правого вывода де­ фектного резистора приближается к окружающей температуре.

В данном случае между телом резистора и правым проволоч­ ным выводом имеется плохое механическое соединение, что пре­ пятствует соответствующей передаче тепла к правому выводу пу­ тем теплопроводности и вызывает перегрев тела резистора. Такие, дефекты не улавливаются другими методами контроля, в то время как применение инфракрасного метода в данном случае эффек­ тивно.

29



Терморельеср эталонное«,

§2.4. АВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЦЕССА КОНТРОЛЯ

ИПОИСКА НЕИСПРАВНОСТЕЙ

Вуказанных ранее работах дан пример устройства автомати­ ческого поиска дефектов в схемах, но не решены вопросы автома­ тизации процесса инфракрасного контроля.

Математическая модель термограммы может быть представле­

на как вектор Х р или

точка в N-мерном пространстве.

Каждая

координата Х р (р— 1,2,

. ,,/V) характеризуется величиной

инфра­

красного излучения в контрольной точке схемы. При изменении ре­ жима работы или выходе из строя отдельных элементов схемы будет меняться положение точки в N-мерном пространстве. Та­ ким образом, исправному состоянию схемы и ее отдельным неис­ правностям будут соответствовать отдельные, определенные для данной схемы области пространства. Эти области можно рассмат­

ривать как классы исправности схемы,

образцами которых

слу­

жат термограммы. Признаками их являются

величины

излуче­

ния в отдельных контрольных точках схемы.

 

сводится

При этом проблема обнаружения

неисправностей

к проблеме статистической

классифакации

распознавания

обра­

зов. Опознание входного

образа, представляющего термограмму,

и классифицирование его,

как члена одного

из

нескольких

клас­

сов, может быть основана на стандартных положениях статисти­ ческой теории решений. Если а существующих классов исправно­

сти схемы

и неисправностей ее

выражаются

посредством

 

. .,а) и Л/признаков, соответствующих

каждому

классу

или образу посредством Cf(/=-=1,2,.. .,N), где/признак

может при­

нимать

Z f

возможных величин, т. е.

частная величина

Cf

выра­

жается

посредством Cf (k ), го процедурой оптимального

решения

является перечисление образа к такому классу

/?;, для

которого

вероятность

Я f/?j/C, (/<",), С, (/Т2),. ..,

С',\ (/Cn)|

наибольшая.

 

Ограничения на размеры и время,

приемлемые для

работы сис­

темы классификации, мешают оперированию со всеми этими рас­ пределениями и, следовательно, должна быть проведена некото­ рая аппроксимация.

Возможны два вида аппроксимации:

— выбирается п признаков из N возможных, содержащих всю

информацию

о

классифицируемых образцах,

а

вероятность

Р l^i/C, (/Q , ■■■,

C.\'(/'Cn)I

аппроксимируется

 

посредством

Р [R]/Cl

, . ..,

С„ п)|,

где n<N, т. е. выбор

оптималь­

ных и контрольных точек измерения излучения из N возможных составляет первую основную проблему опознавания неисправнос­ тей;

— при описании функции плотности вероятности считать не­ реальным, что каждый класс имеет бесконечно много членов. Точность моделирования распределений и количество образцов, служащее для этих целей, взаимосвязаны.

31